Сведения о средстве измерений: 48288-11 Дифрактометр рентгеновский

Номер по Госреестру СИ: 48288-11
48288-11 Дифрактометр рентгеновский
(Shimadzu XRD-7000)

Назначение средства измерений:
Дифрактометр рентгеновский "Shimadzu XRD-7000", (далее по тексту дифрактометр) предназначен для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Дифрактометр рентгеновский, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Дифрактометр рентгеновский
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137347
ID в реестре СИ - 359747
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 2 года
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

нет модификации,

Производитель

Изготовитель - Фирма "SHIMADZU CORPORATION"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Отчет предоставляет агрегированные данные о стоимости поверки средств измерений в соовтестии с Постановлением Правительства РФ от 20.04.2010 N 250 (ред. от 06.10.2021) "О перечне средств измерений, поверка которых осуществляется только аккредитованными в установленном порядке в области обеспечения единства измерений государственными региональными центрами метрологии"

Записи представлены с разбивкой по регионам, городам и организациям. Данные о стоимости поверки берутся из открытых источников и периодически обновляются.

В качестве поисковой фразы могут быть указаны: номер типа СИ из реестра АРШИНа, часть наименования типа СИ, город или наименование организации. Фраза должна состоять минимум из 5 символов.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 1
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 730 дн.

Наличие аналогов СИ: Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "SHIMADZU CORPORATION"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
17037-98

Хромато-масс-спектрометры, QP 5000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
17819-98

Спектрофотометр атомно-абсорбционный, AA-6601F
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
17820-98

Спектрофотометр инфракрасный, FTIR-8201 PC
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
17822-98

Хроматограф газовый, GC-17A
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
19381-09
15.04.2024
Спектрофотометры атомно-абсорбционные, АА-6200, АА-6800, AA-6300, АА-7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
19382-11
27.06.2016
Спектрофлуориметры, RF-5301PC
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
19383-10
06.04.2020
Хроматографы газовые, GC-14B, GC-17Av3, GCMS-QP5000/5050A, GC-2010, GC-2010Plus, GC-2014, GCMS-QP2010, GCMS-QP2010S, GCMS-QP2010Plus
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
21669-01

Спектрофотометр атомно-абсорбционный, AA-680
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
22613-08
01.06.2013
Весы электронные лабораторные, BL
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
22614-08
01.06.2013
Весы электронные лабораторные, BW, BX, UW, UX
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
25373-08
01.06.2013
Весы электронные, EL и ELB
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
26276-08
01.01.2014
Весы электронные лабораторные, AUW/AUW-D/AUX/AUY
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
26305-04
01.02.2009
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6000, XRD 7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
2 года
26305-09
27.08.2024
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6000, XRD 7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
2 года
28035-04

Спектрофотометр, UV-1601
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
30425-05

Хроматограф жидкостной, Shimadzu-LC-6А
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
34800-07

Микротвердомер, HMV-2T
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
34906-12
29.06.2017
Спектрометры эмиссионные с индуктивно связанной плазмой, ICPE 9000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
40187-08
01.01.2014
Микротвердомеры, HMV-2
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
43425-09
01.01.2015
Весы электронные лабораторные, BW-K/BX-K
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
44557-10
01.08.2015
Машины испытательные универсальные, AG
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
46429-11
04.03.2016
Микротвердомеры, Shimadzu DUH211, Shimadzu DUH211S
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
46429-17
19.06.2027
Микротвердомеры, DUH-211, DUH-211S
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
46831-11
19.05.2016
Машины испытательные, EHN
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
47102-11
31.03.2026
Спектрометры оптические эмиссионные, PDA-7000, PDA-8000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
47918-11
03.10.2016
Устройства испытательные, JF
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
47919-11
03.10.2016
Машины испытательные, ММТ, ЕМТ
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
48288-11

