Методика поверки «ГСИ. Рефлектометр солнечный «ИФ-1»» (МП 041.М4-16)

Методика поверки

Тип документа

ГСИ. Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

Наименование

МП 041.М4-16

Обозначение документа

ФГУП «ВНИИОФИ»

Разработчик

904 Кб
1 файл

ЗАГРУЗИТЬ ДОКУМЕНТ

  

УТВЕРЖДАЮ

X

г

Заместитель директора

«ВНИИОФИ»

Н.П. Муравская

Ж Oz6 » января 2017 г

Государственная система обеспечения единства измерений

Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

Методика поверки

№ МП 041.М4-16

Москва 2017 г.

1 ВВЕДЕНИЕ
  • 1.1 Настоящая методика поверки распространяется на рефлектометр солнечный «ИФ-1» (далее по тексту - рефлектометр), предназначенный для измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО (внеатмосферным солнечным излучением) относительным методом с помощью мер сравнения, и определяет методы и средства первичной и периодической поверок.

  • 1.2 Интервал между поверками - 1 год.

2 ОПЕРАЦИИ ПОВЕРКИ
  • 2.1 При проведении первичной и периодической поверок должны быть выполнены следующие операции, указанные в таблице 1.

Таблица 1

Наименование операции

Номер пункта Методики поверки

Проведение операции при

первичной поверке

периодической поверке

Внешний осмотр

8.1

Да

Да

Опробование

8.2

Да

Да

Подтверждение      соответствия

программного обеспечения

8.3

Да

Да

Определение    метрологических

характеристик

8.4

Определение           значений

интегрального      коэффициента

диффузного    отражения    без

исключения          зеркальной

составляющей    набора    мер

сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным    излучением    со

спектральным    распределением

АМО

8.4.1

Да

Да

Определение         абсолютной

погрешности       интегрального

коэффициента       диффузного

отражения    без    исключения

зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным    излучением    со

спектральным    распределением

АМО

8.4.2

Да

Да

Определение диапазона измерений интегрального      коэффициента

диффузного    отражения    без

исключения           зеркальной

8.4.3

Да

Да

составляющей          образцов

материалов и покрытий при облучении    их    солнечным

излучением со спектральным распределением АМО

Определение воспроизводимости измерений         интегрального

коэффициента       диффузного

отражения    без    исключения

зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении    их    солнечным

излучением со спектральным распределением АМО

8.4.4

Да

Да

Определение         абсолютной

погрешности          измерений

интегрального      коэффициента

диффузного    отражения    без

исключения          зеркальной

составляющей          образцов

материалов и  покрытий при

облучении    их    солнечным

излучением со   спектральным

распределением АМО

8.4.5

Да

Да

  • 2.2 При получении отрицательных результатов при проведении любой операции поверка прекращается.

  • 2.3 Поверку средств измерений осуществляют аккредитованные в установленном порядке в области обеспечения единства измерений юридические лица и индивидуальные предприниматели.

3 СРЕДСТВА ПОВЕРКИ
  • 3.1 При проведении первичной и периодической поверок должны быть использованы средства, указанные в таблице 2.

Таблица 2

Номер пункта методики поверки

Наименование и тип (условное обозначение) основного или вспомогательного средства поверки; обозначение нормативного документа, регламентирующего технические требования, и (или) метрологические и основные технические характеристики средства поверки

8.4.1,

8.4.2

Государственный первичный эталон единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне     длин    волн     от     0,2     до     20,0     мкм,

ГЭТ 156-2015

  • - диапазон воспроизведения спектрального коэффициента диффузного отражения (СКДО) от 0,2 до 20,0 мкм;

суммарное среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений СКДО составляет от 1,5-10'3 до 2,0-10’2;

  • - границы неисключенной систематической погрешности результата измерений СКДО при доверительной вероятности Р = 0,99 составляют от 6,6-10'3 до 1,2-10'2.

8.4.3-8.4.5

Рабочий эталон единицы спектрального коэффициента диффузного отражения в диапазоне значений от 0,02 до 0,95 в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,20 мкм, per. № 3.6.АУЮ.0001.2016

  • - диапазон длин волн: от 0,25 до 2,20 мкм;

  • - диапазон значений интегрального коэффициента полного диффузного отражения внеатмосферного солнечного излучения: от 0,02 до 0,95;

  • - доверительные границы абсолютной погрешности интегрального

коэффициента полного диффузного отражения без исключения зеркальной   составляющей   для   спектрального распределения

внеатмосферного солнечного излучения в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,20 мкм составляют ±0,015.

  • 3.2 Средства поверки, указанные в таблице 2, должны быть поверены (калиброваны) и аттестованы в установленном порядке. Допускается применение других средств поверки, не приведенных в таблице 2, но обеспечивающих определение (контроль) метрологических характеристик поверяемого рефлектометра с требуемой точностью.

4 ТРЕБОВАНИЯ К КВАЛИФИКАЦИИ ПОВЕРИТЕЛЕЙ
  • 4.1 К проведению поверки допускаются лица, прошедшие обучение по требуемому виду измерений, изучившие настоящую методику поверки, Руководство по эксплуатации рефлектометра, имеющие квалификационную группу не ниже III в соответствии с правилами по охране труда при эксплуатации электроустановок, указанных в приложении к приказу Министерства труда и социальной защиты РФ от 24.07.13 № 328Н.

5 ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ
  • 5.1 Система электрического питания приборов и средств поверки должна быть защищена от колебаний и пиков сетевого напряжения, искровые генераторы не должны устанавливаться вблизи рефлектометра.

  • 5.2 Помещение, в котором проводится поверка, должно соответствовать требованиям пожарной безопасности по ГОСТ 12.1.004-91 и иметь средства пожаротушения по ГОСТ 12.4.009-83.

  • 5.3 При проведении поверки следует соблюдать требования, установленные ГОСТ Р 12.1.031-2010, ГОСТ 12.1.040-83, правилами по охране труда при эксплуатации электроустановок. Оборудование, применяемое при испытаниях, должно соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.003-91. Воздух рабочей зоны должен соответствовать требованиям ГОСТ 12.1.005-88 при температуре помещения, соответствующей условиям испытаний для легких физических работ.

6 УСЛОВИЯ ПОВЕРКИ
  • 6.1 При проведении поверки должны соблюдаться следующие условия: от+15 до+25; от 50 до 80; от 96 до 106; 220+22; от 47 до 53.

    • - температура окружающего воздуха, °C

    • - относительная влажность, %

    • - атмосферное давление, кПа

    • - напряжение питающей сети, В

    • - частота питающей сети, Гц

  • 6.2 Помещение, где проводится поверка, должно быть чистым и сухим, свободным от пыли, паров кислот и щелочей. Допускаемый перепад температуры во время работы - не более 2 °C. Вблизи рефлектометра не должны располагаться громоздкие изделия, создающие неудобства в работе оператора.

  • 6.3 В помещении, где проводится поверка, должны отсутствовать механические вибрации и посторонние источники излучения, а также мощные постоянные и переменные электрические и магнитные поля.

  • 6.4 Необходимо избегать длительного воздействия на рефлектометр прямых солнечных лучей, так как это может привести к выходу из строя жидкокристаллического дисплея.

7 ПОДГОТОВКА К ПОВЕРКЕ
  • 7.1 Изучите Руководства по эксплуатации рефлектометра и ГЭТ 156-2015.

  • 7.2 Выдержите рефлектометр и вспомогательное оборудование в условиях, указанных в п. 6.1 настоящей методики поверки не менее 5 часов.

  • 7.3 Включите спектрофотометр «Lambda 900», входящий в состав ГЭТ 156-2015, кнопкой «Вкл».

  • 7.4 Включите компьютер.

  • 7.5 Запустите программу «Perkin Elmer UV WinLab» спектрофотометра «Lambda 900».

  • 7.6 Установите рефлектометр на рабочем месте.

  • 7.7 Подключите рефлектометр к сети с помощью адаптера.

  • 7.8 Включите тумблер питания.

  • 7.9 Снимите защитный колпачок, навинчивающийся на измерительное отверстие.

  • 7.10 Прогрейте рефлектометр в течении 30 мин.

  • 8 ПРОВЕДЕНИЕ ПОВЕРКИ

8.1 Внешний осмотр
  • 8.1.1 При внешнем осмотре должно быть установлено:

  • - отсутствие видимых механических повреждений;

  • - отсутствие царапин и потертостей на поверхности мер сравнения из состава рефлектометра;

  • - исправность кабелей и разъемов;

  • - наличие маркировки (наименование или товарный знак завода-изготовителя, тип и заводской номер рефлектометра);

- соответствие комплектности, указанной в паспорте рефлектометра.

  • 8.1.2  Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если он соответствует требованиям вышеперечисленных операций.

8.2 Опробование
  • 8.2.1 Включите рефлектометр в соответствии с п.п. 7.6-7.10.

  • 8.2.2 Убедитесь, что на встроенном ЖК экране дисплея появилась заставка режима прогрева в соответствии с рисунком 1.

Интегральный фотометр ИФ-1 v. 1.2 ОАО "Композит" РОСКОСМОС

Рисунок 1

  • 8.2.3 Коснитесь ЖК-экрана для перехода в главное меню в соответствии с рисунком 2.

КАЛИБРОВКА

ИЗМЕРЕНИЕ

И А С Т Р О Й К И

АРХИВ

Рисунок 2

  • 8.2.4 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если выполняются операции пп. 8.2.1 - 8.2.3.

8.3 Подтверждение соответствия программного обеспечения
  • 8.3.1  Проверяют соответствие заявленных идентификационных данных программного обеспечения: идентификационное наименование программного обеспечения, номер версии программного обеспечения.

  • 8.3.2 Проводят проверку уровня защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014.

  • 8.3.3 Проводят оценку влияния программного обеспечения на метрологические характеристики рефлектометра.

  • 8.3.4 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» согласно Р 50.2.077-2014, а идентификационные данные программного обеспечения соответствуют значениям, приведенным в таблице 3.

Таблица 3

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

Интегральный фотометр ИФ-1

Номер версии (идентификационный номер) ПО

1.2 и выше

Цифровой идентификатор ПО

-

  • 8.4 Определение метрологических характеристик

    • 8.4.1 Определение значений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

      • 8.4.1.1  Включите установку для передачи единицы величины СКДО в спектральном диапазоне от 0,2 до 2,5 мкм на основе спектрофотометра «LAMBDA 900» и приставки «PELA-ЮОО» из состава ТЭТ 156-2015 в соответствии с п.п. 7.3-7.5.

      • 8.4.1.2 В окне программы «Perkin Elmer UV WinLab» выберите метод измерений «DR0,25-2,5» (Приложение А, рисунок А.1).

      • 8.4.1.3 В разделе «Data Collection» на панели «Folder List» проверьте параметры измерений выбранного метода (Приложение А, рисунок А.2):

  • - в разделе «From» - 2500.00 нм;

  • - в разделе «То» - 250.00 нм;

  • - в разделе «Data Interval» -10.00 нм;

  • - в разделе «Ordinate Mode» - %R;

  • - в разделе «Lamp Change» - 319.20 нм;

  • - в разделе «Monochromator» - 860.80 нм;

  • - в разделе «Detector Change» - 860.80 нм.

  • 8.4.1.4 В разделе «Sample Info» на панели «Folder List» установите количество измерений, равное 5.

  • 8.4.1.5 Установите опорную меру из состава ГЭТ 156-2015 на установку «Lambda 900» в канал сравнения.

  • 8.4.1.6 Установите эталонную меру из состава ГЭТ 156-2015 на установку «Lambda 900» в канал измерения.

  • 8.4.1.7 Нажмите кнопку «Autozero» в верхней панели программы.

  • 8.4.1.8 Подтвердите установку нулевого значения, нажав кнопку «Ок» в всплывающем окне программы (Приложение А, рисунок А.З).

  • 8.4.1.9 Дождитесь появления надписи «Idle» в верхней левой панели программы.

  • 8.4.1.10 Уберите эталонную меру из канала измерений.

  • 8.4.1.11 Установите меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра в канал измерений.

  • 8.4.1.12 Нажмите кнопку «Start» в верхней панели программы.

  • 8.4.1.13  Нажмите кнопку «Ок» в всплывающем окне с автоматически присвоенным номером образца пять раз. В процессе сканирования в верхней левой панели программы показывается надпись «Scanning». Процесс измерения отображается также на графике на вкладке «Graphs» центральной панели программы. После завершения измерений во всем диапазоне длин волн выдается сообщение о сохранении результата под автоматически присвоенным номером.

  • 8.4.1.14 Полученный результат сохраните в формате «*.ASC».

  • 8.4.1.15  Уберите меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра из измерительного канала.

  • 8.4.1.16 Закройте окно метода измерений «DR0,25-2,5».

  • 8.4.1.17 Повторите измерения по п.п. 8.4.1.2 - 8.4.1.16 для всех мер сравнения (Ф-2 - Ф-10) из состава рефлектометра.

  • 8.4.1.18 Рассчитайте относительное спектральное распределение коэффициента диффузного отражения для всех измерений для всех мер сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра по формуле 1:

/ТА _ ^изм iW'PD зт (Л)

pDiW--JHo----                    (1)

где /?лзМ f (Л) - i-й сигнал измерений, полученный в п. 8.4.1.14;

РоэтСЛ)- спектральный коэффициент диффузного отражения эталонной меры из состава ГЭТ 156-2015.

  • 8.4.1.19 Рассчитайте абсолютный спектральный коэффициент диффузного отражения для всех измерений для всех мер сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра по формуле 2:

_ Рр i&typabsD (600)

(2)

PabsDiW      p(600)

где pabsD (600) - абсолютное значение спектрального коэффициента диффузного отражения меры сравнения из состава рефлектометра на длине волны 600 нм, полученное с помощью установки для воспроизведения и передачи единицы величины спектрального коэффициента диффузного отражения (СКДО) в диапазоне длин волн от 0,2 до 0,8 мкм методом Эрба из состава ГЭТ 156-2015 согласно руководству об эксплуатации установки;

Рв^(бОО)- i-й результат измерений спектрального коэффициента диффузного отражения меры сравнения из состава рефлектометра на длине волны 600 нм.

  • 8.4.1.20 Рассчитайте по пять интегральных коэффициентов диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей для каждой меры сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AM0 используя пять результатов измерений спектрального коэффициента диффузного отражения (СКДО), полученных в п. 8.4.1.19 по формуле 3:

    Ринт i

    £Едмо GOPabsD £<Л)

    (3)

где Едмо (Л) " спектральное распределение солнечного излучения AM0 (Приложение Б, таблица Б.1).

  • 8.4.1.21 Рассчитайте среднее значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AM0 по формуле 4:

Ринт   5 Si Ринт£                           (4)

  • 8.4.1.22  Рефлектометр, считается прошедшим операцию поверки, если интегральные коэффициенты диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышают значений, приведенных в таблице 4.

Таблица 4

Обозначение меры сравнения

Интегральный коэффициент диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

Ф-1

0,933±0,100

Ф-2

0,832±0,100

Ф-3

0,776±0,100

Ф-4

0,595±0,100

Ф-5

0,455±0,100

ф-6

0,383±0,100

Ф-7

0,255±0,100

Ф-8

0,194±0,100

Ф-9

0,145±0,100

Ф-10

0,019±0,010

  • 8.4.2 Определение абсолютной погрешности интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

    • 8.4.2.1   Рассчитайте среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10), из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле 5:

^(Ринт) =                                        (5)

  • 8.4.2.2  Определите неисключенную систематическую погрешность 9хИнг измерений путем суммирования неисключенных систематических погрешностей средств измерений, метода и погрешностей, вызванных другими источниками по формуле 6:

^Хинт = ±^гпэ                         (6)

где 0ГПЭ - неисключенная систематическая погрешность, определяемая по1решностью ГЭТ 156-2015 при измерении СКДО, рассчитывается по ГОСТ Р 8.736-2011 и составляет 0,011 в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,20 мкм при доверительной вероятности Р = 0,95 и 5 измерениях.

Определите случайную погрешность измерений sHHT (без учета знака) по формуле 7:

^ИНТ £ ' *^(Ринт)                                (7)

где t - коэффициент Стьюдента, который при и = 5 и доверительной вероятности Р = 0,95 составляет 2,776;

Абсолютную погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10), из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AMO рассчитывают по формуле 8:

А(Ринт)   ^инт ' ИНТ                            (8)

где инт ' среднее квадратическое отклонение суммы случайных и неисключенных систематических погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10)5 из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, определяемое по формуле 9:

инт

=J^+s2(₽„5

(9)

Кинт - коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешностей результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 -Ф-10), из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, рассчитываемый по формуле 10:

(10)

  • 8.4.2.3 За величину абсолютной погрешности интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО принять максимальные значения для всех мер набора.

  • 8.4.2.4 Набор мер сравнения из состава рефлектометра считается прошедшим операцию поверки, если абсолютная погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ±0,025.

  • 8.4.3 Определение диапазона измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

    • 8.4.3.1 Выберите в меню рефлектометра в соответствии с рисунком 2 пункт «КАЛИБРОВКА», после чего появится меню, соответствующее рисунку 3.

  • 8.4.3.2 В открывшемся окне выберете пункт «КАЛИБРОВКА-ФОН».

  • 8.4.3.3 Откройте измерительное отверстие рефлектометра.

  • 8.4.3.4 Направьте рефлектометр на свободное пространство, не имеющее источников теплового воздействия.

  • 8.4.3.5 Нажмите кнопку «СТАРТ» на ручке рефлектометра.

  • 8.4.3.6 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ» на ЖК экране рефлектометра.

  • 8.4.3.7 Нажмите на кнопку «ВЫХОД».

  • 8.4.3.8 Нажмите на кнопку «ВВОД - ЭТАЛОНА» в меню, соответствующем рисунку 3, появится меню в соответствии с рисунком 4.

    ВВОД ЭТАЛОНА

    03=0,910

    Рисунок 4

  • 8.4.3.9 Введите значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей меры сравнения Ф-1 из состава рефлектометра при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, полученное в п. 8.4.1, используя сенсорную клавиатуру на ЖК экране.

  • 8.4.3.10 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ».

  • 8.4.3.11 Нажмите на кнопку «КАЛИБРОВКА - ЭТАЛОН» в меню на рисунке 3.

  • 8.4.3.12 Приложите к измерительному отверстию рефлектометра меру сравнения Ф-1, входящую в состав рефлектометра.

  • 8.4.3.13 Нажмите на кнопку «СТАРТ» на рукоятке рефлектометра.

  • 8.4.3.14 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ» на ЖК экране прибора.

  • 8.4.3.15 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра.

  • 8.4.3.16 Вернитесь в меню «КАЛИБРОВКА» нажатием клавиши «ВЫХОД».

  • 8.4.3.17 Повторным нажатием клавиши «ВЫХОД» вернитесь в основное меню, соответствующее рисунку 2.

  • 8.4.3.18 Нажмите на кнопку «ИЗМЕРЕНИЕ».

  • 8.4.3.19  Плотно прижмите к измерительному отверстию рефлектометра эталонную меру Ф-1 из состава рабочего эталона, соответствующую мере сравнения Ф-1 из состава рефлектометра.

  • 8.4.3.20 Нажмите на кнопку «СТАРТ» на ручке рефлектометра.

  • 8.4.3.21 Запишите результат измерений.

  • 8.4.3.22 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра эталонную меру Ф-1 из состава рабочего эталона.

  • 8.4.3.23 Повторите измерения по п.п. 8.4.3.19 - 8.4.3.22 пять раз с переустановкой эталонной меры Ф-1 из состава рабочего эталона.

  • 8.4.3.24 Повторите измерения по п.п. 8.4.3.8 - 8.4.3.23 для всех мер сравнения (Ф-2 - Ф-10) из состава рефлектометра и эталонных мер (Ф-2 - Ф-10) из состава рабочего эталона.

  • 8.4.3.25 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если его диапазон измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО составляет от 0,10 до 0,95.

  • 8.4.4 Определение воспроизводимости измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

    • 8.4.4.1 Рассчитайте среднее арифметическое значение результатов измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле 11:

(11)

где рд^ - i-й результат измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, полученный в п. 8.4.3.

  • 8.4.4.2 Определите среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле 12:

(12)

  • 8.4.4.3 За воспроизводимость измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AMO примите максимальное значение среднего квадратического отклонения для всех эталонных мер набора из состава рабочего эталона.

  • 8.4.4.4 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если его воспроизводимость измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ±0,01.

  • 8.4.5 Определение абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

    • 8.4.5.1 Определите неисключенную систематическую погрешность 0s измерений путем суммирования неисключенных систематических погрешностей средств измерений, метода и погрешностей 0i, вызванных другими источниками по формуле 13:

(13)

где т - количество учитываемых неисключенных систематических погрешностей измерений, равное 2;

в± - неисключенная систематическая погрешность, определяемая абсолютной погрешностью значения интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, указанной в сертификате калибровки (свидетельстве о поверке) набора мер.

в2 - неисключенная систематическая погрешность, определяемая по формуле 14:

= |Рд РДэт|                          (14)

где Рдэт -значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, указанное в сертификате калибровки (свидетельстве о поверке) набора мер.

Определите случайную погрешность измерений ед (без учета знака) по формуле 15:

£Д = £5СрД)                            (15)

где t - коэффициент Стьюдента, который при п — 5 и доверительной вероятности Р = 0,95 составляет 2,776;

Абсолютную погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО (без учета знака) определите по формуле 16:

Д(Рд) = Яд ’ $£р                        (16)

где SXp - среднее квадратическое отклонение суммы случайных и неисключенных систематических погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, определяемое по формуле 17:

SEp ~     + S2 (Рд)

(17)

Кд - коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, рассчитываемый по формуле 18:

(18)

  • 8.4.5.2  За величину абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО примите максимальное значение абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей для всех эталонных мер набора при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО.

  • 8.4.5.3  Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если его абсолютная погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ±0,027.

9 ОФОРМЛЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ ПОВЕРКИ
  • 9.1  Рефлектометр, прошедший поверку с положительным результатом, признаётся годным и допускается к применению. На него выдаётся свидетельство о поверке установленной формы с указанием полученных по пп. 8.4.1 - 8.4.5 фактических значений метрологических характеристик рефлектометра и наносят знак поверки (место нанесения указано в описании типа) согласно Приказу Министерства промышленности и торговли Российской Федерации №1815 от 02.07.2015 г. «Об утверждении Порядка проведения поверки средств измерений, требования к знаку поверки и содержанию свидетельства о поверке», и рефлектометр допускают к эксплуатации. Результаты поверки заносятся в протокол (приложение В).

  • 9.2 При отрицательных результатах поверки рефлектометр признаётся негодным, не допускается к применению. Свидетельство о предыдущей поверке и знак поверки аннулируют и выписывают «Извещение о непригодности» с указанием причин в соответствии с требованиями Приказа Министерства промышленности и торговли Российской Федерации №1815 от 02.07.2015 г.

    С.П. Морозова

    А.А. Катышева

Начальник лаборатории М-4-3

ФГУП «ВНИИОФИ»

Инженер 1 кат. подразделения М-4

ФГУП «ВНИИОФИ»

ПРИЛОЖЕНИЕ A

(рекомендуемое) к Методике поверки «Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

I^UV Win Lab Explorer

Мйг-asi С спой

i Wavelength quant-

PoldrisaUon scan -Lambda 900

Scanning quant -Lambda 900

> Wavelength program

■   - Lambda 900

■ i пуск ' KIW3STON (G:)     UV WinLab Ex...

!Methods

L ...Base Methods

i

■ Scan - Lambda 900

! Timedrive - Lambda

Folder List__

® ^Methods]

--(fl Tasks

■ cs Instruments

- Queries !W1 Report Templa U Reports □ Recycle Bin

!] Name

! Type

J Modified cn

| Modified by I Status

|| га Преобразование файла для ввода в список стандартов отражения

Scan

15 января 2016 r. 13:09 Московское время (зима)

Adminlstra...

Draft

)’1Й)ТОСП ОДО-2и _2136_ш*г0.1_время имтегр 5сек_30ноября2015г

Scan

30 ноября 2015 г. 19:09 Московское время (зима)

Administra...

Draft

S®.

1 £$ ОДО-4№Ю-03_мера №10_531_АрхангельСК

Scan

12 ноября 2015 г. 13:39 Московское время (зима)

Adminlstra...

Draft

Й

! ^одо-4мера №10_441_Архангельск

Scan

12 ноября 2015 г. 12:S4 Московское время (зима)

Adminlstra...

Draft

1

| ^ОДО-4№Ю-03_мера №10.441

Scan

12 ноября 2015 г. 12:31 Московское время (зима)

Administra...

Draft

Hi

1 ^ОДО-4№10-03мера№10_356

Scan

12 ноября 2015 г. 11:11 Московское время (зима)

Adminlstra...

Draft

и ЙУоДОЧЧ>1сянский

Scan

14 октября 2015 г. 17:06 Московское время (зима)

Administra...

Draft

Ж

i ••

| ^Стекло для ПЛАЗМА Рязань

Scan

17 апреля 2015 г. 15:56 Московское время (зима)

Adminlstra...

Draft

| Е§ОДО-4яера №10_355-565нм

Scan

4 февраля 2015 г. 11:15 Московское время (зима)

Administra...

Draft

1 @ОДО-4нераМ9Ю_350-600нн

Scan

22 января 2015 г. 16:12 Московское время (зриа)

Administra...

Draft

■ Е^ТОСП ОДО в диапазоне 1600-2200_время 0.24 с_ус 1

Scan

16 января 2015 г. 14:14 Московское время (зииа)

Administra...

Draft

; ЩтОСП _1679_время инт 0.24с_ус 1

Scan

17 декабря 2014 г. 12:26 Московское время (зима)

Administra...

Draft

■ ШгОСПОДО-4_2136_ус1 время 0,24

Scan

15 декабря 2014 г. 17:47 Московское время (зима)

Administra...

Draft

• [§§ТОСП ОДО в диапазоне 1600-2200 время инткгр. 1 секунд

Scan

15 декабря 2014 г. 12:19 Московское время (зима)

Administra...

Draft

1 0УоДО-4мера №10_400-600нм_время инт 1с

Scan

12 декабря 2014 г. 13:38 Московское время (згка)

Administra...

Draft

• Ё^ТОСП ОДО в диапазоне 1600-2200 время инткгр. 5 секунд

Scan

2 октября 2014 г. 10:36 Московское время (зима)

Administra...

Draft

' @ТОСП ОДО-4 .2136

Scan

29 ноября 2013 г. 12:41 Московское время (зима)

Administra...

Draft

■ £§ТОСП ОДО-2И „1906_шаг0.1_время интегр5с

Scan

15 ноября 2013 г. 14:SS Московское время (зима)

Administra...

Draft

1 |§ТАС-1_241_баз_2сек

Scan

21 октября 2013 г. 14:43 Московское время (зима)

Administra...

Draft

1 |ЬЦтАС-1_638 т_6аз_5сек_2

Scan

21 октября 2013 г. 14:42 Московское время (зима)

Administra...

Draft

' Ё0МС2О по РТВ_430-780мм

Scan

5 июля 2013 г. 12:48 Московское время (зима)

Administra...

Oraft

I §МС20_ТЕСТ-С.Птб

Scan

3 июля 2013 г. 12:41 Московское время (зима)

Administra...

Draft

ВШрйР.25-2.3_400-250Е1нм

Scan

21 пая 2013 г. 15:15 Московское время (зииа)

Administra...

Draft

1 Е§МС-20_10с в ПК

Scan

14 мая 2013 г. 14:03 Московское время (зима)

Administra...

Draft

! {ЩтОСЛ ОДО-2и _2136_шаг0.1_время интегр 5сек

Scan

10 апреля 2013 г. 14:58 Московское время (зима)

Administra...

Oraft

;!                   Т                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                    !

[|Name         DR0.25-Z5_400-2500hm

Description    измерение ОКНО в диапазоне от 400 до 2500 нм

■1 Туре           Scan

)•! Cieated by      Admirastiator

Il Created cn     21 мая 2013 г. 15:15 Московское время (зима)

' Modified by     Administrator

i| Modified on    21 мая 2013 г. 15:15 Московское время (зима)

Revision        1

; Method ID      (AE49FF94-F64F-4A51-9C43-904C60CFTED7)

I Instrument type High performance UVAfis/NIR instrument

I Status           Draft

Рисунок A.l - Выбор метода измерений

External Lamps

Tungsten Lamp

Ordinate Mode

Monochromator

Number of cycles

Detector Settings

/ Lamp Change

[nm]

•■'319.23   i~*

Lx

To

250.00

Data Interval

10.00: ; -j (nm)

Method Settings

From

2500.00 ЦТ 1

Cycles i П*

Filter

J Settings... ’ О

Fixed

Data Collection

Folder List g| Task s

|Program I.....-is Accessory

Ча» Corrections •Щ Sample Info Д; Processing S Results ■B Output

Рисунок A.2 - Параметры измерения выбранным методом в разделе «Data Collection»

* UV WinLab - Run - DR0.25-2.5_400-2500hm 27 мая 2016 г. 9:24 Московское время (зима)

.1 File edit' Vtew DataCc&ction Ш Нф

Folder List

Гснпй? Sample Table

Remove sample(s) and then press OK to perform a 100%T / OA correction (Autozero)

FiSDcwn

Slit width

5,00 nm

Autozero

Delete

] [ Отмена |

:r

il Task s-^iData Collection

; 53 Program

: -T&. Accessory

Corrections j ^iSample Info] i Processing j H Results

•в Output

UV WinLab

^UV WinLab

R?UV WinLab

ПУСК     UV     Ex.

Report Send ToOPV s' Start Stop

Setting Up..

2499.99 nm   92.6895 % R

г I              йиаяв          J

Рисунок A.3 - Запрос подтверждения корректировки нулевого спектра

ПРИЛОЖЕНИЕ Б (обязательное) к Методике поверки «Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

Таблица БД - Спектральное распределение солнечного излучения АМО

Длина волны, нм

Освещенность, отн.ед

Длина волны, нм

Освещенность, отн. ед

Длина волны, нм

Освещенность, отн. ед

250

0,035

1010

0,324

1770

0,073

260

0,064

1020

0,319

1780

0,072

270

0,114

1030

0,313

1790

0,070

280

0,109

1040

0,308

1800

0,069

290

0,236

1050

0,303

1810

0,068

300

0,277

1060

0,297

1820

0,067

310

0,345

1070

0,292

1830

0,066

320

0,386

1080

0,286

1840

0,065

330

0,523

1090

0,281

1850

0,064

340

0,505

1100

0,275

I860

0,062

350

0,536

1110

0,271

1870

0,061

360

0,527

1120

0,266

1880

0,060

370

0,605

ИЗО

0,261

1890

0,059

380

0,559

1140

0,256

1900

0,058

390

0,509

1150

0,252

1910

0,057

400

0,700

1160

0,247

1920

0,056

410

0,882

1170

0,242

1930

0,055

420

0,873

1180

0,237

1940

0,054

430

0,809

1190

0,233

1950

0,053

440

0,923

1200

0,228

1960

0,053

450

1,000

1210

0,223

1970

0,052

460

0,982

1220

0,219

1980

0,051

470

0,986

1230

0,215

1990

0,050

480

0,982

1240

0,210

2000

0,049

490

0,905

1250

0,206

2010

0,048

500

0,900

1260

0,202

2020

0,048

510

0,891

1270

0,198

2030

0,047

520

0,850

1280

0,193

2040

0,046

530

0,886

1290

0,189

2050

0,045

540

0,900

1300

0,185

2060

0,045

550

0,886

1310

0,181

2070

0,044

560

0,864

1320

0,177

2080

0,043

570

0,850

1330

0,174

2090

0,042

580

0,850

1340

0,170

2100

0,042

590

0,836

1350

0,167

2110

0,041

600

0,823

1360

0,163

2120

0,041

610

0,805

1370

0,160

2130

0,040

620

0,791

1380

0,156

2140

0,039

630

0,773

1390

0,153

2150

0,039

640

0,755

1400

0,149

2160

0,038

650

0,736

1410

0,146

2170

0,038

660

0,723

1420

0,144

2180

0,037

670

0,705

1430

0,141

2190

0,036

680

0,686

1440

0,138

2200

0,036

690

0,673

1450

0,135

2210

0,035

700

0,655

1460

0,132

2220

0,035

710

0,641

1470

0,130

2230

0,034

720

0,623

1480

0,127

2240

0,034

730

0,609

1490

0,124

2250

0,033

740

0,591

1500

0,121

2260

0,033

750

0,577

1510

0,119

2270

0,032

760

0,564

1520

0,117

2280

0,032

770

0,551

1530

0,115

2290

0,031

780

0,538

1540

0,113

2300

0,031

790

0,525

1550

0,111

2310

0,030

800

0,512

1560

0,109

2320

0,030

810

0,501

1570

0,106

2330

0,030

820

0,490

1580

0,104

2340

0,029

830

0,478

1590

0,102

2350

0,029

840

0,467

1600

0,100

2360

0,028

850

0,456

1610

0,098

2370

0,028

860

0,446

1620

0,097

2380

0,027

870

0,436

1630

0,095

2390

0,027

880

0,426

1640

0,093

2400

0,027

890

0,417

1650

0,091

2410

0,026

900

0,407

1660

0,090

2420

0,026

910

0,398

1670

0,088

2430

0,026

920

0,390

1680

0,086

2440

0,025

930

0,382

1690

0,084

2450

0,025

940

0,373

1700

0,083

2460

0,025

950

0,365

1710

0,081

2470

0,024

960

0,358

1720

0,080

2480

0,024

970

0,351

1730

0,079

2490

0,024

980

0,344

1740

0,077

2500

0,023

990

0,337

1750

0,076

1000

0,330

1760

0,075

ПРИЛОЖЕНИЕ В (рекомендуемое) к Методике поверки «Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

ПРОТОКОЛ №     от

Поверки СИ

Общие данные о поверяемом средстве измерения: Наименование

  • - относительная влажность воздуха, %

  • - атмосферное давление, кПа

  • - напряжение питающей сети, В

  • - частота питающей сети, Гц

от 20 до 80 от 84 до 106 220±22

от 47 до 53

Результаты измерений.

1 Результаты измерений интегральных коэффициентов диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

Обозначение меры сравнения

Интегральный коэффициент диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

Результат

Требования методики поверки

Ф-1

0,933±0,100

Ф-2

0,832±0,100

Ф-3

0,776±0,100

Ф-4

0,595±0,100

Ф-5

0,455±0,100

ф-6

0,383±0,100

Ф-7

0,255±0,100

Ф-8

0,194±0,100

Ф-9

0,145±0,100

Ф-10

0,019±0,010

2 Характеристики рефлектометра солнечного «ИФ-1», зав. № 003.

Характеристика

Результат

Требования методики поверки

Диапазон измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

от 0,10 до 0,95

Воспроизводимость     измерений     интегрального

коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

±0,01

Абсолютная погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

±0,027

Абсолютная погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

±0,025

Поверка проведена с применением______________________________________

Поверено в соответствии с «Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометр солнечный «ИФ-1». Методика поверки» № МП 041.М4-16, утвержденным ФГУП «ВНИИОФИ»______

По результатам поверки средство измерений признано соответствующим описанию утвержденного типа ГРСИ №_______________.

Поверку проводил___________________________

21

Настройки внешнего вида
Цветовая схема

Ширина

Левая панель