Сведения о средстве измерений: 48984-12 Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Номер по Госреестру СИ: 48984-12
48984-12 Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
(Нет данных)

Назначение средства измерений:
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (далее по тексту - комплекс) предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Рисунок № 1
Внешний вид. Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Рисунок № 2
Внешний вид. Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии, http://oei-analitika.ru рисунок № 3
Внешний вид.
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Рисунок № 3

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 138152
ID в реестре СИ - 360552
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

Производитель

Изготовитель - Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова"
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Москва
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Простой и информативный отчёт, охватывающий все организации, аккредитованные на право поверки. В качестве исходной информации используются данные ФГИС АРЩИН за период с 2010 года по настоящее время.

В отчете представлены данные по количеству поверок средств измерений, проводимых аккредитованными организациями на территории РФ.

Отчёт имеет два варианта предварительных фильтров:

  • выборка по годам или за все время формирования БД, начиная с 2010 года
  • по различным тематическим разрезам, статусам и типам организаций (подведы Росстандарта, ФГУПы Росстандарта, ФБУ Росстандарта, гос. организации, коммерческие организации)

Отчёт состоит из одной круговой диаграммы и свободной таблицы. Круговая диаграмма построена на инструменте Google Chart и показывает доли поверок самых больших организаций.

Сводная таблица имеет более 4000 строк, при этом, реальное количество аккредитованных организаций не превышает 2 тысяч. Существование дубликатов организаций вызвано разницей в написании наименований и преобразовании форм собственности организаций за все время ведения федерального фонда.

В таблице по каждой из организаций представлена следующая информация:

  • Полное наименование организации
  • Общее количество поверок начиная в 2010 года
  • Поверок за год (последние 365 дней)
  • Среднее кол-во поверок в день за последний год (в году 365 дней)
  • Среднее кол-во поверок в день за последний год (только рабочие дни при 5-ти дневке - 248 р.д.)
  • Общее количество первичных поверок
  • Общее количество периодических поверок
  • Общее количество поверок без статуса
  • Кол-во извещений о непригодности в штуках
  • Кол-во извещений о непригодности в процентах

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок -
Выдано извещений -
Кол-во периодических поверок -
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.

Наличие аналогов СИ: Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (Нет данных)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
45264-10

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля, Нет данных
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
1 год
45583-10

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике, Нет данных
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
1 год
48984-12

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии, Нет данных
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
1 год

Справочник содержит сводную информацию из более чем 40 официальных баз данных по организациям, осуществляющим деятельность в области стандартизации, метрологии, аккредитации. Выборка организаций осуществлялась по общероссийскому классификатору видов экономической деятельности (ОКВЭД) по таким кодам видов деятельности как:

  • 26.5 Производство контрольно-измерительных и навигационных приборов и аппаратов; производство часов
  • 26.51 Производство инструментов и приборов для измерения, тестирования и навигации
  • 26.51.8 Производство частей приборов и инструментов для навигации, управления, измерения, контроля, испытаний и прочих целей
  • 26.51.7 Производство приборов и аппаратуры для автоматического регулирования или управления
  • 71.12.62 Деятельность в области метрологии
  • 71.12.64 Государственный контроль (надзор) за соблюдением требований технических регламентов
  • 71.12.6 Деятельность в области технического регулирования, стандартизации, метрологии, аккредитации, каталогизации продукции
  • 26.51.4 Производство приборов и аппаратуры для измерения электрических величин или ионизирующих излучений
  • 26.52 Производство часов

Справочник реализован в виде единой таблицы, имеется возможность поиска и сортировки по любому из полей. В таблице представлена следующая информация: Название компании (сокращенное); ОГРН, ИНН, ОКВЭД, рег. дата; Юр. адрес; ФИО руководителя; Количество сотрудников; Сайты; Email; Телефон; Выручка, прибыль, руб.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (Нет данных)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические

Стоимость поверки Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (Нет данных)

Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации печатным методом и на корпус прибора методом наклеивания.