Дифрактометр рентгеновский, Shimadzu XRD-7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
2 года
48405-11
06.10.2026
Анализаторы нуклеиновых кислот, BioSpec-nano
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
48951-12
09.12.2026
Анализаторы общего углерода, TOC-L мод. TOC-LCSH, TOC-LCPH, TOC-LCSN, TOC-LCPN
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
48951-12
09.12.2026
Анализаторы общего углерода, TOC-L мод. TOC-LCSH, TOC-LCPH, TOC-LCSN, TOC-LCPN
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
48982-12
09.12.2026
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6100
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
49262-12
14.03.2017
Масс-спектрометры жидкостные, LCMS-8030
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
50061-12
03.04.2022
Спектрофотометры, UV-2600, UV-2700
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
50284-12
15.05.2027
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-720-P/800HS-P, XRF 1800, MXF 2400
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
54896-13
31.07.2024
Машины испытательные, AG-Xplus мод. AG-Xplus-0,5; AG-Xplus-1; AG-Xplus-HS-0,5; AG-Xplus-HS-1; AG-Xplus-SC-0,5; AG-Xplus-SC-1; AG-XDplus-0,5; AG-XDplus-1
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
54899-13
31.07.2029
Машины испытательные, EZTest мод. EZ-SX-0,5; EZ-SX-1; EZ-LX-0,5; EZ-LX-1; EZ-LX HS-0,5; EZ-LX HS-1
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
54913-13
26.06.2029
Анализаторы размеров частиц лазерные, SALD мод. SALD-201V, SALD-301V, SALD-2201, SALD-3101, SALD-7101, SALD-2300, SALD-7500nano
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
54996-13
31.07.2024
Машины испытательные, UH
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
57523-14
03.06.2019
Хроматографы газовые с детектором, GC-2010Plus (хроматографы) BID (детектор)
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
57524-14
15.04.2024
Хромато-масс-спектрометры модернизированные, GCMS-QP2010Ultra, GCMS-QP2010SE
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
57680-14
29.04.2029
Машины испытательные, AGS-X
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
58807-14
20.10.2019
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-7000, EDX-8000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
58807-17
16.07.2024
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-7000, EDX-7000P, EDX-8000, EDX-8000P
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
59082-14
19.09.2024
Фурье-спектрофотометры инфракрасные, IRTracer-100 и IRAffinity-1S
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
59373-14
01.11.2024
Машины испытательные, EHF
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
60877-15
01.04.2025
Спектрометры параллельного действия с индуктивно связанной плазмой атомно-эмиссионные, ICPE-9800 мод. ICPE-9810, ICPE-9820
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
63431-16
16.03.2026
Хроматографы жидкостные, Prominence
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
63487-16
28.03.2026
Хроматографы жидкостные с детекторами, LC-30 NEXERA (хроматографы) SPD-М30А, RID-20A, Decade Elite, Decade Lite, LCМS-8030, LCМS-8040 (детекторы)
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
63715-16
14.04.2026
Спектрофлуориметры, RF-6000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
64032-16
18.05.2026
Анализаторы общего углерода, TOC-4200, TOC-Vws, TOC-Vwp
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
64401-16
28.06.2026
Хромато-масс-спектрометры жидкостные, LCMS-8060
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
66402-17
19.01.2027
Хромато-масс-спектрометры газовые, GCMS-QP2020
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
66787-17
01.03.2027
Масс-спектрометры с индуктивно-связанной плазмой , ICPMS-2030
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
73667-18
29.12.2024
Весы лабораторные электронные неавтоматического действия, AP
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
74829-19
23.04.2024
Хромато-масс-спектрометры жидкостные, LCMS-8045
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
76065-19
13.09.2024
Калориметры дифференциальные сканирующие, модификаций DSC-60 Plus, DSC-60A Plus
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
76391-19
18.10.2024
Хроматографы жидкостные, Prominence-i (мод. LC-2030 Plus, LC-2030C Plus, LC-2030C 3D Plus, LC-2030C LT Plus) и Nexera-i (мод. LC-2040C Plus, LC-2040C 3D Plus, LC-2040С MT Plus, LC-2040С 3D MT Plus)
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
76854-19
10.12.2024
Хроматографы газовые, Nexis GC-2030
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
78795-20
28.07.2025
Спектрофотометры двухлучевые, UV-2600i, UV-2700i, UV-3600i Plus, SolidSpec-3700i
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
78257-20
06.05.2025
Хроматографы газовые, GC-2010Plus и GC-2014
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
78890-20
03.08.2025
Хромато-масс-спектрометры жидкостные, LCMS-9030
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
79183-20
11.09.2025
Весы электронные, UW
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
82085-21
18.06.2026
Хроматографы газовые, GC-2010 Pro
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
82777-21
26.08.2026
Хромато-масс-спектрометры газовые, GCMS-TQ8050 NX
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
84280-21
28.12.2026
Анализаторы термомеханические, ТМА-60
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
84281-21
28.12.2026
Анализаторы термические синхронные, DTG-60
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
88041-23
27.01.2028
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-8100P
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

В данном отчете представлена детальная информация о межповерочных интервалах (МПИ) для группы СИ за выбранный год.

Процесс анализа начинается со строительства гистограмм МПИ для каждого типа СИ. Данные для гистограмм берутся из свидетельств о поверке, где указаны интервалы между поверками в днях. После построения гистограмм производится фильтрация данных путем усреднения интервалов для выделения наиболее популярных МПИ. Полученные усредненные данные используются для построения круговых и колончатых диаграмм, а также для заполнения таблицы. В таблице указывается количество поверок в шт. и %, а также усредненные значения МПИ в целых числах и процентах.

Отчет также содержит информацию о наименованиях и МПИ типов СИ, которые были поверены в выбранный период, и количестве выполненных по ним поверок. Эта информация может быть полезна для анализа популярности и использования различных типов СИ.

Кроме того, отчет включает статистику по количеству типов СИ, утвержденных в текущем году, и МПИ, присвоенных этим СИ. По каждому МПИ приводится статистика по количеству типов СИ и количеству поверок за все время существования ФГИС АРШИН. Эта информация может быть использована для оценки популярности новых типов СИ и их использования в будущем.

В целом, данный отчет представляет ценную информацию для профессионалов, работающих с СИ и интересующихся анализом межповерочных интервалов и их использования в различных областях промышленности.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2025 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ООО "ИНЭКС СЕРТ"
(RA.RU.312302)
  • нет модификации
  • 1 0 1 0 1 0 1

    Стоимость поверки Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Программное обеспечение включает программы управления перемещением счетчика, расположенного на гониометре, программы обработки первичных данных и программы расчета характеристик анализируемых веществ.

    Идентификационные данные ПО представлены в таблице 1. Таблица 1

    Наименование программного обеспечения

    Идентификационное   на

    именование программного обеспечения

    Номер версии (идентификационный  номер)      про

    граммного обеспечения

    Цифровой идентификатор программного обеспечения (защитный      ключ-

    заглушка)

    Алгоритм вычисления   цифрового

    идентификатора программного обеспечения

    XRD

    XRD.exe

    VI

    D2263A1FCEF3

    E920E75652585

    C29911B

    MD5

    Компоненты программного обеспечения описаны в "Руководстве по программному обеспечению XRD-7000" (P/N кат. №305-20253-01).

    В зависимости от цели последующего анализа характеристик веществ и материалов, программное обеспечение позволяет подвергать данные результатов измерения различной об-

    работке профилей Брэгговских отражений (сглаживание, вычитание фона, вычитание Ка2 составляющей) и обработке параметров отражений (поиск отражений, коррекция систематической ошибки, метод внутреннего/внешнего стандарта). Кроме того, возможно проводить качественное и количественное определения фаз в анализируемом веществе, а также другие виды анализа посредством дополнительного программного обеспечения.

    Стандартное программное обеспечение для обработки данных включает в себя сле-

    дующие пункты.

    (1) Основная обработка данных

    Сглаживание

    Вычитание фона

    Вычитание Ка2 составляющей

    Поиск Брэгговских отражений (пиков)

    Коррекция систематической ошибки

    Коррекция методом внутреннего/внешнего стандарта

    (2) Операции с данными

    аХА(е)+Ьх£2(е+с)

    a, b, c: коэффициенты

    (3) Преобразования файлов

    Конвертирование из формата данных XRD-7000 в данные ASCII

    Конвертирование из формата данных ASCII в данные XRD-7000

    Конвертирование из формата данных XD-D1 в данные XRD-7000

    (4) Графический просмотр

    Вертикальное/горизонтальное размещение данных Преобразование масштаба оси интенсивности в логарифмическую форму

    Смена цветов изображения

    Смена типа изображения

    • Пунктирная линия

    • Точки

    • Столбцы

    • Заливка

    Произвольное масштабирование по осям

    Наложение трехмерных изображений

    • Произвольная установка угла наклона

    • Произвольный выбор удаления невидимых линий

    (5 ) Качественный анализ                 Автоматический поиск с использованием

    пользовательской базы данных или базы JCPDS PDF1 (опциональная).

    (6) Создание пользовательской базы данных Комплектование групп происходит из данных, полученных на XRD-7000 или из базы данных JCPDS.

    (7) Количественный анализ                Создание/регистрация калибровочной кри

    вой

    Количественные расчеты

    • Расчет по интенсивности (интенсивность, интегрированная интенсивность, соотношение интенсивностей)

    • Метод внутреннего стандарта

    Подробности работы программного обеспечения изложены в “Руководстве по программному обеспечению XRD-7000” (P/N 305-20253-01) или в “Руководстве по дополнительному программному обеспечению”.

    Метрологически значимая часть ПО, связанная с измерением угловой зависимости интенсивности отраженного излучения размещается на программном диске изготовителя и имеет защиту от доступа и модификации.

    Защита программного обеспечения измерения угловой зависимости интенсивности отраженного излучения от непреднамеренного и преднамеренного изменения соответствует уровню "А" по МИ 3286-2010.

    Влияние алгоритмов, используемых в программном обеспечении при: первичной обработке данных для определения интегральной ширины не более, %                                                                        3

    в программах вычисления метрологической характеристики средства измерений - интегральная ширина, не более, %.                                                      13


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа наносится на титульный лист Паспорта методом компьютерной графики и на корпус прибора, окрашиванием, с указанием названия прибора, модели, заводского номера и даты выпуска.


    Сведения о методиках измерений


    Нормативные и технические документы

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по методике поверки МП 48288-11 “Дифрактометр рентгеновский Shimadzu XRD-7000” “Методика поверки”, являющейся приложением А к Руководству по эксплуатации и утвержденной ГЦИ СИ ФГУП “ВНИИМС” 28 октября 2011 г.

    Основные средства поверки: комплект стандартных образцов и мер на основе дифракционных свойств кристаллической решетки, включающий стандартные образцы утвержденного типа № 9575-2010, ПРФ-3; № 9574-2010, ПРФ-12; № 304-23-2010, ПРФС-23; № 8631-2004, ПРИ-7а; № 304-14-2010, Мера угловая физического уширения Брэгговских отражений, МФУ-2-3.


    Изготовитель


    Фирма SHIMADZU CORPORATION, Япония
    International Marketing Division 3.
    Kanda-Nishikicho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101-8448, Japan Phone: 81(3)3219-5641 Fax. 81(3)3219-5710,
    URL http://www.shimadzu.com

    Дифрактометр состоит из основного блока и блока обработки данных. В состав основного блока входит генератор рентгеновского излучения, гониометр с контролирующим его процессором и блок детектирования отраженного пучка рентгеновских лучей. Работа генератора рентгеновского излучения и гониометра контролируется блоком обработки данных. Блок обработки данных соединяется с главным блоком посредством кабеля (LAN).

    Принцип действия дифрактометра основан на дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемого вещества. Направляемый из источника пучок рентгеновских лучей отражается от кристаллографически определенных атомных плоскостей и фокусируется на приемной щели детектора. Регистрация дифракционной картины углового распределения отражаемых импульсов (для выделения возникающих Брэгговских отражений от систем различных кристаллографических плоскостей) осуществляется сцинтилляционным детектором - счетчиком количества зарегистрированных отраженных импульсов. Методики измерений и обработки данных изложены в руководстве по эксплуатации № P\N 305-20102-01B. Методики измерений, обработки данных и расчетов метрологических характеристик стандартных образцов и мер, используемых при проведении испытаний и поверки, изложены в прилагаемых к этим стандартным образцам Инструкциях по применению этих стандартных образцов и мер.

    Внешний вид. Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000), http://oei-analitika.ru

    Наименование

    Кат. №

    Количество

    Примечание

    <Г ониометр>

    Коробка для хранения стандартных принадлежностей

    038-03014-03

    1

    D Щель Соллера

    215-22466

    1

    держатель щелей

    R Щель Соллера

    215-22481

    1

    держатель щелей

    Держатель образца

    214-22483

    1

    Щель, 0,05-10R

    215-22495-01

    1

    Щель, D0,5-R

    215-22495-02

    1

    Щель, D1-R

    215-22495-03

    1

    Щель, D2-R

    215-22495-04

    1

    Щель, S0,5-L

    215-22582-01

    1

    Щель, S1-L

    215-22582-02

    1

    Щель, S2-L

    215-22582-03

    1

    Щель, 0,15-20R

    215-22581-04

    1

    Щель, 0,3-20R

    215-22581-06

    1

    Фиксаторы

    215-22506

    2

    Винт с шестигранной шляпкой, М3*8

    022-25003-21

    2

    Установочный шаблон

    215-22505

    1

    Фильтр, Ni

    215-22500-02

    1

    Поглотитель Al

    215-22503

    1

    Подложка для стандартного образца

    215-22507-01

    1 комплект

    5 штук

    Стандартный образец (порошок Si)

    215-21723

    1

    325 меш, 20 г

    Стеклянная пластина

    200-15541

    1

    Медицинская оберточная бумага

    046-00998-03

    1

    Шестигранный ключ

    086-03819

    1

    2,5 мм

    Шестигранный ключ

    086-03804

    1

    3 мм

    Шестигранный ключ

    086-03805

    1

    4 мм

    Шестигранный ключ

    086-03806

    1

    5 мм

    Направляющая детектора

    215-23904

    1

    Тип S *1

    Фиксатор

    215-23905

    1

    Для направляющих детектора

    Винт с шестигранным отверстием, М5*8

    022-27083

    1

    Для направляющих детектора

    <Рентгеновская трубка>

    Рентгеновская трубка, А-45-Cu

    062-40003-03

    1

    2 КВт (тип *2)

    Рентгеновская трубка, PW-2253/20

    210-24016-21

    1

    2,7 КВт (тип *3)

    <Водяное охлаждение>

    Шланг в оплетке Тетрон 12*18

    018-31506

    15 м

    Хомут, BS5315 20

    037-61104-03

    4

    <Кабель электропитания>

    2

    Кабель электропитания, 8 мм *3

    215-22919

    7 м

    С зажимными разъемами 0 6

    2

    Заземляющий кабель, 6 мм *1

    215-22920-01

    7 м

    С зажимными разъемами 0 6

    <Инструкции>

    Инструкция по эксплуатации XRD-7000

    305-20256-01

    1

    Данное руководство

    Инструкция по программному обеспечению XRD-7000

    305-20253-01

    1

    Инструкция по эксплуатации рентгеновской трубки А-45-Си

    305-20103-01

    1

    2 КВт (тип *2)

    Примечание 1) Направляющая для детектора типа L, или одна типа S поставляются вместе с оборудованием.

    2,3) Рентгеновская трубка на 2 КВт (тип *2) или на 2,7 КВт (тип *3) вместе с инструкцией по эксплуатации поставляются с оборудованием.


    Диапазон измерений угловых позиций

    дифракции (20) (Брэгговских отражений), градус                                от 12 до 162

    Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения угловых позиций Брэгговских отражений по 2Q, градус:                             ± 0,007

    Диапазон измерения параметров кристаллической решётки, нм,                 от 0,2 до 1,4

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения

    параметров кристаллической решетки, нм,                                       ± 0,00002

    Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения параметров кристаллической решетки, нм,                                        ± 0,000001

    Диапазон измерения отношений интегральных интенсивностей, %               от 4 до 100

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения

    отношения интегральных интенсивностей, %,                                          ± 4

    Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения отношения интегральных интенсивностей, %,

    Диапазон измерения интегральной ширины Брэгговских отражений

    от 0,1 до 3,0

    по 2Q, градус

    Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения интегральной ширины Брэгговских отражений по 2Q, градус

    ± 0,005

    Диапазон измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM)

    по 2Q, градус                                                                      от 0,1 до 3,0

    Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM ) по 2Q, градус             ± 0,003

    Радиус гониометра, мм,

    стандартный

    переменный                                                  от 200 до 275

    Минимальное значение угла перемещения гониометра, градус                      0,0001

    Напряжение на аноде рентгеновской трубки, кВ, не более,

    Анодный ток рентгеновской трубки, мА, не более,

    Время установления рабочего режима, мин, не более

    Напряжение питания установки частотой (при 50±1) Гц, В,                       220±20

    Потребляемая мощность, (без компьютера и охлаждающего блока), В-А, не более

    Габаритные размеры ширина х длина х высота (без компьютера), мм:        1120X1049X1790

    Масса, кг, (без компьютера, охлаждающего блока и трансформаторов), не более

    Продолжительность непрерывной работы, ч,                               без ограничений

    Время наработки на отказ, ч, не менее

    Мощность эквивалентной дозы в рабочем положении в любой точке

    на расстоянии 0,1 м от поверхности защиты, мкЗв/ч, не более

    Условия эксплуатации:

    22±5

    60±10

    от 950 до 1030

    Диапазон рабочих температур, °С,

    Диапазон значений относительной влажности (при 23 °С), %, Диапазон атмосферного давления, гПа,


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель