Номер по Госреестру СИ: 46672-11
46672-11 Меры рельефные
(Кварц-XY1400/Z90нм)
Назначение средства измерений:
Меры рельефные Кварц-ХУ1400/790нм предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне от 10-9 до 10-4 м и поверки (калибровки) оптических, оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, а также других микроскопов и средств измерений малой длины.
Внешний вид.
Меры рельефные
Рисунок № 1
Внешний вид.
Меры рельефные
Рисунок № 2
Внешний вид.
Меры рельефные
Рисунок № 3
Внешний вид.
Меры рельефные
Рисунок № 4
Внешний вид.
Меры рельефные
Рисунок № 5
Знак утверждения типа
Знак утверждения типаЗнак утверждения типа наносится на титульном листе паспорта методом печати.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений«Меры рельефные Кварц-XY1400/Z90нм. Паспорт», раздел 6.
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к мерам рельефным Кварц-XY'l 400/Z90iimМеры рельефные Кварц-XY1400/Z90нм. Технические условия ТУ 4254-001-58699387-2С1С
Поверка
Поверкаосуществляется по документу «Меры рельефные Кварц-ХТ1400^90нм. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в 2С11 году.
Основными средствами поверки являются:
меры периода и высоты линейные TGZ1, TGZ2 и TGZ3 (ГР 41678-С9) с пределами допускаемых значений абсолютной погрешности высоты выступов в шаговых структурах не более ±2, ±1С, ±2С нм соответственно;
мера периода линейная TDG01 (ГР 41676-09) с пределами допускаемого значения абсолютной погрешности периода шаговой структуры не более ±1 нм;
микроскоп сканирующий зондовый NTegra PRIMA (ГР 28664-1С) с пределом допускаемой абсолютной погрешности сличения геометрических размеров (при номинальных размерах более 10 нм) ±(1+0,001L) нм.
Изготовитель
Открытое акционерное общество (ОАО) «Завод ПРОТОН-МИЭТ»,124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д. 5, стр. 20.
Мера представляет собой совокупность элементов рельефа - выступов - на поверхности подложки в виде кварцевой пластины, с нормированным шагом (периодом) выступов в латеральной плоскости по осям X и Y, а также с нормированной высотой выступов (рисунок 1).
Рисунок 1 - Фото меры рельефной Кварц-XY1400/790нм в футляре (1а), отдельно (1б) и на столике микроскопа сканирующего зондового СММ-2000 (1в)
1б
Подложка (кварцевая пластина) имеет форму прямоугольного параллелепипеда с размерами 5 мм х 5 мм х 2.2 мм. Периодические выступы выполнены из хрома. Кадр рабочей поверхности меры приведен на рис. 2.
Рисунок 2 - Мера рельефная Кварц-ХГ1400^90нм, кадр 7 х 7 мкм
При поверке (калибровке) средств измерений с использованием данной меры получают изображение поверхности меры с помощью калибруемого средства измерений. Затем на полученном изображении в поверяемом (калибруемом) средстве измерений величинам шага и высоты выступов придается значение, приведенное в паспорте на использованную меру.
Наименование |
Значение |
Номинальное значение шага периодической структуры меры вдоль двух ортогональных направлений в плоскости XOY, мкм |
1,400 |
Пределы допускаемой относительной погрешности шага периодической структуры, % |
± 2 |
Номинальное значение высоты выступов периодической структуры, мкм |
0,090 |
Пределы допускаемой относительной погрешности высоты выступов периодической структуры, % |
± 5 |
Габаритный размер меры (длина х ширина х толщина), мм, не более |
5,5 х 5,5 х 2,5 |
Размер рабочей области меры (длина х ширина), мм, не менее |
4,5 х 4,5 |
Масса меры, г, не более |
0,2 |
Рабочие условия: температура окружающего воздуха 20±2 °С.