Номер по Госреестру СИ: 96294-25
96294-25 Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
(Helios NanoLab 650)
Общие сведения
Дата публикации - 10.09.2025
Срок свидетельства -
Номер записи - e964f40c-a39e-350c-2c6b-8abe6ec46b60
ID в реестре СИ - 1426842
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки
Модификации СИ
Производитель
Изготовитель - FEI Company
Страна - СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности -
Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.
Отчет "Каталог типов СИ АРШИН" сортирует типы СИ в зависимости от выбранной области измерений и представляет их списком в виде удобной для дальнейшей работы таблицы. Таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок.
Таблица содержит минимум 8 колонок:
По каждому типу СИ приведены: номер в гос. реестре с ссылкой, наименование типа СИ, наименование фирмы-производителя, ссылка на описание типа и методику поверки (если они имеются), величина интервала между поверками, а также, количество поверок по годам (начиная с 2020).
Статистика
Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№1853 от 2025.08.29 ПРИКАЗ_Об утверждении типов средств измерений (15)
Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений FEI Company
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
86262-22 |
Система микроскопической инспекции, FEI Helios G4 CX FEI Company (СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
96294-25 |
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный, Helios NanoLab 650 FEI Company (СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ ) |
ОТ МП |
1 год |
Отчет помогает подобрать поверки с истекающими сроками в заданном интервале по региону, типам СИ и наименованиям владельцев.
Кто поверяет Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2025 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| АО "НИЦПВ" (RA.RU.311409) | 1 | 1 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|