Сведения о средстве измерений: 37836-08 Микроскоп электронный растровый

Номер по Госреестру СИ: 37836-08
37836-08 Микроскоп электронный растровый
(JSM-7401F)

Назначение средства измерений:
Микроскоп электронный растровый JSM-7401F предназначен для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур. Микроскоп применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

сертификация программного обеспечения

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 125067
ID в реестре СИ - 347467
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

Микроскоп электронный растровый JSM-7401F,

Производитель

Изготовитель - Фирма "Jeol"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.

Отчет "Количество типов средств измерений в ФГИС АРШИН по разделам областей измерений" предназначен для сравнительного анализа количества утвержденных типов средств измерений, приходящихся на различные разделы областей измерений. Отчет состоит из двух графиков (одной круговой и одной столбчатой диаграммы) и двух интерактивных таблиц. Таблицы обладают функцией поиска и сортировки по любой из колонок.

Стоит отметить, что отнесение того или иного типа СИ к разделу области измерений осуществляется не вручную, а с использованием специального программного алгоритма по ключевым словосочетаниям. При таком подходе качество распределения СИ и покрытие реестра типов СИ АРШИНА зависит от качества, предложенных словосочетаний. По этой причине 20% типов СИ, занесённых в АРШИН автоматически распределить не удалось, что не должно существенно отразиться на процентном соотношением или пропорции между разделами областей измерений.

На круговой диаграмме показано количественное соотношение между разделами областей измерений по количеству утвержденных типов СИ. Ввиду того, что некоторые типы СИ могут входить в разные разделы областей измерений, суммарное количество типов СИ, приведенных на диаграмме будет превышать кол-во типов СИ, представленных в ФГИС АРШИН.

В отличии от круговой диаграммы столбчатая демонстрирует тоже разделение типов СИ по разделам областей измерений, но уже в динамике по годам начиная с 2000 года.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 2
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронный растровый (JSM-7401F)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "Jeol"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
18995-99

Масс-спектрометр с хроматографом "Jeol", JMS-D 300
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
1 год
37836-08

Микроскоп электронный растровый, JSM-7401F
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
39763-08

Микроскоп электронный растровый, JSM-7001F
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
39772-08

Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-2100F
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
50908-12

Микроскоп электронный растровый, JSM-6460LV
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
50909-12

Микроскоп электронно-ионный растровый, JIB-4500
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
51413-12

Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-2100
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
61320-15
21.08.2025
Анализаторы биохимические автоматические, Bio Majesty JCA-BM6010/C
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

Отчет представляет сводную информацию в части оснащенности средствами поверки аккредитованных организаций.
По каждой аккредитованной организации в динамике по годам приводятся данные по количеству таких средств средств поверки, как СИ в качестве эталонов, эталоны единиц величин, стандартные образцы, ГЭТ и средства измерений.
Кроме того, приводятся несколько графиков, показывающих общую картину с средствами поверки в стране.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп электронный растровый (JSM-7401F)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • Микроскоп электронный растровый JSM-7401F
  • 2 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп электронный растровый (JSM-7401F)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа наносится на корпус микроскопа и на титульный лист руководства по эксплуатации.


    Сведения о методиках измерений


    Нормативные и технические документы

    • 1. ГОСТ 12997-84 «Изделия ГСП. Общие технические условия».

    • 2. ГОСТ Р 51350-99 «Безопасность электрических контрольно-измерительных приборов и лабораторного оборудования. Общие требования».

    • 3. Основные санитарные правила обеспечения радиационной безопасности (ОСПОРБ-99). СП 2.6.1.799-99 Минздрав России, 2000.

    • 4. Техническая документация фирмы-изготовителя «JEOL», Япония.

    Поверка

    Поверка микроскопа проводится в соответствии с ГОСТ Р 8.631-2007 «ГСИ. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки»

    При поверке применяются: мера, изготовленная по ГОСТ Р 8.628-2007 «ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления» и поверенная по ГОСТ Р 8.629-2007 «ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки».

    Межповерочный интервал — 1 год.


    Изготовитель

    - фирма «JEOL», Япония

    Микроскоп электронный растровый JSM-7401F представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему.

    Микроскоп оснащен катодом с полевой эмиссией холодного типа.

    Микроскоп состоит из электронно-оптической системы (колонны), камеры объектов с механизмом перемещения объектов и устройством шлюзования, двух детекторов вторичных и одного детектора отраженных электронов, вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока электроники.

    Вакуумная система включает в себя диффузионный и форвакуумный насосы для откачки рабочей камеры микроскопа и 3 ионных насоса для обеспечения вакуума в катодном узле и электронной колонне.

    Микроскоп обеспечивает работу, как в режимах регистрации вторичных электронов, так и в режиме регистрации отраженных электронов.

    Принцип получения изображения в микроскопе электронном растровом JSM-7401F заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных электронов, при сканировании сфокусированного электронного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.

    Создание изображения объектов в режиме «Gentle Beam» обеспечивается благодаря торможению первичного пучка полем держателя образца, в результате чего сохраняется возможность наблюдения объекта при пониженных ускоряющих напряжениях с достаточно высоким разрешением.

    При работе микроскопа обеспечиваются безопасные условия труда оператора. При максимальных значениях ускоряющего напряжения и тока зонда мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения в любой доступной точке на расстоянии 10 см от поверхности колонны и камеры объектов микроскопа не превышает 1 мкЗв/ч.


    В комплект единичного экземпляра микроскопа электронного растрового JSM-7401F, зав. № SM18100077, входят:

    • 1. Микроскоп электронный растровый JSM-7401F                                -1 шт.

    • 2. Комплект ЗИП и расходные материалы                                     -1 шт.

    • 3. Тест-объекты - образцы островковой пленки золота на углероде                 - 1шт.

    • 4. Руководство по эксплуатации                                                  - 1 шт.


    2.Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах

    при 15 кВ не более, нм

    3 .Диапазон регулировки увеличения, крат.......................................................25-5-1000000

    • - стенд с колонной, агрегатом вакуумным, ВКУ.................................990x790x1850

    • - видеоконтрольный блок............................................................1200x1000x700

    • - блок питания..............................................................................900x450x700

    10.Общая масса без ЗИП и упаковки не более, кг...................................................1200

    • II. Условия эксплуатации:

    • - диапазон температуры окружающего воздуха, °C........................................20 ± 5

    • - относительная влажность воздуха, %..........................................................................50^-80

    • - диапазон атмосферного давления, кПа........................................................84-5-107


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель