Номер по Госреестру СИ: 48284-11
48284-11 Микроскоп сканирующий зондовый
(НаноСкан-3Di)
Назначение средства измерений:
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-SDi предназначен для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне.
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-SDi применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Внешний вид.
Микроскоп сканирующий зондовый
Рисунок № 1
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137343
ID в реестре СИ - 359743
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 2 года
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
НаноСкан-3Di,
Производитель
Изготовитель - ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Троицк
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Отчет "V_21. Поверка по организации в динамике по месяцам" полезен для оценки объёмов количества поверок, проводимых аккредитованной организацией. Отчет строится в динамике по месяцам и представлен тремя графиками. Графики являются интерактивными с возможностью масштабирования и экспорта в сторонние программы. В зависимости от выбранного графика приводятся объёмы поверок (все поверки, периодические поверки, извещения о непригодности) по месяцам, конкретной организации или группы организаций.
Для справки в шапке отчета приводится усредненная статистика по запросу:
- максимальное количество поверок за день
- среднее количество поверок в месяц и год
- количество месяцев (в выбранном временном интервале)
- количество годов (в выбранном временном интервале)
- общее количество поверок за выбранный период
Для построения отчета необходимо предварительно сконфигурировать два параметра его отображения:
1- Выбрать интересующим временной интервал (в БД имеются данные начиная с 2010 г.)
2- Выбрать аккредитованную на поверку организацию (несколько организаций) из списка СИ (выпадающий список позволяет делать множественный выбор). Существование дубликатов организаций вызвано разницей в написании наименований и преобразовании форм собственности организаций за все время ведения федерального фонда. Для удобства выбора в скобках указано общее кол-во поверок в системе, приходящееся на конкретного поверителя.
Статистика
Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 0 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№2303 от 2021.10.18 Об утверждении типов средств измерений
№6335 от 2011.11.24 Об утверждении типов средств измерений (Регистравционный номер в Гос. реестре 48270-11 по 48286-11,34132-11,14177-11,19953-11,48287-11 по 48292-11
Наличие аналогов СИ: Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
48284-11 |
Микроскоп сканирующий зондовый, НаноСкан-3Di ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (РОССИЯ г.Троицк) |
ОТ |
2 года |
Отчет "Анализ рынка поверки организаций Воронежской области" предоставляет исчерпывающую информацию об организациях, оказывающих услуги поверки с местом осуществления деятельности Воронеж и Воронежская область.
Параметры исследований:
- фильтр по работающим в регионе организациям-поверителям по данным ФСА и ФГИС АРШИН
- объемы первичных и периодических поверок за период 2017г. по н.в.
- фильтр по местам осуществления деятельности
- предоставление информации в графическом и табличном видах
- детальное рассмотрение деятельности каждой из организаций региона по годам
- анализ в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений
- количество поверок по типам СИ в динамике по годам
- перечень эталонов организаций с отображением нагрузки на эталон в динамике по дням
- индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
- индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
- быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей
- анализ цен на поверку СИ по региону
Кто поверяет Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2024 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ФГУП "ВНИИМС" (01.00225-2011) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Микроскоп сканирующий зондовый (НаноСкан-3Di)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Программное обеспечение
ПО предназначено для обработки данных о перемещениях пьезостолика, полученных с емкостного и интерференционного датчиков и последующего восстановления профилей исследуемых поверхностей. ПО запускается на ПЭВМ. Оно состоит из управляющей программы NSDevCtrl.exe, служебных файлов NSMover.dll, NSDevComm.dll, Motor_vc.dll, index.ini, DeviceSetup.ini, MoverSetup.ini, Signals.ini, Variables.ini и ViewerSetup.ini обеспечивающих управление прибором, хранение настроек и обработку результатов. ПО работает под управлением операционной системы Windows ХР.
|
Наименование программного обеспечения |
Идентификационное наименование Программного обеспечения |
Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения |
Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления идентификатор программного обеспечения |
|
NanoScan Device |
NSDevCtrl.exe |
1.0 |
CC88E236 |
CRC32 |
Идентификация ПО: осуществляется проверкой соответствия серийных номеров аппаратной части программного обеспечения и программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, при включении прибора.
Метрологически значимая часть ПО размещается в памяти ПЭВМ. Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений согласно МИ 3286-2010: С.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится и на раму прибора методом наклейки.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений
Методики измерений изложены в документе «Микроскоп сканирующий зондовый На-ноСкан-3Di. Руководство по эксплуатации».
Нормативные и технические документы
Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопамГОСТ 8.296-78. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz и Ra в диапазоне 0,025.. .3000 мкм
Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измеренийВне сферы государственного регулирования
Поверка
Поверка осуществляется в соответствии с документом МП 48284-11 «Микроскоп сканирующий зондовый HaHoCkaH-3Di. Методика поверки», утвержденной ВНИИМС в сентябре 2011 года и входящей в комплект документации к прибору.Основные средства поверки: рельефные меры TGZ01, (высота ступеньки 18,4 ± 1,0 нм, период 3000,07±0,18 нм), TGZ02 (высота ступеньки 101,1 ± 1,6 нм период 3000,07±0,18 нм).
Изготовитель
ФГУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», Адрес: 142190 Московская область, город Троицк, улица Центральная, дом 7а, телефон: 8(499)2722314, эл. почта: nano scan@newmail. ruИспытательный центр
Государственный центр испытаний средств измерений (ГЦИ СИ) ФГУП «ВНИИМС», г.МоскваДействие сканирующего зондового микроскопа НаноСкан-SDi основано на принципе сканирования исследуемой поверхности зондом, регистрации параметров взаимодействия зонда с поверхностью и восстановлении по результатам регистрации геометрии поверхности образца и карты распределения физико-механических и электрических свойств, создании микрорельефа на поверхности исследуемого материала.
Сканирующий зондовый микроскоп НаноСкан-SDi представляет собой стационарную автоматизированную измерительную систему и состоит из рамы, измерительной головки, управляющей электроники, набора датчиков-кантилеверов, гетеродинного интерферометра и персонального компьютера. В сканирующем зондовом микроскопе НаноСкан-SDi реализован следующий режим сканирующей зондовой микроскопии: полуконтактная АСМ.
Для защиты от несанкционированного доступа к элементам микроскопа, блок управления и обработки информации пломбируются защитной голограммой и защитной этикеткой соответственно.
Рисунок 1 - Общий вид Микроскопа сканирующего зондового НаноСкан-SDi
|
№ п/п |
Наименование комплектующей части поставки |
Количество |
|
1 |
Микроскоп сканирующий зондовый «НаноСкан-3Di» |
1 |
|
2 |
Г етеродинный интерферометр |
1 |
|
3 |
Плата управляющей электроники |
1 |
|
4 |
Соединительные кабели |
1 |
|
5 |
Сменные пьезокерамические зонды с алмазными иглами |
2 |
|
6 |
Программное обеспечение для управления прибором и обработки данных |
1 |
|
7 |
Руководство по эксплуатации |
1 |
|
8 |
Набор рельефных мер типа TGZ (01,02) |
1 |
Лист № 3 всего листов 3
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Диапазон сканирования |
500х500х50 мкм |
|
Разрешение при сканировании в плоскости XY |
3 нм |
|
Разрешение при сканировании по оси Z |
0,2 нм |
|
Погрешность измерения линейных размеров в плоскости XY (не хуже) |
± 0,1% |
|
Погрешность измерения линейных размеров по оси Z (не хуже): |
± 0,1% |