Номер по Госреестру СИ: 45387-10
45387-10 Спектрофотометры
(XDS)
Назначение средства измерений:
Спектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.
Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства - 01.08.2015
Номер записи - 133967
ID в реестре СИ - 356367
Тип производства - серийное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
Спектрофотометр XDS, нет данных, модификации XDS Rapid Content Analalyzer, XDS,
Производитель
Изготовитель - Компания "FOSS Analytical AB"
Страна - ШВЕЦИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Статистика
Кол-во поверок - 13
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 2
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 3
Усредненный год выпуска СИ - 2019
МПИ по поверкам - 22749 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
Наличие аналогов СИ: Спектрофотометры (XDS)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Компания "FOSS Analytical AB"
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
35952-07 13.12.2017 |
Спектрофотометры отражения инфракрасные, InfraXact Компания "FOSS Analytical AB" (ШВЕЦИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
45387-10 01.08.2015 |
Спектрофотометры, XDS Компания "FOSS Analytical AB" (ШВЕЦИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
60285-15 01.04.2020 |
Спектрофотометры, NIRS мод. NIRS DS2500, NIRS DA1650 Компания "FOSS Analytical AB" (ШВЕЦИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Кто поверяет Спектрофотометры (XDS)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2025 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ФБУ "РОСТЕСТ-МОСКВА" (RA.RU.311341) | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ФБУ "Мордовский ЦСМ" (RA.RU.311375) | РСТ | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | ||
| ФБУ «Ростест-Москва» (RA.RU.311320) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ФБУ «Ставропольский ЦСМ» (RA.RU.311422) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ФБУ "РОСТЕСТ-МОСКВА" (RA.RU.311341) | РСТ | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | ||
| ФБУ «Воронежский ЦСМ» (RA.RU.311467) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ООО "Феррата" (1329) | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ФБУ «Тамбовский ЦСМ» (RA.RU.311407) | РСТ | 2 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ФБУ «Белгородский ЦСМ» (RA.RU.311380) | РСТ | 4 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Спектрофотометры (XDS)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|---|---|
|
ФБУ НИЦ ПМ-Ростест Москва |
4895 | 4788 |
|
ФБУ НИЦ ПМ-Ростест Москва |
4578 | 4788 |
|
ФБУ Иркутский ЦСМ Иркутская область |
3892 | 4788 |
|
ФБУ Кабардино-Балкарский ЦСМ Кабардино-Балкарская Республика |
4473 | 4788 |
|
ФБУ Кузбасский ЦСМ Кемеровская область |
4297 | 4788 |
Знак утверждения типа
.Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации спектрофотометров типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Нормативные и технические документы
ГОСТ 8.557-2007. Государственная поверочная схема для СИ спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн 0,2 - 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2 - 20,0 мкм.
Поверка
Спектрофотометры XDS подлежат периодической поверке в соответствии с методикой поверки (Приложение А к руководству по эксплуатации), утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест-Москва» в июле 2010 г.
Средства поверки:
- Комплект мер диффузного отражения ХС-1010, номер по Госреестру СИ 35951-07, рабочий спектральный диапазон от 400 до 2600 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента отражения от 0,02 до 0,95, погрешность не более ± 0,005 в диапазоне от 0,95 до 0,20 отн.ед.; не более ± 0,003 в диапазоне ниже 0,20 отн.ед.; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра WaveCert-1920а не более + 0,3 нм. Комплект светофильтров КНС-10.5, номер по Госреестру СИ 43463-09, рабочий спектральный диапазон от 260 до 2700 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента пропускания от 0,02 до 0,95, погрешность не более ±0,005; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра НГГ не более ± 0,15 нм.
Межповерочный интервал - 1 год.
Изготовитель
KOMnanna^OSS Analytical АВ^ Швеция, PSI Anders vag 2, Box 70, SE-263 21 Hoganas.Спектрофотометры XDS. Модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer», «XDS MultiVial Analyzer»,
Внесены в Государственный реестр средств измерений
Регистрационный № 40_______
Взамен №
«XDS Rapid Content Analyzer»,
«XDS OptiProbe Analyzer »,
«XDS SmartProb Analyzer»,
«XDS Rapid Liquid Analyzer»
Выпускаются по технической документации компании ZFOSS Analytical AB^ Швеция.
НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯСпектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.
Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.
Принцип действия спектрофотометров XDS основан на сравнении двух световых потоков: полного, принимаемого за 100% отражения или пропускания, и ослабленного при отражении или прохождении через исследуемый образец.
Все модификации спектрофотометров XDS включают в свой состав одинаковый спектрофотометрический модуль, осуществляющий освещение образцов монохроматическим излечением в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм и регистрацию отраженного или проходящего потока излучения. В спектрофотометрическом модуле располагаются источник света (галогенная лампа накаливания); монохроматор с подвижной дифракционной решеткой; встроенные опорные образцы сравнения для самокалибровки прибора; узел регистрации излучения (группа фотоприемников на основе кремния, арсенида индия-галлия, сульфида свинца), а также блоки питания, управления и связи с управляющим компьютером.
К спектрофотометрическому модулю, в зависимости от требуемого режима измерений, пристыковываются различные измерительные блоки, определяющие модификацию данного экземпляра прибора.
Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для твердых образцов (модификации «XDS Rapid Content Analyzer» и «XDS MultiVial Analyzer») и с выносным оптоволоконным измерительным блоком (модификации «XDS SmartProbe Analyzer» и «XDS OptiProbe Analyzer») предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном свете (десятичный логарифм спектрального коэффициента отражения) твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов.
Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для жидких образцов (модификация «XDS Rapid Liquid Analyzer» ) предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности прозрачных твердых или жидких образцов.
Спектрофотометры XDS с универсальным измерительным блоком (модификация «XDS MasterLab Tablet Analyzer») предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности различных образцов в отраженном или проходящем свете.
Управление режимами работы, все операции калибровки, измерений и сохранения результатов производится специализированной компьютерной программой «VisionTM», работающей в среде Windows.
-
1. Диапазон измерений спектральной оптической плотности, Б от 0,00 до 2,00
-
2. Рабочий спектральный диапазон, нм от 400 до 2500
-
3. Предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении спектральной оптической плотности, Б
-
- в диапазоне от 0,00 до 1,00 Б
±0,03
±0,06
±1,0
220 ± 22 В, 50Гц
150
460 x 390 x 580
460 x 450 x 820
35,0
-
- в диапазоне свыше 1,00 Б
-
4. Предел допускаемой абсолютной погрешности шкалы длин волн, нм
-
5. Напряжение питающей сети, В
-
7. Потребляемая мощность (без учета компьютера), ВА, не более
-
8. Габаритные размеры, мм, не более
-
- модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer»,
«XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer», «XDS Rapid Liquid Analyzer»
-
- модификации «XDS SmartProb Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer»
-
9. Масса, кг, не более
Спектрофотометры XDS предназначены для эксплуатации при температуре окружающей среды от 4,5 до 35°С и относительной влажности не более 90% без конденсации влаги.
Спектрофотометры XDS являются восстанавливаемыми изделиями.