Принцип действия структуроскопов основан на измерении магнитных характеристик локального участка материала при воздействии на него магнитного поля в замкнутой магнитной цепи. Контролируемый участок материала или изделия (далее - контролируемый участок), замыкающий измерительную магнитную цепь, намагничивается импульсным магнитным полем до насыщения. Далее контролируемый участок размагничивается ступенчато-нарастающим магнитным полем. Увеличение размагничивающего поля прекращается тогда, когда значение магнитной индукции в измерительной магнитной цепи станет равным нулю, и по значению силы тока в размагничивающей обмотке определяется значение коэрцитивной силы. Измерение магнитной индукции осуществляется с помощью преобразователя Холла. По окончании измерительного процесса информация о значении коэрцитивной силы индицируется на цифровом табло электронного блока.

Структуроскоп представляет собой носимый прибор, который состоит из электронного блока и выносного преобразователя, подключаемого к электронному блоку при помощи разъёма. Структуроскоп имеет канал беспроводной связи для передачи измерительной информации в персональный компьютер через интерфейс Bluetooth^®.

Электронный блок имеет встроенный микропроцессор и предназначен для формирования импульсов тока намагничивания и ступенчато-нарастающего тока размагничивания, измерения выходного напряжения преобразователя Холла, обработки информации и представления результатов измерения в цифровом виде на жидкокристаллическом табло, сохранения и накопления результатов измерения в памяти структуроскопа и передачи их на внешний компьютер, а также для контроля заряда аккумуляторной батареи.

Выносной преобразователь представляет собой П-образный электромагнит, предназначенный для намагничивания и размагничивания контролируемого участка, в зазоре которого установлен преобразователь Холла, с помощью которого осуществляются измерения магнитной индукции в измерительной магнитной цепи.

Структуроскопы могут эксплуатироваться в помещениях и в полевых условиях и применяться при неразрушающем контроле структуры исследуемого материала, качества его термической, термомеханической или химико-термической обработок, механических свойств изделий и определения состава (марки) ферромагнитных материалов.

Общий вид структуроскопов приведен на рисунке 1. Вид структуроскопа сзади с указанием места нанесения знака утверждения типа, приведен на рисунке 2.

Корпус    опломбирован пломбой    для    предотвращения    возможности

несанкционированного вмешательства в работу структуроскопа, которое может привести к искажению результатов измерений. Место пломбирования обозначено стрелкой на рисунке 2.

Рисунок 1 - Общий вид структуроскопов

Место нанесения знака утверждения типа

[

AM            ^зло "НИИИН МИПО "СПЕКТР’

<•*             119048 М<х>м уг Ус*.*м 35 стр 1

тш1 :«9?i 2M-M1I «ме>4И| НЭ-32М

OV           СТРУКТУРОСКОП МАГНИТНЫЙ

®    МС-10

Заводской Nq

Дата выпуска

Сделано в России

Место пломбирования

Рисунок 2 - Вид сзади

Комплектность структуроскопа приведена в таблице 2.

Таблица 2

Предел допускаемой дополнительной погрешности Л_доп измерений коэрцитивной силы, вызванной изменением температуры окружающего воздуха на каждые 20 °С в интервале рабочих значений, А/см                                                                 0,5 • Ло

Зазор между полюсами преобразователя структуроскопа и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более                         0,5

Время установления рабочего режима, мин, не более                           2

Время непрерывной работы без подзарядки аккумуляторной