Методика поверки «ГСИ. СИСТЕМЫ ЛАЗЕРНОЙ ЦЕНТРОВКИ ВАЛОВ ПЦ-ЛАЗЕР» (МП АПМ 53-15)
УТВЕРЖДАЮ
директор
СИ
2015 г.
ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ СИСТЕМЫ ЛАЗЕРНОЙ ЦЕНТРОВКИ ВАЛОВ ПЦ-ЛАЗЕР
МЕТОДИКА ПОВЕРКИ
МП АПМ 53-15
Москва. 2015
Настоящая методика поверки распространяется на системы лазерной центровки валов Г1Ц-Лазер (далее по тексту - системы) и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверки.
Интервал между поверками - 1 год.
1. Операции и средства поверки.-
1.1. При проведении поверки должны быть выполнены операции и применены эталонные и вспомогательные средства, указанные в таблице 1.
Таблица 1.
№ п/ п |
Наименование операции. |
№ пункта методики |
Средства поверки и их технические характеристики. |
1. |
Внешний осмотр. |
5.1 | |
2. |
Опробование. |
5.2 | |
3. |
Определение диапазона и погрешности измерений перемещений |
5.3 |
•Микроскоп двухкоординатный струментальный ДИП-ЗМ. 0 ... 100 мм.1 2 3 ПГ ± 1 мкм |
При несоответствии характеристик поверяемых систем установленным требованиям по любому из пунктов таблицы 1 их к датьнейшей поверке не допускают и последующие операции не проводят.
Примечание: допускается использование других эталонных СИ. не уступающих по точности указанным в таблице 1.
2. Требования бегопаснос! и.При проведении поверки должны выполняться требования, обеспечивающие безопасность труда, производственную санитарию и охрану окружающей среды в соответствии с нормами. принятыми на предприятии, а также указаниями Руководства по эксплуатации системы.
3, У словия поверки.-
3.1. При проведении поверки необходимо соблюдать следующие условия:
-
- температура окружающей среды. °C......................................2О±5
-
- относительная влажность. %..................................................65±15
-
- атмосферное давление. кПа.....................................................84-106
1И1-ЗМ
Рис. 1
-
5.2.2 Датчик ДИ-1 устанавливается с помощью магнитного основания на корпус микроскопа как показано на рисунке и остается неподвижным в процессе испытаний.
Датчик ДИ-2 устанавливается на подвижный стол микроскопа так. чтобы лазерные лучи при включении датчиков были направлены в окна матриц друг друга (приблизительно середина окна матрицы, как по горизонтали, так и по вертикали).
-
5.2.3 Включить систему. При включении ПВУ во время самотестирования (примерно 3 сек) на дисплее высвечивается надпись «Система ПЦ-Лазер Версия 4.3», подтверждающая наличие ПО соответствующей версии.
-
5.2.4 Перемещая столик микроскопа, убедиться в изменении показаний на дисплее ПВУ.
Переместить стол микроскопа с датчиком ДИ-2 относительно неподвижно закрепленного датчика ДИ-1 вправо на 5 мм (примерно) по показаниям микроскопа Ьлс|кгв- Зафиксировать показания датчиков L„,mi и Lh>M2-
Повторить измерения, перемещая подвижный стол микроскопа с датчиком в прямом и обратном направлении с шагом около 5 мм по всему диапазону измерений.
Определить абсолютную погрешность измерений для датчиков ДИ1 и ДИ2 по формуле:
AL| I-дейсгв — LhimI
А1-2 — Ьдейсга — Сщм2
Максимальная абсолютная погрешность измерения перемещений для каждого измерения не должна превышать ±0,01 мм. 6. Оформление результатов поверки.-
6.1. Система, прошедшая поверку с положительными результатами, признаётся годной и допускается к применению. Па нес выдаётся свидетельство установленной формы или делается отметка в эксплуатационной документации.
-
6.2. При отрицательных результатах поверки система признаётся непригодной и к применению не допускается. Отрицательные результаты поверки оформляются извещением о непригодности.
Начальник сектора
ООО «Лвтопрогресс-М»
Максимов М.В.
Подготовка к поверке.
Перед проведением поверки прогреть используемое оборудование в течение 30 минут.
Порядок проведения поверки
-
5.1. Внешний осмотр.
-
5.1.1. При внешнем осмотре должно быть установлено:
-
- наличие маркировки/товарный знак фирмы изготовителя, тип и заводской номер системы;
-
- отсутствие механических повреждений и дефектов, влияющих на работоспособность системы.
5.2. Опробование.
-
5.2.1 Установить датчики системы на корпус микроскопа, как показано на рис.1.