Паспорт средства измерений Дифрактометр рентгеновский, заводской номер Q30544500070 CZ

ПАСПОРТ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

Номер в гос. реестре

48288-11

Наименование типа СИ (обозначение)

Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

Назначение средства измерений

Дифрактометр рентгеновский "Shimadzu XRD-7000", (далее по тексту дифрактометр) предназначен для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.

Модификация

нет модификации

Описание типа

2011-48288-11.pdf

Тип производства

Единичное

Заводской номер

Q30544500070 CZ

Год производства (возраст, лет)

Год производства не указан

Производитель

Фирма "SHIMADZU CORPORATION"
Страна - ЯПОНИЯ

Все поверки данного средства измерений

Организация поверитель Модификация Условный шифр знака поверки Тип поверки Дата поверки Дейтвительна до Наименование документа, на основании которого выполнена поверка Номер свидетельства (извещения) Владелец СИ Знак поверки в паспорте Знак поверки на СИ
Организация поверитель Модификация Условный шифр знака поверки Тип поверки Дата поверки Дейтвительна до Наименование документа, на основании которого выполнена поверка Номер свидетельства (извещения) Владелец СИ Знак поверки в паспорте Знак поверки на СИ
RA.RU.312302 от 2017-09-14
ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ИНЭКС СЕРТ"
(ООО "ИНЭКС СЕРТ")
ИНН: 7714899700
Прекращен
2024-02-29
нет модификацииДИЭПериодическая23.08.202222.08.2024МП 48288-11C-ДИЭ/23-08-2022/184073208Юр. Лицо Нет Нет

Технические и метрологические характеристики СИ -

Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

Диапазон измерений угловых позиций

дифракции (20) (Брэгговских отражений), градус                                от 12 до 162

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения угловых позиций Брэгговских отражений по 2Q, градус:                             ± 0,007

Диапазон измерения параметров кристаллической решётки, нм,                 от 0,2 до 1,4

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения

параметров кристаллической решетки, нм,                                       ± 0,00002

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения параметров кристаллической решетки, нм,                                        ± 0,000001

Диапазон измерения отношений интегральных интенсивностей, %               от 4 до 100

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения

отношения интегральных интенсивностей, %,                                          ± 4

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения отношения интегральных интенсивностей, %,

Диапазон измерения интегральной ширины Брэгговских отражений

от 0,1 до 3,0

по 2Q, градус

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения интегральной ширины Брэгговских отражений по 2Q, градус

± 0,005

Диапазон измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM)

по 2Q, градус                                                                      от 0,1 до 3,0

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM ) по 2Q, градус             ± 0,003

Радиус гониометра, мм,

стандартный

переменный                                                  от 200 до 275

Минимальное значение угла перемещения гониометра, градус                      0,0001

Напряжение на аноде рентгеновской трубки, кВ, не более,

Анодный ток рентгеновской трубки, мА, не более,

Время установления рабочего режима, мин, не более

Напряжение питания установки частотой (при 50±1) Гц, В,                       220±20

Потребляемая мощность, (без компьютера и охлаждающего блока), В-А, не более

Габаритные размеры ширина х длина х высота (без компьютера), мм:        1120X1049X1790

Масса, кг, (без компьютера, охлаждающего блока и трансформаторов), не более

Продолжительность непрерывной работы, ч,                               без ограничений

Время наработки на отказ, ч, не менее

Мощность эквивалентной дозы в рабочем положении в любой точке

на расстоянии 0,1 м от поверхности защиты, мкЗв/ч, не более

Условия эксплуатации:

22±5

60±10

от 950 до 1030

Диапазон рабочих температур, °С,

Диапазон значений относительной влажности (при 23 °С), %, Диапазон атмосферного давления, гПа,


Заявитель


Испытательный центр


Правообладатель


Изготовитель


Фирма SHIMADZU CORPORATION, Япония
International Marketing Division 3.
Kanda-Nishikicho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101-8448, Japan Phone: 81(3)3219-5641 Fax. 81(3)3219-5710,
URL http://www.shimadzu.com

Внешний вид средства измерений: Дифрактометр рентгеновский, заводской номер №Q30544500070 CZ
Внешний вид средства измерений: Дифрактометр рентгеновский, заводской номер №Q30544500070 CZ

Все средства измерений Фирма "SHIMADZU CORPORATION"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
17037-98

Хромато-масс-спектрометры, QP 5000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
17819-98

Спектрофотометр атомно-абсорбционный, AA-6601F
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
17820-98

Спектрофотометр инфракрасный, FTIR-8201 PC
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
17822-98

Хроматограф газовый, GC-17A
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
19381-09
15.04.2024
Спектрофотометры атомно-абсорбционные, АА-6200, АА-6800, AA-6300, АА-7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год
19382-11
27.06.2016
Спектрофлуориметры, RF-5301PC
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
19383-10
06.04.2020
Хроматографы газовые, GC-14B, GC-17Av3, GCMS-QP5000/5050A, GC-2010, GC-2010Plus, GC-2014, GCMS-QP2010, GCMS-QP2010S, GCMS-QP2010Plus
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
21669-01

Спектрофотометр атомно-абсорбционный, AA-680
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
22613-08
01.06.2013
Весы электронные лабораторные, BL
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
22614-08
01.06.2013
Весы электронные лабораторные, BW, BX, UW, UX
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
25373-08
01.06.2013
Весы электронные, EL и ELB
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
26276-08
01.01.2014
Весы электронные лабораторные, AUW/AUW-D/AUX/AUY
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
26305-04
01.02.2009
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6000, XRD 7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
2 года
26305-09
27.08.2024
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6000, XRD 7000
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
ОТ
2 года
28035-04

Спектрофотометр, UV-1601
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год
30425-05

Хроматограф жидкостной, Shimadzu-LC-6А
Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ )
1 год

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 1
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 730 дн.

Кто поверяет Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

Наименование организации Cтатус
ООО "ИНЭКС СЕРТ"
(RA.RU.312302)

Стоимость поверки Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)

Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

Какие модификации данного типа СИ еще существуют

нет модификации;

Настройки внешнего вида
Цветовая схема

Ширина

Левая панель