Сведения о средстве измерений: 65060-16 Профилометры оптические

Номер по Госреестру СИ: 65060-16
65060-16 Профилометры оптические
(ContourGT-K)

Назначение средства измерений:
Профилометры оптические ContourGT-K (далее по тексту - профилометры) предназначены для измерений линейных размеров и проведения бесконтактного неразрушающего анализа рельефа поверхностей объектов.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Профилометры оптические, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Профилометры оптические
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 07.05.2020
Срок свидетельства - 09.09.2021
Номер записи - 156396
ID в реестре СИ - 378796
Тип производства - серийное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Нет Модификации, ContourGT-K, -,

Производитель

Изготовитель - Компания "Bruker Nano Inc."
Страна - СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Ярославль - город в России, административный центр Ярославской области. Население - 577 279 человек. Ярославль - третий по величине город в Центральном федеральном округе Российской Федерации. Город является транспортным узлом, от которого расходятся железнодорожные линии и автомобильные дороги в направлении Москвы, Вологды, Рыбинска, Костромы, Иванова и Кирова. В Ярославле также есть речной порт и аэропорт. Площадь города составляет 205 км².

В административном отношении Ярославль является центром не только области, но и Ярославского района, в который не входит. Он имеет статус города областного значения и образует городской округ город Ярославль с единственным населенным пунктом в его составе.

Ярославль является крупным промышленным центром. Машиностроение здесь представлено такими предприятиями, как моторный завод, электровозоремонтный завод, вагоноремонтный завод, электромашиностроительный завод, судостроительный завод и многие другие.

Значительное развитие получили нефтеперерабатывающая и химическая промышленность. В Ярославле в 1932 году был запущен первый в мире завод синтетического каучука. Сейчас в городе действуют нефтеперерабатывающий завод ОАО "Славнефть-Ярославнефтеоргсинтез", шинный завод, лакокрасочный завод "Русские краски", завод технического углерода, фармацевтический завод.

Также имеется ряд предприятий легкой (фабрика войлочной обуви, текстильная галантерея, швейная фабрика) и пищевой промышленности (завод молочных продуктов, пивоваренный завод компании "Балтика" - бывшего ОАО "Ярпиво" и др.), мебельные фабрики. В течение 2016 года прекратили свою деятельность старейшие предприятия города, расположенные в центре города - ликеро-водочный завод и табачная фабрика "Балканская звезда".

Отчет "Анализ рынка поверки в Ярославле" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Ярославль.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 7
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 6
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 2
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№1285 от 2016.09.09 Об утверждении типов средств измерений

Наличие аналогов СИ: Профилометры оптические (ContourGT-K)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
65060-16 Профилометры оптические (ContourGT-K)
Компания "Bruker Nano Inc." (СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ )
87394-22 Микроскопы интерференционные ("НаноСкан-01")
Общество с ограниченной ответственностью "Электростекло" (ООО "Электростекло") (РОССИЯ г. Москва)

Все средства измерений Общество с ограниченной ответственностью "Электростекло" (ООО "Электростекло")

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
65060-16
09.09.2021
Профилометры оптические, ContourGT-K
Компания "Bruker Nano Inc." (СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ )
ОТ
МП
1 год

Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.

Отчет "Количество типов средств измерений в ФГИС АРШИН по областям измерений" предназначен для сравнительного анализа количества утвержденных типов средств измерений, приходящихся на различные области измерений. Отчет состоит из четырех графиков (одной круговой и трех столбчатых диаграмм) и двух интерактивных таблиц. Таблицы обладают функцией поиска и сортировки по любой из колонок.

Стоит отметить, что отнесение того или иного типа СИ к области измерений осуществляется не вручную, а с использованием специального программного алгоритма по ключевым словосочетаниям. При таком подходе качество распределения СИ и покрытие реестра типов СИ АРШИНА зависит от качества, предложенных словосочетаний. По этой причине 20% типов СИ, занесённых в АРШИН автоматически распределить не удалось, что не должно существенно отразиться на процентном соотношении или пропорции между областями измерений.

