Номер по Госреестру СИ: 48984-12
48984-12 Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
(Нет данных)
Назначение средства измерений:
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии (далее по тексту - комплекс) предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.
Внешний вид.
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Рисунок № 1
Внешний вид.
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Рисунок № 2
Внешний вид.
Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Рисунок № 3
Знак утверждения типа
Знак утверждения типаЗнак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации печатным методом и на корпус прибора методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений«Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Руководство по эксплуатации». Разделы 2 «Подготовка изделия к использованию» и 3 «Использование изделия»
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к комплексу поляризационной сканирующей микроскопииТехническая документация Государственного учебно-научного учреждения Физический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии»
Поверка
Поверка осуществляется по документу «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Методика поверки МП 51.Д4-11» утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 14 октября 2011 г.Основные средства поверки:
1 Меры угла вращения плоскости поляризации (пластинки поляриметрические № 04679, 02879, 873018, 873078, 873082, входящие в состав Государственного первичного эталона единицы угла вращения плоскости поляризации ГЭТ 50-2008.
Изготовитель
Государственное учебно-научное учреждение Физический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова (Физический факультет МГУ)
Адрес: 119991, Москва, ГСП-1, ул. Ленинские Горы, д. 1, стр. 2
Телефон: (495) 939-45-44; факс: (495) 939-22-10.
E-mail: fedyanin@nanolab.phys.msu.ru , www.nanolab.phys.msu.ru .
Испытательный центр
Государственный центр испытаний средств измерений федерального государственного унитарного предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт оптикофизических измерений» (ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ»), аттестат аккредитации государственного центра испытаний (испытательной, измерительной лаборатории) средств измерений № 30003-08 от 30.12.2008 г.Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46.
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Принцип действия комплекса заключается в компенсации поворота плоскости поляризации путем ручной установки поляризационной призмы в угловое положение, соответствующее минимуму сигнала на фотоэлектронном умножителе (ФЭУ). Излучение от источника (лазер с длиной волны 532 нм) проходит фазовую пластину толщиной в половину длины волны, систему зеркал и попадает на образец, после прохождения, через который собирается коллектором субволновых размеров. Коллектором служит зонд ближнепольного микроскопа апертурного типа. Локально собранное апертурным зондом электроманитное поле оптической частоты с помощью оптического световода, являющегося продолжением апертурного зонда, направляется в систему вывода излучения. Система вывода излучения на основе микрообъектива служит для формирования параллельного светового пучки. После формирования параллельного светового пучка последний проходит через поляризационную призму и попадает на ФЭУ, сигнал c которого поступает в электронный контроллер комплекса, где и регистрируется.
Комплекс конструктивно выполнен в виде стационарного прибора, состоящего из установленных на оптическом столе оптико-механической измерительной головки, лазера, ФЭУ, поляризационной оптики и оптико-механических вспомогательных узлов. Электронный контроллер располагается отдельно и соединяется с оптико-механической измерительной головкой и ФЭУ соединительными кабелями.
Управление прибором осуществляется с помощью специализированного программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, который связан с электронным контроллером специальным кабелем, подключаемым к плате сопряжения, устанавливаемой в слот PCI персонального компьютера.
а
Рисунок 1 - Общий вид комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (а) и электронного контроллера комплекса (б).
б
Рисунок 2 - Место нанесения маркировки комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (1) и место пломбирования (2).
Программное обеспечение предназначено для управления и контроля за всеми параметрами комплекса, кроме угла поворота анализатора. Программное обеспечение автономное. Оно состоит из управляющей программы Nova.exe и служебных файлов, располагающихся в системной папке C:\Program Files (x86)\NT-MDT\Nova\. Программное обеспечение может работать под управлением операционных систем Windows 95/98/Me/2000/XP.
Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.
Таблица 1
Наименование ПО |
Идентификационное наименование ПО |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
Nova |
Nova |
1.0.26 RC1 |
2F0D5493 (расчет по исполняемому файлу Nova.exe) |
CRC32 |
Обмен данными между измерительными блоками и персональным компьютером осуществляется через интерфейс PCI платы сопряжения. Плата сопряжения устанавливается в персональный компьютер и соединяется с электронным контроллером специальным кабелем.
Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола:
- при передаче используется протокол квитирования, обеспечивающий надежность обмена данными за счет обязательного получения инициатором передачи информации об отработке транзакции целевым устройством;
- надежность (достоверность) обеспечивается применением контроля паритета за счет защиты битом паритета линий передачи адреса/данных и линий передачи команд и в фазе передачи адреса, и в фазе передачи данных; при этом количество единичных бит этих линий, включая линию паритета, должно быть четным; действительное значение бита паритета появляется на шине с задержкой в один такт относительно линий передачи адреса/данных и линий команд; при обнаружении ошибки целевым устройством со сдвигом еще на один такт вырабатывается сигнал ошибки; в подсчете паритета при передаче данных учитываются все байты, включая и недействительные;
- целостность данных в отдельных пакетах дополнительно проверяется с помощью контрольной суммы, вычисляемой по алгоритму CRC32.
Метрологически значимая часть ПО скрыта от пользователя и доступна только при сервисном обслуживании. Метрологически значимая часть ПО размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к метрологически значимой части ПО исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Комплектность комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представле-
ны в таблице 3 Таблица 3
Наименование |
Кол-во, шт. |
Стол оптический |
1 |
Контроллер электронный |
1 |
Оптико-механическая измерительная головка с видеосистемой |
1 |
Комплект соединительных кабелей |
1 |
Лазер |
1 |
Блок питания лазера |
1 |
Фотоэлектронный умножитель |
1 |
Комплект поляризационной оптики |
1 |
Комплект оптических деталей |
1 |
Система вывода излучения из одномодового оптического волокна с микрообъективом |
1 |
Прецизионный скалыватель оптических волокон |
1 |
Стриппер для удаления буферного слоя оптического волокна диаметром 125 микрон |
1 |
Телевизионный монитор |
1 |
Блок питания телевизионного монитора |
1 |
Видеокабель S-Video |
2 |
Силовой кабель переменного тока |
1 |
Персональный компьютер с монитором, клавиатурой и мышью |
1 |
Плата сопряжения контроллер-компьютер |
1 |
Компакт-диск с программным обеспечением |
1 |
Руководство пользователя программным обеспечением |
1 |
Руководство по эксплуатации |
1 |
Методика поверки МП 51.Д4-11 |
1 |
Руководство по эксплуатации электронного контроллера и оптико-механической измерительной головки |
1 |
Комплект упаковочных материалов |
1 |
комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представлены в таблице 2
Таблица 2
Наименование характеристики прибора |
Значение |
Рабочая длина волны, нм |
532 |
Диапазон показаний угла вращения плоскости поляризации при длине волны 532 нм, градусы |
± 90 |
Наименование характеристики прибора |
Значение |
Диапазон измерений угла вращения плоскости поляризации, приведенного к длине волны 546,1 нм, градусы |
± 40 |
Пределы допускаемой относительной погрешности для углов вращения плоскости поляризации, приведенных к длине волны 546,1 нм, в диапазоне от - 40° до + 40°, %, не более |
15 |
Электропитание от сети переменного тока
|
180 - 240 50 / 60 |
Потребляемая мощность, В-А, не более |
500 |
Г абаритные размеры, мм, не более |
1500 *1450 х 1050 |
Масса, кг, не более |
150 |
Время измерения направление плоскости поляризации переменного электромагнитного поля оптической частоты, мин, не более |
30 |
Срок службы, лет, не менее |
5 |
Условия эксплуатации
|
10 - 40 80 (при 20° С) от 84 до 106 |