Сведения о средстве измерений: 48284-11 Микроскоп сканирующий зондовый

Номер по Госреестру СИ: 48284-11
48284-11 Микроскоп сканирующий зондовый
(НаноСкан-3Di)

Назначение средства измерений:
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-SDi предназначен для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-SDi применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскоп сканирующий зондовый, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп сканирующий зондовый
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137343
ID в реестре СИ - 359743
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 2 года
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

НаноСкан-3Di,

Производитель

Изготовитель - ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Троицк
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Отчет - V_24 Количество поверок средств измерений в ФГИС АРШИН по разделам областей измерений

Представленный отчет состоит из круговой и столбчатой диаграмм, а также сводной таблицы. Графики являются интерактивными, а таблица обладает функциями поиска и сортировки по любой из колонок.

На круговой диаграмме показано распределение поверок СИ по разделам областей измерений. Диаграмма строится по всем поверкам, имеющимся в АРШИН. Стоит отметить, что сумма всех поверок по разделам областей измерений, существенно превышает объём поверок, загруженных в АРШИН. Это связано с тем, что многие типы СИ входят одновременно в несколько разделов.

Столбчатая диаграмма демонстрирует то же распределение поверок по разделам областей измерений, что и круговая, но в динамике по годам. Причем, для удобства читаемости графика есть возможность посредством фильтра выбрать только нужные года.

В завершении отчета приведена сводная таблица с данными для возможности самостоятельной обработки информации.

Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.).

При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 0 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№2303 от 2021.10.18 Об утверждении типов средств измерений

№6335 от 2011.11.24 Об утверждении типов средств измерений (Регистравционный номер в Гос. реестре 48270-11 по 48286-11,34132-11,14177-11,19953-11,48287-11 по 48292-11

№429 от 2017.03.02 О переоформлении свидетельства об утверждении типа средства измерений № 48284 "Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии ОАО "АК "Транснефть" в части ООО "Востокнефтепровод" по НПС-18 (1-ая пусковая очередь)" и внесении изменений в описание типа

Наличие аналогов СИ: Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель		 ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"

№ в реестре
cрок св-ва 		Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
48284-11

 Микроскоп сканирующий зондовый, НаноСкан-3Di
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (РОССИЯ г.Троицк) 		ОТ
2 года
Отчет - MI_13 Межповерочные интервалы конкретного типа средства измерений

Отчет в табличной и графической формах показывает частоту назначения МПИ конкретного, выбранного из списка, типа СИ. К выбру доступны только типы СИ, имеющие загруженные поверки в ФГИС АРШИН.

Значение МПИ (в днях и годах) берется как разница между датой окончания поерки и датой ее проведения.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ФГУП "ВНИИМС"
(01.00225-2011)		 РСТ
  • НаноСкан-3Di
    		•  1 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    ПО предназначено для обработки данных о перемещениях пьезостолика, полученных с емкостного и интерференционного датчиков и последующего восстановления профилей исследуемых поверхностей. ПО запускается на ПЭВМ. Оно состоит из управляющей программы NSDevCtrl.exe, служебных файлов NSMover.dll, NSDevComm.dll, Motor_vc.dll, index.ini, DeviceSetup.ini, MoverSetup.ini, Signals.ini, Variables.ini и ViewerSetup.ini обеспечивающих управление прибором, хранение настроек и обработку результатов. ПО работает под управлением операционной системы Windows ХР.

    Наименование программного обеспечения

    Идентификационное наименование Программного обеспечения

    Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения

    Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода)

    Алгоритм вычисления идентификатор программного обеспечения

    NanoScan Device

    NSDevCtrl.exe

    1.0

    CC88E236

    CRC32

    Идентификация ПО: осуществляется проверкой соответствия серийных номеров аппаратной части программного обеспечения и программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, при включении прибора.

    Метрологически значимая часть ПО размещается в памяти ПЭВМ. Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений согласно МИ 3286-2010: С.


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа наносится и на раму прибора методом наклейки.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    Методики измерений изложены в документе «Микроскоп сканирующий зондовый На-ноСкан-3Di. Руководство по эксплуатации».


    Нормативные и технические документы

    Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопам

    ГОСТ 8.296-78. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz и Ra в диапазоне 0,025.. .3000 мкм

    Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений

    Вне сферы государственного регулирования

    Поверка

    Поверка осуществляется в соответствии с документом МП 48284-11 «Микроскоп сканирующий зондовый HaHoCkaH-3Di. Методика поверки», утвержденной ВНИИМС в сентябре 2011 года и входящей в комплект документации к прибору.

    Основные средства поверки: рельефные меры TGZ01, (высота ступеньки 18,4 ± 1,0 нм, период 3000,07±0,18 нм), TGZ02 (высота ступеньки 101,1 ± 1,6 нм период 3000,07±0,18 нм).


    Изготовитель

    ФГУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», Адрес: 142190 Московская область, город Троицк, улица Центральная, дом 7а, телефон: 8(499)2722314, эл. почта: nano scan@newmail. ru

    Испытательный центр

    Государственный центр испытаний средств измерений (ГЦИ СИ) ФГУП «ВНИИМС», г.Москва

    Действие сканирующего зондового микроскопа НаноСкан-SDi основано на принципе сканирования исследуемой поверхности зондом, регистрации параметров взаимодействия зонда с поверхностью и восстановлении по результатам регистрации геометрии поверхности образца и карты распределения физико-механических и электрических свойств, создании микрорельефа на поверхности исследуемого материала.

    Сканирующий зондовый микроскоп НаноСкан-SDi представляет собой стационарную автоматизированную измерительную систему и состоит из рамы, измерительной головки, управляющей электроники, набора датчиков-кантилеверов, гетеродинного интерферометра и персонального компьютера. В сканирующем зондовом микроскопе НаноСкан-SDi реализован следующий режим сканирующей зондовой микроскопии: полуконтактная АСМ.

    Для защиты от несанкционированного доступа к элементам микроскопа, блок управления и обработки информации пломбируются защитной голограммой и защитной этикеткой соответственно.

    Внешний вид. Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 1 - Общий вид Микроскопа сканирующего зондового НаноСкан-SDi


    № п/п

    Наименование комплектующей части поставки

    Количество

    1

    Микроскоп сканирующий зондовый «НаноСкан-3Di»

    1

    2

    Г етеродинный интерферометр

    1

    3

    Плата управляющей электроники

    1

    4

    Соединительные кабели

    1

    5

    Сменные пьезокерамические зонды с алмазными иглами

    2

    6

    Программное обеспечение для управления прибором и обработки данных

    1

    7

    Руководство по эксплуатации

    1

    8

    Набор рельефных мер типа TGZ (01,02)

    1

    Лист № 3 всего листов 3 

    Наименование характеристики

    Значение

    Диапазон сканирования

    500х500х50 мкм

    Разрешение при сканировании в плоскости

    XY

    3 нм

    Разрешение при сканировании по оси Z

    0,2 нм

    Погрешность измерения линейных размеров в плоскости XY (не хуже)

    ± 0,1%

    Погрешность измерения линейных размеров по оси Z (не хуже):

    ± 0,1%


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема
    Ширина
    Левая панель