Сведения о средстве измерений: 64204-16 Микроскоп конфокальный лазерный

Номер по Госреестру СИ: 64204-16
64204-16 Микроскоп конфокальный лазерный
(LEXT OLS 4100)

Назначение средства измерений:
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп конфокальный лазерный
Рисунок № 1
Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Микроскоп конфокальный лазерный
Рисунок № 2

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 155463
ID в реестре СИ - 377863
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100, LEXT OLS 4100,

Производитель

Изготовитель - Фирма "OLYMPUS Corporation"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Отчет предназначен для отслеживания динамики наполнения ФГИС АРШИН данными о поверках. Отчет состоит из 3 графиков и одной сводной таблицы. Все графики являются интерактивными, имеют функции экспорта и масштабирования. Таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок.

Графики представляют собой столбчатые диаграммы распределения поверок, загружаемых в ФГИС аршин по месяцам. По оси абсцисс «Ox» - дата, по оси ординат «Oy» - количество поверок в штуках. Возможно отслеживание трех типов "поверок": первичные поверки, периодические поверки или извещения о непригодности.

При построении отчета есть возможность предварительно сконфигурировать параметры его отображения путем установки фильтров по поверкам, периодическим поверкам или извещениям о непригодности.

В заголовке отчета приводятся усредненные данные по загруженным в АРШИН поверкам:

  • максимальное количество поверок за месяц
  • среднее количество поверок в месяц и в год
  • период наполнения базы в месяцах и годах

В завершении отчета приведена сводная таблица с данными для возможности самостоятельной обработки информации. В таблице представлены следующие поля

  • дата
  • общее количество поверок
  • кол-во периодических поверок
  • кол-во извещений о непригодности

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 3
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 1
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 2
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№756 от 2016.06.16 Об утверждении типов средств измерений

Наличие аналогов СИ: Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "OLYMPUS Corporation"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
50074-12
01.06.2017
Микроскопы измерительные оптические, OLYMPUS STM6, STM6-LM
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
64204-16

Микроскоп конфокальный лазерный, LEXT OLS 4100
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
76632-19
29.11.2024
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, LEXT OLS5000
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
78538-20
29.06.2025
Микроскопы измерительные оптические, STM7
Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

Отчет Дерево связей позволяет получить информацию об организациях, оказывающих услуги поверки выбранному владельцу средств измерений.

Отчет выполнен в виде графа. Красной парной связью показаны связи между владельцем СИ и поверителями, серой парной связью показаны прочие клиенты поверителя.

В целях обеспечения читаемости графа максимальное количество связей ограничено 50 (для владельца СИ и каждого из поверителей). Кроме того, связь отображается только в том случае, если количество поверок между владельцем и поверителем превышает 50 шт. за весь период существования базы (с 2010 года).

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100
  • 2 0 1 0 0 0 0
    ОАО "НИЦПВ".
    (01.00317-2011)
  • LEXT OLS 4100
  • 1 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Управление микроскопом осуществляется с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).

    Программное обеспечение вычисляет положение максимума интенсивности для каждой точки матрицы, после чего восстанавливается форма поверхности, основанная на регистрации максимума интенсивности при перемещении объектива по вертикали.

    Специализированное программное обеспечение служит для управления механическими частями микроскопа, для непосредственного измерения, для обработки полученных результатов, построения трехмерных изображений рельефа поверхности, выделения отдельных профилей поверхности в заданном направлении и гистограммы распределения пиков по высоте, а также позволяет рассчитывать параметры шероховатости.

    Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

    Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.

    Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

    Идентификационные данные (признаки)

    Значение

    Идентификационное наименование ПО

    OLS4100

    Номер версии (идентификационный номер) ПО

    Версия 3.1.5

    Цифровой идентификатор ПО

    2е138c12a2d305402d5b51c4ad73495b6826

    67f53b234a2147е61433418е37a2


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится в виде наклейки на прибор и титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Руководство по эксплуатации.


    Нормативные и технические документы

    Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу конфокальному лазерному LEXT OLS 4100

    • 1 ГОСТ Р 8.763-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 140-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

    • 2  Техническая документация фирмы-изготовителя

    Поверка

    Поверка осуществляется по документу МП 64204-16 «Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 18 февраля 2016 г.

    Основные средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (регистрационный №33598-06), набор мер длины концевых плоскопараллельных (регистрационный №1843-64), объект-микрометр ОМ-О (регистрационный №28962-05).


    Изготовитель

    Фирма «Olympus Corporation», Япония
    Адрес: Sun-ei Building, 22-2, Nishi Shinjuku 1- chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan

    Заявитель

    ООО «Мелитэк»
    Адрес: 117342,г. Москва, ул. Обручева, д. 34/63, стр. 2
    Тел./Факс: (495) 781-07-85; E-Mail: info@melytec.ru

    Испытательный центр

    АО «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (АО «НИЦПВ»)
    Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов 40, корп. 1
    Тел./Факс: (495) 935-97-77; E-mail: fgupnicpv@mail.ru

    Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 относится к классу бесконтактных оптических приборов, принцип действия которых основан на смещении конфокальной плоскости освещения.

    Метод конфокальной микроскопии основан на размещении в плоскости измерения апертуры, дающей возможность получения максимального контраста изображения при нахождении измеряемого участка поверхности в фокусе. Метод позволяет измерять поверхности с неровностями до 0,5 мм (в данном устройстве изображение программно сшивается после проведения замеров в заданном диапазоне высот).

    Микроскоп состоит из блока осветителя с источниками света (полупроводниковый лазер и светодиод), конструктивно выполненного в виде моноблока, входящего в состав измерительной головки, расположенной на колонне с возможностью перемещения по вертикали. Колонна установлена на металлическом основании, оснащенном антивибрационными подушками, и расположенном на металлической раме. Также в измерительной головке располагается оптическая система (набор диафрагм, фильтров, делитель светового пучка, объективы, определяющие поле зрения (являются сменными)), пьезопривод, цифровая камера и фотоприемник. На основании установлен автоматический предметный столик. В состав микроскопа входит компьютер и контроллер с интерфейсными платами для обработки видеосигнала, управления пьезоприводом, приемом-передачей прочих управляющих сигналов, а также приемом сигналов о результатах измерений.

    Измерения проводятся в трехмерной системе координат. При вертикальном сканировании все точки поверхности поочередно проходят через фокус. По последовательности полученных картин фотоприемник фиксирует изменения интенсивности света в каждой точке в зависимости от расстояния.

    Режимы работы микроскопа устанавливаются пользователем с помощью органов управления или программного обеспечения (далее - ПО) управляющей ПЭВМ. Органы управления и подстыковочные разъемы расположены на задней панели.

    Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100), http://oei-analitika.ru

    Место нанесения знака поверки

    Рисунок 1 - Общий вид микроскопа LEXT OLS 4100

    Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100), http://oei-analitika.ru

    Места расположения пломб

    Рисунок 2 - Места расположения пломб


    В комплект поставки входят: микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100, руководство по эксплуатации, методика поверки.


    приведены в Таблице 2.

    Таблица 2

    Наименование характеристики

    Значение характеристики

    Диапазон измерений линейных размеров (ось Z), мкм

    от 0,5 до 500

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров (ось Z), мкм

    (где L - измеряемая длинна, мкм)

    ±(0,1 + )

    20

    Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY, мкм, для объектива:

    20х

    50х

    100х

    от 80 до 600

    от 30 до 250

    от 15 до 120

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY, %

    ±5

    Величина хода устройства фокусировки по оси Z, мм

    100

    Г абаритные размеры основного блока микроскопа (ширинахвысотахглубина), мм, не более

    290х480х390

    Масса в транспортировочной упаковке, кг, не более

    130

    Рабочий диапазон температуры окружающей среды, °С

    20±3

    Относительная влажность воздуха, %

    50±10

    Диапазон атмосферного давления, кПа

    от 97 до 105

    Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, В

    220±22

    Потребляемая мощность, В • А, не более

    2420


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель