Номер по Госреестру СИ: 41394-09
41394-09 Измерители рентгенофлуоресцентные
(FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4)
Назначение средства измерений:
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 (далее - измерители) предназначены для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.
Общие сведения
Дата публикации - 29.04.2023
Срок свидетельства - 01.10.2014
Номер записи - 129287
ID в реестре СИ - 351687
Тип производства - серийное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
нет данных ,
Производитель
Изготовитель - Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik"
Страна - ГЕРМАНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Очень удобный отчет для отслеживания динамики наполнения ФГИС АРШИН данными о поверках. В основу отчёта положена система из двух графиков (столбчатых диаграмм) распределения поверок, поступающих в ФГИС аршин по дням. По оси абсцисс «Ox» - дата, по оси ординат «Oy» - количество поверок в штуках. Первый график используется для задания масштабируемого участка, а второй для воспроизведения выбранного участка диаграммы в увеличенном масштабе.
В завершении отчета приводится сводная таблица с данными для возможности самостоятельной обработки информации. Таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок.
Статистика
Кол-во поверок - 6
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 0
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 365 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№882 от 2015.07.28 О продлении срока действия свидетельств об утверждении типа средств измерений
№840 от 2020.04.27 ПРИКАЗ о продление свидетельство об утверждении типов СИ 37 шт
Наличие аналогов СИ: Измерители рентгенофлуоресцентные (FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik"
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
41390-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-μ, XDVM®-µ-SD, XDV®-µ Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41391-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®-FD, XAN®-DPP Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41392-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P, XDV®-SD Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41393-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®, XDAL®-FD Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41394-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41395-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®, XULM® Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
44033-10 01.04.2015 |
Микротвердомеры, Fisheroscope® HM2000 S, Fisheroscope® HM2000 XYm, Fisheroscope® HM2000 XYp Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
53704-13 11.05.2024 |
Толщиномеры покрытий , PERMASCOPE MP0R, ISOSCOPE MP0R, DUALSCOPE MP0R, PERMASCOPE MP0R-FP, DUALSCOPE MP0R-FP, DUALSCOPE MP0RH-FP, DELTASCOPE FMP10, ISOSCOPE FMP10, DUALSCOPE FMP20, DELTASCOPE FMP30, ISOSCOPE FMP30, DUALSCOPE FMP40, DUALSCOPE FMP100, DUALSCOPE H FMP150 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
58227-14 26.03.2029 |
Системы измерительные, FISCHERSCOPE MMS РС2 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
64384-16 02.09.2025 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, Fischerscope X-RAY XDAL 237 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.).
При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.
Представленный отчет состоит из круговой и столбчатой диаграмм, а также сводной таблицы. Графики являются интерактивными, а таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок. В отчете использованы не все группы СИ, а только самые крупные группы СИ (5 тыс.), название которых состоят не более чем из двух слов.
На круговой диаграмме показано распределение поверок СИ по группам. Диаграмма строится по всем поверкам, имеющимся в АРШИН. Стоит отметить, что сумма всех поверок по группам СИ, существенно превышает объём поверок, загруженных в АРШИН. Это связано с тем, что многие типы СИ входят одновременно в несколько групп.
Столбчатая диаграмма демонстрирует то же распределение поверок по группам СИ, что и круговая, но в динамике по годам. Причем, для удобства читаемости графика есть возможность посредством фильтра выбрать только нужные года.
В завершении отчета приведена сводная таблица с данными для возможности самостоятельной обработки информации.
Кто поверяет Измерители рентгенофлуоресцентные (FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2026 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Коломенский филиал ФБУ «ЦСМ Московской области» (48) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ФГУП «УНИИМ» (01.00258-2011) | РСТ | 5 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Измерители рентгенофлуоресцентные (FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносят на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на заднюю панель измерителя методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Нормативные и технические документы
-
1. Рекомендации по метрологии Р 50.2.006-2001 «ГСИ Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
-
2. Техническая документация фирмы “Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik ”, Германия.
Поверка
Поверка производится в соответствии с методикой поверки «Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY XDL/XDAL; XDV; XUL/XAN. Методика поверки», согласованной с ФГУП ВНИИОФИ в июне 2009 года.
Основные средства поверки:
-
- Государственные стандартные образцы по ГОСТ 8.315-97 «ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов» в соответствии с областью применения измерителей рентгенофлуоресцентных и набором определяемых элементов.
-
- Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. Р 50.2.006-2001. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
Межповерочный интервал - 1 год.
Изготовитель
Фирма“Не1тШ Fischer GmbH Institut fur Elektronik undMesstechnik ”, Германия
Case postable D-71069 Sindelfingen, Germany.
Принцип действия измерителей основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.
Основными элементами конструкции измерителей являются:
-
- Корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометра, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;
-
- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;
-
- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей измерителя электроэнергией с определенными характеристиками;
-
- Видеокамера, служащая для визуального наведения измерителя на определяемую область;
-
- Детектор (полупроводниковый), служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;
-
- Персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации под управлением специализированного программного обес
печения.
- Ручное и программируемое координатное устройство для перемещения образца в процессе облучения.
Основное отличие моделей измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4
|
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B |
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 | |
|
Коичесво коллиматоров |
1 |
4 |
|
Тип трубки |
Обычная |
Микрофокусная |
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 выпускаются в 10 модификациях (XDL-B, XDLM-C4, XDL-B XYZp-T8, XDL-B Z А9, XDLM-C4 XYZp T9, XDL-B Z, XDLM-C4 Z, XDL-B XYmZ, XDLM-C4 XYmZ, XDLM-C4 PCB) в зависимости от типа платформы, привода по оси Z и типа привода, что отражается в названии модификации следующим образом:
-
• по типу платформы, по дистанции перемещения по XY, аббревиатура обозначения: T9, Т8, А9.
-
• по приводу по оси Z, аббревиатура обозначения: Z
-
• по типу привода: ручной привод, аббревиатура обозначения: XYmZ;
или автоматический привод аббревиатура обозначения: XYZp или РСВ
|
№ пп |
Наименование |
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 |
|
1 |
Анализируемые элементы |
от алюминия (Z=13) до урана (Z=92) |
|
2 |
Количество слоев покрытия, не более |
24 |
|
3 |
Диапазон измерения толщины покрытия, мкм |
1-60 |
|
4 |
Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более |
±0,55 |
|
5 |
Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более |
0,2 мкм в диапазоне от 1-^10 мкм 2% в диапазоне от 10-60 мкм |
|
6 |
Диапазон измерения массовой доли компонента, % |
2-100 |
|
7 |
Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более |
1,0 |
|
8 |
Напряжение питания, В При частоте, Гц |
220 (-15-±10)% 50/60 ± 1% |
|
9 |
Потребляемая мощность, кВА, не более |
3,5 |
|
XDL-B и XDLM- С4 |
XDL- BZ |
XDLM- C4Z |
XDL-В XYmZ |
XDLM- С4 XYmZ |
XDL-В XYZp- Т8 |
XDL- В Z А9 |
XDLM-С4 XYZp T9 |
XDLM-C4 РСВ | |
|
Г абаритные размеры, мм, не более Ширина х Глубина х Высота |
570x740x650 |
765x835x705 |
570x740x650 | ||||||
|
Масса, кг, не более |
90 |
95 |
105 |
110 | |||||
|
Условия эксплуатации: Температура окружающей среды, °C |
10-40 | |
|
Относительная влажность воздуха, % |
0-95 | |
|
Высота над уровнем моря, м, не более |
3000 |