Номер по Госреестру СИ: 59636-15
59636-15 Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные
(SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP)
Назначение средства измерений:
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Внешний вид.
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные
Рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные
Рисунок № 2
Программное обеспечение
Микроскопы имеют автономное программное обеспечение (ПО), которое используется для обработки результатов измерений. Метрологически значимая часть ПО средства измерений и измеренные данные достаточно защищены с помощью ограничения прав доступа паролем.
Таблица 1
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
Идентификационное наименование ПО |
SmartSEM |
Номер версии (идентификационный номер )ПО |
5.06 |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
7B1EE57BEE2FF0614EF5F8822FB71632 |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
MD5 |
Защита ПО от преднамеренных и непреднамеренных воздействий соответствует среднему уровню в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати и на заднюю панель корпуса микроскопа методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений
«Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP. Руководство по эксплуатации», раздел «Эксплуатация».
Нормативные и технические документы
Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопам полевым эмиссионным растровым электронным SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VPГОСТ Р 8.763-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 140"9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм».
Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измеренийВыполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством РФ обязательным требованиям.
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 127.Д4-13 «Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP. Методика поверки», утвержденному 23.12.2013 г.
Основные средства поверки:
Эталонная мера ширины и периода МШПС-2.0К.
Основные метрологические характеристики:
Наименование метрологических характеристик |
Номинальное значение, нм |
Погрешность, нм |
Среднее значение шага (t) шаговой структуры, нм |
2001 |
±2 |
Значение ширины (bu) верхнего основания выступа (8 выступ) в шаговой структуре, нм |
597 |
±2 |
Изготовитель
«Carl Zeiss Microscopy Ltd», Великобритания511 Coldhams Lane, Cambridge CB1 3JS, United Kingdom
Телефон +44 (0)1223 401 450
Факс +44 (0)1223 401 501
customercare.uk@zeiss.com
http://www.zeiss.co.uk
Заявитель
ООО «ОПТЭК»Адрес: 105005, Россия, г. Москва, Денисовский пер., д. 26.
Тел.: +7(495) 933-51-51
Факс: +7(495) 933-51-55
E-mail: office@optecgroup.com
Web: www.optecgroup.com
Испытательный центр
Федеральное Государственное Унитарное Предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46.
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP (далее по тексту - микроскопы) измеряют длину проекции геометрических расстояний на горизонтальную плоскость, т.е. расстояние между соответствующими точками на плоской и горизонтально ориентированной поверхности объекта.
Принцип работы микроскопов основан на сканировании сфокусированным пучком электронов поверхности образца для создания изображения.
Для функционирования микроскопов необходимо поддерживать вакуум в вершине пушки, колонне и камере для образцов. Вакуум также необходим для того, чтобы электроны не смешивались с газом. Измерение вакуума в камере для образцов осуществляется с помощью измерителя Пеннинга. Максимальный уровень вакуума поддерживается в верхней части пушки с помощью одного или двух геттеро-ионных наносов.
Образец располагается в специальной герметичной камере. Стандартный столик для образцов представляет собой столик в возможностью перемещения по 5 осям координат. Управление столиком осуществляется с помощью панели управления со сдвоенными джойстиками или программного джойстика в пользовательском интерфейсе.
Колонна представляет собой зону, где происходит эмиссия, ускорение, создание пучка, фокусировка и смещение электронов. Основными компонентами оптики являются ускоритель пучков электронов и линза объектива, которая состоит из электростатической и электромагнитной линз.
В стандартную комплектацию входит ПЗС-камера с инфракрасной подсветкой.
В маркировке модификаций микроскопов применяются следующие обозначения:
-
- VP - микроскопы с режимом разного уровня вакуума;
-
- HD - микроскопы с более высокой разрешающей способностью, размерами рабочей камеры и столика, приведенными в таблицах 3 и 4.
Рисунок 1 - Общий вид микроскопов полевых эмиссионных растровых электронных
SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP
Рисунок 2 - Места нанесения маркировки на микроскоп.
Таблица 2
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
Эффективный диаметр электронного зонда микроскопа не более, нм |
150 |
Диапазон показаний линейных размеров, нм |
от 1 до 2А0Ь |
Диапазон измерений линейных размеров, нм |
от 500 до 2А0Ь |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения линейных размеров, нм |
±(4+0,05L*) |
Диапазон регулирования увеличения, крат |
10 - 500000 *** 10 - 1000000 |
Номинальное напряжение сети питания, В |
220 ± 5 % |
Масса, кг, не более |
636 |
Габаритные размеры, мм, не более |
822x980x1757 |
Условия эксплуатации: Температура окружающего воздуха, оС Относительная влажность воздуха при 25оС, не более, % Избыточное давление воздуха в помещении относительно атмосферного давления, Па |
23 ± 1 65 30 ± 0,3 |
- L - длина измеряемого объекта, нм **- для микроскопа автоэмиссионного электронного сканирующего SIGMA/SIGMA VP ***- для микроскопа автоэмиссионного электронного сканирующего SIGMA HD/SIGMA HD VP |
Таблица 3
Модификация микроскопа |
Размер рабочей камеры, мм |
Размер столика, мм |
SIGMA SIGMA VP |
Диаметр 330 Высота 270 |
X = 125 Y = 125 Z = 50 |
SIGMA HD SIGMA HD VP |
Диаметр 358 Высота 270,5 |
X = 130 Y = 130 Z = 50 |
Таблица 4
Модификация микроскопа |
Разрешающая способность |
SIGMA |
1,5 нм при 15 кВ |
SIGMA VP |
2,8 нм при 1 кВ |
SIGMA HD |
1 нм при 15 кВ |
SIGMA HD VP |
1,9 нм при 1 кВ |