Методика поверки «гси.Рефлектометры солнечные «РС-К»» (МП 001.М4-20)

УТВЕРЖДАЮ

Заместитель директора

Государственная система обеспечения единства измерений

Рефлектометры солнечные «РС-К»

Главный метролог

ФГУП «ВНИИОФИ»

С.Н. Него да

2020 г.

Главный научный сотрудник

'УП «ВНИИОФИ»

Крутиков В.Н. & /    2020 г.

Москва 2020 г.

СОДЕРЖАНИЕ

• 1 ВВЕДЕНИЕ

• 2 НОРМАТИВНЫЕ ССЫЛКИ

• 3 ОПЕРАЦИИ ПОВЕРКИ

• 4 СРЕДСТВА ПОВЕРКИ

• 5 ТРЕБОВАНИЯ К КВАЛИФИКАЦИИ ПОВЕРИТЕЛЕЙ

• 6 ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ

• 7 УСЛОВИЯ ПОВЕРКИ

• 8 ПОДГОТОВКА К ПОВЕРКЕ

• 9 ПРОВЕДЕНИЕ ПОВЕРКИ

• 10 ОФОРМЛЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ ПОВЕРКИ

ПРИЛОЖЕНИЕ А

ПРИЛОЖЕНИЕ Б

ПРИЛОЖЕНИЕ В

• 1.1 Настоящая методика поверки распространяется на рефлектометры солнечные «PC-К» (далее по тексту - рефлектометры), предназначенные для измерения интегрального коэффициента полного диффузного отражения непрозрачных материалов и покрытий без исключения зеркальной составляющей при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО (внеатмосферным солнечным излучением) в диапазоне длин волн от 250 до 2200 нм, и определяет методы и средства первичной и периодической поверок.

Поверка проводится при вводе рефлектометра в эксплуатацию и в процессе эксплуатации.

• 1.2 Интервал между поверками - 1 год.

• 2.1 При проведении первичной и периодической поверок должны быть

выполнены следующие операции, указанные в таблице 1. Таблица 1 - Операции поверки

2.2 При получении отрицательных результатов при проведении хотя бы одной операции поверка прекращается.

Таблица 2 - Средства поверки

• 3.2 Средства поверки, указанные в таблице 2, должны быть аттестованы (поверены) в установленном порядке. Допускается применение других средств поверки, не приведенных в таблице 2, но обеспечивающих определение (контроль) метрологических характеристик рефлектометров с требуемой точностью.

• 4.1  К проведению поверки допускаются лица, прошедшие обучение по требуемому виду измерений, изучившие настоящую методику поверки, Руководство по эксплуатации рефлектометров, имеющие квалификационную группу не ниже III в соответствии с правилами по охране труда при эксплуатации электроустановок, указанных в приложении к приказу Министерства труда и социальной защиты РФ от 24.07.13 № 328Н.

• 5.1 При проведении поверки следует руководствоваться «Правилами устройства электроустановок», утвержденными Минэнергетики РФ №204 от 08.07.2002 г., «Правилами технической эксплуатации электроустановок потребителей», утвержденными Минэнерго России № 6 от 13.01.03 г. и приказом Минтруда «Об утверждении правил по охране труда при эксплуатации электроустановок» №328н от 24.07.2013 г.

• 5.2 Помещение, в котором проводится поверка, должно соответствовать требованиям пожарной безопасности по ГОСТ 12.1.004-91 и иметь средства пожаротушения по ГОСТ 12.4.009-83.

• 5.3  Оборудование, применяемое при поверке, должно соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.003-91. Воздух рабочей зоны должен соответствовать требованиям ГОСТ 12.1.005-88 при температуре помещения, соответствующей условиям испытаний для легких физических работ.

6 УСЛОВИЯ ПОВЕРКИ

6.1 При проведении поверки должны соблюдаться следующие условия:

- частота питающей сети, Гц                   50,0 ± 0,5

• 6.2 В помещении, где проводится поверка, содержание пыли, паров кислот и щелочей, агрессивных газов и других вредных примесей, вызывающих коррозию, не должно превышать содержание коррозийно-активных агентов для атмосферы типа 1 по ГОСТ 15150-69.

• 6.3  В помещении, где проводится поверка, должны соответствовать ГОСТ 8.395-80 механические вибрации, посторонние источники электро-магнитного излучения, а также постоянные и переменные электрические и магнитные поля.

• 6.4 Необходимо избегать длительного воздействия на рефлектометры прямых солнечных лучей, так как это может привести к выходу из строя жидкокристаллического дисплея.

• 7.1 Изучите Руководства по эксплуатации рефлектометров.

• 7.2 Выдержите рефлектометр и вспомогательное оборудование в условиях, указанных в п. 6.1 настоящей методики поверки не менее 5 часов.

• 7.3 Включите спектрофотометр «Lambda 900», входящий в состав вторичного эталона, кнопкой «Вкл».

• 7.4 Включите компьютер.

• 7.5 Запустите программу «Perkin Elmer UV WinLab» спектрофотометра «Lambda 900».

• 7.6 Установите рефлектометр на рабочем месте.

• 7.7 Подключите рефлектометр к сети с помощью адаптера.

• 7.8 Включите тумблер питания.

• 7.9 Снимите защитный колпачок, навинчивающийся на измерительное отверстие и протрите апертуру измерительного отверстия сухой безворсовой тканью.

• 7.10 Прогрейте рефлектометр в течение 30 мин.

• 8 ПРОВЕДЕНИЕ ПОВЕРКИ

• 8.1.1 При внешнем осмотре должно быть установлено:

• - отсутствие видимых механических повреждений;

• - отсутствие царапин и потертостей на поверхности мер сравнения из состава рефлектометра;

• - исправность кабелей и разъемов;

• - наличие маркировки (наименование или товарный знак завода-изготовителя, тип и заводской номер рефлектометра);

• - соответствие комплектности, указанной в паспорте рефлектометра.

• 8.1.2 Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если они соответствуют требованиям вышеперечисленных операций.

• 8.2.1 Включите рефлектометр в соответствии с п.п. 7.6-7.10.

• 8.2.2 Убедитесь, что на встроенном ЖК экране дисплея появилась заставка режима прогрева в соответствии с рисунком 1.

  

  Kompozit

  /_       КОМПОЗИТ

Д poc/ucftb*

Рефлектометр солнечный РС-К

V. 1.7

8.2.4 Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если выполняются операции пп. 8.2.1 - 8.2.3.

• 8.3.1 Информация о программном наименовании и версии программного обеспечения отображается на стартовой заставке рефлектометра при включении.

• 8.3.2  Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если идентификационные данные программного обеспечения соответствуют значениям,

приведенным в таблице 3.

Таблица 3 - Идентификационные данные программного обеспечения

• 8.4 Определение метрологических характеристик

  • 8.4.1  Определение значений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

    • 8.4.1.1  Включите установку для передачи единицы величины СКДО в спектральном диапазоне от 0,2 до 2,5 мкм на основе спектрофотометра «LAMBDA 900» и приставки «PELA-ЮОО» из состава вторичного эталона в соответствии с п.п. 7.3-7.5.

    • 8.4.1.2 В окне программы «Perkin Elmer UV WinLab» выберите метод измерений «DR0,25-2,5» (Приложение А, рисунок А.1).

    • 8.4.1.3 В разделе «Data Collection» на панели «Folder List» проверьте параметры измерений выбранного метода (Приложение А, рисунок А.2):

• - в разделе «From» - «2500.00 нм»;

• - в разделе «То» - «250.00 нм»;

• - в разделе «Data Interval» - «10.00 нм»;

• - в разделе «Ordinate Mode» - «%R»;

• - в разделе «Lamp Change» - «319.20 нм»;

• - в разделе «Monochromator» - «860.80 нм»;

• - в разделе «Detector Change» - «860.80 нм».

• 8.4.1.4 В разделе «Sample Info» на панели «Folder List» установите количество измерений, равное 5.

• 8.4.1.5 Установите опорную меру из состава вторичного эталона на установку «Lambda 900» в канал сравнения.

• 8.4.1.6 Установите эталонную меру из состава вторичного эталона на установку «Lambda 900» в канал измерения.

• 8.4.1.7 Нажмите кнопку «Autozero» в верхней панели программы.

• 8.4.1.8 Подтвердите установку нулевого значения, нажав кнопку «Ок» в всплывающем окне программы (Приложение А, рисунок А.З).

• 8.4.1.9 Дождитесь появления надписи «Idle» в верхней левой панели программы.

• 8.4.1.10 Уберите эталонную меру из канала измерений.

• 8.4.1.11 Установите меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра в канал измерений.

• 8.4.1.12 Нажмите кнопку «Start» в верхней панели программы.

• 8.4.1.13  Нажмите кнопку «Ок» в всплывающем окне с автоматически присвоенным номером образца пять раз. В процессе сканирования в верхней левой панели программы показывается надпись «Scanning». Процесс измерения отображается также на графике на вкладке «Graphs» центральной панели программы. После завершения измерений во всем диапазоне длин волн выдается сообщение о сохранении результата под автоматически присвоенным номером.

• 8.4.1.14 Полученный результат сохраните в формате «*.ASC».

• 8.4.1.15  Уберите меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра из измерительного канала.

• 8.4.1.16 Закройте окно метода измерений «DR0,25-2,5».

• 8.4.1.17 Повторите измерения по п.п. 8.4.1.2 - 8.4.1.16 для всех мер сравнения (Ф-2 - Ф-7) из состава рефлектометра.

• 8.4.1.18 Рассчитайте спектральное распределение коэффициента диффузного отражения для всех измерений для всех мер сравнения (Ф-1 - Ф-7) из состава рефлектометра по формуле (1):

где /?_{изм f}(A) - i-й сигнал измерений, полученный в п. 8.4.1.14;

РоэтУ)^- спектральный коэффициент диффузного отражения эталонной меры из состава вторичного эталона, приведенный в её сертификате калибровки.

• 8.4.1.19 Рассчитайте по пять интегральных коэффициентов диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей для каждой меры сравнения (Ф-1 - Ф-7) из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО используя пять результатов измерений СКДО. полученных в п. 8.4.1.18 по формуле (2):

  Ринт i ~~

  Z EamoWpd i(A)

  X EamoW

  (2)

где Е_амо(Л) - спектральное распределение солнечного излучения АМО (Приложение Б, таблица Б.1).

• 8.4.1.20 Рассчитайте среднее значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-7) из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле (3):

Ринт       Ринт i                           О)

• 8.4.1.21 Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если интегральные коэффициенты диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышают значений, приведенных в таблице 4.

Таблица 4 - Значения интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

• 8.4.2 Определение абсолютной погрешности интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

  • 8.4.2.1 Рассчитайте среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-7), из состава рефлектометров, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле (4):

    *^(Ринт) “

    £1=1(РиНТ1 Ринт)²

    20

  • 8.4.2.2 Определите неисключенную систематическую погрешность 0у_инт измерений путем суммирования неисключенных систематических погрешностей средств измерений, метода и погрешностей, вызванных другими источниками по формуле (5):

    (5)

инт “ ±0ВЭТ

где 0_ВЭт - неисключенная систематическая погрешность, определяемая суммарным средним квадратическим отклонением результата измерения СКДО вторичного эталона, указанным в его паспорте.

Определите случайную погрешность измерений £_инт (без учета знака) по формуле (6):

где t - коэффициент Стьюдента, который при п = 5 и доверительной вероятности Р = 0,95 составляет 2,776.

Абсолютную погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-7), из состава рефлектометров, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО рассчитывают по формуле (7):

А(Ринт) ^— ^инт ’ $£ инт

где _инт - среднее квадратическое отклонение суммы случайных и неисключенных систематических погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-7), из состава рефлектометров, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, определяемое по формуле (8):

^инт • коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешностей результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 -Ф-7), из состава рефлектометров, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, рассчитываемый по формуле (9):

rz _ ^инт инт

^инт ” S(p )₊^

^инт' у/2

• 8.4.2.3 За величину абсолютной погрешности интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометров, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО принять максимальные значения для всех мер набора.

• 8.4.2.4  Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если абсолютная погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ± 0,025.

• 8.4.3.1 Выберите в меню рефлектометра в соответствии с рисунком 2 пункт «КАЛИБРОВКА», после чего появится меню, соответствующее рисунку 3.

К Л ЛИВРОВ К А

К А Л И Б Р О В К А - Ф О II

К А Л И Б Р О В К А - Э Т А Л О II

В В О Д - Э Т А Л О Н А

ВЫХОД

Рисунок 3

• 8.4.3.2 В открывшемся окне выберете пункт «КАЛИБРОВКА-ФОН».

• 8.4.3.3 Поместите на измерительное отверстие рефлектометра базовую насадку из его состава.

• 8.4.3.4 Нажмите кнопку «СТАРТ» на ручке рефлектометра.

• 8.4.3.5 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ» на ЖК экране рефлектометра.

• 8.4.3.6 Нажмите на кнопку «ВЫХОД».

• 8.4.3.7 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра базовую насадку.

• 8.4.3.8 Нажмите на кнопку «ВВОД - ЭТАЛОНА» в меню, соответствующем рисунку 3, появится меню в соответствии с рисунком 4.

ВВОД ЭТАЛОНА

выход

Рисунок 4

• 8.4.3.9 Введите значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей меры сравнения Ф-1 из состава рефлектометра при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, полученное в п. 8.4.1, используя сенсорную клавиатуру на ЖК экране.

• 8.4.3.10 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ».

• 8.4.3.11 Нажмите на кнопку «КАЛИБРОВКА - ЭТАЛОН» в меню на рисунке 3.

• 8.4.3.12 Приложите к измерительному отверстию рефлектометра меру сравнения Ф-1, входящую в состав рефлектометра.

• 8.4.3.13 Нажмите на кнопку «СТАРТ» на рукоятке рефлектометра.

• 8.4.3.14 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ» на ЖК экране прибора.

• 8.4.3.15 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра.

• 8.4.3.16 Вернитесь в меню «КАЛИБРОВКА» нажатием клавиши «ВЫХОД».

• 8.4.3.17 Повторным нажатием клавиши «ВЫХОД» вернитесь в основное меню, соответствующее рисунку 2.

• 8.4.3.18 Нажмите на кнопку «ИЗМЕРЕНИЕ».

• 8.4.3.19  Плотно прижмите к измерительному отверстию рефлектометра эталонную меру Ф-1 из состава рабочего эталона, соответствующую мере сравнения Ф-1 из состава рефлектометра.

• 8.4.3.20 Нажмите на кнопку «СТАРТ» на корпусе рефлектометра.

• 8.4.3.21 Запишите результат измерений.

• 8.4.3.22 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра эталонную меру Ф-1 из состава рабочего эталона.

• 8.4.3.23 Повторите измерения по п.п. 8.4.3.19 - 8.4.3.22 пять раз с переустановкой эталонной меры Ф-1 из состава рабочего эталона.

• 8.4.3.24 Повторите измерения по п.п. 8.4.3.8 - 8.4.3.23 для всех мер сравнения (Ф-2 - Ф-7) из состава рефлектометров и эталонных мер (Ф-2 - Ф-7) из состава рабочего эталона.

• 8.4.3.25 Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если их диапазон измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО составляет от 0,04 до 0,95.

8.4.4 Определение воспроизводимости измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

• 8.4.4.1 Рассчитайте среднее арифметическое значение результатов измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле (10):

Рд⁼ ~Т.1=1Рд,1                          (¹⁰)

где - i-й результат измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, полученный в п. 8.4.3.

• 8.4.4.2 Определите среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле (11):

• 8.4.4.3  За воспроизводимость измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО примите максимальное значение среднего квадратического отклонения для всех эталонных мер набора из состава рабочего эталона.

• 8.4.4.4 Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если их воспроизводимость измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ± 0,01.

• 8.4.5.1 Определите неисключенную систематическую погрешность 0v измерений путем суммирования неисключенных систематических погрешностей средств измерений, метода и погрешностей 0;, вызванных другими источниками по формуле

• (12):

0₂ = ±E”il6il                       (12)

где т - количество учитываемых неисключенных систематических погрешностей измерений, равное 2;

в_г - неисключенная систематическая погрешность, определяемая расширенной неопределенностью воспроизведения интегрального коэффициента полного диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона для спектрального распределения внеатмосферного солнечного излучения в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,20 мкм, указанной в паспорте на рабочий эталон.

6₂ ~ неисключенная систематическая погрешность, определяемая по формуле

• (13) :

@2 ⁼ Рд~ Рдэт                        (13)

где р_Дэт -значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, указанное в сертификате калибровки набора мер.

Определите случайную погрешность измерений £д (без учета знака) по формуле

• (14) :

£д = t • 5(р_д)                              (14)

где t - коэффициент Стьюдента, который при п = 5 и доверительной вероятности Р = 0,95 составляет 2,776.

Абсолютную погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО (без учета знака) определите по формуле (15):

Д(рд) ⁼   * $Ер                       0$)

где S_Zp - среднее квадратическое отклонение суммы случайных и неисключенных систематических погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, определяемое по формуле (16):

Szp = ^ + S²(p_a)                   (16)

Кд - коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной

(17)

• 8.4.5.2  За величину абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО примите максимальное значение абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей для всех эталонных мер набора при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО.

• 8.4.5.3 Рефлектометры считаются прошедшими операцию поверки, если их абсолютная погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ± 0,03.

• 9.1 Результаты поверки заносятся в протокол (приложение В).

• 9.1  Рефлектометры, прошедшие поверку с положительным результатом, признаются годными и допускаются к применению. На них выдаётся свидетельство о поверке установленной формы с указанием полученных по пп. 8.4.1 - 8.4.5 фактических значений метрологических характеристик рефлектометра и наносят знак поверки (место нанесения указано в описании типа) согласно Приказу Министерства промышленности и торговли Российской Федерации №1815 от 02.07.2015 г. «Об утверждении Порядка проведения поверки средств измерений, требования к знаку поверки и содержанию свидетельства о поверке», и рефлектометры допускают к эксплуатации.

• 9.2 При отрицательных результатах поверки рефлектометры признаются негодными, не допускаются к применению и на них выписывают «Извещение о непригодности» с указанием причин в соответствии с требованиями Приказа Министерства промышленности и торговли Российской Федерации №1815 от 02.07.2015 г.

Начальник лаборатории М-4-3

ФГУП «ВНИИОФИ»

Н.с. подразделения М-4 ФГУП «ВНИИОФИ»

ПРИЛОЖЕНИЕ А (рекомендуемое) к «ГСИ. Рефлектометр солнечный «РС-К» Методика поверки МП 001.М4-20»

Рисунок А.1 - Выбор метода измерений

Tungsten Lamp

External Lamps

Data Interval

Monochromator

D2 Lamp

Filter

¹ Settings...

Cycles

Slit width

5 00 nm

*UV WinLab Ex...

UV WinLab - ...

WinLab -...

G.j l«ntxle900 fl AdmtiWratw

Rt О v - v 9:26

ПРИЛОЖЕНИЕ Б (обязательное) к «ГСИ. Рефлектометр солнечный «РС-К» Методика поверки МП 001.М4-20»

Таблица Б.1 - Спектральное распределение солнечного излучения АМО

Продолжение таблицы Б.1

ПРИЛОЖЕНИЕ В (рекомендуемое) к «ГСИ. Рефлектометр солнечный «РС-К» Методика поверки МП 001.М4-20»

ПРОТОКОЛ №     от

Поверки СИ

Общие данные о поверяемом средстве измерения:

Наименование

• - относительная влажность воздуха, %

• - атмосферное давление, кПа

• - напряжение питающей сети, В

• - частота питающей сети, Гц

Результаты измерений.

• 1 Внешний осмотр:_____________________________

• 2 Опробование:_________________________________

• 3 Подтверждение соответствия.________________

• 4 Характеристики рефлектометра солнечного.

4.1 Результаты измерений интегральных коэффициентов диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

4.2 Характеристики рефлектометра солнечного «РС-К»

Поверка проведена с применением_______________________________________

Поверено в соответствии с методикой поверки МП001.М4-20 «ГСП.

Рефлектометры солнечные «PC-К». Методика поверки», утвержденной ФГУП

«ВНИИОФИ»_____

По результатам поверки средство измерений признано соответствующим описанию утвержденного типа ГРСИ №______________

Поверку проводил____________________________

21