Тестер ТАКТ Е1-Е2-ЕЗ включает в себя: генератор испытательных сигналов, анализатор характеристик ошибок в сигналах цифровых стыков El, Е2, ЕЗ, генератор-измеритель фазовых дрожаний в сигнале первичного стыка Е1 и обеспечивает проведение измерений с перерывом связи по шлейфу и направлению, а также без перерыва связи.

Передающая часть тестера формирует испытательные сигналы в коде HDB-3 и AMI со скоростью передачи 2048 кбит/с, 8448 кбит/с, 34368 кбит/с со структурой цикла в соответствии с Рекомендациями МСЭ-Т G. 704, G. 742 (или G. 745) и G. 751 (или G.753).

Приемная часть тестера ТАКТ Е1-Е2-ЕЗ анализирует структуру испытательного сигнала, обнаруживает и выделяет дефекты сигнала, битовые, кодовые ошибки и ошибки цикловой синхронизации.

Тестер ТАКТ Е1-Е2-ЕЗ обеспечивает ввод и измерение фазовых дрожаний в сигнале Е1 2048 кбит/с в соответствии с нормами Рекомендации МСЭ-Т 0.171.

Параметры цифровых сигналов 2048 кбит/с, 8448 кбит/с, 34368 кбит/с соответствуют шаблонам импульсов для стыков El, Е2, ЕЗ, установленным ГОСТ 26886-86.

Информация об установленных режимах работы, выборе измеряемых параметров и полученных результатах измерений отображается на экране дисплея.

Прибор имеет возможность дистанционного управления по стыку RS-232 от персонального компьютера при использовании специального программного обеспечения.

По устойчивости к климатическим и механическим воздействиям прибор ТАКТ Е1-Е2-ЕЗ относится к группе 3 ГОСТ 22261-94.

В комплект поставки тестера-анализатора каналов и трактов El, Е2, ЕЗ ТАКТ Е1-Е2-ЕЗ

входят:

* Примечание. Количество принадлежностей определяется договором о поставке.

Пределы относительной погрешности скорости передачи в рабочих условиях:

для стыка El                                                 ±30х 10'⁶

для стыка Е2                                                 ±20х 10'⁶

для стыка ЕЗ                                                   ± 15 х 10’⁶

Диапазон расстройки скорости передачи относительно номинального значения

Код входного и выходного сигнала

HDB-3, AMI

Параметры импульсов выходного сигнала 2048 кбит/с на нагрузке (120 ± 1,2) Ом соответствуют шаблону по ГОСТ 26886-86 для стыка Е1

Параметры импульсов выходного сигнала 8448 кбит/с на нагрузке (75 ± 0,8) Ом соответствуют шаблону по ГОСТ 26886-86 для стыка Е2

Параметры импульсов выходного сигнала 34368 кбит/с на нагрузке (75 ± 0,8) Ом соответствуют шаблону по ГОСТ 26886-86 для стыка ЕЗ

Тестер обеспечивает ввод фазовых дрожаний в испытательный сигнал 2048 кбит/с

Тестер обеспечивает измерение размаха фазовых дрожаний испытательного сигнала 2048 кбит/с

Пределы допускаемой погрешности измерения размаха фазовых дрожаний, ТИ:

Тестер обеспечивает прием стыкового сигнала Е1 2048 кбит/с:

• - с отклонением тактовой частоты относительно номинальной на ±50x10'⁶;

• - с затуханием от 0 до 6 дБ на частоте 1024 кГц;

• - с ослаблением до 30 дБ от защищенных контрольных точек;

• - с фазовым дрожанием размахом:

• • 1,5 ТИ в диапазоне частот фазовых дрожаний 20.. .2400 Гц

• • 0,2 ТИ в диапазоне частот фазовых дрожаний 18... 100 кГц

• • 3,5/Бд ТИ в диапазоне частот фазовых дрожаний 2,4... 18 кГц (где: Бд - частота фазовых дрожаний)

Тестер обеспечивает прием стыкового сигнала Е2 8448 кбит/с:

- с отклонением тактовой частоты относительно номинальной на ±30х 10'⁶;

(где: Бд - частота фазовых дрожаний)

Затухание несогласованности входов Е1 тестера, дБ, не менее

• - на частотах 51... 102 кГц

• - на частотах 102...2048 кГц

• - на частотах 2048...3072 кГц

Затухание асимметрии входов и выходов Е1 в диапазоне частот

от 102 кГц до 3072 кГц, дБ, не менее

Выходное сопротивление каналов Е1 прибора, Ом                120 ± 24

Затухание несогласованности входа Е2 тестера, дБ, не менее

• - на частотах 211...422 кГц

• - на частотах 422...8448 кГц

• - на частотах 8448... 12762 кГц

Затухание несогласованности входа ЕЗ тестера, дБ, не менее

• - на частотах 860... 1720 кГц

• - на частотах 1720...34368 кГц

• - на частотах 34368. ..51550 кГц

Выходное сопротивление каналов Е2 и ЕЗ прибора, Ом          75 ±15

Тестер обеспечивает ввод калиброванных ошибок в диапазоне:

• - битовых                                                     1х10‘²...1хЮ'⁹

• - кодовых                                                        1х10'²...1х10‘⁹

• - цикловых                                                      1х10'²...1х10’⁹

• - ошибочных бит по процедуре CRC-4

• - ошибочных Е-бит

  одиночные

  одиночные

Тестер обеспечивает регистрацию и счет ошибок от 0 до 9999999999:

• - по нарушению алгоритма кода;

• - по нарушению бит испытательной последовательности;

• - циклового синхросигнала;

• - по процедуре CRC-4;

• - Е-бит.

Тестер обеспечивает вычисление коэффициентов ошибок в диапазоне от 1,0x10'² до 1,Ох1О‘²⁰:

• - по нарушению алгоритма кода;

• - по нарушению бит испытательной последовательности;

• - цифрового синхросигнала;

• - по процедуре CRC-4;

• - Е-бит

Тестер обеспечивает регистрацию, счет числа и индикацию результатов счета для секундных интервалов с ошибками и дефектами следующих типов:

• - секунды с ошибками (ES);

• - секунды, пораженные ошибками (SEC);

• - секунды СИАС;

• - секунды потери цикла;

• - секунды отсутствия сигнала на входе

Тестер обеспечивает вычисление следующих коэффициентов ошибок в диапазоне от 1,0 до 0,01x10'²⁰:

• - коэффициент ошибок по секундам с ошибками (ECR);

• - коэффициент ошибок по секундам, пораженными ошибками (SESR);

• - коэффициент ошибок по блокам с фоновой ошибкой (BBER)

  Масса прибора, кг, не более	2
  Габаритные размеры(длина, ширина, высота), мм, не более	340x264x83
  Питание:
  - напряжение переменного тока, В	220122
  - частота, Гц	50 ± 2,5
  Потребляемая мощность, ВА, не более	10,0
  Средняя наработка на отказ, ч, не менее	10000
  Условия эксплуатации:
  - температура окружающего воздуха, °C	5...40
  - относительная влажность воздуха, %, не более	90 при t = 25°С