Номер по Госреестру СИ: 55118-13
55118-13 Микроскоп сканирующий электронный
(EVO MA25)
Назначение средства измерений:
Микроскоп сканирующий электронный EVO MA25 предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Внешний вид.
Микроскоп сканирующий электронный
Рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп сканирующий электронный
Рисунок № 2
Программное обеспечение
Микроскоп имеет автономное программное обеспечение, которое используется для обработки результатов измерений.
Идентификационные данные метрологически значимой части программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1
Идентификационное наименование ПО |
Номер версии (идентификацио нный номер) ПО |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
SmartSEM |
5.06 |
7B1EE57BEE2FF061 4EF5F8822FB71632 |
MD5 |
Защита ПО от преднамеренных и непреднамеренных воздействий соответствует уровню «С». Метрологически значимая часть ПО СИ и измеренные данные достаточно защищены с помощью ограничения прав доступа.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на титульный лист руководства по эксплуатации методом наклейки и на заднюю панель корпуса микроскопа методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений
Микроскоп сканирующий электронный EVO MA25. Руководство по эксплуатации раздел 2.2.4.
Нормативные и технические документы
Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопу сканирующему электронному EVO MA25ГОСТ Р 8.763-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от V10-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»
Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измеренийВыполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством РФ обязательным требованиям.
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 77.Д4-13 «Микроскоп сканирующий электронный EVO MA25. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 30 августа 2013 г.
Основные средства поверки:
Эталонная мера ширины и периода МШПС-2.0К.
Основные метрологические характеристики:
Наименование метрологических характеристик |
Номинальное значение, нм |
Погрешность, нм |
Среднее значение шага (t) шаговой структуры, нм. |
2001 |
±2 |
Значение ширины (bu) верхнего основания выступа (8 выступ) в шаговой структуре, нм. |
597 |
±2 |
Изготовитель
«Carl Zeiss Microscopy Ltd», Великобритания.511 Coldhams Lane, Cambridge CB1 3JS, United Kingdom
Телефон +44 (0)1223 401 450
Факс +44 (0)1223 401 501
customercare.uk@zeiss.com
http://www.zeiss.co.uk
Заявитель
Общество с ограниченной ответственностью «ОПТЭК», (ООО «ОПТЭК»)Адрес: 105005, Россия, г. Москва, Денисовский пер., д. 26.
Тел.: +7(495) 933-51-51
Факс: +7(495) 933-51-55
E-mail: office@optecgroup. com
www.optecgroup.com
Испытательный центр
Государственный центр испытаний средств измерений Федерального Государственного Унитарного Предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт оптикофизических измерений» (ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ»), аттестат аккредитациигосударственного центра испытаний (испытательной, измерительной лаборатории) средств измерений № 30003-08 от 30.12.2008 г.
Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46.
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Принцип работы микроскопа сканирующего электронного EVO MA25 (далее по тексту - микроскоп) основан на взаимодействии электронного пучка с поверхностью объекта. Электронный луч непрерывно сканирует тот участок поверхности объекта, изображение которого формируется микроскопом. При этом каждая точка поверхности объекта, в границах поля зрения микроскопа, отображается соответствующей точкой на формируемом изображении. При взаимодействии электронного луча с поверхностью объекта единовременно возникает сразу несколько ответных сигналов. В зависимости от того, какой детектор сигнала в данный момент включен, микроскоп формирует то или иное конкретное изображение.
Микроскоп измеряет длину проекции геометрических расстояний на горизонтальную плоскость, т. е. расстояние между соответствующими точками на плоской и горизонтально ориентированной поверхности объекта.
Микроскоп укомплектован тремя детекторами, позволяющими получать электронномикроскопические изображения: два детектора вторичных электронов, которые отличаются друг от друга геометрическим расположением внутри рабочего объема колонны микроскопа, а также детектор отраженных электронов.
Микроскоп оснащен двумя вспомогательными телекамерами инфракрасного диапазона, которые позволяют в реальном времени и с увеличением около 1,5 раз контролировать перемещения и повороты объекта гониометрическим держателем препаратов.
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа сканирующего электронного EVO MA25.
Рисунок 2 - Места нанесения маркировки на микроскоп.
Таблица 2
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
Масштабный коэффициент видеоизображения микроскопа, нм/пиксель |
2,65 - 19531 |
Эффективный диаметр электронного зонда микроскопа не более, нм |
50 |
Диапазон измерений линейных размеров, нм |
20 - 2-106 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения линейных размеров, нм |
±(4+0,05L*) |
Диапазон регулирования увеличения, крат |
5-1000000 |
Номинальное напряжение сети питания, В |
220 ± 5 % |
Масса, кг, не более |
650 |
Габаритные размеры, мм, не более |
980x774x1700 |
Условия эксплуатации: Температура окружающего воздуха, °С |
22 ± 0,2 |
Относительная влажность воздуха при 25°С, % |
40 ± 2 |
Избыточное давление воздуха в помещении относительно атмосферного давления, Па |
30 ± 0,3 |
* - L - длина измеряемого объекта, нм |