Номер по Госреестру СИ: 94033-24
94033-24 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
(IIS)
Назначение средства измерений:
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS деталей и профилях являются гранитное основание, на котором смонтирована колонна с направляющими, на которой крепится блок ведущего привода с датчиком и закрепленной на нем щуповой консолью. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора, а также джойстиком в ручном режиме. Джойстик может быть закреплен на гранитном основании прибора или специальном столе. Приборы работают под управлением входящего в комплект персонального компьютера.
(далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных геометрических параметров: расстояний между точками, радиусов дуг и углов.
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 1
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 2
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 3
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 4
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 5
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 6
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 7
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 8
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 9
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 10
Общие сведения
Дата публикации - 13.12.2024
Срок свидетельства - 11.12.2029
Номер записи - 195853
ID в реестре СИ - 1421776
Тип производства - серийное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки
Модификации СИ
Wave CR-300-2-E, Wave CR-100-1-E,
Производитель
Изготовитель - Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd
Страна - КИТАЙ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности -
Переработанный справочник "КАТАЛОГ ГСО - 2021" УНИИМа
СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ УТВЕРЖДЕННЫХ ТИПОВ, ДОПУЩЕННЫЕ К ВЫПУСКУ И ПРИМЕНЕНИЮ НА ТЕРРИТОРИИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Бесплатный
Статистика
Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№2939 от 2024.12.11 ПРИКАЗ_Об утверждении типов средств измерений (16)
Наличие аналогов СИ: Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
94033-24 11.12.2029 |
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, IIS Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd (КИТАЙ ) |
ОТ МП |
1 год |
Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.
Отчет "Количество типов средств измерений в ФГИС АРШИН по областям измерений" предназначен для сравнительного анализа количества утвержденных типов средств измерений, приходящихся на различные области измерений. Отчет состоит из четырех графиков (одной круговой и трех столбчатых диаграмм) и двух интерактивных таблиц. Таблицы обладают функцией поиска и сортировки по любой из колонок.
Стоит отметить, что отнесение того или иного типа СИ к области измерений осуществляется не вручную, а с использованием специального программного алгоритма по ключевым словосочетаниям. При таком подходе качество распределения СИ и покрытие реестра типов СИ АРШИНА зависит от качества, предложенных словосочетаний. По этой причине 20% типов СИ, занесённых в АРШИН автоматически распределить не удалось, что не должно существенно отразиться на процентном соотношении или пропорции между областями измерений.
На круговой диаграмме показано количественное соотношение между областями измерений по количеству утвержденных типов СИ. Ввиду того, что некоторые типы СИ могут входить в разные области измерений, суммарное количество типов СИ, приведенных на диаграмме будет превышать кол-во типов СИ, представленных в ФГИС АРШИН. Как и следовало ожидать, самые большие пропорции занимают классические области измерений (ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИХ И МАГНИТНЫХ ВЕЛИЧИН, ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИКОХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА И СВОЙСТВ ВЕЩЕСТВ и т.д.) в отличии от узкоспециализированных (СЧЕТЧИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЭНЕРГИИ, СИ БИОАНАЛИЗА и др.)
В отличии от круговой диаграммы столбчатая демонстрирует тоже разделение типов СИ по областям измерений, но уже в динамике по годам начиная с 2000 года. Дополнительно, в отдельные графики вынесены такие специализированные и социально важные области измерений как СЧЕТЧИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЭНЕРГИИ и БЫТОВЫЕ СЧЕТЧИКИ ВОДЫ.
Бесплатный
Кто поверяет Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2025 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ООО "КВАЗАР" (RA.RU.310696) | 5 | 5 | 5 | 0 | 0 | 5 | 5 | 0 |
Стоимость поверки Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Программное обеспечение
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS работают под управлением метрологически значимого программного обеспечения «WAVE»» (далее - ПО), установленного на персональный компьютер, предназначенного для обеспечения взаимодействия узлов прибора, выполнения съёмки, сохранения и экспорта измеренных величин, а также обработки результатов измерений.
Для защиты ПО от несанкционированного доступа используют USB-ключ.
Метрологически значимая часть не выделена, все ПО является метрологически значимым.
Уровень защиты ПО «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Таблица 2 - Идентификационные данные программного обеспечения
|
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
WXZ |
|
Номер версии (идентификационный номер ПО), не ниже |
3.0 |
|
Цифровой идентификатор ПО |
отсутствует |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится типографским способом на титульные листы руководства по эксплуатации и паспорта, а также на маркировочную наклейку.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измеренийприведены в разделе 3 «Использование по назначению» руководства по эксплуатации КОН.401162.002-2024 РЭ.
Нормативные и технические документы
Нормативные документы, устанавливающие требования к средству измеренийКОН.401162.002-2024 ТУ «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS. Технические условия»;
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 6 апреля 2021 г. № 472 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений геометрических параметров поверхностей сложной формы, в том числе эвольвентных поверхностей и угла наклона линии зуба»;
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 6 ноября 2019 г. № 2657 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 12000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм»;
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 29 декабря 2018 г. № 2840 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений длины в диапазоне от 1^10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм».
ПравообладательОбщество с ограниченной ответственностью «Интегрированные Интеллектуальные Системы» (ООО «ИИС»)
ИНН 5001091708
Юридический адрес: 143910, Московская обл., г. Балашиха, ул. Калинина, д. 17/10, к. 2, Художественная мастерская (3)
Телефон: +7 (495) 529-63-56
E-mail: ceo@ii-system.ru
Web-сайт: интеллект-системы.рф
Изготовитель
Общество с ограниченной ответственностью «Интегрированные ИнтеллектуальныеСистемы» (ООО «ИИС»)
ИНН 5001091708
Юридический адрес: 143910, Московская обл., г. Балашиха, ул. Калинина, д. 17/10, к. 2, Художественная мастерская (3)
Производственная площадка: Xi'an Wilson Precision Instruments Co., Ltd, Китай, Room 104, Building 1, No. 55, Gongye Er Road, National Civil Aerospace Industry Base, Xi'an, Shaanxi
Телефон: +7 (495) 529-63-56
E-mail: ceo@ii-system.ru
Web-сайт: интеллект-системы.рф
Испытательный центр
Общество с ограниченной ответственностью «Квазар» (ООО «Квазар»)Адрес: 108823, г. Москва, пос. Рязановское, п. Знамя Октября, д. 31, помещ. 38, 39, 40
Телефон: +7 (495) 968-29-47, 8-926-282-27-78
E-mail: info@quasar-m.ru
Правообладатель
Общество с ограниченной ответственностью «Интегрированные Интеллектуальные Системы» (ООО «ИИС»)ИНН 5001091708
Юридический адрес: 143910, Московская обл., г. Балашиха, ул. Калинина, д. 17/10, к. 2, Художественная мастерская (3)
Телефон: +7 (495) 529-63-56
E-mail: ceo@ii-system.ru
Web-сайт: интеллект-системы.рф
Конструкция приборов консольная, основными элементами которой
Принцип действия приборов основан на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, рубиновым или твердосплавным наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор персонального компьютера из состава прибора, в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей.
Приборы выпускаются в различных модификациях, обозначение кода структуры указано на рисунке 1, расшифровка в таблице 1, отличающихся внешним видом и метрологическими характеристиками указанными в таблице 3.
Пломбирование приборов не предусмотрено.
Нанесение знака поверки на средство измерений предусмотрено, способом наклеивания или оттиска поверительного клейма.
Заводской номер приборов методом печати в числовом формате указывается на маркировочной наклейке, расположенной на боковой поверхности гранитного измерительного стола.
Общий вид приборов представлен на рисунке 2, датчиков указан на рисунке 3, приводов датчика по оси Х указан на рисунке 4.
Общий вид маркировочной наклейки представлен на рисунке 5.
Место расположения заводского номера, знака утверждения типа и поверки указано на рисунке 6.
|
IIS |
- |
WAVE |
- |
С |
- |
Х |
- |
T |
- |
Z1 |
- |
M |
- |
Z |
I_________________________________________________I
2
I_________________________________________________I
4
I_________________________________________________I
7
I_________________________________________________I
6
I_________________________________________________I
3
I_________________________________________________I
5
I________________________________________________________________I
1
I____________________________________________________________________I
0
Рисунок 1 - Обозначение кода структуры модификаций
Таблица 1 -
обозначения
|
Позиция |
Код |
Описание |
|
0 |
IIS |
Общее обозначение типа средства измерений |
|
1 |
WAVE |
- обозначение серии |
|
2 |
C CR CRA |
|
|
3 |
100, 120, 150, 200, 300 |
- длина направляющей по оси X, мм |
|
4 |
1 2 |
|
|
5 |
A B C D E |
|
|
6 |
М |
- измерительная колонна* |
|
7 |
300, 400, 500, 620 |
- высота измерительной колонны по оси Z*, мм |
|
* - Указывается в случае наличия измерительный колонны. | ||
Модификации IIS-WAVE-CRA, IIS-WAVE-CR Модификации nS-WAVE-С, IIS-WAVE-CR
Рисунок 2 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS
Вариант 1
Вариант 2
Вариант А
Рисунок 3 - Общий вид датчиков С, CR, CRA
Вариант В
Рисунок 4 - Общий вид приводов датчиков по оси Х
Вариант Г
□.тз
Рисунок 5 - Общий вид маркировочной наклейки
ЗащдсЕийноаЕрЛЕ 000321
|
Ь1однфнкзщн |
nS-\VA\T-CE-10{>-2-C |
|
Год Еытхка |
01.2034 |
|
Вес |
300 кг |
|
-3SEf] ГШПрв бЛЁВНЕ |
220 В. 30 Гц |
|
Гзлатзпшше рзгзЕерш ('ДяШГьБ'). mi |
Siei!225sl740 |
Рисунок 6 - Место расположения заводского номера, знака утверждения типа и поверки
Таблица 5 - Комплектность
|
Наименование |
Обозначение |
Количество |
|
Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности |
IIS-WAVE-C, IIS-WAVE-CR, nS-WAVE-CRA1) |
1 шт. |
|
Программное обеспечение, USB ключ |
- |
1 шт. |
|
Стандартный щуп для измерения контура |
- |
1 шт. |
|
Стандартный щуп для измерения шероховатости2) |
- |
1 шт. |
|
Калибровочное приспособление |
- |
1 шт. |
|
Персональный компьютер с монитором |
- |
1 шт. |
|
Программное обеспечение на USB носителе |
- |
1 шт. |
|
Руководство по эксплуатации |
КОН.401162.002-2024 РЭ |
1 экз. |
|
Руководство пользователя ПО |
КОН.401162.002-2024 ПО |
1 экз. |
|
Паспорт |
КОН.401162.002-2024 ПС |
1 экз. |
| ||
Таблица 3 -
|
Наименование характеристики |
Значение | ||
|
IIS-WAVE-C |
IIS-WAVE-CR |
IIS-WAVE-CRA | |
|
1 |
2 |
3 |
4 |
|
При измерении контура поверхности | |||
|
Диапазон измерений линейных размеров по оси X1), мм |
от 0 до 300 |
от 0 до 300 |
от 0 до 300 |
|
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z11), мм |
от 0 до 60 |
от 0 до 60 |
от 0 до 60 |
|
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z2), мм |
от 0 до 620 |
от 0 до 620 |
от 0 до 620 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси X, мкм |
±(1+0,05-L) |
±(0,8+0,02^L) |
- |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности перемещения по оси X3), мкм |
- |
- |
±(0,5+0,012-L) |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z1, мкм |
±(1+0,05-L) |
±(0,8+0,05^L) |
±(0,8+0,05^L) |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности перемещения по оси Z2)3), мкм |
±(1+5-L/10O) |
±(0,8+5-L/100) |
±(0,8+5-L/100) |
|
Диапазон измерений угла |
от 0° до 360° |
от 0° до 360° |
от 0° до 360° |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений угла |
±1' |
±1' |
±1' |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиуса, мкм |
±(1,2+R/12) |
±(1,2+R/12) |
±(0,5+R/8) |
|
Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X, мкм |
0,6 (на 100 мм) |
0,4 (на 100 мм) |
0,4 (на 100 мм) |
|
При измерении шероховатости | |||
|
Диапазон измерений параметра шероховатости Rz, мкм |
- |
от 0,05 до 1000 |
от 0,05 до 1000 |
|
Диапазон измерений параметра шероховатости Ra, мкм |
- |
от 0,05 до 860 |
от 0,05 до 860 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений параметра шероховатости Rz, мкм |
- |
±(0,01+0,05^Rz) |
±(0,01+0,05^Rz) |
таблицы 3
|
1 |
2 |
3 |
4 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений параметра шероховатости Ra, мкм |
- |
±(0,002+0,05^Ra) |
±(0,002+0,05^Ra) |
|
Примечания: L - измеряемая длинна, мм; R - измеряемый радиус в диапазоне от 0,5 до 10,0 мм; Параметры щупа при измерении контура поверхности диаметр 3 мм, длинна 24 мм, угол при вершине 12°, радиус при вершине 0,025 мм; Параметры щупа при измерении шероховатости диаметр 3 мм, длинна 24 мм, угол при вершине 60°, радиус при вершине 0,005 мм. | |||
| |||
Таблица 4 - Технические характеристики
|
Наименование характеристики |
Значение | ||
|
Модификация |
IIS-WAVE-C |
IIS-WAVE-CR |
IIS-WAVE-CRA |
|
Габаритные размеры, мм, не более: | |||
|
- длина |
916 |
916 |
916 |
|
- ширина |
725 |
725 |
725 |
|
- высота |
1740 |
1740 |
1740 |
|
Диапазон позиционирования по оси Z, мм |
650 |
650 |
650 |
|
Напряжение питания переменного тока, В |
220±20 | ||
|
Частота переменного тока, Гц |
50,0±2,5 | ||
|
Масса, кг, не более |
300 | ||
|
Условия эксплуатации: | |||
|
- температура окружающего воздуха, °С |
от +18 до +22 | ||
|
- относительная влажность окружающего воздуха, %, не |
85 | ||
|
более | |||