Сведения о средстве измерений: 76632-19 Микроскопы конфокальные лазерные измерительные

Номер по Госреестру СИ: 76632-19
76632-19 Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
(LEXT OLS5000)

Назначение средства измерений:
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 05.01.2020
Срок свидетельства - 29.11.2024
Номер записи - 174957
ID в реестре СИ - 953095
Тип производства - серийное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

мод. LEXT OLS5000-SAF, Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-SAF, Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-EAF, Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000, Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 5000,

Производитель

Изготовитель - Фирма "OLYMPUS Corporation"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Отчет "V_21. Поверка по организации в динамике по месяцам" полезен для оценки объёмов количества поверок, проводимых аккредитованной организацией. Отчет строится в динамике по месяцам и представлен тремя графиками. Графики являются интерактивными с возможностью масштабирования и экспорта в сторонние программы. В зависимости от выбранного графика приводятся объёмы поверок (все поверки, периодические поверки, извещения о непригодности) по месяцам, конкретной организации или группы организаций.

Для справки в шапке отчета приводится усредненная статистика по запросу:

  • максимальное количество поверок за день
  • среднее количество поверок в месяц и год
  • количество месяцев (в выбранном временном интервале)
  • количество годов (в выбранном временном интервале)
  • общее количество поверок за выбранный период

Для построения отчета необходимо предварительно сконфигурировать два параметра его отображения:
1- Выбрать интересующим временной интервал (в БД имеются данные начиная с 2010 г.)
2- Выбрать аккредитованную на поверку организацию (несколько организаций) из списка СИ (выпадающий список позволяет делать множественный выбор). Существование дубликатов организаций вызвано разницей в написании наименований и преобразовании форм собственности организаций за все время ведения федерального фонда. Для удобства выбора в скобках указано общее кол-во поверок в системе, приходящееся на конкретного поверителя.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 18
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 9
Кол-во средств измерений - 8
Кол-во владельцев - 9
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№2827 от 2019.10.29 Об утверждении типов средств измерений

Наличие аналогов СИ: Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "OLYMPUS Corporation"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
50074-12
01.06.2017
Микроскопы измерительные оптические, OLYMPUS STM6, STM6-LM
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
64204-16

Микроскоп конфокальный лазерный, LEXT OLS 4100
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
76632-19
29.11.2024
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, LEXT OLS5000
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
78538-20
29.06.2030
Микроскопы измерительные оптические, STM7
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

Махачкала - город на юге России, расположенный на берегу Каспийского моря. Столица Республики Дагестан. Третий по величине город в Северо-Кавказском регионе и крупнейший город в Северо-Кавказском федеральном округе. Махачкала - самый густонаселенный город Северо-Кавказского федерального округа, один из немногих растущих и самый быстрорастущий из крупнейших российских городов, многие из которых в постсоветское время имели отрицательную динамику численности населения.

Современная Махачкала - крупный экономический, административный, политический, научный и культурный центр Юга России. Это единственный незамерзающий российский морской порт на Каспии. Город является крупным промышленным центром Южного федерального округа. Его предприятия специализируются на производстве оборонной, лесной, металлообрабатывающей, электронной, рыбоперерабатывающей и другой продукции. За последние 4 года объем промышленного производства увеличился более чем в 5 раз.

Отчет "Анализ рынка поверки в Махачкале" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Махачкала.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2025 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-SAF
  • Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000
  • Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-EAF
  • Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 5000
  • мод. LEXT OLS5000-SAF
  • 18 2 6 9 0 9 2 7

    Стоимость поверки Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость
    ФБУ НИЦ ПМ-Ростест
    Москва
    77500 77500

    Программное обеспечение

    Управление микроскопом и обработки результатов измерений осуществляется с помощью встроенной ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «OLYMPUS OLS5000». ПО «OLYMPUS OLS5000» позволяет проводить измерения линейных размеров элементов рельефа по осям X, Y Z, в том числе определять в автоматическом режиме значение шага шаговых структур, измерять параметры шероховатости поверхности, толщину пленок, производить сшивку изображений, полученных в различных положениях столика объектов в условиях частичного перекрытия изображений. ПО «OLYMPUS OLS5000» не может быть использовано отдельно от микроскопа.

    Идентификационные данные программного обеспечения указаны в таблице 1.

    Таблица 1

    Идентификационное наименование ПО

    OLYMPUS OLS5000

    Номер версии (идентификационный номер) ПО

    1.2.1.116 или выше

    Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

    -

    Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

    -

    Уровень защиты ПО соответствует типу «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

    Лист № 3 Всего листов 5 

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится на лицевую панель основного блока в виде наклейки и на титульвнный лист эксплуатационной документации типографским способом.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационной документации.


    Нормативные и технические документы

    Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу конфокальному лазерному измерительному LEXT OLS5000

    Техническая документация фирмы-изготовителя

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по документу МП 76632-19 «Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000. Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 08 июня 2019 г.

    Основные средства поверки:

    - мера ширины и периода специальная МШПС -2.0К (рег. № 33598-06);

    - меры длины концевые плоскопараллельные номинальным значением 0,5 мм и 1 мм 3- го разряда согласно Государственной поверочной схеме (Приказ Росстандарта от 29.12.2018 г. №2840);

    - объект -микрометр ОМО (рег. № 590-63);

    • - мера длины штриховая типа ПБ по ГОСТ 12069-90 (диапазон измерений 0-200 мм);

    • - меры шероховатости эталонные ПРО-10 (рег. № 66933-17) с номинальными значениями по параметру шероховатости Ra 0,025 мкм и 77 мкм.

    Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемого микроскопа с требуемой точностью.

    Знак поверки наносится на лицевую панель основного блока микроскопа в виде наклейки, как показано на рисунке 1 и на свидетельство о поверке.


    Изготовитель

    Фирма OLYMPUS Corporation, Япония
    Адрес: Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914, Japan Тел./факс: 81-42-545-8111/81-42-544-9795
    E-mail: info@olympus-global.com

    Заявитель

    Общество с ограниченной ответственностью «Мелитэк» (ООО «Мелитэк»)
    Адрес: 117342, г. Москва, ул. Обручева, д. 34/63, строение 2 Тел./факс: (495) 781-07-85
    E-mail: info@melytec.ru

    Испытательный центр

    Акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (АО «НИЦПВ»)
    Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1
    Тел./факс: (495) 935-97-77
    E-mail: nicpv@mail.ru

    Принцип действия микроскопа основан на использованием диафрагмы, размещённой в плоскости промежуточного изображения и ограничивающей поток фонового рассеянного света, излучаемого не из фокальной плоскости объектива. Данная диафрагма играет роль пространственного фильтра: чем меньше диаметр диафрагмы, тем меньше размеры области, из которой выходит излучение, способное пройти через указанную диафрагму и сделать вклад в информативный сигнал.

    В конфокальном микроскопе в каждый момент времени происходит регистрация изображения из одной точки объекта. Полное изображение объекта в конфокальном микроскопе формируется путем последовательной регистрации света, исходящего из этих элементарных объемов с применением сканирующей системы. Это позволяет получить серии изображений на различных глубинах фокальной плоскости внутри образца (т. н. оптическое секционирование образца по глубине), и затем реконструировать трехмерное изображение образца из этих серий.

    В Микроскопе использован сканер новой конструкции, который обладает пониженной дисторсией и минимальными оптическими абберациями. Для отклонения по оси Х используется МЭМС - сканер с электромагнитным приводом, а по оси Y - гальваносканер. Для удобства работы в Микроскопе реализована двухканальная система конфокальной оптики с двумя различными конфокальными диафрагмами. Выбор диафрагмы осуществляется автоматически в зависимости от типа объектива и режима получения изображения.

    Микроскоп включает две оптические системы:

    • - лазерную конфокальную оптическую систему, использующую лазерный диод с длиной волны 405 нм и высокочувствительный фотоумножитель,

    • - оптическую систему цветного изображения с белым светодиодом и CMOS матрицей.

