Номер по Госреестру СИ: 48090-11
48090-11 Микроскоп электронный просвечивающий
(JEM-100CX)
Назначение средства измерений:
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX (далее микроскоп) предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Внешний вид.
Микроскоп электронный просвечивающий
Рисунок № 1
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137106
ID в реестре СИ - 359506
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
Производитель
Изготовитель - Фирма "JEOL Ltd."
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.
Отчет "Каталог типов СИ АРШИН" сортирует типы СИ в зависимости от выбранной области измерений и представляет их списком в виде удобной для дальнейшей работы таблицы. Таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок.
Таблица содержит минимум 8 колонок:
По каждому типу СИ приведены: номер в гос. реестре с ссылкой, наименование типа СИ, наименование фирмы-производителя, ссылка на описание типа и методику поверки (если они имеются), величина интервала между поверками, а также, количество поверок по годам (начиная с 2020).
Статистика
Кол-во поверок -
Выдано извещений -
Кол-во периодических поверок -
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№1364 от 2016.09.22 О переоформлении свидетельства об утверждении типа средств измерений № 48090 "Устройства сбора и передачи данных СЕ805"
№6279 от 2011.10.30 Об утверждении типов средств измерений (Регистрационный номер в Гос реестре СИ 48090-11по 48093-11)
№1689 от 2017.08.07 О продлении срока действия свидетельств об утверждении типа средств измерений
Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронный просвечивающий (JEM-100CX)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Фирма "JEOL Ltd."
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
48090-11 |
Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-100CX Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
48091-11 |
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями, JEM-2100 Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
48409-11 |
ЯМР-спектрометры, JEOL JNM Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
52088-12 |
Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой, JSPM 5400 Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
52315-12 |
Микроскоп электронный просвечивающий, JEM 200CX Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
52316-12 |
Микроскоп электронный сканирующий, JSM-6490LV Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
60728-15 21.05.2020 |
Микроскопы электронные растровые, JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
60730-15 21.05.2020 |
Масс-спектрометры, JMS (мод. JMS-Q1050GС, JMS-T100LP, JMS-GCMATE II) Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
60731-15 21.05.2020 |
Микроскопы электронные растровые, JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
63062-16 |
Микроскоп электронный растровый, JSM-6490LV Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
71032-18 11.05.2024 |
Микроанализаторы электронно-зондовые, JXA-8230 Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Переработанный справочник "КАТАЛОГ ГСО - 2021" УНИИМа
СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ УТВЕРЖДЕННЫХ ТИПОВ, ДОПУЩЕННЫЕ К ВЫПУСКУ И ПРИМЕНЕНИЮ НА ТЕРРИТОРИИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Кто поверяет Микроскоп электронный просвечивающий (JEM-100CX)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2024 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|
Стоимость поверки Микроскоп электронный просвечивающий (JEM-100CX)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измеренийСведения отсутствуют
Лист № 3 всего листов 3
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному просвечивающему JEM-100CX
1. Техническая документация фирмы-изготовителя.
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 48090-11 «Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в октябре 2011 г.
Основными средствами поверки являются:
Мера длины рельефная МПУ278нм с характеристиками, приведенными в таблице 2. Таблица 2
|
Наименование |
Значение |
|
Номинальное значение шага периодической структуры меры, мкм |
0,278 |
|
Предел допускаемой основной погрешности шага периодической структуры, мкм |
± 0,002 |
|
Масса меры не более, г |
0,1 |
|
Габаритный размер меры (Диаметр х Толщина), мм |
3,0 х 0,3 |
|
Размер рабочей области меры (Диаметр), мм |
1,0 |
Изготовитель
JEOL Ltd., Япония1-2, Musashino 3-chome Akishima Tokyo 196-8558, Japan
Заявитель
Учреждение Российской академии наук Институт биохимии им. А.Н. Баха РАН г. Москва, 119071, Ленинский просп, 33, стр. 2
Принцип действия микроскопа основан на формировании пучка электронов с энергией до 100 кэВ для непосредственного просвечивания объекта измерений. В качестве объектов, прозрачных для электронов с такой энергией, могут исследоваться ультратонкие срезы, напыленные в вакууме реплики, нанесенные на прозрачную для электронов подложку наночастицы и др. Система магнитных линз микроскопа формирует электронно-микроскопическое изображение объекта проходящими электронами. Контраст на изображении, т.е. его неравномерная освещенность, возникает из-за того, что рассеяние проходящих электронов зависит от массы атомов просвечиваемого вещества, а также, в случае просвечивания кристаллического вещества, и от ориентации кристаллографических осей относительно электронного луча микроскопа. Соответствующие неоднородности объекта становятся видимыми на электронномикроскопическом изображении благодаря тому, что электроны, рассеянные на большие углы, задерживаются апертурной диафрагмой и не участвуют в формировании окончательного изображения.
Конструкция микроскопа включает следующие блоки: основной блок - стенд с колонной, блок вакуумных насосов и блок питания. Микроскоп оснащен держателем препаратов на 6 образцов. Фиксация получаемых электронограмм (электронномикроскопиеских изображений) производится на фотопленку или фотопластинки. Для предварительного наблюдения фиксируемого фотографическим методом изображения используется специальный экран, покрытый люминофором.
Микроскоп применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
ELECTRON MICROSCOPE
JEM-1OOCX
Рис. 1. Общий вид микроскопа электронного просвечивающего JEM-100CX
Таблица 1
|
Диапазон измерений геометрических расстояний, мкм |
440-4..100 |
|
Пределы допускаемой погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 100 кВ*: в диапазоне (1..100) мкм при измерении абсолютных размеров, % |
± 3% |
|
в диапазоне (0,05..1) мкм при измерении абсолютных размеров, % |
± 8% |
|
в диапазоне (440-4..0,05) мкм при измерении абсолютных размеров (L-размер кадра, выраженный в нанометрах), нм |
± (2+0,08L) |
|
Диапазон регулировки увеличения, крат |
от 90 до 800 000 |
|
Значения ускоряющего напряжения, кВ |
20, 40, 60, 80, 100 |
|
Номинальное напряжение сети питания (однофазной), В |
2303 |
|
Максимальная потребляемая мощность, кВ •А |
4,5 |
|
Габаритные размеры основных блоков не более, мм стенд с колонной, |
1980х1420х2450 |
|
блок питания |
655х475х815 |
|
блок насосов |
660х300х495 |
|
Общий размер в собранном состоянии, мм |
2800х3000х2550 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, ° C |
(20 ± 5) |
|
- относительная влажность воздуха, % |
(40 ± 20) |