Сведения о средстве измерений: 76632-19 Микроскопы конфокальные лазерные измерительные

Номер по Госреестру СИ: 76632-19
76632-19 Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
(LEXT OLS5000)

Назначение средства измерений:
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 05.01.2020
Срок свидетельства - 29.11.2024
Номер записи - 174957
ID в реестре СИ - 953095
Тип производства - серийное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-SAF, Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-EAF, Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000,

Производитель

Изготовитель - Фирма "OLYMPUS Corporation"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Город Ижевск входит в двадцатку важнейших городов России и в пятерку ведущих торговых центров на 1 000 человек. В настоящее время город по праву может использовать экономические, транспортные и культурные особенности страны, имея развитую оборонную, машиностроительную и металлургическую промышленность. И, кстати, Ижевский пруд является самым большим искусственным водоемом в Европе.

Географическое расположение Ижевска весьма удобно: существующая инфраструктура позволяет добраться практически в любую точку России - на самолете, поезде или автобусе. Например, перелет до Москвы длится всего 2 часа. К сожалению, пока аэропорт города не может похвастаться международным статусом, поэтому путешественникам из Удмуртии приходится ездить в Казань или Нижнекамск, где расположены ближайшие международные аэропорты.

Железнодорожная сеть традиционно высоко развита - всего в часе (или получасе - в зависимости от скорости движения) езды от Ижевска находится крупная железнодорожная станция Агрыз, а в паре часов - еще более крупная станция Балезино, где можно сделать пересадку или купить билет на проходящие поезда во всех направлениях.

Ижевск - развитый промышленный центр Удмуртии и Урала. Город известен в стране и в мире производством высококачественных сталей, развитым машиностроением, в частности: производством оружия и военной техники, стрелкового, охотничьего и нарезного оружия, автомобилей, приборостроения, пищевой промышленности. Основной целью развития промышленного сектора экономики г. Ижевска является сохранение и развитие имеющегося производственного потенциала путем его реструктуризации и адаптации к изменившимся экономическим условиям.

Основой экономического и социального развития города Ижевска является промышленное производство с долей численности работников 31,7% от среднесписочной численности работников организаций города Ижевска. Промышленные предприятия являются основными плательщиками налогов в бюджет города.

Отчет "Анализ рынка поверки в Ижевске" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Ижевск.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 3 000 руб.

Статистика

Кол-во поверок - 15
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 7
Кол-во средств измерений - 4
Кол-во владельцев - 5
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№2827 от 2019.10.29 Об утверждении типов средств измерений

Наличие аналогов СИ: Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "OLYMPUS Corporation"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
50074-12
01.06.2017
Микроскопы измерительные оптические, OLYMPUS STM6, STM6-LM
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
64204-16

Микроскоп конфокальный лазерный, LEXT OLS 4100
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
76632-19
29.11.2024
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, LEXT OLS5000
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
78538-20
29.06.2025
Микроскопы измерительные оптические, STM7
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

Отчет предназначен для отслеживания динамики наполнения ФГИС АРШИН данными о поверках. Отчет состоит из 3 графиков и одной сводной таблицы. Все графики являются интерактивными, имеют функции экспорта и масштабирования. Таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок.

Графики представляют собой столбчатые диаграммы распределения поверок, загружаемых в ФГИС аршин по годам. По оси абсцисс «Ox» - дата, по оси ординат «Oy» - количество поверок в штуках. Возможно отслеживание трех типов "поверок": первичные поверки, периодические поверки или извещения о непригодности.

В заголовке отчета приводятся усредненные данные по загруженным в АРШИН поверкам:

  • максимальное количество поверок за год
  • среднее количество поверок в год
  • период наполнения базы в месяцах и годах
  • суммарное количество поверок в системе

В завершении отчета приведена сводная таблица с данными для возможности самостоятельной обработки информации. В таблице представлены следующие поля:

  • дата
  • общее количество поверок
  • кол-во периодических поверок
  • кол-во извещений о непригодности

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-SAF
  • Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000
  • Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-EAF
  • 15 2 5 7 0 8 2 6

    Стоимость поверки Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Управление микроскопом и обработки результатов измерений осуществляется с помощью встроенной ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «OLYMPUS OLS5000». ПО «OLYMPUS OLS5000» позволяет проводить измерения линейных размеров элементов рельефа по осям X, Y Z, в том числе определять в автоматическом режиме значение шага шаговых структур, измерять параметры шероховатости поверхности, толщину пленок, производить сшивку изображений, полученных в различных положениях столика объектов в условиях частичного перекрытия изображений. ПО «OLYMPUS OLS5000» не может быть использовано отдельно от микроскопа.

    Идентификационные данные программного обеспечения указаны в таблице 1.

    Таблица 1

    Идентификационное наименование ПО

    OLYMPUS OLS5000

    Номер версии (идентификационный номер) ПО

    1.2.1.116 или выше

    Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

    -

    Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

    -

    Уровень защиты ПО соответствует типу «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

    Лист № 3 Всего листов 5 

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится на лицевую панель основного блока в виде наклейки и на титульвнный лист эксплуатационной документации типографским способом.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационной документации.


    Нормативные и технические документы

    Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу конфокальному лазерному измерительному LEXT OLS5000

    Техническая документация фирмы-изготовителя

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по документу МП 76632-19 «Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000. Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 08 июня 2019 г.

    Основные средства поверки:

    - мера ширины и периода специальная МШПС -2.0К (рег. № 33598-06);

    - меры длины концевые плоскопараллельные номинальным значением 0,5 мм и 1 мм 3- го разряда согласно Государственной поверочной схеме (Приказ Росстандарта от 29.12.2018 г. №2840);

    - объект -микрометр ОМО (рег. № 590-63);

    • - мера длины штриховая типа ПБ по ГОСТ 12069-90 (диапазон измерений 0-200 мм);

    • - меры шероховатости эталонные ПРО-10 (рег. № 66933-17) с номинальными значениями по параметру шероховатости Ra 0,025 мкм и 77 мкм.

    Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемого микроскопа с требуемой точностью.

    Знак поверки наносится на лицевую панель основного блока микроскопа в виде наклейки, как показано на рисунке 1 и на свидетельство о поверке.


    Изготовитель

    Фирма OLYMPUS Corporation, Япония
    Адрес: Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914, Japan Тел./факс: 81-42-545-8111/81-42-544-9795
    E-mail: info@olympus-global.com

    Заявитель

    Общество с ограниченной ответственностью «Мелитэк» (ООО «Мелитэк»)
    Адрес: 117342, г. Москва, ул. Обручева, д. 34/63, строение 2 Тел./факс: (495) 781-07-85
    E-mail: info@melytec.ru

    Испытательный центр

    Акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (АО «НИЦПВ»)
    Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1
    Тел./факс: (495) 935-97-77
    E-mail: nicpv@mail.ru

    Принцип действия микроскопа основан на использованием диафрагмы, размещённой в плоскости промежуточного изображения и ограничивающей поток фонового рассеянного света, излучаемого не из фокальной плоскости объектива. Данная диафрагма играет роль пространственного фильтра: чем меньше диаметр диафрагмы, тем меньше размеры области, из которой выходит излучение, способное пройти через указанную диафрагму и сделать вклад в информативный сигнал.

    В конфокальном микроскопе в каждый момент времени происходит регистрация изображения из одной точки объекта. Полное изображение объекта в конфокальном микроскопе формируется путем последовательной регистрации света, исходящего из этих элементарных объемов с применением сканирующей системы. Это позволяет получить серии изображений на различных глубинах фокальной плоскости внутри образца (т. н. оптическое секционирование образца по глубине), и затем реконструировать трехмерное изображение образца из этих серий.

    В Микроскопе использован сканер новой конструкции, который обладает пониженной дисторсией и минимальными оптическими абберациями. Для отклонения по оси Х используется МЭМС - сканер с электромагнитным приводом, а по оси Y - гальваносканер. Для удобства работы в Микроскопе реализована двухканальная система конфокальной оптики с двумя различными конфокальными диафрагмами. Выбор диафрагмы осуществляется автоматически в зависимости от типа объектива и режима получения изображения.