Сведения о методиках измерений

Сведения о методиках (методах) измерений

«Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Руководство по эксплуатации». Разделы 2 «Подготовка изделия к использованию» и 3 «Использование изделия»


Нормативные и технические документы

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к комплексу поляризационной сканирующей микроскопии

Техническая документация Государственного учебно-научного учреждения Физический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии»

Поверка

Поверка осуществляется по документу «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Методика поверки МП 51.Д4-11» утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 14 октября 2011 г.

Основные средства поверки:

1 Меры угла вращения плоскости поляризации (пластинки поляриметрические № 04679, 02879, 873018, 873078, 873082, входящие в состав Государственного первичного эталона единицы угла вращения плоскости поляризации ГЭТ 50-2008.


Изготовитель


Государственное учебно-научное учреждение Физический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова (Физический факультет МГУ)
Адрес: 119991, Москва, ГСП-1, ул. Ленинские Горы, д. 1, стр. 2
Телефон: (495) 939-45-44; факс: (495) 939-22-10.
E-mail: fedyanin@nanolab.phys.msu.ru , www.nanolab.phys.msu.ru .

Испытательный центр

Государственный центр испытаний средств измерений федерального государственного унитарного предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт оптикофизических измерений» (ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ»), аттестат аккредитации государственного центра испытаний (испытательной, измерительной лаборатории) средств измерений № 30003-08 от 30.12.2008 г.
Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46.
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru

Принцип действия комплекса заключается в компенсации поворота плоскости поляризации путем ручной установки поляризационной призмы в угловое положение, соответствующее минимуму сигнала на фотоэлектронном умножителе (ФЭУ). Излучение от источника (лазер с длиной волны 532 нм) проходит фазовую пластину толщиной в половину длины волны, систему зеркал и попадает на образец, после прохождения, через который собирается коллектором субволновых размеров. Коллектором служит зонд ближнепольного микроскопа апертурного типа. Локально собранное апертурным зондом электроманитное поле оптической частоты с помощью оптического световода, являющегося продолжением апертурного зонда, направляется в систему вывода излучения. Система вывода излучения на основе микрообъектива служит для формирования параллельного светового пучки. После формирования параллельного светового пучка последний проходит через поляризационную призму и попадает на ФЭУ, сигнал c которого поступает в электронный контроллер комплекса, где и регистрируется.

Комплекс конструктивно выполнен в виде стационарного прибора, состоящего из установленных на оптическом столе оптико-механической измерительной головки, лазера, ФЭУ, поляризационной оптики и оптико-механических вспомогательных узлов. Электронный контроллер располагается отдельно и соединяется с оптико-механической измерительной головкой и ФЭУ соединительными кабелями.

Управление прибором осуществляется с помощью специализированного программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, который связан с электронным контроллером специальным кабелем, подключаемым к плате сопряжения, устанавливаемой в слот PCI персонального компьютера.

Внешний вид. Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (Нет данных), http://oei-analitika.ru

а

Рисунок 1 - Общий вид комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (а) и электронного контроллера комплекса (б).

Внешний вид. Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (Нет данных), http://oei-analitika.ru

б

Внешний вид. Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (Нет данных), http://oei-analitika.ru

Рисунок 2 - Место нанесения маркировки комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (1) и место пломбирования (2).

Программное обеспечение (ПО)

Программное обеспечение предназначено для управления и контроля за всеми параметрами комплекса, кроме угла поворота анализатора. Программное обеспечение автономное. Оно состоит из управляющей программы Nova.exe и служебных файлов, располагающихся в системной папке C:\Program Files (x86)\NT-MDT\Nova\. Программное обеспечение может работать под управлением операционных систем Windows 95/98/Me/2000/XP.

Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.

