Номер по Госреестру СИ: 45387-10
45387-10 Спектрофотометры
(XDS)
Назначение средства измерений:
Спектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.
Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.
Знак утверждения типа
.Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации спектрофотометров типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Нормативные и технические документы
ГОСТ 8.557-2007. Государственная поверочная схема для СИ спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн 0,2 - 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2 - 20,0 мкм.
Поверка
Спектрофотометры XDS подлежат периодической поверке в соответствии с методикой поверки (Приложение А к руководству по эксплуатации), утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест-Москва» в июле 2010 г.
Средства поверки:
- Комплект мер диффузного отражения ХС-1010, номер по Госреестру СИ 35951-07, рабочий спектральный диапазон от 400 до 2600 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента отражения от 0,02 до 0,95, погрешность не более ± 0,005 в диапазоне от 0,95 до 0,20 отн.ед.; не более ± 0,003 в диапазоне ниже 0,20 отн.ед.; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра WaveCert-1920а не более + 0,3 нм. Комплект светофильтров КНС-10.5, номер по Госреестру СИ 43463-09, рабочий спектральный диапазон от 260 до 2700 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента пропускания от 0,02 до 0,95, погрешность не более ±0,005; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра НГГ не более ± 0,15 нм.
Межповерочный интервал - 1 год.
Изготовитель
KOMnanna^OSS Analytical АВ^ Швеция, PSI Anders vag 2, Box 70, SE-263 21 Hoganas.Спектрофотометры XDS. Модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer», «XDS MultiVial Analyzer»,
Внесены в Государственный реестр средств измерений
Регистрационный № 40_______
Взамен №
«XDS Rapid Content Analyzer»,
«XDS OptiProbe Analyzer »,
«XDS SmartProb Analyzer»,
«XDS Rapid Liquid Analyzer»
Выпускаются по технической документации компании ZFOSS Analytical AB^ Швеция.
НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯСпектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.
Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.
Принцип действия спектрофотометров XDS основан на сравнении двух световых потоков: полного, принимаемого за 100% отражения или пропускания, и ослабленного при отражении или прохождении через исследуемый образец.
Все модификации спектрофотометров XDS включают в свой состав одинаковый спектрофотометрический модуль, осуществляющий освещение образцов монохроматическим излечением в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм и регистрацию отраженного или проходящего потока излучения. В спектрофотометрическом модуле располагаются источник света (галогенная лампа накаливания); монохроматор с подвижной дифракционной решеткой; встроенные опорные образцы сравнения для самокалибровки прибора; узел регистрации излучения (группа фотоприемников на основе кремния, арсенида индия-галлия, сульфида свинца), а также блоки питания, управления и связи с управляющим компьютером.
К спектрофотометрическому модулю, в зависимости от требуемого режима измерений, пристыковываются различные измерительные блоки, определяющие модификацию данного экземпляра прибора.
Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для твердых образцов (модификации «XDS Rapid Content Analyzer» и «XDS MultiVial Analyzer») и с выносным оптоволоконным измерительным блоком (модификации «XDS SmartProbe Analyzer» и «XDS OptiProbe Analyzer») предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном свете (десятичный логарифм спектрального коэффициента отражения) твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов.
Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для жидких образцов (модификация «XDS Rapid Liquid Analyzer» ) предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности прозрачных твердых или жидких образцов.
Спектрофотометры XDS с универсальным измерительным блоком (модификация «XDS MasterLab Tablet Analyzer») предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности различных образцов в отраженном или проходящем свете.
Управление режимами работы, все операции калибровки, измерений и сохранения результатов производится специализированной компьютерной программой «VisionTM», работающей в среде Windows.
-
1. Диапазон измерений спектральной оптической плотности, Б от 0,00 до 2,00
-
2. Рабочий спектральный диапазон, нм от 400 до 2500
-
3. Предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении спектральной оптической плотности, Б
-
- в диапазоне от 0,00 до 1,00 Б
±0,03
±0,06
±1,0
220 ± 22 В, 50Гц
150
460 x 390 x 580
460 x 450 x 820
35,0
-
- в диапазоне свыше 1,00 Б
-
4. Предел допускаемой абсолютной погрешности шкалы длин волн, нм
-
5. Напряжение питающей сети, В
-
7. Потребляемая мощность (без учета компьютера), ВА, не более
-
8. Габаритные размеры, мм, не более
-
- модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer»,
«XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer», «XDS Rapid Liquid Analyzer»
-
- модификации «XDS SmartProb Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer»
-
9. Масса, кг, не более
Спектрофотометры XDS предназначены для эксплуатации при температуре окружающей среды от 4,5 до 35°С и относительной влажности не более 90% без конденсации влаги.
Спектрофотометры XDS являются восстанавливаемыми изделиями.