    Микроскоп включает две оптические системы:

    • - лазерную конфокальную оптическую систему, использующую лазерный диод с длиной волны 405 нм и высокочувствительный фотоумножитель,

    • - оптическую систему цветного изображения с белым светодиодом и CMOS матрицей.

    Конструктивно Микроскоп состоит из основного блока, выполненного в настольном исполнении, блока электроники и персонального компьютера с предустановленным программным обеспечением для управления работой микроскопа. Основной блок включает столик образцов, перемещаемый по осям X, Y ручным приводом или автоматически в зависимости от модели микроскопа, и измерительную оптическую головку с набором объективов, перемещение которой по оси Z контролируется измерительной системой микроскопа.

    Микроскоп имеет несколько модификаций: OLS5000-SAF, OLS5000-SMF, OLS5000-LAF, OLS5000-EAF, OLS5000-EMF, которые отличаются приводом столика образцов и диапазоном его перемещения, а также максимальной высотой исследуемого объекта.

    Пломбирование микроскопа не предусмотрено. Общий вид микроскопа и место нанесения знака поверки приведены на рисунке 1.

    Место нанесения знака поверки

    Внешний вид. Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 1 - Общий вид микроскопа конфокального лазерного LEXT OLS 5000


    Таблица 4 -

    Наименование

    Обозначение

    Количество

    Микроскоп конфокальный лазерный измерительный

    LEXT OLS5000-X, где Х: SAF (либо SMF, LAF, EAF, EMF)

    1 шт.

    Руководство по эксплуатации

    -

    1 экз.

    Методика поверки

    -

    1 экз.


    Таблица 2 - Метрологические характеристики

    Наименование характеристики

    Значение

    Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм

    от 0,5 до 800,0

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

    ±(0,15+L/100)

    СКО случайной составляющей погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм, не более

    - объектив 20х

    0,030

    - объектив 50х

    0,012

    - объектив 100х

    0,012

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z на сшитых панорамных изображениях (для модификаций SAF и EAF), мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

    - объектив 10х

    ±(5,0+L/100)

    - объектив 20х или выше

    ±(1,0+L/100)

    Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм

    - объектив 10х

    от 30 до 1200

    - объектив 20х

    от 15 до 600

    - объектив 50х

    от 5 до 250

    - объектив 100х

    от 2 до 120

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, %

    ±1,5

    СКО случайной составляющей погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм, не более - объектив 20х

    0,05

    - объектив 50х

    0,04

    - объектив 100х

    0,02

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY на сшитых панорамных изображениях (для модификаций SAF и EAF), мкм (где L - измеряемая длина, мм)

    - объектив 10х

    ±(24+L/2)

    - объектив 20х

    ±(15+L/2)

    - объектив 50х

    ±(9+L/2)

    - объектив 100х

    ±(7+L/2)

    Диапазон измерений шероховатости, мкм, по параметру - Ra

    от 0,025 до 100

    - Rz

    от 0,05 до 200

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений шероховатости, мкм, по параметру

    - Ra

    ±(0,003+0,04<Ra)

    - Rz

    ±(0,006+0,04<Rz)

    (где Ra, Rz - параметры шероховатости, мкм)

    Таблица 3 - Основные технические характеристики

    Наименование характеристики

    Модификация прибора

    OLS5000-

    SAF

    OLS5000-

    SMF

    OLS5000-

    LAF

    OLS5000-

    EAF

    OLS5000-

    EMF

    Разрешение в плоскости XY, нм, не более

    1

    Разрешение по оси Z, нм, не более

    0,5

    Диапазон перемещения столика образцов, мм

    100x100

    100x100

    300x300

    100x100

    100x100

    Привод столика образцов

    моторизованный

    ручной

    моторизованный

    моторизованный

    ручной

    Максимальная высота образцов, мм

    100

    40

    37

    210

    150

    Масса, кг, не более - основной блок; -блок электроники

    31

    32

    50

    43

    44

    12

    Габаритные        размеры

    (ДхШхВ), мм, не более:

    • - основной блок

    • - блок электроники

    360х275х510

    180x360x380

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающей среды, °С

    -относительная влажность воздуха, %, не более

    от +18 до +22

    80

    Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50/60 Гц, В

    от 210 до 230

    Потребляемая мощность, Вт, не более

    280


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель