Номер по Госреестру СИ: 48831-12
48831-12 Микроскоп электронный просвечивающий
(TITAN 80-300)
Назначение средства измерений:
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее микроскоп) предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Микроскоп применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

Внешний вид.
Микроскоп электронный просвечивающий
Рисунок № 1
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измеренийСведения отсутствуют
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному просвечивающему TITAN 80-3001. Техническая документация фиры-изготовителя
Принцип действия микроскопа основан на получении увеличенного изображения объекта с помощью пучка электронов, просвечивающих исследуемый объект. Так как объект должен быть прозрачен для электронов, то исследоваться могут ультратонкие срезы, напыленные в вакууме реплики, нанесенные на прозрачную для электронов подложку наночастицы. Система магнитных линз микроскопа управляет электронным пучком (аналогично работе оптических линз в оптических микроскопах) и формирует электронно-микроскопическое изображение объекта на ПЗС-матрице или экране, покрытом слоем люминофора. Изображение формируется из-за того, что рассеяние проходящих электронов зависит от массы атомов просвечиваемого вещества, а также (в случае просвечивания кристаллического вещества) и от ориентации кристаллографических осей относительно электронного пучка микроскопа.
Методы электронной дифракции реализуются путем регулирования токов магнитных линз и введения в колонну микроскопа селекторных диафрагм. Эти методы дают информацию о наличии или отсутствии кристаллической структуры у выбранного микроучастка образца, о типе кристаллической решетки, а также позволяют рассчитать межплоскостные расстояния в микрокристаллах путем сравнения полученных дифракционных картин (электронограмм) с электронограммами тонкопленочных образцов с известным составом и кристаллической структурой.
Дополнительные аналитические модули микроскопа - энергодисперсионый спектрометр характеристического рентгеновского излучения и спектрометр характеристических потерь энергии электронов - позволяют реализовать методы анализа локального элементного состава исследуемых образцов.

Рис. 1. Общий вид микроскопа электронного просвечивающего TITAN 80-300
В состав микроскопа входит специализированное программное обеспечение, иденти-
фикационные данные которого приведены ниже.
Наименование программного обеспечения |
Идентификационное наименование про граммного обеспечения |
№ве рсии ПО |
Цифровой идентификатор про граммного обеспечения (контрольная сумма) |
Алгоритм вычисления иденти-фикато-ра ПО |
Пакет управления фотокамерами и обработки изображений Digital Micrograph |
EditingTool.dll Numerical.dll DMUtility.gtk |
3.8.2 |
c359a09fa92cca774b7e682b85c892eb 49a6e0b8da6060a8852d41d03fa40255 5350a61e81fb25ba291b5217a49d0e47 |
Программа md5sum |
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с МИ 3286-2010 соответствует уровню «С».
-
- 1экз.;
-
- 1 компл.;
-
- 1 шт .;
-
- 1 экз.
-
1. Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300
-
2. Комплект ЗИП и расходные материалы
-
3. Руководство по эксплуатации
-
4. Методика поверки
Таблица 1
Диапазон измерения геометрических расстояний, мкм |
440-4..100 |
Пределы допускаемой погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 200 кВ*: в диапазоне (1..100) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (0,05..1) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (4-10-4..0,05) мкм при измерении абсолютных размеров (L-размер кадра, выраженный в нанометрах), нм |
± 3% ± 7% ± (2+0,07L) |
Диапазон регулировки увеличения, крат |
от 50 до 1 500 000 |
Значения ускоряющего напряжения, кВ |
80..300 |
Номинальное напряжение сети питания (трехфазной), В |
380-22 |
Максимальная потребляемая мощность, кВ •А |
10 |
Габаритные размеры основных блоков не более, мм | |
консоль микроскопа + колонна стойка ТЕМ/Асс стойка питания микроскопа генератор высокого напряжения система охлаждения |
1430х2140х235 700х800х1800 1200х600х1300 880х760х1990 680х660х860 |
Условия эксплуатации:
|
(20 ± 0,2) (65 ± 15) |