На круговой диаграмме показано количественное соотношение между областями измерений по количеству утвержденных типов СИ. Ввиду того, что некоторые типы СИ могут входить в разные области измерений, суммарное количество типов СИ, приведенных на диаграмме будет превышать кол-во типов СИ, представленных в ФГИС АРШИН. Как и следовало ожидать, самые большие пропорции занимают классические области измерений (ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИХ И МАГНИТНЫХ ВЕЛИЧИН, ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИКОХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА И СВОЙСТВ ВЕЩЕСТВ и т.д.) в отличии от узкоспециализированных (СЧЕТЧИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЭНЕРГИИ, СИ БИОАНАЛИЗА и др.)

В отличии от круговой диаграммы столбчатая демонстрирует тоже разделение типов СИ по областям измерений, но уже в динамике по годам начиная с 2000 года. Дополнительно, в отдельные графики вынесены такие специализированные и социально важные области измерений как СЧЕТЧИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЭНЕРГИИ и БЫТОВЫЕ СЧЕТЧИКИ ВОДЫ.

Бесплатный

Кто поверяет Микроскопы интерференционные ("НаноСкан-01")

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2026 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ООО "ТЕСТИНТЕХ"
(RA.RU.312099)
  • -
  • Нет Модификации
  • 6 1 0 6 0 6 0 6
    ООО "ТЕСТИНТЕХ"
    (RA.RU.312099)
  • ContourGT-K
  • 1 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскопы интерференционные ("НаноСкан-01")

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Профилометры функционируют под управлением специального программного обеспечения (ПО) Vision64, установленного на внешний компьютер. ПО управляет настройками оборудования, анализирует данные и обеспечивает графическое представление результатов. Оно предоставляет возможности полной настройки представления данных и позволяет сохранять результаты анализа в базу данных. Настройки измерений и анализа сохраняются в конфигурационных файлах для дальнейшего использования.

    Лист № 3 Всего листов 7 Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.

    компьютера. Установка обновленных версий ПО допускается только представителями предприятия - изготовителя.

    Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «низкий» согласно Р 50.2.077-2014.

    Таблица 1

    Идентификационные данные (признаки)

    Значение

    Идентификационное наименование ПО

    Vision64

    Номер версии (идентификационный номер )ПО

    5.41 и выше

    Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

    -

    Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

    -

    Программное обеспечение записано в энергонезависимой памяти персонального


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом и на нижнюю панель профилометров методом наклеивания.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    «Профилометры оптические ContourGT-K. Руководство по эксплуатации», раздел 3


    Нормативные и технические документы

    Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к профилометрам оптическим ContourGT-K

    Техническая документация компании «Bruker AXS SAS/Bruker Nano Surfaces Division», США

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по документу МП 043.М1-15 «ГСИ. Профилометры оптические ContourGT-K. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 01.08.2015 г.

    Основные средства поверки:

    • 1 Объект-микрометр ОМО/ОМП

    Метрологические характеристики:

    Расстояние между соседними штрихами (0,01±0,002) мкм

    Длина всей шкалы (1±0,003) мкм

    • 2 Мера периода линейная TGZ3 из состава государственного вторичного эталона единицы шероховатости Rmax, Rz в диапазоне значений от 0,001 до 400 мкм, единицы шероховатости Ra в диапазоне значений от 0,001 до 100 мкм по ГОСТ 8.296-2015 (Регистрационный номер в реестре Федерального информационного фонда 2.1.ZZA.0070.2015 от 16.07.2015)

    Метрологические характеристики:

    Номинальное значение периода структуры меры 3,0 мкм

    Допускаемое отклонение от номинального значения шага шаговой структуры не более ± 0,01 мкм

    • 3 Набор мер из состава государственного вторичного эталона единицы длины в области измерения параметров шероховатости Rmax в диапазоне от 0.02 до 1.8 мкм и Ra номинального значения 0,0015 мкм по ГОСТ 8.296-2015 (Регистрационный номер в реестре Федерального информационного фонда 2.1.ZZA.0034.2015)

    Метрологические характеристики:

