Номер в гос. реестре

41390-09

Наименование типа СИ (обозначение)

Измерители рентгенофлуоресцентные (FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-μ, XDVM®-µ-SD, XDV®-µ)

Назначение средства измерений

Модификация

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

Описание типа

2009-41390-09.pdf

Тип производства

Заводской номер

SN120005313

Год производства (возраст, лет)

Год производства не указан

Производитель

Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik"
Страна - ГЕРМАНИЯ

№

пп

Наименование

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-ц, XDVM-u-SD, XDV- ц

1

Анализируемые элементы

от алюминия (Z=13) до урана (Z==92)

2

Количество слоев покрытия, не более

24

3

Диапазон измерения толщины покрытия, мкм

1-60

4

Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более

±0,55

5

Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более

0,2 мкм в диапазоне от 1—10 мкм

2% в диапазоне от 10-60 мкм

6

Диапазон измерения массовой доли компонента, %

2-100

7

Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более

1,0

8

Напряжение питания, В При частоте, Гц

220 (-15-+10)%

50/60+ 1%

9

Потребляемая мощность, кВА, не более

3,5

10

Габаритные размеры, мм, не более Ширина х Глубина х Высота

660x835x720

И

Масса, кг, не более

135

Условия эксплуатации:

1 ?

Температура окружающей среды, °C

10-40

1 X

Относительная влажность воздуха, %

0-95

Высота над уровнем моря, м, не более

3000