Номер по Госреестру СИ: 64204-16
64204-16 Микроскоп конфокальный лазерный
(LEXT OLS 4100)
Назначение средства измерений:
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.
Внешний вид.
Микроскоп конфокальный лазерный
Рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп конфокальный лазерный
Рисунок № 2
Общие сведения
Дата публикации - 07.05.2020
Срок свидетельства -
Номер записи - 155463
ID в реестре СИ - 377863
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки
Модификации СИ
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100, LEXT OLS 4100,
Производитель
Изготовитель - Фирма "OLYMPUS Corporation"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Справочник содержит сводную информацию из более чем 40 официальных баз данных по организациям, осуществляющим деятельность в области стандартизации, метрологии, аккредитации. Выборка организаций осуществлялась по общероссийскому классификатору видов экономической деятельности (ОКВЭД) по таким кодам видов деятельности как:
- 26.5 Производство контрольно-измерительных и навигационных приборов и аппаратов; производство часов
- 26.51 Производство инструментов и приборов для измерения, тестирования и навигации
- 26.51.8 Производство частей приборов и инструментов для навигации, управления, измерения, контроля, испытаний и прочих целей
- 26.51.7 Производство приборов и аппаратуры для автоматического регулирования или управления
- 71.12.62 Деятельность в области метрологии
- 71.12.64 Государственный контроль (надзор) за соблюдением требований технических регламентов
- 71.12.6 Деятельность в области технического регулирования, стандартизации, метрологии, аккредитации, каталогизации продукции
- 26.51.4 Производство приборов и аппаратуры для измерения электрических величин или ионизирующих излучений
- 26.52 Производство часов
Справочник реализован в виде единой таблицы, имеется возможность поиска и сортировки по любому из полей. В таблице представлена следующая информация: Название компании (сокращенное); ОГРН, ИНН, ОКВЭД, рег. дата; Юр. адрес; ФИО руководителя; Количество сотрудников; Сайты; Email; Телефон; Выручка, прибыль, руб.
Бесплатный
Статистика
Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 3
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 2
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№756 от 2016.06.16 Об утверждении типов средств измерений
Наличие аналогов СИ: Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Фирма "OLYMPUS Corporation"
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
50074-12 01.06.2017 |
Микроскопы измерительные оптические, OLYMPUS STM6, STM6-LM Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
64204-16 |
Микроскоп конфокальный лазерный, LEXT OLS 4100 Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
76632-19 29.11.2024 |
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, LEXT OLS5000 Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
78538-20 29.06.2030 |
Микроскопы измерительные оптические, STM7 Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Отчет "Государственные первичные эталоны" построен по данным Реестра "ГОСУДАРСТВЕННЫЕ ПЕРВИЧНЫЕ ЭТАЛОНЫ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ" ФГИС АРШИН. Отчет содержит 4 интерактивных графика и таблицу. Графики имею возможность масштабирования и экспорта данных.
Первый график визуализирует информацию о количестве ГПЭ и их разделении на первичные и специальные первичные эталоны.
График "У какого института сколько первичных эталонов" имеет 2 уровня вложенности и демонстрирует распределение эталонов по государственным метрологическим институтам и видам измерений.
"Использование ГПЭ институтов в качестве средства поверки" дает количественную оценку частоты использования эталонов метрологических институтов в качестве средств поверки.
График "Востребованность ГПЭ в разрезе видов измерений" демонстрирует востребованность ГПЭ по видам измерений. График имеет 2 уровня вложенности. На первом уровне приведена частота использования ГПЭ по видам измерений, а на втором - доля эталонов каждого из метрологических институтов по этому виду измерений.
В конце отчета приводится сводная таблица с данными для возможности самостоятельной обработки информации. В таблице имеются следующие поля:
- Наименование организации-держателя эталона
- Количество эталонов
- Количество видов измерений
- Количество ГПЭ
- Кол-во ГПСЭ
- Востребованность первичных эталонов организации-держателя эталона выраженная в штуках, процентах (по сравнению с другими метрологическими институтами) и средняя востребованность одного эталона организации
- Перечень видов измерений эталонов, принадлежащих метрологическому институту
Бесплатный
Кто поверяет Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2026 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| АО "НИЦПВ" (RA.RU.311409) | 4 | 0 | 3 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ОАО "НИЦПВ". (01.00317-2011) | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Микроскоп конфокальный лазерный (LEXT OLS 4100)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Программное обеспечение
Управление микроскопом осуществляется с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).
Программное обеспечение вычисляет положение максимума интенсивности для каждой точки матрицы, после чего восстанавливается форма поверхности, основанная на регистрации максимума интенсивности при перемещении объектива по вертикали.
Специализированное программное обеспечение служит для управления механическими частями микроскопа, для непосредственного измерения, для обработки полученных результатов, построения трехмерных изображений рельефа поверхности, выделения отдельных профилей поверхности в заданном направлении и гистограммы распределения пиков по высоте, а также позволяет рассчитывать параметры шероховатости.
Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
|
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
OLS4100 |
|
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
Версия 3.1.5 |
|
Цифровой идентификатор ПО |
2е138c12a2d305402d5b51c4ad73495b6826 67f53b234a2147е61433418е37a2 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится в виде наклейки на прибор и титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Руководство по эксплуатации.
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу конфокальному лазерному LEXT OLS 4100
-
1 ГОСТ Р 8.763-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 140-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм
-
2 Техническая документация фирмы-изготовителя
Поверка
Поверка осуществляется по документу МП 64204-16 «Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 18 февраля 2016 г.Основные средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (регистрационный №33598-06), набор мер длины концевых плоскопараллельных (регистрационный №1843-64), объект-микрометр ОМ-О (регистрационный №28962-05).
Заявитель
ООО «Мелитэк»Адрес: 117342,г. Москва, ул. Обручева, д. 34/63, стр. 2
Тел./Факс: (495) 781-07-85; E-Mail: info@melytec.ru
Испытательный центр
АО «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (АО «НИЦПВ»)Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов 40, корп. 1
Тел./Факс: (495) 935-97-77; E-mail: fgupnicpv@mail.ru
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 относится к классу бесконтактных оптических приборов, принцип действия которых основан на смещении конфокальной плоскости освещения.
Метод конфокальной микроскопии основан на размещении в плоскости измерения апертуры, дающей возможность получения максимального контраста изображения при нахождении измеряемого участка поверхности в фокусе. Метод позволяет измерять поверхности с неровностями до 0,5 мм (в данном устройстве изображение программно сшивается после проведения замеров в заданном диапазоне высот).
Микроскоп состоит из блока осветителя с источниками света (полупроводниковый лазер и светодиод), конструктивно выполненного в виде моноблока, входящего в состав измерительной головки, расположенной на колонне с возможностью перемещения по вертикали. Колонна установлена на металлическом основании, оснащенном антивибрационными подушками, и расположенном на металлической раме. Также в измерительной головке располагается оптическая система (набор диафрагм, фильтров, делитель светового пучка, объективы, определяющие поле зрения (являются сменными)), пьезопривод, цифровая камера и фотоприемник. На основании установлен автоматический предметный столик. В состав микроскопа входит компьютер и контроллер с интерфейсными платами для обработки видеосигнала, управления пьезоприводом, приемом-передачей прочих управляющих сигналов, а также приемом сигналов о результатах измерений.
Измерения проводятся в трехмерной системе координат. При вертикальном сканировании все точки поверхности поочередно проходят через фокус. По последовательности полученных картин фотоприемник фиксирует изменения интенсивности света в каждой точке в зависимости от расстояния.
Режимы работы микроскопа устанавливаются пользователем с помощью органов управления или программного обеспечения (далее - ПО) управляющей ПЭВМ. Органы управления и подстыковочные разъемы расположены на задней панели.
Место нанесения знака поверки
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа LEXT OLS 4100
Места расположения пломб
Рисунок 2 - Места расположения пломб
В комплект поставки входят: микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100, руководство по эксплуатации, методика поверки.
Таблица 2
|
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
|
Диапазон измерений линейных размеров (ось Z), мкм |
от 0,5 до 500 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров (ось Z), мкм (где L - измеряемая длинна, мкм) |
±(0,1 + — ) 20 |
|
Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY, мкм, для объектива: 20х 50х 100х |
от 80 до 600 от 30 до 250 от 15 до 120 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY, % |
±5 |
|
Величина хода устройства фокусировки по оси Z, мм |
100 |
|
Г абаритные размеры основного блока микроскопа (ширинахвысотахглубина), мм, не более |
290х480х390 |
|
Масса в транспортировочной упаковке, кг, не более |
130 |
|
Рабочий диапазон температуры окружающей среды, °С |
20±3 |
|
Относительная влажность воздуха, % |
50±10 |
|
Диапазон атмосферного давления, кПа |
от 97 до 105 |
|
Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, В |
220±22 |
|
Потребляемая мощность, В • А, не более |
2420 |