Номер по Госреестру СИ: 47577-11
47577-11 Анализаторы автоматические
(OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS)
Назначение средства измерений:
Анализаторы автоматические OBLF модели GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS предназначены для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
Внешний вид.
Анализаторы автоматические
Рисунок № 1
Внешний вид.
Анализаторы автоматические
Рисунок № 2
Внешний вид.
Анализаторы автоматические
Рисунок № 3
Программное обеспечение
Программное обеспечение внешнее и идентифицируется при включении анализатора путем вывода на экран номера версии.
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1
Наименование программного обеспечения |
Идентификацио нное наименование программного обеспечения |
Номер версии (идентификацио нный номер) программного обеспечения |
Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения |
OBLF-Win |
- |
1.4.12w12 (SQL) |
- |
- |
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений по МИ 3286-2010 «С» - метрологически значимая часть ПО СИ и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты. Конструктивно анализаторы имеют защиту встроенного программного обеспечения от преднамеренных или непреднамеренных изменений, реализованную изготовителем на этапе производства путем установки системы защиты микроконтроллера от чтения и записи.
Пломбировка приборов конструкцией анализаторов не предусмотрена.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типаЗнак утверждения типа наносится на каждый экземпляр анализатора в виде наклейки, а также на титульный лист Руководства по эксплуатации анализатора типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измеренийГОСТ 18895-97 «Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к анализаторам OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS
-
1. МИ 2639-01 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений массовой доли компонентов в веществах и материалах
-
2. ГОСТ 18895-97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
-
3. Техническая документация фирмы OBLF Gesellschaft fur Elektronik und
Feinwerktechnik mbH.
лист № 5 всего листов 5
Поверка
Поверкаосуществляется по методике поверки МП РТ 620 - 2011, утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест - Москва» « 12 » мая 2011г.
Средства поверки: Стандартные образцы состава стали ( ГСО 4165 - 91 П; 2489 - 91 П ... 2497 - 91 П ) или другие ГСО в зависимости от того для какой матрицы (железо, алюминий, медь, титан и др.) предназначен анализатор.
Изготовитель
Фирма " OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH ", ГерманияSalinger Feld 44, 58454 Witten , e-mail: info@oblf.de.
Испытательный центр
ГЦИ СИ Федерального государственного учреждения «Российский центр испытаний и сертификации - Москва» (ФГУ «Ростест-Москва»),117418, Москва, Нахимовский пр., 31, тел.: 129-19-11 факс: 124-99-96 email: info@rostest.ru
Анализаторы состоят из источника возбуждения спектра, полихроматора и автоматизированной системы управления и регистрации на базе IBM - совместимого компьютера.
Искровой источник возбуждения спектра создает униполярную искру с формой волны, задаваемой программой. Обдувка электрода аргоном повышает точность и воспроизводимость результатов измерений.
Автоматическая система анализаторов OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS базируется на полихроматоре по схеме Пашена - Рунге с вогнутой дифракционной решеткой, работающей в первом или во втором порядке дифракции. Ширина выходных щелей от 10 мкм до 75 мкм. Может быть установлено до 64 выходных щелей. Регистрация спектра осуществляется с помощью набора фотоумножителей, оптимизированных на определенные участки спектра.
Система имеет вогнутую дифракционную решетку, у которой кривизна и количество штрихов оптимизируется в соответствии с аналитической задачей. Входная щель автоматической системы управляется шаговым двигателем по программе.
В моделях GS 1000-II, QSN 750-II, QSG 750-II римская цифра указывает на увеличение скорости обработки данных за счет изменения электрической схемы интегратора в вакуумной камере.
Автоматическая система анализаторов VeOS базируется на полихроматоре по схеме Пашена - Рунге с вогнутой дифракционной решеткой, на которую световой поток со штатива передается на полупроводниковые сенсоры, с особой формой секторов. Совокупность пикселей в матрице размером 10 мкм х 1000мкм со специальной антибликовой обработкой увеличивает светочувствительность сенсоров. Термостабилизация автоматической камеры уменьшает уровень фона.
Конструктивно анализаторы OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS выполнены в виде напольного прибора с встроенным компьютером.
Управление процессом измерения и обработки выходной информации осуществляется от IBM - совместимого компьютера ( модель не ниже PENTIUM0 ) с помощью специального программного комплекса.
По программе осуществляется настройка прибора, построение градуировочных зависимостей на основе анализа стандартных образцов, оптимизация его параметров, управление его работой, обработка выходной информации, запоминание и печать результатов измерения. Во всех частях программы, в которых требуется какой-то
лист № 2 всего листов 5 ввод, в память заложено необходимое установочное значение, принимаемое программой по умолчанию и соответствующее стандартным методикам. Поэтому, в большинстве случаев для проведения измерения достаточно в методе измерения задать лишь необходимые для определения элементы.
Анализаторы оснащены самоочищающимся искровым столиком и встроенной системой внутренней стабилизации, что обеспечивает высокую стабильность результатов независимо от места установки анализатора.
Измерение, обработка, хранение и представление информации, а так же настройка и оптимизация анализатора осуществляется с помощью программного обеспечения с персонального компьютера.
Анализатор автоматический OBLF модель QSN750, QSG750, QSN750-II, QSG750-II
Анализатор автоматический OBLF модель GS1000, GS1000-II
Анализатор автоматический OBLF моgельVeOS
Метод измерения |
эмиссионный спектральный анализ | ||
Способ регистрации |
параллельный | ||
VeOS |
GS 1000; |
QSN 750; QSG 750; | |
Рабочий диапазон, нм |
130 ...780 |
120 ... 800 |
120 ... 800 |
Габаритные размеры: мм |
(1156x760x1240) |
(1100x600x1250) |
1040x900x1280) |
Масса: кг |
350 |
330 |
550 |
Потребляемая мощность |
1,5 к1Ь\ |
1,5 к1Ь\ |
1,5 к1Ь\ |
Напряжение питания |
( 220 ± 10 ) В; ( 50 /60 ) Гц |
Подача аргона: давление расход |
3 бар 700 л / ч |
3 бар 800 л / ч |
3 бар 800 л / ч |
Диапазон температур о окружающей среды, С |
( 12 ... 35 ) |
( 10 ... 35 ) |
( 12 ... 35 ) |
Диапазон относительной влажности, % |
20 - 80 | ||
Диапазон атмосферного давления, кПа |
84 - 106,7 | ||
Уровень шума, не более |
< 56 дБ |
Определяемый элемент в сталях ГОСТ 18895-97 |
Диапазон измерения, % масс. доли |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения, % масс. доли |
Марганец |
0,050 ... 2,0 |
± (0,008 ... 0,08 ) |
Медь |
0,010 ... 1,00 |
± (0,004 ... 0,06 ) |
Молибден |
0,010 ... 5,0 |
± (0,004 ... 0,12 ) |
Углерод |
0,020 ... 2,0 |
± (0,008 ... 0,06 ) |
Кремний |
0,050 ... 2,5 |
± (0,012 ... 0,08 ) |
Никель |
0,010 ... 10,0 |
± (0,004 ... 0,16 ) |
Хром |
0,010 ... 30,0 |
± (0,003 ... 0,25 ) |
В зависимости от того для какой матрицы предназначен анализатор погрешность определяется по МВИ.