    SHS - 180 QC

    Номинальное значение периода структуры меры 19,9 нм

    Доверительные границы результата измерений ±0,8 нм

    SHS -1800 QC

    Номинальное значение периода структуры меры 179,4 нм

    Доверительные границы результата измерений ±2,0 нм

    SHS 1,8 QC

    Номинальное значение периода структуры меры 1781 нм

    Доверительные границы результата измерений ±11 нм

    • 4 Мера профильная ПРО-10

    Основные метрологические характеристики:

    Номинальные значения параметра шероховатости Ra от 0,005 до 100 мкм

    Пределы допускаемого среднеквадратического отклонения параметра Ra, ± 3%

    Знак поверки наносится на заднюю панель корпуса профилометров (место нанесения указано на рисунке 2)


    Заявитель


    ООО «ОПТЭК»
    Адрес: 105005, Россия, г. Москва, Денисовский пер., д. 26.
    Тел.: +7(495) 933-51-51
    Факс: +7(495) 933-51-55
    ИНН: 770101001
    E-mail: offi ce@optec group. com
    Web: http://www.optecgroup. com/

    Испытательный центр


    Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
    Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46.
    Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
    E-mail: vniiofi@vniiofi.ru

    Принцип действия профилометров основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от опорного зеркала и поверхности измеряемого изделия. Интерференционные картины при различных положениях пьезозеркала регистрируются с помощью встроенной цифровой ПЗС-камеры, оцифровываются и поступают в персональный компьютер (ПЭВМ), где производится их автоматическая обработка. В результате обработки восстанавливается оптическая разность хода, соответствующая измеряемому профилю поверхности.

    Результаты измерений в виде двумерных профилей исследуемых объектов (графиков сечений), псевдоцветовых карт и текстовой информации отображаются на экране компьютера.

    В профилометрах реализовано два метода исследования: интерферометрия фазового контраста и вертикальная сканирующая интерферометрия.

    В методе вертикальной сканирующей интерферометрии используется источник оптического излучения с широким спектром (белый светодиод). В основе метода лежит вертикальное перемещение объектива встроенным приводом с одновременной регистрацией изображения камерой. Каждая точка поверхности оказывается в фокусе, модуляция интерферирующих сигналов достигает максимума, после чего спадает по мере выхода объектива из зоны фокуса. Высота каждой точки поверхности определяется системой по положению объектива в области максимальной модуляции.

    В методе интерферометрии фазового контраста используется источник оптического излучения с узким спектром (зеленый светодиод). В этом методе во время цикла измерения система прецизионного позиционирования объектива изменяет оптическую длину пути луча. Каждое такое изменение приводит к сдвигу интерференционных полос. Данные сдвиги регистрируются камерой в виде серии интерферограмм, которые с помощью программной обработки преобразуются в топографию поверхности.

    В составе профилометра находится три вида тубусных линз (1.0X, 0.55X, 2.0X) и три интерферометрических объектива (5x, 20x, 50x). Используя различные комбинации объективов и тубусных линз, можно получить объективы с различными увеличениями. В основе измерений при использовании объективов с увеличением 2,75x крат, 5x крат, 10x крат лежит оптическая схема интерферометра Майкельсона, при использовании объективов с увеличениями 11x крат, 20x крат, 27,5x крат, 40x крат, 50x крат, 100x крат - интерферометра Миро.

    Место нанесения маркировки

    Рисунок 1 - Общий вид профилометров оптических ContourGT-K с указанием

    Внешний вид. Микроскопы интерференционные (

    Рисунок 2 - Профилометр оптический ContourGT-K (вид сзади) с указанием мест нанесения маркировки и знака поверки

    Пломбирование профилометров не предусмотрено.


    Таблица 3

    Наименование и обозначение

    Количество, шт.

    Профилометр оптический ContourGT-K

    1

    Слайдер для тубусных линз*

    1

    Тубусная линза 1.0X*

    1

    Тубусная линза 0.55X*

    1

    Тубусная линза 2.0X *

    1

    Объектив интерферометрический 5x*

    1

    Объектив интерферометрический 20x*

    1

    Объектив интерферометрический 50x*

    1

    Турель на 5 объективов*

    1

    Калибровочный стандарт высоты ступенек (8 мкм) *

    1

    Ультра гладкое зеркало*

    1

    Виброизоляционный стол размером 30x30 дюймов*

    1

    Основание для образцов

    1

    Компрессор*

    1

    Компьютер*

    1

    Руководство по эксплуатации

    1

    Методика поверки МП 043.М1-15

    1

    * определяется опционально по согласованию с заказчиком


    Таблица 2

    Наименование характеристики

    Значение характеристики

    Поле зрения объектива по осям X/Y, мкм

    2,75 x

    2409/2048

    5 x

    1220/1060

    10 x

    613/425

    11 x

    316/242

    20 x

    228/173

    27,5 x

    154/118

    40 x

    126/95

    50 x

    126/95

    100 x

    53/45

    Предел среднего квадратического отклонения измерений поля зрения для всех объективов по осям X/Y, %

    5

    Диапазон показаний линейных размеров по вертикали для всех объективов(ось Z), нм

    от 0,1 до 95300000

    Диапазон измерений линейных размеров по вертикали для всех объективов(ось Z), нм

    от 19,9 до 1800

    Пределы допускаемой относительно погрешности измерений линейных размеров по вертикали (ось Z), %

    2,75 x

    ±15

    5 x

    ±17

    10 x

    ±16

    11 x

    ±15

    20 x

    ±9

    27,5 x

    ±14

    40 x

    ±11

    50 x

    ±12

    100 x

    ±9

    Диапазон показаний линейных размеров по горизонтали (оси X, Y), мкм

    2,75 x

    от 1 до 2048

    5 x

    от 1 до 1060

    10 x

    от 1 до 500

    11 x

    от 1 до 400

    20 x

    от 0,5 до 300

    27,5 x

    от 0,5 до 240

    40 x

    от 0,4 до 150

    50 x

    от 0,3 до 120

    100 x

    от 0,2 до 50

    Диапазон измерений линейных размеров по горизонтали (оси X, Y), мкм

    2,75 x

    от 100 до 1000

    5 x

    от 100 до 1000

    10 x

    от 100 до 600

    11 x

    от 100 до 600

    20 x

    от 100 до 300

    27,5 x

    от 3 до 240

    40 x

    от 3 до 150

    50 x

    от 3 до 120

    100 x

    от 3 до 40

    Диапазон показаний линейных размеров по горизонтали (оси X, Y), мкм

    2,75 x

    от 1 до 2048

    5 x

    от 1 до 1060

    10 x

    от 1 до 425

    11 x

    от 1 до 242

    20 x

    от 0,5 до 173

    27,5 x

    от 0,5 до 118

    40 x

    от 0,4 до 95

    50 x

    от 0,3 до 95

    100 x

    от 0,2 до 45

    Диапазон измерений линейных размеров по горизонтали (оси X, Y), мкм

    2,75 x

    от 100 до 1000

    5 x

    от 100 до 1000

    10 x

    от 100 до 600

    11 x

    от 100 до 600

    20 x

    от 100 до 300

    27,5 x

    от 3 до 240

    40 x

    от 3 до 150

    50 x

    от 3 до 120

    100 x

    от 3 до 40

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров по горизонтали (оси X, Y), % 2,75 x-20 x

    ±15

    27,5 x

    ±3

    40 x

    ±1

    50 x

    ±1

    100 x

    ±1

    Диапазон показаний шероховатости (высотных параметров Ra, Rz), мкм

    от 0,025 до 953

    Диапазон измерений шероховатости (высотных параметров Ra, Rz), для всех объективов, мкм

    от 0,014 до 0,18

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения шероховатости (высотных параметров Ra, Rz), мкм 2,75 x

    5 x

    • 10 x

    • 11 x

    20 x

    27,5 x

    40 x

    50 x

    100 x

    ±(0,004 - 0,0011)

    Вертикальная скорость сканирования, мкм/с, не более

    47

    Габаритные размеры (ШхВхД), мм, не более

    492x754x534

    Масса, кг, не более

    60

    Электропитание осуществляется от сети переменного тока с напряжением, В

    220

    частотой, Гц

    60

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающей среды, °C

    20±3

    - относительная влажность воздуха, %, не более

    80

    -атмосферное давление, кПа

    100±4


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель