Методика поверки «ГСИ. Рефлектометр солнечный «ИФ-1»» (МП 041.М4-16)

УТВЕРЖДАЮ

X

■

г

Заместитель директора

«ВНИИОФИ»

Н.П. Муравская

Ж O^z6 » января 2017 г

Государственная система обеспечения единства измерений

Методика поверки

№ МП 041.М4-16

Москва 2017 г.

• 1.1 Настоящая методика поверки распространяется на рефлектометр солнечный «ИФ-1» (далее по тексту - рефлектометр), предназначенный для измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО (внеатмосферным солнечным излучением) относительным методом с помощью мер сравнения, и определяет методы и средства первичной и периодической поверок.

• 1.2 Интервал между поверками - 1 год.

• 2.1 При проведении первичной и периодической поверок должны быть выполнены следующие операции, указанные в таблице 1.

Таблица 1

• 2.2 При получении отрицательных результатов при проведении любой операции поверка прекращается.

• 2.3 Поверку средств измерений осуществляют аккредитованные в установленном порядке в области обеспечения единства измерений юридические лица и индивидуальные предприниматели.

• 3.1 При проведении первичной и периодической поверок должны быть использованы средства, указанные в таблице 2.

Таблица 2

• 3.2 Средства поверки, указанные в таблице 2, должны быть поверены (калиброваны) и аттестованы в установленном порядке. Допускается применение других средств поверки, не приведенных в таблице 2, но обеспечивающих определение (контроль) метрологических характеристик поверяемого рефлектометра с требуемой точностью.

• 4.1 К проведению поверки допускаются лица, прошедшие обучение по требуемому виду измерений, изучившие настоящую методику поверки, Руководство по эксплуатации рефлектометра, имеющие квалификационную группу не ниже III в соответствии с правилами по охране труда при эксплуатации электроустановок, указанных в приложении к приказу Министерства труда и социальной защиты РФ от 24.07.13 № 328Н.

• 5.1 Система электрического питания приборов и средств поверки должна быть защищена от колебаний и пиков сетевого напряжения, искровые генераторы не должны устанавливаться вблизи рефлектометра.

• 5.2 Помещение, в котором проводится поверка, должно соответствовать требованиям пожарной безопасности по ГОСТ 12.1.004-91 и иметь средства пожаротушения по ГОСТ 12.4.009-83.

• 5.3 При проведении поверки следует соблюдать требования, установленные ГОСТ Р 12.1.031-2010, ГОСТ 12.1.040-83, правилами по охране труда при эксплуатации электроустановок. Оборудование, применяемое при испытаниях, должно соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.003-91. Воздух рабочей зоны должен соответствовать требованиям ГОСТ 12.1.005-88 при температуре помещения, соответствующей условиям испытаний для легких физических работ.

• 6.1 При проведении поверки должны соблюдаться следующие условия: от+15 до+25; от 50 до 80; от 96 до 106; 220+22; от 47 до 53.

  • - температура окружающего воздуха, °C

  • - относительная влажность, %

  • - атмосферное давление, кПа

  • - напряжение питающей сети, В

  • - частота питающей сети, Гц

• 6.2 Помещение, где проводится поверка, должно быть чистым и сухим, свободным от пыли, паров кислот и щелочей. Допускаемый перепад температуры во время работы - не более 2 °C. Вблизи рефлектометра не должны располагаться громоздкие изделия, создающие неудобства в работе оператора.

• 6.3 В помещении, где проводится поверка, должны отсутствовать механические вибрации и посторонние источники излучения, а также мощные постоянные и переменные электрические и магнитные поля.

• 6.4 Необходимо избегать длительного воздействия на рефлектометр прямых солнечных лучей, так как это может привести к выходу из строя жидкокристаллического дисплея.

• 7.1 Изучите Руководства по эксплуатации рефлектометра и ГЭТ 156-2015.

• 7.2 Выдержите рефлектометр и вспомогательное оборудование в условиях, указанных в п. 6.1 настоящей методики поверки не менее 5 часов.

• 7.3 Включите спектрофотометр «Lambda 900», входящий в состав ГЭТ 156-2015, кнопкой «Вкл».

• 7.4 Включите компьютер.

• 7.5 Запустите программу «Perkin Elmer UV WinLab» спектрофотометра «Lambda 900».

• 7.6 Установите рефлектометр на рабочем месте.

• 7.7 Подключите рефлектометр к сети с помощью адаптера.

• 7.8 Включите тумблер питания.

• 7.9 Снимите защитный колпачок, навинчивающийся на измерительное отверстие.

• 7.10 Прогрейте рефлектометр в течении 30 мин.

• 8 ПРОВЕДЕНИЕ ПОВЕРКИ

• 8.1.1 При внешнем осмотре должно быть установлено:

• - отсутствие видимых механических повреждений;

• - отсутствие царапин и потертостей на поверхности мер сравнения из состава рефлектометра;

• - исправность кабелей и разъемов;

• - наличие маркировки (наименование или товарный знак завода-изготовителя, тип и заводской номер рефлектометра);

- соответствие комплектности, указанной в паспорте рефлектометра.

• 8.1.2  Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если он соответствует требованиям вышеперечисленных операций.

• 8.2.1 Включите рефлектометр в соответствии с п.п. 7.6-7.10.

• 8.2.2 Убедитесь, что на встроенном ЖК экране дисплея появилась заставка режима прогрева в соответствии с рисунком 1.

Рисунок 1

• 8.2.3 Коснитесь ЖК-экрана для перехода в главное меню в соответствии с рисунком 2.

КАЛИБРОВКА

ИЗМЕРЕНИЕ

И А С Т Р О Й К И

АРХИВ

Рисунок 2

• 8.2.4 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если выполняются операции пп. 8.2.1 - 8.2.3.

• 8.3.1  Проверяют соответствие заявленных идентификационных данных программного обеспечения: идентификационное наименование программного обеспечения, номер версии программного обеспечения.

• 8.3.2 Проводят проверку уровня защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014.

• 8.3.3 Проводят оценку влияния программного обеспечения на метрологические характеристики рефлектометра.

• 8.3.4 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» согласно Р 50.2.077-2014, а идентификационные данные программного обеспечения соответствуют значениям, приведенным в таблице 3.

Таблица 3

• 8.4 Определение метрологических характеристик

  • 8.4.1 Определение значений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

    • 8.4.1.1  Включите установку для передачи единицы величины СКДО в спектральном диапазоне от 0,2 до 2,5 мкм на основе спектрофотометра «LAMBDA 900» и приставки «PELA-ЮОО» из состава ТЭТ 156-2015 в соответствии с п.п. 7.3-7.5.

    • 8.4.1.2 В окне программы «Perkin Elmer UV WinLab» выберите метод измерений «DR0,25-2,5» (Приложение А, рисунок А.1).

    • 8.4.1.3 В разделе «Data Collection» на панели «Folder List» проверьте параметры измерений выбранного метода (Приложение А, рисунок А.2):

• - в разделе «From» - 2500.00 нм;

• - в разделе «То» - 250.00 нм;

• - в разделе «Data Interval» -10.00 нм;

• - в разделе «Ordinate Mode» - %R;

• - в разделе «Lamp Change» - 319.20 нм;

• - в разделе «Monochromator» - 860.80 нм;

• - в разделе «Detector Change» - 860.80 нм.

• 8.4.1.4 В разделе «Sample Info» на панели «Folder List» установите количество измерений, равное 5.

• 8.4.1.5 Установите опорную меру из состава ГЭТ 156-2015 на установку «Lambda 900» в канал сравнения.

• 8.4.1.6 Установите эталонную меру из состава ГЭТ 156-2015 на установку «Lambda 900» в канал измерения.

• 8.4.1.7 Нажмите кнопку «Autozero» в верхней панели программы.

• 8.4.1.8 Подтвердите установку нулевого значения, нажав кнопку «Ок» в всплывающем окне программы (Приложение А, рисунок А.З).

• 8.4.1.9 Дождитесь появления надписи «Idle» в верхней левой панели программы.

• 8.4.1.10 Уберите эталонную меру из канала измерений.

• 8.4.1.11 Установите меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра в канал измерений.

• 8.4.1.12 Нажмите кнопку «Start» в верхней панели программы.

• 8.4.1.13  Нажмите кнопку «Ок» в всплывающем окне с автоматически присвоенным номером образца пять раз. В процессе сканирования в верхней левой панели программы показывается надпись «Scanning». Процесс измерения отображается также на графике на вкладке «Graphs» центральной панели программы. После завершения измерений во всем диапазоне длин волн выдается сообщение о сохранении результата под автоматически присвоенным номером.

• 8.4.1.14 Полученный результат сохраните в формате «*.ASC».

• 8.4.1.15  Уберите меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра из измерительного канала.

• 8.4.1.16 Закройте окно метода измерений «DR0,25-2,5».

• 8.4.1.17 Повторите измерения по п.п. 8.4.1.2 - 8.4.1.16 для всех мер сравнения (Ф-2 - Ф-10) из состава рефлектометра.

• 8.4.1.18 Рассчитайте относительное спектральное распределение коэффициента диффузного отражения для всех измерений для всех мер сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра по формуле 1:

/ТА _ ^изм iW'PD зт (Л)

pDiW--JHo----                    ⁽¹⁾

где /?лз_{М f} (Л) - i-й сигнал измерений, полученный в п. 8.4.1.14;

РоэтСЛ)- спектральный коэффициент диффузного отражения эталонной меры из состава ГЭТ 156-2015.

• 8.4.1.19 Рассчитайте абсолютный спектральный коэффициент диффузного отражения для всех измерений для всех мер сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра по формуле 2:

_ Рр i&typabsD (600)

PabsDiW      p_D£(600)

где p_absD (600) - абсолютное значение спектрального коэффициента диффузного отражения меры сравнения из состава рефлектометра на длине волны 600 нм, полученное с помощью установки для воспроизведения и передачи единицы величины спектрального коэффициента диффузного отражения (СКДО) в диапазоне длин волн от 0,2 до 0,8 мкм методом Эрба из состава ГЭТ 156-2015 согласно руководству об эксплуатации установки;

Рв^(бОО)- i-й результат измерений спектрального коэффициента диффузного отражения меры сравнения из состава рефлектометра на длине волны 600 нм.

• 8.4.1.20 Рассчитайте по пять интегральных коэффициентов диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей для каждой меры сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AM0 используя пять результатов измерений спектрального коэффициента диффузного отражения (СКДО), полученных в п. 8.4.1.19 по формуле 3:

  Ринт i

  £Едмо GOPabsD £<Л)

  (3)

где Едмо (Л) " спектральное распределение солнечного излучения AM0 (Приложение Б, таблица Б.1).

• 8.4.1.21 Рассчитайте среднее значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10) из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AM0 по формуле 4:

Ринт   5 Si Ринт£                           (4)

• 8.4.1.22  Рефлектометр, считается прошедшим операцию поверки, если интегральные коэффициенты диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышают значений, приведенных в таблице 4.

Таблица 4

• 8.4.2 Определение абсолютной погрешности интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

  • 8.4.2.1   Рассчитайте среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10), из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле 5:

^(Ринт) =                                        (5)

• 8.4.2.2  Определите неисключенную систематическую погрешность 9х_Инг измерений путем суммирования неисключенных систематических погрешностей средств измерений, метода и погрешностей, вызванных другими источниками по формуле 6:

^Хинт ⁼ ±^гпэ                         (6)

где 0_ГПЭ - неисключенная систематическая погрешность, определяемая по1решностью ГЭТ 156-2015 при измерении СКДО, рассчитывается по ГОСТ Р 8.736-2011 и составляет 0,011 в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,20 мкм при доверительной вероятности Р = 0,95 и 5 измерениях.

Определите случайную погрешность измерений s_HHT (без учета знака) по формуле 7:

^ИНТ £ ' *^(Ринт)                                (7)

где t - коэффициент Стьюдента, который при и = 5 и доверительной вероятности Р = 0,95 составляет 2,776;

Абсолютную погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10), из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AMO рассчитывают по формуле 8:

А(Ринт)   ^инт ' ИНТ                            (8)

где инт ' среднее квадратическое отклонение суммы случайных и неисключенных систематических погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 - Ф-10)₅ из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, определяемое по формуле 9:

К_инт - коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешностей результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей мер сравнения (Ф-1 -Ф-10), из состава рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, рассчитываемый по формуле 10:

(10)

• 8.4.2.3 За величину абсолютной погрешности интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО принять максимальные значения для всех мер набора.

• 8.4.2.4 Набор мер сравнения из состава рефлектометра считается прошедшим операцию поверки, если абсолютная погрешность интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ±0,025.

• 8.4.3 Определение диапазона измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

  • 8.4.3.1 Выберите в меню рефлектометра в соответствии с рисунком 2 пункт «КАЛИБРОВКА», после чего появится меню, соответствующее рисунку 3.

• 8.4.3.2 В открывшемся окне выберете пункт «КАЛИБРОВКА-ФОН».

• 8.4.3.3 Откройте измерительное отверстие рефлектометра.

• 8.4.3.4 Направьте рефлектометр на свободное пространство, не имеющее источников теплового воздействия.

• 8.4.3.5 Нажмите кнопку «СТАРТ» на ручке рефлектометра.

• 8.4.3.6 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ» на ЖК экране рефлектометра.

• 8.4.3.7 Нажмите на кнопку «ВЫХОД».

• 8.4.3.8 Нажмите на кнопку «ВВОД - ЭТАЛОНА» в меню, соответствующем рисунку 3, появится меню в соответствии с рисунком 4.

  ВВОД ЭТАЛОНА

  03=0,910

  

  Рисунок 4

• 8.4.3.9 Введите значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей меры сравнения Ф-1 из состава рефлектометра при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, полученное в п. 8.4.1, используя сенсорную клавиатуру на ЖК экране.

• 8.4.3.10 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ».

• 8.4.3.11 Нажмите на кнопку «КАЛИБРОВКА - ЭТАЛОН» в меню на рисунке 3.

• 8.4.3.12 Приложите к измерительному отверстию рефлектометра меру сравнения Ф-1, входящую в состав рефлектометра.

• 8.4.3.13 Нажмите на кнопку «СТАРТ» на рукоятке рефлектометра.

• 8.4.3.14 Нажмите на кнопку «ЗАПОМНИТЬ» на ЖК экране прибора.

• 8.4.3.15 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра меру сравнения Ф-1 из состава рефлектометра.

• 8.4.3.16 Вернитесь в меню «КАЛИБРОВКА» нажатием клавиши «ВЫХОД».

• 8.4.3.17 Повторным нажатием клавиши «ВЫХОД» вернитесь в основное меню, соответствующее рисунку 2.

• 8.4.3.18 Нажмите на кнопку «ИЗМЕРЕНИЕ».

• 8.4.3.19  Плотно прижмите к измерительному отверстию рефлектометра эталонную меру Ф-1 из состава рабочего эталона, соответствующую мере сравнения Ф-1 из состава рефлектометра.

• 8.4.3.20 Нажмите на кнопку «СТАРТ» на ручке рефлектометра.

• 8.4.3.21 Запишите результат измерений.

• 8.4.3.22 Снимите с измерительного отверстия рефлектометра эталонную меру Ф-1 из состава рабочего эталона.

• 8.4.3.23 Повторите измерения по п.п. 8.4.3.19 - 8.4.3.22 пять раз с переустановкой эталонной меры Ф-1 из состава рабочего эталона.

• 8.4.3.24 Повторите измерения по п.п. 8.4.3.8 - 8.4.3.23 для всех мер сравнения (Ф-2 - Ф-10) из состава рефлектометра и эталонных мер (Ф-2 - Ф-10) из состава рабочего эталона.

• 8.4.3.25 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если его диапазон измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО составляет от 0,10 до 0,95.

• 8.4.4 Определение воспроизводимости измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

  • 8.4.4.1 Рассчитайте среднее арифметическое значение результатов измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле 11:

    

(11)

где рд^ - i-й результат измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, полученный в п. 8.4.3.

• 8.4.4.2 Определите среднее квадратическое отклонение среднего арифметического результата измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО по формуле 12:

  

(12)

• 8.4.4.3 За воспроизводимость измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением AMO примите максимальное значение среднего квадратического отклонения для всех эталонных мер набора из состава рабочего эталона.

• 8.4.4.4 Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если его воспроизводимость измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ±0,01.

• 8.4.5 Определение абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

  • 8.4.5.1 Определите неисключенную систематическую погрешность 0s измерений путем суммирования неисключенных систематических погрешностей средств измерений, метода и погрешностей 0i, вызванных другими источниками по формуле 13:

(13)

где т - количество учитываемых неисключенных систематических погрешностей измерений, равное 2;

в_± - неисключенная систематическая погрешность, определяемая абсолютной погрешностью значения интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, указанной в сертификате калибровки (свидетельстве о поверке) набора мер.

в₂ - неисключенная систематическая погрешность, определяемая по формуле 14:

⁼ |Рд ^— РДэт|                          (14)

где Рдэт -значение интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонной меры из состава рабочего эталона при облучении её солнечным излучением со спектральным распределением АМО, указанное в сертификате калибровки (свидетельстве о поверке) набора мер.

Определите случайную погрешность измерений ед (без учета знака) по формуле 15:

^£Д = ^£ ■ ⁵Ср_Д)                            (15)

где t - коэффициент Стьюдента, который при п — 5 и доверительной вероятности Р = 0,95 составляет 2,776;

Абсолютную погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО (без учета знака) определите по формуле 16:

Д(Рд) ⁼ Яд ’ $£р                        (16)

где S_Xp - среднее квадратическое отклонение суммы случайных и неисключенных систематических погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, определяемое по формуле 17:

^SEp ~     + S² (Рд)

Кд - коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешностей измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей эталонных мер из состава рабочего эталона при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО, рассчитываемый по формуле 18:

(18)

• 8.4.5.2  За величину абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО примите максимальное значение абсолютной погрешности измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей для всех эталонных мер набора при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО.

• 8.4.5.3  Рефлектометр считается прошедшим операцию поверки, если его абсолютная погрешность измерений интегрального коэффициента диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей образцов материалов и покрытий при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО не превышает ±0,027.

• 9.1  Рефлектометр, прошедший поверку с положительным результатом, признаётся годным и допускается к применению. На него выдаётся свидетельство о поверке установленной формы с указанием полученных по пп. 8.4.1 - 8.4.5 фактических значений метрологических характеристик рефлектометра и наносят знак поверки (место нанесения указано в описании типа) согласно Приказу Министерства промышленности и торговли Российской Федерации №1815 от 02.07.2015 г. «Об утверждении Порядка проведения поверки средств измерений, требования к знаку поверки и содержанию свидетельства о поверке», и рефлектометр допускают к эксплуатации. Результаты поверки заносятся в протокол (приложение В).

• 9.2 При отрицательных результатах поверки рефлектометр признаётся негодным, не допускается к применению. Свидетельство о предыдущей поверке и знак поверки аннулируют и выписывают «Извещение о непригодности» с указанием причин в соответствии с требованиями Приказа Министерства промышленности и торговли Российской Федерации №1815 от 02.07.2015 г.

  

  С.П. Морозова

  А.А. Катышева

Начальник лаборатории М-4-3

ФГУП «ВНИИОФИ»

Инженер 1 кат. подразделения М-4

ФГУП «ВНИИОФИ»

I^UV Win Lab Explorer

Мйг-asi С спой

i Wavelength quant-

PoldrisaUon scan -Lambda 900

Scanning quant -Lambda 900

> Wavelength program

■   - Lambda 900

■ i пуск ' KIW3STON (G:)     UV WinLab Ex...

■ Scan - Lambda 900

! Timedrive - Lambda

External Lamps

Tungsten Lamp

Ordinate Mode

Monochromator

Number of cycles

Detector Settings

/ Lamp Change

[nm]

•■'319.23   i~*

Lx

To

250.00

Data Interval

10.00: ; -j (nm)

Method Settings

From

2500.00 ЦТ 1

Cycles i П*

Filter

J Settings... ’ О

Fixed

Data Collection

Folder List g| Task s

|Program I.....-is Accessory

Ча» Corrections •Щ Sample Info Д; Processing S Results ■B Output

Рисунок A.2 - Параметры измерения выбранным методом в разделе «Data Collection»

.1 File edit' Vtew DataCc&ction Ш Нф

Folder List

Гснпй? Sample Table

Remove sample(s) and then press OK to perform a 100%T / OA correction (Autozero)

FiSDcwn

Slit width

5,00 nm

Autozero

Delete

] [ Отмена |

:r

il Task s-^iData Collection

; 53 Program

^: -T&. Accessory

’ Corrections j ^iSample Info] i Processing j H Results

•в Output

UV WinLab

^UV WinLab

R?UV WinLab

ПУСК     UV     Ex.

ПРИЛОЖЕНИЕ Б (обязательное) к Методике поверки «Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

Таблица БД - Спектральное распределение солнечного излучения АМО

ПРИЛОЖЕНИЕ В (рекомендуемое) к Методике поверки «Рефлектометр солнечный «ИФ-1»

Поверки СИ

Общие данные о поверяемом средстве измерения: Наименование

• - относительная влажность воздуха, %

• - атмосферное давление, кПа

• - напряжение питающей сети, В

• - частота питающей сети, Гц

от 20 до 80 от 84 до 106 220±22

от 47 до 53

Результаты измерений.

1 Результаты измерений интегральных коэффициентов диффузного отражения без исключения зеркальной составляющей набора мер сравнения, входящего в состав рефлектометра, при облучении их солнечным излучением со спектральным распределением АМО

2 Характеристики рефлектометра солнечного «ИФ-1», зав. № 003.

Поверка проведена с применением______________________________________

Поверено в соответствии с «Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометр солнечный «ИФ-1». Методика поверки» № МП 041.М4-16, утвержденным ФГУП «ВНИИОФИ»______

По результатам поверки средство измерений признано соответствующим описанию утвержденного типа ГРСИ №_______________.

Поверку проводил___________________________

21