Сведения о средстве измерений: 48388-11 Микроскоп электронно-ионный растровый

Номер по Госреестру СИ: 48388-11
48388-11 Микроскоп электронно-ионный растровый
(Helios NanoLab 650)

Назначение средства измерений:
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскоп электронно-ионный растровый, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп электронно-ионный растровый
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137464
ID в реестре СИ - 359864
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

Производитель

Изготовитель - Фирма "FEI Company"
Страна - ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Город Краснодар расположен на Кубано-Азовской (Прикубанской) низменности, на правом берегу реки Кубань, в 1539 км к югу от Москвы. На северо-востоке город Краснодар граничит с Динским районом, на западе - с Красноармейским районом Краснодарского края, на юге, по акватории реки Кубань, с Тахтамукайским районом Республики Адыгея, на востоке - с Усть-Лабинским районом Краснодарского края. Географические координаты исторического центра: 45° 2' северной широты и 39° восточной долготы.

Город занимает выгодное экономико-географическое положение в Южном федеральном округе, расположен на важнейших транспортных магистралях, связывающих центр России с портами Черного и Азовского морей, а также курортами Черноморского побережья Кавказа. В юго-восточной части Краснодара расположено Кубанское водохранилище, построенное в 1973 году для обеспечения проведения промышленных и мелиоративных работ.

По расчетным данным органов статистики, на 01.01.2012 года численность постоянного населения составляет 851,2 тыс. человек, или 15,2 процента населения края, из них 91 процент приходится на городское население и 9 процентов - на сельское. По данным переписи 2002 года, в столице Кубани проживают представители более 120 национальностей. Наиболее многочисленными этническими группами являются русские - 89,6 процента, армяне - 3,5 процента, украинцы - 2,1 процента и другие национальности - 4,8 процента.

Современный Краснодар - это промышленный центр. На 127 крупных и средних, а также многочисленных малых промышленных предприятиях трудятся около 50 000 человек, что составляет более 11 процентов всех занятых в экономике города. Ведущее место в структуре промышленности занимают предприятия пищевой, машиностроительной, металлообрабатывающей и легкой промышленности. Промышленность города также представлена предприятиями электроэнергетики, строительных материалов, химии и нефтехимии, микробиологии и другими.

Отчет "Анализ рынка поверки в Краснодаре" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Краснодар.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 3 000 руб.

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 365 дн.

Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронно-ионный растровый (Helios NanoLab 650)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "FEI Company"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
28349-04

Анализатор рентгенофлуоресцентный, TXRF 8030C
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
1 год
33468-06

Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром, Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
1 год
40981-09
01.08.2014
Микроскопы электронные просвечивающие, Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
ОТ
1 год
44976-10

Микроскоп электронно-ионный растровый, Quanta 200 3D
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
ОТ
1 год
48388-11

Микроскоп электронно-ионный растровый, Helios NanoLab 650
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
ОТ
1 год
62122-15

Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов, Verios 460 XНR SEM
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
ОТ
МП
1 год
67731-17

Микроскоп электронный сканирующий, Inspect S50
Фирма "FEI Company" (ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА )
ОТ
МП
1 год

Справочник содержит перечень приказов Росстандарта с удобной навигацией и возможностью поиска. Всего в справочнике более 35 тыс. записей (с 2004 года), актуализация данных производится не реже 1 раза в месяц.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп электронно-ионный растровый (Helios NanoLab 650)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ФБУ "РОСТОВСКИЙ ЦСМ"
(РОСС RU.0001.310392)
РСТ
  • 1 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп электронно-ионный растровый (Helios NanoLab 650)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Управление микроскопом осуществляют с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).

    Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.

    Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1. Таблица 1.

    Наименование

    ПО

    Идентификационное наименование ПО

    Номер версии

    ПО

    Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма)

    Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

    Программа управления процессом измерений и обработки результатов измерений

    xT Microsoft

    Control

    4.5.2.2371

    1.0

    B147D7322D89F836E8

    807411AA7F2D086A1

    D66F3595C4A03C2BB

    C33896F0C04D

    ГОСТ Р 34.11-94


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится в виде наклейки на корпус микроскопа и типографским способом на титульный лист технической документации фирмы-изготовителя.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    Техническое описание «Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 фирмы «FEI Company», США»

    Лист № 3 всего листов 3 

    Нормативные и технические документы

    Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопу электронноионному растровому Helios NanoLab 650

    ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки».

    Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений

    Применяется вне сферы государственного регулирования обеспечения единства измерений.

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки».


    Изготовитель

    Фирма «FEI Company», США.
    Адрес: 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon 97124, USA. Телефон: +1(503)726-7500. Факс: +1(503)726-2570.

    Заявитель


    Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский университет «МИЭТ» Адрес: 124498, г. Москва, Зеленоград, проезд 4806, дом 5.
    Телефон: (499) 731-4441. Факс: (499) 710-2233. Е-mail: netadm@miet.ru

    Испытательный центр


    ГЦИ СИ ОАО «НИЦПВ», аттестат аккредитации № 30036-10. Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов 40, корп. 1. Тел./факс (495) 935-97-77. E-mail: fgupnicpv@mail.ru

    Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную измерительную систему, выполненную на базе растрового электронного микроскопа и работающую в диапазоне микро- и наноразмеров.

    Микроскоп состоит из электронно-оптической системы (колонны), ионной колонны с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, камеры образцов с механизмом их перемещения, детектора вторичных электронов, вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока электроники.

    Принцип получения изображения в микроскопе заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных электронов, возникающих при сканировании сфокусированного электронного или ионного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.

    Наличие сфокусированного ионного зонда позволяет производить локальное контролируемое травление образца ионным пучком, при этом режимы травления регулируются изменением ускоряющего напряжения и тока ионного пучка. Контроль параметров рельефа, модифицированного в результате ионного травления (измерение линейных размеров) осуществляется в режиме растрового электронного микроскопа.

    Внешний вид. Микроскоп электронно-ионный растровый (Helios NanoLab 650), http://oei-analitika.ru

    Рис.1. Общий вид микроскопа электронно-ионного растрового Helios NanoLab 650


    В комплект микроскопа входят: микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650, комплект ЗИП, расходные материалы, техническая документация фирмы-изготовителя.


    приведены в Таблице 2. Таблица 2.

    Наименование характеристики

    Значение

    Диапазон измерений линейных размеров элементов топологии, мкм

    от 0,05 до 1000

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров элементов топологии, %

    ±5

    Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 30 кВ, нм, не более

    10

    Разрешение при ускоряющем напряжении 30 кВ, нм, не более

    0,8

    Разрешение при ускоряющем напряжении 0,2 кВ, нм, не более

    1,5

    Потребляемая мощность, кВт, не более

    3

    Рабочие условия эксплуатации:

    • температура окружающего воздуха, °С

    20±3

    • атмосферное давление, кПа

    100 ±4

    • относительная влажность воздуха, не более, %

    80

    • напряжение сети питания, В

    +10 %

    220    -15 %

    • частота сети питания, Гц

    50±1


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель