Номер по Госреестру СО: ГСО 9959-2011
СО ВРЕМЕНИ МАГНИТНОЙ РЕЛАКСАЦИИ НАНОМАТЕРИАЛОВ (ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВАЯ ПЛЕНКА)
СО представляет собой монокристаллическую эпитаксиальную феррит-гранатовую пленку с перпендикулярной анизотропией и лабиринтной доменной структурой, выращенную на подложке гадолиний- галлиевого граната (ГГГ). СО упакованы в пластиковые контейнеры размером 10х50х50 мм по 4 СО в каждом контейнере. Размер каждого СО 0.5х5х5 мм.
СРОК ГОДНОСТИ: 10 лет
СРОК СВИДЕТЕЛЬСТВА: 28.10.2016
НОМЕР ЗАПИСИ: 1190
ДАТА ОПУБЛИКОВАНИЯ: 18.05.2018
ПРОИЗВОДИТЕЛЬ: ИППМ РАН
СТРАНА: Россия
НАИМЕНОВАНИЕ АТТЕСТОВАННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ
- время магнитной релаксации, сСПОСОБ УСТАНОВЛЕНИЯ АТТЕСТОВАННОГО ЗНАЧЕНИЯ
- Применение аттестованных методик измеренийНазначение стандартного образца
для аттестации методик измерений времени магнитной релаксации наноматериалов, контроля погрешностей методик измерений времени магнитной релаксации наноматериалов в процессе их применения в соответствии с установленными в них алгоритмами; калибровки измерителей комплексных коэффициентов передачи и отражения (анализаторов цепей векторных) при определении времени магнитной релаксации наноматериалов.Описание стандартного образца
СО представляет собой монокристаллическую эпитаксиальную ферритгранатовую пленку с перпендикулярной анизотропией и лабиринтной доменной структурой, выращенную на подложке гадолиний-галлиевого граната (ГГГ).СО упакованы в пластиковые контейнеры размером 10х50х50 мм по 4 СО в каждом контейнере. Размер каждого СО 0,5х5х5 мм.
Знак утверждения типа
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: полиграфическим способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и в правом верхнем углу этикетки стандартного образца утвержденного типа.ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ СВЕДЕНИЯ: материал СО времени магнитной релаксации наноматериалов (эпитаксиальная феррит-гранатовая пленка) обладает следующими свойствами: состав пленки - (YTb)3(FeGa)5O12, толщина - 3,0±0,1 мкм; время релаксации определяется процессом диссипации энергии при смещении доменных границ в переменном магнитном поле перпендикулярном плоскости пленки, намагниченность насыщения-260мТл, поле анизотропии - 160 кА/м, коэрцитивная сила смещения доменной стенки - 30 А/м, полупериод доменной структуры 3,0±0,1 мкм, подвижность доменной границы -1,1-10’2 м2/сА; ширина доменной стенки 45±5 нм.
Комплектность стандартного образца
Документы, устанавливающие требования к стандартному образцу
Метрологические характеристики
Наименование аттестуемой характеристики СО |
Интервал допускаемых аттестованных значений СО, с |
Границы допускаемых значений абсолютной погрешности (Р = 0,95), с |
Время магнитной релаксации |
От 1,3-10’8 до 2,Р10-8 |
± 0,440-8 |
СРОК ГОДНОСТИ ЭКЗЕМПЛЯРА: 10 лет.
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: полиграфическим способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и в правом верхнем углу этикетки стандартного образца утвержденного типа.
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ СВЕДЕНИЯ: материал СО времени магнитной релаксации наноматериалов (эпитаксиальная феррит-гранатовая пленка) обладает следующими свойствами: состав пленки - (YTb)3(FeGa)5O12, толщина - 3,0±0,1 мкм; время релаксации определяется процессом диссипации энергии при смещении доменных границ в переменном магнитном поле перпендикулярном плоскости пленки, намагниченность насыщения-260мТл, поле анизотропии - 160 кА/м, коэрцитивная сила смещения доменной стенки - 30 А/м, полупериод доменной структуры 3,0±0,1 мкм, подвижность доменной границы -1,1-10’2 м2/сА; ширина доменной стенки 45±5 нм.
РАЗРАБОТЧИК: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3
ИЗГОТОВИТЕЛЬ: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3
Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологииподпись
Е.Р.Петросян расшифровка подписи
М.П. «___»______________2011 г.
Статистика
Кол-во поверок - 1
Кол-во поверок (подведы РСТ) - 1
Кол-во поверок (неподведы РСТ) -
Кол-во поверок (гос. организации) - 1
Кол-во поверок (чвстники) -
Кол-во владельцев - 1
Все стандартные образцы ИППМ РАН
Номер в реестре | Наименование СО | Статус |
---|---|---|
ГСО 9961-2011 | СО МАГНИТНОГО МОМЕНТА НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni) | Срок действия истек |
ГСО 9960-2011 | СО НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ РАССЕЯНИЯ МАГНИТНЫХ НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni) | Срок действия истек |
ГСО 9959-2011 | СО ВРЕМЕНИ МАГНИТНОЙ РЕЛАКСАЦИИ НАНОМАТЕРИАЛОВ (ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВАЯ ПЛЕНКА) | Срок действия истек |
ГСО 9958-2011 | СО МАГНИТНОЙ ВОСПРИИМЧИВОСТИ НАНОМАТЕРИАЛОВ (ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВАЯ ПЛЕНКА) | Срок действия истек |
Владельцы ГСО 9959-2011 СО ВРЕМЕНИ МАГНИТНОЙ РЕЛАКСАЦИИ НАНОМАТЕРИАЛОВ (ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВАЯ ПЛЕНКА)
Организация | Кол-во поверок |
---|---|
ФБУ "ПЕНЗЕНСКИЙ ЦСМ" | 1 шт. |
Лист № 1
всего листов 2
Приложение к свидетельству № 2276 об утверждении типа стандартных образцов
(обязательное)
-
- техническое задание, утвержденное 10 января 2011 г.;
-
- программа испытаний стандартного образца в целях утверждения типа, утвержденная
12 января 2011 г.;
-
- программа испытаний стандартного образца серийного выпуска, утвержденная 12 января 2011 г.;
Периодичность актуализации технической документации на тип стандартного образца не реже одного раза в пять лет.
ФОРМА ВЫПУСКА:-
- серийное производство периодически повторяющимися партиями.
-
- партия № 1, май 2011
НАЗНАЧЕНИЕ: для аттестации методик измерений времени магнитной релаксации наноматериалов, контроля погрешностей методик измерений времени магнитной релаксации наноматериалов в процессе их применения в соответствии с установленными в них алгоритмами; калибровки измерителей комплексных коэффициентов передачи и отражения (анализаторов цепей векторных) при определении времени магнитной релаксации наноматериалов.
СФЕРА ПРИМЕНЕНИЯ:-
- сфера государственного регулирования: осуществление мероприятий государственного контроля (надзора);
-
- область применения: нанотехнологии, научные исследования.
ДОКУМЕНТЫ, определяющие применение:
-
- на методики (методы) измерений:
-
- методики измерений времени магнитной релаксации наноматериалов;
-
- ГОСТ Р ИСО 5725-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Части 1 - 5.
-
- на методы контроля погрешностей МВИ:
ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 6. Использование значений точности на практике.
Приложение к свидетельству № 2276 об утверждении типа стандартных образцов (обязательное)
ОПИСАНИЕ: СО представляет собой монокристаллическую эпитаксиальную ферритгранатовую пленку с перпендикулярной анизотропией и лабиринтной доменной структурой, выращенную на подложке гадолиний-галлиевого граната (ГГГ).
СО упакованы в пластиковые контейнеры размером 10х50х50 мм по 4 СО в каждом контейнере. Размер каждого СО 0,5х5х5 мм.
НОРМИРОВАННЫЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:
Наименование аттестуемой характеристики СО |
Интервал допускаемых аттестованных значений СО, с |
Границы допускаемых значений абсолютной погрешности (Р = 0,95), с |
Время магнитной релаксации |
От 1,3-10’8 до 2,Р10-8 |
± 0,440-8 |
СРОК ГОДНОСТИ ЭКЗЕМПЛЯРА: 10 лет.
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: полиграфическим способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и в правом верхнем углу этикетки стандартного образца утвержденного типа.
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ СВЕДЕНИЯ: материал СО времени магнитной релаксации наноматериалов (эпитаксиальная феррит-гранатовая пленка) обладает следующими свойствами: состав пленки - (YTb)3(FeGa)5O12, толщина - 3,0±0,1 мкм; время релаксации определяется процессом диссипации энергии при смещении доменных границ в переменном магнитном поле перпендикулярном плоскости пленки, намагниченность насыщения-260мТл, поле анизотропии - 160 кА/м, коэрцитивная сила смещения доменной стенки - 30 А/м, полупериод доменной структуры 3,0±0,1 мкм, подвижность доменной границы -1,1-10’2 м2/сА; ширина доменной стенки 45±5 нм.
РАЗРАБОТЧИК: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3
ИЗГОТОВИТЕЛЬ: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3
Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологииподпись
Е.Р.Петросян расшифровка подписи
М.П. «___»______________2011 г.