Номер по Госреестру СИ: 52315-12
52315-12 Микроскоп электронный просвечивающий
(JEM 200CX)
Назначение средства измерений:
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локального микрорентгеноспектрального анализа, определения параметров кристаллических решеток.
Внешний вид.
Микроскоп электронный просвечивающий
Рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп электронный просвечивающий
Рисунок № 2
Внешний вид.
Микроскоп электронный просвечивающий
Рисунок № 3
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 142088
ID в реестре СИ - 364488
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
нет данных, Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX, SW-5, JEM 200CX, AD; мод. AD-05H,
Производитель
Изготовитель - Фирма "JEOL Ltd."
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Статистика
Кол-во поверок - 6
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 2
Кол-во средств измерений - 3
Кол-во владельцев - 3
Усредненный год выпуска СИ - 2014
МПИ по поверкам - 364 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№1654 от 2020.10.02 О внесении изменений в описание типа СИ О продлении срока действия свидетельства об утверждении типа СИ на новый срок Комплексы аналитические вольтамперометрические СТА
№2506 от 2022.10.06 О закреплении документов национальной системы стандартизации за техническим комитетом по стандартизации "Пивоваренная продукция и напитки безалкогольные" (ТК 175)
Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронный просвечивающий (JEM 200CX)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Фирма "JEOL Ltd."
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
48090-11 |
Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-100CX Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
48091-11 |
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями, JEM-2100 Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
48409-11 |
ЯМР-спектрометры, JEOL JNM Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
52088-12 |
Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой, JSPM 5400 Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
52315-12 |
Микроскоп электронный просвечивающий, JEM 200CX Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
52316-12 |
Микроскоп электронный сканирующий, JSM-6490LV Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
60728-15 21.05.2020 |
Микроскопы электронные растровые, JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
60730-15 21.05.2020 |
Масс-спектрометры, JMS (мод. JMS-Q1050GС, JMS-T100LP, JMS-GCMATE II) Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
60731-15 21.05.2020 |
Микроскопы электронные растровые, JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
63062-16 |
Микроскоп электронный растровый, JSM-6490LV Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
71032-18 11.05.2024 |
Микроанализаторы электронно-зондовые, JXA-8230 Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Отчет создан с целью отслеживания индикатора риска нарушения обязательных требований аккредитованными лицами (Приказа Минэкономразвития РФ от 28 мая 2021 г. N 300 "Об утверждении перечня индикаторов риска нарушения обязательных требований по федеральному государственному контролю (надзору) за деятельностью аккредитованных лиц".)
"п.4 Двукратное и более превышение средних для аккредитованного лица с аналогичной областью аккредитации, численным составом работников, участвующих в выполнении работ по измерениям в области аккредитации, и его технической оснащенности показателей количества выданных свидетельств о поверке средств измерений за период времени."
Организации разбиты по группам, упорядоченным по количеству средств поверки (эталонов вида: mieta, uve, npe), использованных организацией за последних 365 дней. Приведена информация по среднему количеству поверок за год среди участников группы и количество организаций, вошедших в выбранную группу.
В основу индикатора положена зависимость количества поверок, выполненных аккредитованной организацией за год к кол-ву, использованных эталонов за отчетный период (ввиду отсутствия в открытых источниках данных о количестве поверителей в организации, параметр - кол-во эталонов, был выбран как альтернативный, имеющий прямую корреляцию с кол-вом персонала в организации).
Порядок работы с отчетом:
1. По таблице ищем интересную организацию, например, в качестве образца выберем Пензенский ЦСМ - 1174 средства поверки и 61 095 поверок за последние 365 дней.
2. По круговой диаграмме ищем соответствующую 1174 шт. группу (сектор) с диапазоном эталонов.
3. Получаем сектор от 801 - 7066 эталонов, в который попало 74 аналогичных по масштабу Пензенскому ЦСМ организаций.
4. Наводим мышку и смотрим среднее количество поверок по этим 74 организациям - 352 254 поверки.
5. Сравниваем 352 254 поверки с 61 095 поверками Пензенского ЦСМ и делаем вывод, что превышения в 2 и более раза нет.
Кто поверяет Микроскоп электронный просвечивающий (JEM 200CX)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2024 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| АО "НИЦПВ" (RA.RU.311409) | 2 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ФБУ "ПЕРМСКИЙ ЦСМ" (RA.RU.311363) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ФБУ "РОСТЕСТ-МОСКВА" (RA.RU.311341) | РСТ | 1 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ОАО "НИЦПВ". (01.00317-2011) | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ФБУ «ЦСМ Республики Башкортостан» (RA.RU.311406) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Микроскоп электронный просвечивающий (JEM 200CX)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Программное обеспечение
Все действия с микроскопом проводятся с помощью ПК, на котором установлено автономное программное обеспечение (ПО).
Интерфейсная часть программного обеспечения микроскопа запускается на ПК и служит для отображения, обработки и сохранения результатов измерений; она состоит из управляющих программ:
-
- Digital Micrograph предназначено для обработки изображений, получаемых от микроскопа;
-
- INCA Energy TEM-250 предназначено для накопления спектра с выделенного участка образца, отмеченного на изображении, в режиме сканирования на просвет, с возможностью получения карты распределения по химическим элементам.
Результаты измерений заносятся в протокол, генерируемый программой, и хранятся на жестком диске компьютера.
Обмен данными между микроскопом и персональным компьютером осуществляется по порту USB.
Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола.
Метрологически значимая часть ПО микроскопа размещается в энергонезависимой памяти микроконтроллера, расположенной в аппаратной части микроскопа, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к микроконтроллеру исключён конструкцией аппаратной части микроскопа.
Идентификационные данные ПО представлены в таблице 1.
Таблица 1
|
Наименование ПО |
Идентификационное наименование ПО |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
|
Digital Micrograph |
Gatan Digital Micrograph ES500W |
3.11.1 |
629D02634F701E39E38 5D957B81F714A |
MD5 |
|
INCA Energy TEM-250 |
The Microanalysis Suite Issue 17 a |
4.08.0017 |
419736A2691245673F48 5D525FCA30DA |
MD5 |
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на корпус методом наклейки и на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений«Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX. Руководство по эксплуатации», раздел 7 «Работа с образцами».
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному просвечивающему JEM 200CXТехническая документация JEOL Ltd, Япония.
Поверка
Поверкаосуществляется по документу: «Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX. Методика поверки № МП 66.Д4-11», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 15 марта 2011 г.
Основные средства поверки:
-
1 Мера периода рельефная S106
Основные метрологические характеристики:
Номинальное значение шага периодической структуры меры вдоль двух ортогональных направлений - 0,463 мкм
Предел допускаемой абсолютной погрешности шага периодической структуры -
± 0,020 мкм.
-
2 Мера рельефная графитовая S140
Основные метрологические характеристики:
Номинальное значение периода кристаллической решетки меры - 0,314 нм.
Предел допускаемой абсолютной погрешности периода кристаллической решетки -
± 0,05 нм
Изготовитель
JEOL Ltd, Япония
6-38 Musashino 2-chorme,
Akishima-Shi, 196-0021
Tel.: 042-543-1111
www.jeol.co.jp
Заявитель
Государственный научный центр Российской Федерации - федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов» (ГНЦ ФГУП «ВИАМ»)Адрес: Россия, г. Москва, 105005, ул. Радио д.17
Телефон: (495) 263-87-25
Факс: (495) 267-86-09
E-mail: admin@viam.ru
Испытательный центр
Государственный центр испытаний средств измерений федерального
государственного унитарного предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ»), аттестат аккредитации государственного центра испытаний (испытательной, измерительной лаборатории) средств измерений № 30003-08 от 30.12.2008 г.
Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46.
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Принцип действия микроскопа основан на использовании электронного пучка с длиной волны, значительно более короткой, чем световая.
В состав микроскопа входят:
-
- вакуумная система;
-
- источник электронов;
-
- источник высокого напряжения для ускорения электронов;
-
- набор электромагнитных линз и электростатических пластин для управления и контроля электронного пучка;
-
- экран, на который проецируется увеличенное электронное изображение;
-
- энергодисперсионный детектор с пакетом программного обеспечения INCA Energy TEM-250 для проведения элементного анализа с высокой локальностью измерений.
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа электронного просвечивающего JEM 200CX
Рисунок 2 - маркировка и пломбирование микроскопа электронного
просвечивающего JEM 200CX
Перечень основного и дополнительного оборудования приведен в таблице 3.
Таблица 3
|
Наименование |
Количество, шт. |
|
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX |
1 |
|
Блок питания |
1 |
|
Высоковольтный блок |
1 |
|
Форвакуумный насос |
1 |
|
Воздушный компрессор |
1 |
|
Руководство по эксплуатации |
1 |
|
Методика поверки № МП 66.Д4-11 |
1 |
Микроскопа электронного просвечивающего JEM 200CX приведены в таблице 2.
Таблица 2
|
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
|
Разрешающая способность при ускоряющем напряжении 160 кВ, нм |
0,5 |
|
Разрешение локального микрорентгеноспектрального анализа, нм |
20 |
|
Диапазон измерений геометрических расстояний, мкм |
0,05 - 10 |
|
Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 160 кВ, % |
±0,1 |
|
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ |
80 - 200 |
|
Увеличение (кратность), крат |
600 - 330000 |
|
Номинальное напряжение трехфазной сети питания, В |
380 ± 22 |
|
Потребляемая мощность, кВт, не более |
6 |
|
Габаритные размеры, мм |
1600 х 1300 х 3000 |
|
Масса, кг, не более |
1200 |