Таблица 1

Наименование ПО

Идентификационное наименование ПО

Номер версии (идентификационный номер) ПО

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора

ПО

Nova

Nova

1.0.26 RC1

2F0D5493

(расчет по исполняемому файлу Nova.exe)

CRC32

Обмен данными между измерительными блоками и персональным компьютером осуществляется через интерфейс PCI платы сопряжения. Плата сопряжения устанавливается в персональный компьютер и соединяется с электронным контроллером специальным кабелем.

Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола:

- при передаче используется протокол квитирования, обеспечивающий надежность обмена данными за счет обязательного получения инициатором передачи информации об отработке транзакции целевым устройством;

- надежность (достоверность) обеспечивается применением контроля паритета за счет защиты битом паритета линий передачи адреса/данных и линий передачи команд и в фазе передачи адреса, и в фазе передачи данных; при этом количество единичных бит этих линий, включая линию паритета, должно быть четным; действительное значение бита паритета появляется на шине с задержкой в один такт относительно линий передачи адреса/данных и линий команд; при обнаружении ошибки целевым устройством со сдвигом еще на один такт вырабатывается сигнал ошибки; в подсчете паритета при передаче данных учитываются все байты, включая и недействительные;

- целостность данных в отдельных пакетах дополнительно проверяется с помощью контрольной суммы, вычисляемой по алгоритму CRC32.

Метрологически значимая часть ПО скрыта от пользователя и доступна только при сервисном обслуживании. Метрологически значимая часть ПО размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к метрологически значимой части ПО исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.

Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.


Комплектность комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представле-

ны в таблице 3 Таблица 3

Наименование

Кол-во, шт.

Стол оптический

1

Контроллер электронный

1

Оптико-механическая измерительная головка с видеосистемой

1

Комплект соединительных кабелей

1

Лазер

1

Блок питания лазера

1

Фотоэлектронный умножитель

1

Комплект поляризационной оптики

1

Комплект оптических деталей

1

Система вывода излучения из одномодового оптического волокна с микрообъективом

1

Прецизионный скалыватель оптических волокон

1

Стриппер для удаления буферного слоя оптического волокна диаметром 125 микрон

1

Телевизионный монитор

1

Блок питания телевизионного монитора

1

Видеокабель S-Video

2

Силовой кабель переменного тока

1

Персональный компьютер с монитором, клавиатурой и мышью

1

Плата сопряжения контроллер-компьютер

1

Компакт-диск с программным обеспечением

1

Руководство пользователя программным обеспечением

1

Руководство по эксплуатации

1

Методика поверки МП 51.Д4-11

1

Руководство по эксплуатации электронного контроллера и оптико-механической измерительной головки

1

Комплект упаковочных материалов

1


комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представлены в таблице 2

Таблица 2

Наименование характеристики прибора

Значение

Рабочая длина волны, нм

532

Диапазон показаний угла вращения плоскости поляризации при длине волны 532 нм, градусы

± 90

Наименование характеристики прибора

Значение

Диапазон измерений угла вращения плоскости поляризации, приведенного к длине волны 546,1 нм, градусы

± 40

Пределы допускаемой относительной погрешности для углов вращения плоскости поляризации, приведенных к длине волны 546,1 нм, в диапазоне от - 40° до + 40°, %, не более

15

Электропитание от сети переменного тока

  • - напряжение питания, В

  • - частота, Гц

180 - 240

50 / 60

Потребляемая мощность, В-А, не более

500

Г абаритные размеры, мм, не более

1500 *1450 х 1050

Масса, кг, не более

150

Время измерения направление плоскости поляризации переменного электромагнитного поля оптической частоты, мин, не более

30

Срок службы, лет, не менее

5

Условия эксплуатации

  • - температура окружающей среды, °С

  • - относительная влажность воздуха, %, не более

  • - атмосферное давление, кПа

10 - 40

80 (при 20° С) от 84 до 106


Настройки внешнего вида
Цветовая схема

Ширина

Левая панель