Паспорт «КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД» (ИА2.706.002 ПС)
Ц
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-1.png)
2>u гшгтогр'и
.IJOUJVil
ГЯ-1ХИОЯ
HOdOLVt И иОХЯЗФДЙ Х1ЧННЗЯ1Э
HOniVJ^O.LJliJllIMOH
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-2.png)
<U BH3V- *wu :
khwmlxmiuh j.VHt.'-iiHHhxvitf Hvartf пп.и
iihiwhiuo joMdaifcsinsie aoiHchn^
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-3.png)
Date of print 27-05-2021 -12/34/33
■
■|
№
Opp
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-4.png)
x-5
<5
R
i
И
*
(g> Иа2.706.002ПС
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-5.jpg)
да^Ш ЭД^^^ИСТ'жами дефекта об-г—, г„..г^4тия, глубинай 'длина. Дефект вьшолня-’ ’-з, У ется в виде искусственней прорези. 8 .
-
5.1.3 Периодичность поверки образна — один раз в два года.
-
5.1.4 Поверка образца проводится организациями, получившими в установленном порядке право на проведение данных работ.
Т’-З ...7Т " У':.
5.2 Операции и 1
5.2.1 При проведег
и применяться средства лице 5.1
T:
цуг/t ЛТУАуь S4 ШКй V й
ДИИ
А
■ 6»-. ;
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-6.jpg)
,их
стик zr-
тельные средства. "
■ гТ-’.‘
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-7.jpg)
2.11
2.12
■л?-. ГАЛ.^
:8 •■■<■;■
X'-A-
5.5.2
перио
дическая
Штангенциркуль
ШЦ-11 250-0,05, ГОСТ 166-89.
Микрометр
МКО-25 мм.
ГОСТ 6507-89
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-8.jpg)
ж;:
j
■-gfg
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-9.jpg)
•: ■ ■ •: О* • • ■. •' -'• : ■ |
Продолжение таблицы 5Л | |||||
1 |
2 |
3 |
4 |
>... 5 . | ||
©пределе- |
2.11 |
5.5.3 |
Весы |
+ | ||
кие массы |
2.12 |
РП-100 Ш13 | ||||
образца |
Л-’.-. :- - ’ • | |||||
ине глуби- |
w ■ 2.2 |
|
Индикатор ЙЧ02КЛ.О |
’’. • . | ||
ны и шири- |
2.3 |
ГОСТ 577-68. | ||||
ны раскрытия дефек- |
2.4 2.11 |
Йй |
Микроскоп инструментальный |
■■■■■■ | ||
тов образца |
2.12 |
БМИ4 ГОСТ 8074-82 | ||||
©пределе- |
"2.5 |
5.5.6 |
+ | |||
ние длины |
2.6 | |||||
дефектов |
2.11 | |||||
Определе- |
2.7 |
5.5.7 |
Профилограф-профилометр. |
,+. | ||
нив шеро- |
2.11 | |||||
ховатости |
2.12 |
модель 20i | ||||
— | ||||||
Лпряялпе- |
2.8 |
5.5.6 |
Микрометр MP 1 |
ц- |
— . | |
•■яие то;тщи- |
2.9 |
ГОСТ 4381-68 |
.<• | |||
,,r- W“=-V- |
2.12 |
•. \ д-- .. |
;Ч:. ■?. | |||
код- |
Т Т |
-- | ||||
©пределе-ние глубины и шири- |
XII |
55Л2 |
Индикатор ИЧ02КЙ.О ГОСТ 577-68. |
4- .......... ■ -■'л |
■ | |
ны канавок, |
Микроскоп ин- | |||||
имити- |
стоу ментальный |
- ’ : ■ ; | ||||
рукнцих |
БМИ-1 | |||||
шероховатость по- |
ГОС!' 8074-82 | |||||
верхности Rz32C- или |
Т7 - | |||||
RZ160 |
•!:~—*—— |
ИЙ с метрологичс сними характеристиками не хуже, чему средотв, указанных в таб
микроскопа
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-10.jpg)
(5.2)
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-11.jpg)
.5.5,4.16. Исправленныйрсзультатдадиер^ния гл;
деляется в К~3 местах, равномерно распределенных по длине по^рйемо дефекта..:,-.. . '■//■■■>■ '■
5.5.4.17 Среднее квадратическое owoneHMe .от
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-12.jpg)
рения оценивается по формуле
п(п-1)
*(Ч
рения глубин ы дефекта на поверяемом участке его длины.
где X, - Лй результат наблюдения;
я:
А -определяетсяпо формуле(5.3); и • число результатов набдподений;
£-1
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-13.jpg)
их к нормальному распределению не проверяется, при этом заранее предполагается, что результаты наблюдений принадлежат нормальному рас-ирШлевйогз ;5 ■ ■ ;; - аАА
■ ;:5.5^1Гда
$ "• — >■■ бр-' -' *п то-- -
(5.5) где t~ коэффициент Стьюдента, который в зависимости от доверительной вероятности Р и числа результатов наблюдений находится по таблице справочного приложения 2 ГОСТ 8.207-76.
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-14.jpg)
Ий2 7O6.GO2HC
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-15.jpg)
Обработку результатов измерений проводить в соответствии с пп.5.5.4.14... 5.5.4.17. Измерения осуществлять следующим образом:
-
1) установить щуп индикатора на поверхность образца в непосредственной близости от дефекта и зафиксировать показания по пЖйЙ!''
|;. ' индикатора; - г. 1 ..... ' ..
-
2) установить щуп индикатора в дефект и зафиксировать его показание д
-
3) неисправленный результат текущего наблюдения глубины дефекта определяется выражением
(5.6)
-
4) наблюдения глубины дефекта по п.п. 5.5.4.20.1) ... 5.5.4.20.4) проводить не менее трех раз.
-
5) дальнейшую обработку результатов измерений глубины дефекта проводить поп.п. 5.5.4.14... 5.5.4.19.
Образец считается выдержавшим поверку по п.5.5.4, если размер глубины дефекта и предел ее допустимой погрешности соответствуют характеристикам пп.2.1,2.2 и таблицы 2.1.
-
5.5.5 Проверку ширины раскрытия искусственного дефекта проводить не менее чем в трех равномерно распределенных по длине дефекта местах следующим образом:
-
5.5.5.1 Установить образец на предметный столик микроскопа.
-
5.5.5.2 Подвести участок образца с искусственным дефектом в поле зрения микроскопа и сфокусировать его на поверхность образца.
5.5.53 Перемещая предметный столик с образцом, совместить визирную линию с краем искусственного дефекта и зафиксировать показание шкалы микрометрического винта.
Date of print 27-05-2021-12/34/33
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-16.jpg)
И 331
ширины дефекта в
зирную линию
данном месте AJ
-
S.5.5.6 С учетом того, что систематических погрешностей при определении по л.5.5.5.5 величины &Xt нет, можно считать, что результаты наблюдений АХ,. и исправленные результаты измерений АХ,. совпадают. Поэтому за результат измерения принимается среднее арифметическое результатов наблюдснийпо п.5.5.5.5 и п.5.5.5.6, вычисляемое поформулс
(5.8)
5.S.5.7 Исправленный результат измерения ширины в трех местах на поверяемом участке его длины определяется выражением
V j
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-18.jpg)
тое проведать по
. (5.9)
льтатов измерения ширины дефек-
Образец считаетсявыдержавшим поверку по п.5.5Д размер ширины раскрытия дефекта и предел сс допустимой погрешности соответствуют характеристикам пп. 2.3, 2.4 и таблицы 2.1.
-
5.5.6 Определение длины дефекта проводится на инструментальном микроскопе БМИ-1 (или аналогичном) в следующем порядке:
-
5.5.6.1 Расположить образец на предметный столик микроскопа.
-
5.5.6.2 Подвести участок образца с дефектом в поле зрения микроскопа и сфокусировать его на рабочую поверхность образца.
-
5.5.6.3 Поворачивая образец на предметном столике микроскопа расположить дефект параллельно одной из визирных линий М окуляра микроскопа.
(§> Ия2.706.00211С
-
5.S.6.4 Перемещая предметный столик с образцом, совместить визирную линию Н объектива микроскопа перпендикулярно линии М с одним из краев дефекта н зафиксировать показание At шкалы микрометрического винта; с помощью которого перемещается столик микроскопа.
5.5,Перемещая предметный столик микроскопа с образцом, совместить визирную линию Н объектива микроскопа с другим краем дефекта и зафиксировать показание Д2 шкалы микрометрического винта.
'5«5.&б При измерении длины дефекта единственной систематической погрешностью является инструментальная погрешность микроскопа БМИ-1, равная 0,003 мм, которая является пренебрежимо малой в сравнении допустимой погрешностью определения длины, равной 0,5 мм. Поэтому длину дефекта L в нашем случае допустимо определять по разности
L = A2-Ab (5.10)
Данная разность равна длине дефекта образца.
Обра^ц<^таеШ<:вь1держайщйм>.поверку по п5.5.6, если размер длины;:дефектд:::й/ п|юдет<::^: дойустййой погрешности соответствуют
2,1, ■ ■■■/..............'......Л..
5.5*7?П|Юверкащ®рбхб:Ватоетии:оаертнвст®Й9<разцов .5;5.Ж:1::Й^оверж.ш^ОжватосШ:йовер^остн\сЙразцов,содер^адей дефект, ■.приведенные в, табж прризйодитсяс помощью Профилографа-
прбфиЖдатрамсадщлиФШна-де^^
. по: зйсйл^Ш1».'ДдаЬго: при^о-
ра<
; '.иой^йсхжЙ: С*ИД должна "сорт-.
встсдаюйть:^ ■■■■.■■?
. ширины канавок, а также ширины
ф,5«ДЗ<Г';1у|инажанавок?п0вердотсяпоп.5.5.4;2О,.
... дефе^-щ^^
■ ... ОСдрафетг счфга|тсЖ;ВЫд^ если размеры
канйрк ,;М;Ш®^пЬл?нжоДЯтся. вДОпусках.приведениыхз' таблице 2.1, и чисдоию5ш ^1кФ5<й^ФадозойжЖ’ю4лда8 мм срответотвенно равно 5.' <
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-19.png)
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-20.png)
Места измерений толщины I... 5 находятся на плоской части, а места измерений толщййб! 6.,. S - на месте сгиба образца зазора.
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-21.jpg)
-
5.5.8.4 Толщина образца зазоров характеризуется толщиной его поверяемого участка.
-
5.5.8.5 С учетом того, что систематических погрешностей при определении по п.5.5.4,12 величины Xs нет, можно считать, что результаты
<-
наблюдений и исправленные результаты измерений X. совпадают. Поэтому за результат измерения принимается среднее арифметическое результатов наблюдений.
, £5&б Исправленным результатом измерений образца в каждом месте поверяемого участка является среднее арифметическое из трех на-
блюдений толщины в данном месте
о.
(5.И)
1=1
5.5.8.7 Исправленным результатом измерений толщины образца зазора по п.5.5.8.1 и л.55.8.3 являете» среднее арифметическое в пяти местах поверяемого участка
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-22.jpg)
(5.12)
О
О 28
Об
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-23.jpg)
tg> Иа2.706.002ПС
S.5.8.8 Толщина образца зазора по п.5.5.7.2 характеризуется двумя участками. Соответственно исправленный результат измерений для каждого участка толщины определяется выражениями
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-24.jpg)
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-25.jpg)
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-26.jpg)
5.58.9 Дальнейшую обработку результатов измерения толщины образцов проводить по п.5.54.14...5.5.4.19.
Образец считается выдержавшим поверку по п.5.5.8, если размер толщины дефектов и предел его допустимой погрешности соответствуют
характеристикам таблицы 2.2.
![Паспорт. КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД. ОЕИ Аналитика](mp_html/567250925657c09f0127ed_files/567250925657c09f0127ed-27.jpg)
5.5.9 Результаты поверки
5.5.9Л Результаты поверки каждого образца заносятся в протокол, форма которого приведена в Приложении 2.
5.S.9.2 При положительных результатах поверки образцов выдается свидетельство установленного государством образца.
Свидетельство о поверке комплекта ОВД и ОЗ действительно только с приложенным к нему Протоколом с данными измерений ОВД и ОЗ.
5.5.93 При отрицательном результате поверки лю^ото из образцов свидетельство на комплект образцов не выдается, в протоколе поверки делается запись о непригодности комплекта образцов к применению, выдается извещение о непригодности комплекта образцов.
29