Паспорт «КОМПЛЕКТ ОБРАЗЦОВ ИСКУССТВЕНЫХ ДЕФФЕКТОВ И ЗАЗОРОВ КОИДЗ-ВД» (ИА2.706.002 ПС)

Ц

2>u гшгтогр'и

.IJOUJVil

ГЯ-1ХИОЯ

HOdOLVt И иОХЯЗФДЙ Х1ЧННЗЯ1Э

HOniVJ^O.LJliJllIMOH

khwmlxmiuh j.VHt.'-iiHHhxvitf Hvartf пп.и

■|

№

Opp

цуг/t ЛТУАуь S4 ШКй V й

ДИИ

А

■ 6»-. ;

,их

стик zr-

тельные средства. "

■ гТ-’.‘

перио

дическая

Штангенциркуль

ШЦ-11 250-0,05, ГОСТ 166-89.

Микрометр

МКО-25 мм.

ГОСТ 6507-89

ж^;:

j

■-gfg

(5.2)

.5.5,4.16. Исправленныйрсзультатдадиер^ния гл;

деляется в К~3 местах, равномерно распределенных по длине по^рйемо дефекта..:,-..                                                   . '■//■■■>■ '■

рения оценивается по формуле

п(п-1)

*(Ч

рения глубин ы дефекта на поверяемом участке его длины.

где X, - Лй результат наблюдения;

я:

А -определяетсяпо формуле(5.3); и • число результатов набдподений;

£-1

их к нормальному распределению не проверяется, при этом заранее предполагается, что результаты наблюдений принадлежат нормальному рас-ирШлевйогз                                                 ^;5 ■ ■ ;; - аАА

■   ^;:5.5^1Гда

$        "• — >■■ бр-' -' *п то--                             -

(5.5) где t~ коэффициент Стьюдента, который в зависимости от доверительной вероятности Р и числа результатов наблюдений находится по таблице справочного приложения 2 ГОСТ 8.207-76.

Ий2 7O6.GO2HC

Обработку результатов измерений проводить в соответствии с пп.5.5.4.14... 5.5.4.17. Измерения осуществлять следующим образом:

• 1) установить щуп индикатора на поверхность образца в непосредственной близости от дефекта и зафиксировать показания по пЖйЙ!''

|;. ' индикатора; - г. ¹    .....           ' ..

• 2) установить щуп индикатора в дефект и зафиксировать его показание д

• 3) неисправленный результат текущего наблюдения глубины дефекта определяется выражением

(5.6)

• 4) наблюдения глубины дефекта по п.п. 5.5.4.20.1) ... 5.5.4.20.4) проводить не менее трех раз.

• 5) дальнейшую обработку результатов измерений глубины дефекта проводить поп.п. 5.5.4.14... 5.5.4.19.

Образец считается выдержавшим поверку по п.5.5.4, если размер глубины дефекта и предел ее допустимой погрешности соответствуют характеристикам пп.2.1,2.2 и таблицы 2.1.

• 5.5.5 Проверку ширины раскрытия искусственного дефекта проводить не менее чем в трех равномерно распределенных по длине дефекта местах следующим образом:

• 5.5.5.1 Установить образец на предметный столик микроскопа.

• 5.5.5.2 Подвести участок образца с искусственным дефектом в поле зрения микроскопа и сфокусировать его на поверхность образца.

5.5.53 Перемещая предметный столик с образцом, совместить визирную линию с краем искусственного дефекта и зафиксировать показание шкалы микрометрического винта.

И 331

ширины дефекта в

• S.5.5.6 С учетом того, что систематических погрешностей при определении по л.5.5.5.5 величины &X_t нет, можно считать, что результаты наблюдений АХ,. и исправленные результаты измерений АХ,. совпадают. Поэтому за результат измерения принимается среднее арифметическое результатов наблюдснийпо п.5.5.5.5 и п.5.5.5.6, вычисляемое поформулс

  

(5.8)

5.S.5.7 Исправленный результат измерения ширины в трех местах на поверяемом участке его длины определяется выражением

V j

тое проведать по

.                                 (5.9)

льтатов измерения ширины дефек-

Образец считаетсявыдержавшим поверку по п.5.5Д размер ширины раскрытия дефекта и предел сс допустимой погрешности соответствуют характеристикам пп. 2.3, 2.4 и таблицы 2.1.

• 5.5.6 Определение длины дефекта проводится на инструментальном микроскопе БМИ-1 (или аналогичном) в следующем порядке:

• 5.5.6.1 Расположить образец на предметный столик микроскопа.

• 5.5.6.2 Подвести участок образца с дефектом в поле зрения микроскопа и сфокусировать его на рабочую поверхность образца.

• 5.5.6.3 Поворачивая образец на предметном столике микроскопа расположить дефект параллельно одной из визирных линий М окуляра микроскопа.

(§> Ия2.706.00211С

• 5.S.6.4 Перемещая предметный столик с образцом, совместить визирную линию Н объектива микроскопа перпендикулярно линии М с одним из краев дефекта н зафиксировать показание A_t шкалы микрометрического винта_; с помощью которого перемещается столик микроскопа.

5.5,Перемещая предметный столик микроскопа с образцом, совместить визирную линию Н объектива микроскопа с другим краем дефекта и зафиксировать показание Д₂ шкалы микрометрического винта.

'5«5.&б При измерении длины дефекта единственной систематической погрешностью является инструментальная погрешность микроскопа БМИ-1, равная 0,003 мм, которая является пренебрежимо малой в сравнении допустимой погрешностью определения длины, равной 0,5 мм. Поэтому длину дефекта L в нашем случае допустимо определять по разности

L = A₂-A_b                          (5.10)

Данная разность равна длине дефекта образца.

Обра^ц<^таеШ<:вь1держайщйм>.поверку по п5.5.6, если размер длины;:дефектд^:::й/ п|юдет<^:_:^: дойустййой погрешности соответствуют

2,1, ■ ■■■/..............'......Л..

5.5*7?П|Юверкащ®рбхб:Ватоетии_:оаертнвст®Й9<разцов .5;5.Ж:1:^:Й^оверж.ш^ОжватосШ:йовер^остн\сЙразцов,содер^адей дефект, ■.приведенные в, табж    прризйодитсяс помощью Профилографа-

прбфиЖдатрамсадщлиФШна-де^^

.                                    по: зйсйл^Ш1».'ДдаЬго_: при^о-

ра<

;                               '.иой^йсхжЙ: С*ИД должна "сорт-.

встсдаюйть:^                       ■■■■.■■?

.                              ширины канавок, а также ширины

ф,5«ДЗ^<Г';1у|инажанавок?п0вердотсяпоп.5.5.4;2О,.

... дефе^-щ^^

■   ... ОСдрафетг счфга|тсЖ;ВЫд^                            если размеры

канйрк ,;М;Ш®^пЬл?нжоДЯтся. вДОпусках.приведениыхз' таблице 2.1, и чисдоию5ш ^1кФ5<й^ФадозойжЖ’ю4лда8 мм срответотвенно равно 5.' <

Места измерений толщины I... 5 находятся на плоской части, а места измерений толщййб! 6.,. S - на месте сгиба образца зазора.

29