Номер по Госреестру СО: ГСО 9960-2011
СО НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ РАССЕЯНИЯ МАГНИТНЫХ НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni)
СО напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов представляет собой пластину из полированного кремния типа КДБ-10 с металлической пленкой пермаллоя толщиной от 5 до 200 нм, нанесенной методом магнетронного распыления в присутствии внешнего плоскостного поля напряженностью 2 кА/м. Состав пермаллоя 20Fe-80Ni, намагниченность насыщения 1.0 Тл, напряженность поля анизотропии в плоскости 240 А/м, коэрцитивная сила вдоль оси легкого намагничивания 130 А/м. Размер тонкопленочных пермаллоевых аппликаций на пластинах 1х10 мкм. СО упакован в пластиковые контейнеры размером (10х50х50) мм, по 4 идентичных СО в каждом контейнере. Размер каждого СО (0.5х6.0х6.0) мм.
СРОК ГОДНОСТИ: 6 лет
СРОК СВИДЕТЕЛЬСТВА: 28.10.2016
НОМЕР ЗАПИСИ: 1191
ДАТА ОПУБЛИКОВАНИЯ: 18.05.2018
ПРОИЗВОДИТЕЛЬ: ИППМ РАН
СТРАНА: Россия
НАИМЕНОВАНИЕ АТТЕСТОВАННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ
- напряженность магнитного поля рассеяния, кА/мСПОСОБ УСТАНОВЛЕНИЯ АТТЕСТОВАННОГО ЗНАЧЕНИЯ
- Применение аттестованных методик измеренийНазначение стандартного образца
предназначен для метрологической аттестации методик измерений напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов методом магнитной силовой микроскопии; контроля погрешностей методик измерений напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов методом магнитной силовой микроскопии в процессе их применения в соответствии с установленными в них алгоритмами.Описание стандартного образца
СО напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов представляет собой пластину из полированного кремния типа КДБ-10 с металлической пленкой пермаллоя толщиной от 5 до 200 нм, нанесенной методом магнетронного распыления в присутствии внешнего плоскостного поля напряженностью 2 кА/м. Состав пермаллоя - 20Fe-80Ni, намагниченность насыщения 1,0 Тл, напряженность поля анизотропии в плоскости 240 А/м, коэрцитивная сила вдоль оси легкого намагничивания 130 А/м. Размер тонкопленочных пермаллоевых аппликаций на пластинах 1х10 мкм. СО упакован в пластиковые контейнеры размером (10х50х50) мм, по 4 идентичных СО в каждом контейнере. Размер каждого СО (0,5х6,0х6,0) мм.Знак утверждения типа
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: полиграфическим способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и в правом верхнем углу этикетки стандартного образца утвержденного типа.ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ СВЕДЕНИЯ: реализована прослеживаемость аттестованного значения стандартного образца к ГЭТ 12-91 посредством калибровки микроскопа сканирующего зондового NTEGRA с применением тесламера ТХ-4/1, поверенного согласно Государственной поверочной схеме по ГОСТ 8.144-97.
Комплектность стандартного образца
Документы, устанавливающие требования к стандартному образцу
Метрологические характеристики
Наименование аттестуемой характеристики СО |
Интервал допускаемых аттестованных значений СО, кА/м |
Границы допускаемых значений относительной погрешности (Р = 0,95), % |
Напряженность магнитного поля рассеяния |
6,5 - 10,0 |
±18 |
СРОК ГОДНОСТИ ЭКЗЕМПЛЯРА: 6 лет.
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: полиграфическим способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и в правом верхнем углу этикетки стандартного образца утвержденного типа.
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ СВЕДЕНИЯ: реализована прослеживаемость аттестованного значения стандартного образца к ГЭТ 12-91 посредством калибровки микроскопа сканирующего зондового NTEGRA с применением тесламера ТХ-4/1, поверенного согласно Государственной поверочной схеме по ГОСТ 8.144-97.
РАЗРАБОТЧИК: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3.
ИЗГОТОВИТЕЛЬ: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3.
Заместительподпись
Е.Р.Петросян
расшифровка подписи
М.П. «___»______________2011 г.
Статистика
Кол-во поверок -
Кол-во поверок (подведы РСТ) -
Кол-во поверок (неподведы РСТ) -
Кол-во поверок (гос. организации) -
Кол-во поверок (чвстники) -
Кол-во владельцев - 0
Все стандартные образцы ИППМ РАН
Номер в реестре | Наименование СО | Статус |
---|---|---|
ГСО 9961-2011 | СО МАГНИТНОГО МОМЕНТА НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni) | Срок действия истек |
ГСО 9960-2011 | СО НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ РАССЕЯНИЯ МАГНИТНЫХ НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni) | Срок действия истек |
ГСО 9959-2011 | СО ВРЕМЕНИ МАГНИТНОЙ РЕЛАКСАЦИИ НАНОМАТЕРИАЛОВ (ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВАЯ ПЛЕНКА) | Срок действия истек |
ГСО 9958-2011 | СО МАГНИТНОЙ ВОСПРИИМЧИВОСТИ НАНОМАТЕРИАЛОВ (ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВАЯ ПЛЕНКА) | Срок действия истек |
Владельцы ГСО 9960-2011 СО НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ РАССЕЯНИЯ МАГНИТНЫХ НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni)
Организация | Кол-во поверок |
---|
Приложение к свидетельству № 2277 об утверждении типа стандартных образцов
Лист № 1 всего листов 2
(обязательное)
ОПИСАНИЕ ТИПА СТАНДАРТНОГО ОБРАЗЦА
УТВЕРЖДЕННОГО ТИПА СТАНДАРТНЫЙ ОБРАЗЕЦ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ РАССЕЯНИЯ МАГНИТНЫХ НАНООБЪЕКТОВ (АППЛИКАЦИЯ ИЗ ПЛЕНКИ ПЕРМАЛЛОЯ 20Fe-80Ni)
ГСО 9960-2011
ДОКУМЕНТЫ, устанавливающие требования к метрологическим и техническим характеристикам и выпуску из производства: техническое задание, утвержденное в 2011 г., программа испытаний стандартного образца в целях утверждения типа, утвержденная в 2011 г, программа испытаний стандартных образцов серийного производства, утвержденная в 2011 г.
Периодичность актуализации технической документации на тип стандартного образца не реже одного раза в пять лет.
ФОРМА ВЫПУСКА: серийное производство периодически повторяющимися партиями.
НОМЕР ПАРТИИ, ДАТА ВЫПУСКА: партия № 1, дата выпуска май 2011 г.
НАЗНАЧЕНИЕ: предназначен для метрологической аттестации методик измерений напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов методом магнитной силовой микроскопии; контроля погрешностей методик измерений напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов методом магнитной силовой микроскопии в процессе их применения в соответствии с установленными в них алгоритмами.
СФЕРА ПРИМЕНЕНИЯ:- сфера государственного регулирования: СО используется вне сферы государственного регулирования;
- область применения: нанотехнологии, научные исследования.
ДОКУМЕНТЫ, определяющие применение:- ГОСТ Р ИСО 5725-1-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 1. Основные положения и определения;
- ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 2. Основной метод определения повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений;
- ГОСТ Р ИСО 5725-3-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 3. Промежуточные показатели прецизионности стандартного метода измерений;
- ГОСТ Р ИСО 5725-4-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 4.Основные методы определения правильности стандартного метода измерений
Приложение к свидетельству № 2277 Лист № 2
об утверждении типа стандартных образцов всего листов 2 (обязательное)
ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 6. Использование значений точности на практике
ОПИСАНИЕ: СО напряженности магнитного поля рассеяния магнитных нанообъектов представляет собой пластину из полированного кремния типа КДБ-10 с металлической пленкой пермаллоя толщиной от 5 до 200 нм, нанесенной методом магнетронного распыления в присутствии внешнего плоскостного поля напряженностью 2 кА/м. Состав пермаллоя - 20Fe-80Ni, намагниченность насыщения 1,0 Тл, напряженность поля анизотропии в плоскости 240 А/м, коэрцитивная сила вдоль оси легкого намагничивания 130 А/м. Размер тонкопленочных пермаллоевых аппликаций на пластинах 1х10 мкм. СО упакован в пластиковые контейнеры размером (10х50х50) мм, по 4 идентичных СО в каждом контейнере. Размер каждого СО (0,5х6,0х6,0) мм.
НОРМИРОВАННЫЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:
Наименование аттестуемой характеристики СО |
Интервал допускаемых аттестованных значений СО, кА/м |
Границы допускаемых значений относительной погрешности (Р = 0,95), % |
Напряженность магнитного поля рассеяния |
6,5 - 10,0 |
±18 |
СРОК ГОДНОСТИ ЭКЗЕМПЛЯРА: 6 лет.
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: полиграфическим способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и в правом верхнем углу этикетки стандартного образца утвержденного типа.
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ СВЕДЕНИЯ: реализована прослеживаемость аттестованного значения стандартного образца к ГЭТ 12-91 посредством калибровки микроскопа сканирующего зондового NTEGRA с применением тесламера ТХ-4/1, поверенного согласно Государственной поверочной схеме по ГОСТ 8.144-97.
РАЗРАБОТЧИК: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3.
ИЗГОТОВИТЕЛЬ: - Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Россия, 124365, Москва, Зеленоград, ул. Советская, 3.
Заместительподпись
Е.Р.Петросян
расшифровка подписи
М.П. «___»______________2011 г.