Номер по Госреестру СО: ГСО 10034-2011
СО СРЕДНЕГО РАЗМЕРА КРИСТАЛЛИТА В ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЯХ ПОЛИП-50
СО представляет собой кремниевую подложку с нанесенным на одну из сторон поликристаллическим покрытием из оксида титана толщиной ~100 нм. Номинальное значение среднего размера кристаллита в покрытии составляет 50 нм. На обратной СО нанесена маркировка "ПОЛИП-50", внутренний номер серии (для рекламаций производителю), номер партии и номер экземпляра внутри партии. Габаритные размеры СО - 17.0х17.0х0.4 мм3 с допуском в каждом измерении не более 0.1 мм. СО помещен в герметичный контейнер со специальным клейким слоем Gel-Pack. На лицевой и оборотной стороне контейнера расположена этикетка.
СРОК ГОДНОСТИ: 2 года
СРОК СВИДЕТЕЛЬСТВА: 16.12.2016
НОМЕР ЗАПИСИ: 1338
ДАТА ОПУБЛИКОВАНИЯ: 18.05.2018
ПРОИЗВОДИТЕЛЬ: МФТИ
СТРАНА: Россия
НАИМЕНОВАНИЕ АТТЕСТОВАННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ
- средний размер кристаллитов в покрытии, нм; средняя толщина покрытия, нмСПОСОБ УСТАНОВЛЕНИЯ АТТЕСТОВАННОГО ЗНАЧЕНИЯ
- Применение аттестованных методик измеренийНазначение стандартного образца
Для калибровки рентгеновских дифрактометров с целью определения функции инструментального уширения пиков на кривой дифракционного отражения, для аттестации методик измерений структурных параметров объектов и веществ, основанных на методах рентгеновской и электронной дифрактометрии, для контроля погрешностей методик измерений в процессе их применения.
Описание стандартного образца
Стандартный образец представляет собой кремниевую подложку с нанесенным на одну из сторон поликристаллическим покрытием из оксида титана толщиной ~100 нм. Номинальное значение среднего размера кристаллита в покрытии составляет 50 нм.
На обратной стороне стандартного образца нанесена маркировка «ПОЛИП-50», внутренний номер серии (для рекламаций производителю), номер партии и номер экземпляра внутри партии.
Габаритные размеры стандартного образца - 17,0х17,0х0,4 мм3 с допуском в каждом измерении не более 0,1 мм.
Стандартный образец помещен в герметичный контейнер со специальным клейким слоем Gel-Pack. На лицевой и оборотной стороне контейнера расположена этикетка.
Знак утверждения типа
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: печатным способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и этикетки стандартного образца утвержденного типа.|
Комплектность стандартного образцаДокументы, устанавливающие требования к стандартному образцуМетрологические характеристикиАттестуемые характеристики:
Таблица 1 - Нормированные метрологические характеристики
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: печатным способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и этикетки стандартного образца утвержденного типа.
ИЗГОТОВИТЕЛЬ: - Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (МФТИ). 141700, Московская область, г. Долгопрудный, Институтский переулок, 9. Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии _______________ Е.Р. Петросянподпись расшифровка подписи М.П. «___»______________2011 г.СтатистикаКол-во поверок - Все стандартные образцы МФТИ
Владельцы ГСО 10034-2011 СО СРЕДНЕГО РАЗМЕРА КРИСТАЛЛИТА В ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЯХ ПОЛИП-50
Приложение к свидетельству № 2401 об утверждении типа стандартных образцов (обязательное) Лист № 1 всего листов 3 ОПИСАНИЕ ТИПА СТАНДАРТНОГО ОБРАЗЦА УТВЕРЖДЕННОГО ТИПА СТАНДАРТНЫЙ ОБРАЗЕЦ СРЕДНЕГО РАЗМЕРА КРИСТАЛЛИТА В ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЯХ ПОЛИП-50 ГСО 10034-2011 ДОКУМЕНТЫ, устанавливающие требования к метрологическим и техническим характеристикам и выпуску из производства:
Периодичность актуализации технической документации на тип стандартного образца не реже одного раза в пять лет. ФОРМА ВЫПУСКА: серийное производство периодически повторяющимися партиями. НОМЕР ЭКЗЕМПЛЯРА (ПАРТИИ), ДАТА ВЫПУСКА:партия № 1, дата выпуска 31.08.2011 г. НАЗНАЧЕНИЕ:Для калибровки рентгеновских дифрактометров с целью определения функции инструментального уширения пиков на кривой дифракционного отражения, для аттестации методик измерений структурных параметров объектов и веществ, основанных на методах рентгеновской и электронной дифрактометрии, для контроля погрешностей методик измерений в процессе их применения. СФЕРА ПРИМЕНЕНИЯ:
Стандартный образец представляет собой кремниевую подложку с нанесенным на одну из сторон поликристаллическим покрытием из оксида титана толщиной ~100 нм. Номинальное значение среднего размера кристаллита в покрытии составляет 50 нм. На обратной стороне стандартного образца нанесена маркировка «ПОЛИП-50», внутренний номер серии (для рекламаций производителю), номер партии и номер экземпляра внутри партии. Габаритные размеры стандартного образца - 17,0х17,0х0,4 мм3 с допуском в каждом измерении не более 0,1 мм. Стандартный образец помещен в герметичный контейнер со специальным клейким слоем Gel-Pack. На лицевой и оборотной стороне контейнера расположена этикетка. НОРМИРОВАННЫЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:Аттестуемые характеристики:
Таблица 1 - Нормированные метрологические характеристики
Место и способ нанесения знака утверждения типа на сопроводительные документы стандартного образца: печатным способом в правом верхнем углу первого листа паспорта и этикетки стандартного образца утвержденного типа.
ИЗГОТОВИТЕЛЬ: - Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (МФТИ). 141700, Московская область, г. Долгопрудный, Институтский переулок, 9. Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии _______________ Е.Р. Петросянподпись расшифровка подписи М.П. «___»______________2011 г.Ссылки на другие типы СИ |