    Конструктивно Микроскоп состоит из основного блока, выполненного в настольном исполнении, блока электроники и персонального компьютера с предустановленным программным обеспечением для управления работой микроскопа. Основной блок включает столик образцов, перемещаемый по осям X, Y ручным приводом или автоматически в зависимости от модели микроскопа, и измерительную оптическую головку с набором объективов, перемещение которой по оси Z контролируется измерительной системой микроскопа.

    Микроскоп имеет несколько модификаций: OLS5000-SAF, OLS5000-SMF, OLS5000-LAF, OLS5000-EAF, OLS5000-EMF, которые отличаются приводом столика образцов и диапазоном его перемещения, а также максимальной высотой исследуемого объекта.

    Пломбирование микроскопа не предусмотрено. Общий вид микроскопа и место нанесения знака поверки приведены на рисунке 1.

    Место нанесения знака поверки

    Внешний вид. Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 1 - Общий вид микроскопа конфокального лазерного LEXT OLS 5000


    Таблица 4 -

    Наименование

    Обозначение

    Количество

    Микроскоп конфокальный лазерный измерительный

    LEXT OLS5000-X, где Х: SAF (либо SMF, LAF, EAF, EMF)

    1 шт.

    Руководство по эксплуатации

    -

    1 экз.

    Методика поверки

    -

    1 экз.


    Таблица 2 - Метрологические характеристики

    Наименование характеристики

    Значение

    Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм

    от 0,5 до 800,0

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

    ±(0,15+L/100)

    СКО случайной составляющей погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм, не более

    - объектив 20х

    0,030

    - объектив 50х

    0,012

    - объектив 100х

    0,012

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z на сшитых панорамных изображениях (для модификаций SAF и EAF), мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

    - объектив 10х

    ±(5,0+L/100)

    - объектив 20х или выше

    ±(1,0+L/100)

    Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм

    - объектив 10х

    от 30 до 1200

    - объектив 20х

    от 15 до 600

    - объектив 50х

    от 5 до 250

    - объектив 100х

    от 2 до 120

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, %

    ±1,5

    СКО случайной составляющей погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм, не более - объектив 20х

    0,05

    - объектив 50х

    0,04

    - объектив 100х

    0,02

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY на сшитых панорамных изображениях (для модификаций SAF и EAF), мкм (где L - измеряемая длина, мм)

    - объектив 10х

    ±(24+L/2)

    - объектив 20х

    ±(15+L/2)

    - объектив 50х

    ±(9+L/2)

    - объектив 100х

    ±(7+L/2)

    Диапазон измерений шероховатости, мкм, по параметру - Ra

    от 0,025 до 100

    - Rz

    от 0,05 до 200

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений шероховатости, мкм, по параметру

    - Ra

    ±(0,003+0,04<Ra)

    - Rz

    ±(0,006+0,04<Rz)

    (где Ra, Rz - параметры шероховатости, мкм)

    Таблица 3 - Основные технические характеристики

    Наименование характеристики

    Модификация прибора

    OLS5000-

    SAF

    OLS5000-

    SMF

    OLS5000-

    LAF

    OLS5000-

    EAF

    OLS5000-

    EMF

    Разрешение в плоскости XY, нм, не более

    1

    Разрешение по оси Z, нм, не более

    0,5

    Диапазон перемещения столика образцов, мм

    100x100

    100x100

    300x300

    100x100

    100x100

    Привод столика образцов

    моторизованный

    ручной

    моторизованный

    моторизованный

    ручной

    Максимальная высота образцов, мм

    100

    40

    37

    210

    150

    Масса, кг, не более - основной блок; -блок электроники

    31

    32

    50

    43

    44

    12

    Габаритные        размеры

    (ДхШхВ), мм, не более:

    • - основной блок

    • - блок электроники

    360х275х510

    180x360x380

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающей среды, °С

    -относительная влажность воздуха, %, не более

    от +18 до +22

    80

    Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50/60 Гц, В

    от 210 до 230

    Потребляемая мощность, Вт, не более

    280


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель