Сведения о средстве измерений: 48091-11 Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями

Номер по Госреестру СИ: 48091-11
48091-11 Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями
(JEM-2100)

Назначение средства измерений:
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100 (далее микроскоп) предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Микроскоп применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137107
ID в реестре СИ - 359507
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

Производитель

Изготовитель - Фирма "JEOL Ltd."
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Статистика

Кол-во поверок -
Выдано извещений -
Кол-во периодических поверок -
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.

Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями (JEM-2100)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "JEOL Ltd."

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
48090-11

Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-100CX
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
48091-11

Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями, JEM-2100
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
48409-11

ЯМР-спектрометры, JEOL JNM
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
52088-12

Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой, JSPM 5400
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
52315-12

Микроскоп электронный просвечивающий, JEM 200CX
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
52316-12

Микроскоп электронный сканирующий, JSM-6490LV
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
60728-15
21.05.2020
Микроскопы электронные растровые, JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA)
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
60730-15
21.05.2020
Масс-спектрометры, JMS (мод. JMS-Q1050GС, JMS-T100LP, JMS-GCMATE II)
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
60731-15
21.05.2020
Микроскопы электронные растровые, JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA)
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
63062-16

Микроскоп электронный растровый, JSM-6490LV
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
71032-18
11.05.2024
Микроанализаторы электронно-зондовые, JXA-8230
Фирма "JEOL Ltd." (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

Казань — столица Республики Татарстан

Один из крупнейших экономических, научных и культурных центров России. Город, площадью около 412 кв. км, где проживает 1,2 млн. человек более 101 национальности, расположен на левом берегу Волги по обе стороны реки Казанки. В 2005 году Казань будет отмечать свое тысячелетие. Богатое прошлое города связано с древней цивилизацией казанских татар и их прямых предков - волжских булгар. Город, лежащий на границе Европы и Азии, был и остается связующим звеном между Западом и Востоком и хранит традиции двух великих культур.

Казань, с ее впечатляющим Кремлем, мечетями, церквями и богатыми музеями, является уникальной туристической достопримечательностью вдоль Волги и включена в список городов Всемирного наследия, награждена дипломами и медалью ЮНЕСКО. Это город театров, музеев, город музыки, международных фестивалей, богатейших библиотек, новейших технологий, деловых партнерств и богатого научного потенциала.

В городе два гиганта авиационной промышленности - ГУП "Казанское авиационное производственное объединение" и ОАО "Казанский вертолетный завод". Знаковым событием для города стало начало серийного производства самолета ТУ-214 на ГУП КАПО им. С.П. Горбунова. ОАО "КВЗ" стал широко известен как производитель вертолетов МИ-8, МИ-17, которые блестяще зарекомендовали себя в эксплуатации более чем в 50 странах мира.

В Казани расположено одно из крупнейших химических предприятий страны - ОАО "Казаньоргсинтез", ведущий производитель полиэтилена высокого и низкого давления, полиэтиленовых труб, синтетических теплоносителей, фенола, ацетона, химикатов для нефтедобычи и осушки природного газа.

Отчет "Анализ рынка поверки в Казани" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Казань.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 3 000 руб.

Кто поверяет Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями (JEM-2100)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические

Стоимость поверки Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями (JEM-2100)

Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.


Сведения о методиках измерений

Сведения о методиках (методах) измерений
Сведения отсутствуют

Нормативные и технические документы

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному просвечивающему JEM-2100

Техническая документация фирмы-изготовителя

Поверка

Поверка осуществляется по документу МП 48091-11 «Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в октябре 2011 года.

Основными средствами поверки являются:

Мера длины рельефная МПУ278нм с характеристиками, приведенными в таблице 2. Таблица 2

Наименование

Значение

Номинальное значение шага периодической структуры меры, мкм

0,278

Предел допускаемой основной погрешности шага периодической структуры, мкм

± 0,002

Масса меры не более, г

0,1

Габаритный размер меры (Диаметр х Толщина), мм

3,0 х 0,3

Размер рабочей области меры (Диаметр), мм

1,0


Изготовитель

JEOL Ltd., Япония
1-2, Musashino 3-chome
Akishima Tokyo 196-8558, Japan

Заявитель

Государственное учебно-научное учреждение Биологический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова 119234, г. Москва, Ленинские горы, д.1, стр. 12

Принцип действия микроскопа основан на формировании пучка электронов с энергией до 200 кэВ для непосредственного просвечивания объекта. В качестве объектов, прозрачных для электронов с такой энергией, могут исследоваться ультратонкие срезы, напыленные в вакууме реплики, нанесенные на прозрачную для электронов подложку наночастицы и др. Система магнитных линз микроскопа формирует электронно-микроскопическое изображение объекта в проходящих электронах. Контраст на изображении, т.е. его неравномерная освещенность, возникает из-за того, что рассеяние проходящих электронов зависит от массы атомов просвечиваемого вещества, а также, в случае просвечивания кристаллического вещества, и от ориентации кристаллографических осей относительно электронного луча микроскопа. Соответствующие неоднородности объекта становятся видимыми на электронномикроскопическом изображении благодаря тому, что электроны, рассеянные на большие углы, задерживаются апертурной диафрагмой и не участвуют в формировании окончательного изображения.

Методы электронной дифракции реализуются путем регулирования токов магнитных линз и введения в колонну микроскопа селекторных диафрагм. Эти методы дают информацию о наличии или отсутствии кристаллической структуры у выбранного микроучастка образца, о типе кристаллической решетки, а также позволяют рассчитать межплоскостные расстояния в микрокристаллах путем сравнения полученных дифракционных картин (электронограмм) с электронограммами тонкопленочных образцов с известным составом и кристаллической структурой.

Дополнительные аналитические модули микроскопа - энергодисперсионый спектрометр характеристического рентгеновского излучения и спектрометр характеристических потерь энергии электронов - позволяют реализовать методы анализа локального элементного состава исследуемых образцов.

Внешний вид. Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями (JEM-2100), http://oei-analitika.ru

Рис. 1. Общий вид микроскопа электронного просвечивающего с аналитическими модулями JEM-2100

В состав микроскопа входит специализированное программное обеспечение, идентификационные данные которого приведены ниже.

Наименование программного обеспечения

Идентификационное наименование     про

граммного обеспечения

№ версии

ПО

Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма)

Алгоритм вычисления иден-тификато-ра ПО

1

2

3

4

5

Пакет управления Микроскопом

TEM Controller (TEMCON)

ATF.exe

BComp.exe

BrightnessZoom.exe

CsCcCalc.exe

EFCalibration.exe

FKeyServer.exe

HCID.exe

HeStageVacSystem.exe

HolderSetup.exe

jeolTEM.exe

JeolTEMScripting.exe

MDS.exe

OmUnit.exe

T emperatureMonitor. exe

2.20

2daccc047fe84da1dc62e78b4748028d

cdc2f71075e409475c06737c606d6c5f c228bcdd16cc0e2408cfa138ce4664c0 87f51eb160e06829e971aa3af55e70d3 93b9bafbc5b2462a6270e460b114cbc6 8e6f060221dd44bfed124938b35a4efe 38202556cc883e3a63a3e2beea5687e3 d047e5ba1c2df31e1827681e92134d15 ec7f8b5074f5784a8c9a22b03f4b9298 01bf12370bb2c8334ed4f51f51ba5080 3978c48552bc34d1a9e65b89974505ef c8835e5db60e70f8e99922e94effef84 15daab4f6581d77c7b4711d3bc3d881f f58a2de807496b04c9a32ec0d13ba9bb

Программа md5sum

1

2

3

4

5

Пакет управления фотокамерами и спектрометром электронных потерь

Gatan Microscope Suit (GMS)

GMS.dll

libimalloc.dll libiomp5md.dll mkl_core.dll mkl_def.dll mkl_intel_thread.dll mkl_msg.dll mkl_p4.dll mkl_p4m.dll mkl_p4m3.dll mkl_p4p.dll msvcr71.dll

DigitalMicrograph. exe

2.01.6

97.0

e322108fbe73ef9de0d746dd3bf8635c bc18c393df4b576fcc3ec8f42cf7c5eb 136b913bccea2245ccbc355f31cffd9d c7a6deeb0553ee49f4ffe7f4d7fd8fd9 6f42bf8d719293897bb0a743dd552790 3b15586b0d6ec0dcd8413bffa23a84b5 6ade946f2718e26971b29940e38509e2 8273d4c8645ee8af313105b8a00858a8 f90905673c86e1be69c01b67c097b432 40775192bc09e0e536327f5477006c12 7f00c0c68ae9a873543b30d935006b5b 86f1895ae8c5e8b17d99ece768a70732 a9d2d27859d9161f6d1 f420f0e0729fa

Программа md5sum

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с МИ 3286-2010 соответствует уровню «С».


  • 1. Микроскоп электронный просвечивающий

с аналитическими модулями JEM-2100                   - 1экз.;

  • 2. Комплект ЗИП и расходные материалы                  - 1 компл.;

  • 3. Руководство по эксплуатации                             - 1 шт.;

  • 4. Методика поверки                                         - 1 экз.

Лист № 4 всего листов 4 

Таблица 1

Диапазон измерений геометрических расстояний, мкм

от 4-10-4 до 100

Пределы допускаемой погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 200 кВ*:

в диапазоне (1..100) мкм при измерении абсолютных размеров, %

± 3%

в диапазоне (0,05..1) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (4-10-4..0,05) мкм при измерении абсолютных размеров

± 7%

(L-размер кадра, выраженный в нанометрах), нм

± (2+0,07L)

Диапазон регулировки увеличения, крат

от 50 до 1 500 000

Анализируемые химические элементы (по порядку следования в периодической системе химических элементов им. Д.И. Менделеева)

От B до Pu

Локальность элементного анализа методами энергодисперсионной спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь электронов, нм

25

Значения ускоряющего напряжения, кВ

от 80..200

Номинальное напряжение сети питания (однофазной), В

230-30

Максимальная потребляемая мощность, кВ •А

10

Габаритные размеры основных блоков не более, мм

стенд с колонной,

1570х2250х2440

блок питания

800х570х1750

блок насосов

210х430х510

Общий размер в собранном состоянии, мм

2800х2800х3000

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, ° C

(20 ± 5)

- относительная влажность воздуха, %

(40 ± 20)


Настройки внешнего вида
Цветовая схема

Ширина

Левая панель