Номер по Госреестру СИ: 76596-19
76596-19 Спектрофотометры микропланшетные
(EPOCH, EPOCH2)
Назначение средства измерений:
Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2 (далее - спектрофотометры) предназначены для измерений оптической плотности исследуемых образцов различного происхождения.
Внешний вид.
Спектрофотометры микропланшетные
Рисунок № 1
Внешний вид.
Спектрофотометры микропланшетные
Рисунок № 2
Внешний вид.
Спектрофотометры микропланшетные
Рисунок № 3
Внешний вид.
Спектрофотометры микропланшетные
Рисунок № 4
Внешний вид.
Спектрофотометры микропланшетные
Рисунок № 5
Программное обеспечение
Спектрофотометры модификаций EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2C функционируют под управлением автономного специального программного обеспечения (далее - ПО), установленного на персональный компьютер или планшет. В спектрофотометрах модификаций EPOCH2TS, EPOCH2TSC, ЕРОСН2Т, ЕРОСН2ТС используется встроенное программное обеспечение, которое устанавливается заводом-изготовителем непосредственно в ПЗУ системы.
Программное обеспечение осуществляет функции сбора, обработки и представления измерительной информации, настройки параметров измерения, построения градуировочных графиков по стандартам, печати и сохранения результатов анализа.
Программное обеспечение записано в энергонезависимой памяти персонального компьютера. Невозможно несанкционированное изменение ПО, доступ к программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
Идентификационное наименование ПО |
Gen5 |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
не ниже 3.0 |
Цифровой идентификатор ПО |
- |
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на корпус прибора методом наклеивания и на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные и технические документы
Нормативные документы, устанавливающие требования к спектрофотометрам микропланшетным EPOCH, EPOCH2
ГОСТ 8.557-2007 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
Техническая документация компании «BioTek Instruments Inc.», США
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 023.Д4-19 «Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 03 апреля 2019 г.
Основные средства поверки:
- комплект светофильтров КНС -10.5., рег. № 65272-16;
- комплект светофильтров поверочный КСП -02 рег . № 38817-08.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик, поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
Изготовитель
Фирма «BioTek Instruments Inc.», США
Адрес: 100 Tigan Street Highland Park, P.O. Box 998, Winooski,
Vermont 054404-0998 USA
Телефон/факс: (800) 242-4685, (802) 655-4740
E-mail: TAC@biotek.com
Заявитель
Общество с ограниченной ответственностью «БиоЛайн» (ООО «БиоЛайн»)
ИНН 7813118690
Адрес: 197101, г. Санкт-Петербург, пер. Пинский, д. 3, лит. А
Телефон: (812) 320-49-49
E-mail: main@bioline.ru
Испытательный центр
Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений»Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озёрная, д. 46
Телефон: (495) 437-56-33
Факс: (495) 437-31-47
Web-сайт: www.vniiofi.ru
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Принцип действия спектрофотометров основан на измерении отношения двух световых потоков, прошедших через канал сравнения и канал образца в кюветном отделении. Монохроматор в качестве диспергирующего элемента использует вогнутую дифракционную решетку. Источником света служит импульсная ксеноновая лампа. Монохроматический луч от монохроматора при помощи полупрозрачного зеркала разделяется на пучки, направляемые на исследуемый и на эталонный образцы, и направляется в кюветное отделение. Прошедший через образец пучок затем попадает на детекторы, в качестве которых используются высокочувствительные фотодиоды.
Спектрофотометры имеют спектральную ширину щели 2,9 нм.
Спектрофотометры EPOCH, EPOCH2 выпускаются в следующих модификациях:
EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2TS, EPOCH2TSC, ЕРОСН2С, ЕРОСН2Т, ЕРОСН2ТС.
Спектрофотометры предназначены для измерения оптической плотности образцов в 6-, 12-, 24-, 48-, и 96- луночных планшетах, а также в кварцевых кюветах с длиной оптического пути в 1 см (кроме модификации EPOCH).
Конструктивно спектрофотометры выполнены в виде настольных приборов и состоят из основного блока спектрофотометра с кюветным отделением. Модификации EPOCH2TS, EPOCH2TSC, ЕРОСН2Т, ЕРОСН2ТС снабжены сенсорным экраном. Управление модификациями EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, ЕРОСН2С осуществляется через персональный компьютер, подключаемый к спектрофотометрам.
Общий вид спектрофотометров представлен на рисунках 1 - 4.
Рисунок 1 - Общий вид спектрофотометров EPOCH
Рисунок 2 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2T, ЕРОСН2ТС
Рисунок 3 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2TS, EPOCH2TSC
Рисунок 4 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2, EPOCH2C, EPOCH2NS,
EPOCH2NSC
Схема маркировки спектрофотометров представлена на рисунке 5.
изготовитель
BioTek Instruments, Inc ш1
100 Tigan Street Highland Park, PO Box 998 Winooski, VT 05404-0998 Tel: 802-6554040 Made in USA [ref! epoch
Mfg. Date 2018-07-24
знак утверждения типа
модификация
серийный номер
Рисунок 5 - Схема маркировки
EPOCH2 не
Пломбирование Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, предусмотрено.
Таблица 2 - Метрологические характеристики
Наименование характеристики |
Значение |
Спектральный диапазон, нм |
от 200 до 999 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности установки длины волны, нм |
±2 |
Диапазон измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм, Б |
от 0,03 до 3,00 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в диапазоне измерений от 0,03 до 1,00 включ. Б, Б |
±0,03 |
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в диапазоне измерений св. 1,00 до 3,00 включ. Б, % |
±3,00 |
Таблица 3 - Основные технические характеристики
Наименование характеристики |
Значение |
Спектральная ширина щели, нм, не более |
2,9 |
Габаритные размеры средства измерений, мм, не более: - высота |
330 |
- ширина |
320 |
- длина |
395 |
Масса, кг, не более |
25 |
Потребляемая мощность, В • А, не более |
140 |
Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В |
от 100 до 240 |
- частота переменного тока, Гц |
от 50 до 60 |
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С |
от +15 до +35 |
- относительная влажность, %, не более |
от 30 до 80 |