Сведения о средстве измерений: 96307-25 Микроскоп конфокальный лазерный измерительный

Номер по Госреестру СИ: 96307-25
96307-25 Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
(LEXT OLS4100-SAF)

Назначение средства измерений:
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный измерительный, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
Рисунок № 1
Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный измерительный, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
Рисунок № 2

Общие сведения

Дата публикации - 05.09.2025
Срок свидетельства -
Номер записи - e88fed5f-266f-634a-c6c2-88569472c164
ID в реестре СИ - 1426578
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

LEXT OLS4100-SAF,

Производитель

Изготовитель - OLYMPUS Corporation
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт - Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности -

Отчет представляет собой таблицу с перечнем эталонов организаций, применяемых при поверке расходомеров и теплосчетчиков. По каждому эталону приведена статистика поверок СИ по годам. В качестве эталона могут выступать ГЭТ, эталоны единиц величин или СИ, используемые в качестве эталонов.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№1866 от 2025.09.02 ПРИКАЗ_Об утверждении типов средств измерений (8)

Наличие аналогов СИ: Микроскоп конфокальный лазерный измерительный (LEXT OLS4100-SAF)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений OLYMPUS Corporation

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
96307-25

Микроскоп конфокальный лазерный измерительный, LEXT OLS4100-SAF
OLYMPUS Corporation (ЯПОНИЯ Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914)
ОТ
МП
1 год

Новосибирск - третий по численности населения город в Российской Федерации, имеет статус городского округа. Торговый, деловой, культурный, промышленный, транспортный и научный центр федерального значения. Основан в 1893 году, статус города получил в 1903 году. Новосибирск выполняет функции административного центра Сибирского федерального округа, Новосибирской области и входящей в его состав Новосибирской области.

Население Новосибирска в 2012 году превысило 1 500 000 человек. Территория города занимает площадь 502,1 км² (50 210 га).

Новосибирск расположен в юго-восточной части Западно-Сибирской равнины на Обском плато, примыкающем к долине реки Обь, рядом с водохранилищем, образованным плотиной Новосибирской ГЭС, на пересечении лесной и лесостепной природных зон. Левобережная часть города имеет равнинный рельеф, правобережная характеризуется большим количеством балок, гребней и оврагов, так как здесь начинается переход к горному рельефу Салаирского кряжа. К городу примыкают Заельцовский и Кудряшовский сосновые боры, Новосибирское водохранилище.

Отчет "Анализ рынка поверки в Новосибирске" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Новосибирске.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп конфокальный лазерный измерительный (LEXT OLS4100-SAF)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2026 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • LEXT OLS4100-SAF
  • 1 1 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп конфокальный лазерный измерительный (LEXT OLS4100-SAF)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Управление микроскопом и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «OLYMPUS OLS4100». ПО «OLYMPUS OLS4100» позволяет проводить измерения линейных размеров элементов рельефа по осям X, Y Z, в том числе определять в автоматическом режиме значение шага шаговых структур, измерять параметры шероховатости поверхности. ПО «OLYMPUS OLS4100» не может быть использовано отдельно от микроскопа.

    Идентификационные данные программного обеспечения указаны в таблице 1.

    Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

    Идентификационные данные (признаки)

    Значение

    Идентификационное наименование ПО

    OLYMPUS OLS4100

    Номер версии (идентификационный номер) ПО

    3.1.10

    Уровень защиты ПО соответствует уровню «средний» согласно Р 50.2.077-2014.


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится на лицевую панель измерительного блока в виде наклейки и на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    приведены в документе «Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF. Руководство по эксплуатации», раздел 2.3 («Проведение измерений»).


    Нормативные и технические документы

    Нормативные документы, устанавливающие требования к средству измерений

    Государственная поверочная схема для средств измерения длины в диапазоне от 10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утвержденная приказом Росстандарта от 29.12.2018 г. № 2840.

    Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 12000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм, утвержденная приказом Росстандарта от 06.11.2019 г. № 2657.

    Правообладатель

    Фирма OLYMPUS Corporation, Япония.

    Адрес: Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914, Japan. Тел./Факс: 81-42-545-8111/81-42-544-9795.

    E-mail: info@olympus-global.com

    Изготовитель


    Фирма OLYMPUS Corporation, Япония.
    Адрес: Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914, Japan. Тел./Факс: 81-42-545-8111/81-42-544-9795.
    E-mail: info@olympus-global.com

    Испытательный центр

    Акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (АО «НИЦПВ»)
    Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1
    Тел./Факс: (495) 935-97-77
    E-mail: mail@nicpv.ru

    Правообладатель


    Фирма OLYMPUS Corporation, Япония.
    Адрес: Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914, Japan. Тел./Факс: 81-42-545-8111/81-42-544-9795.
    E-mail: info@olympus-global.com

    Принцип действия микроскопа основан на использовании диафрагмы, размещённой в плоскости промежуточного изображения и ограничивающей поток фонового рассеянного света, излучаемого не из фокальной плоскости объектива. Данная диафрагма играет роль пространственного фильтра: чем меньше диаметр диафрагмы, тем меньше размеры области, из которой выходит излучение, способное пройти через указанную диафрагму и сделать вклад в информативный сигнал.

    Конструкция микроскопа основана на использовании методов оптической микроскопии и оптической профилометрии, где в качестве источника оптического излучения используется лазер. Результатом измерений является получение информации о линейных размерах как в плоскости XY, так и по оси Z.

    В конфокальном микроскопе в каждый момент времени происходит регистрация изображения из одной точки объекта. Полное изображение объекта в конфокальном микроскопе формируется путем последовательной регистрации света, исходящего из этих элементарных объемов с применением сканирующей системы. Это позволяет получить серии изображений на различных глубинах фокальной плоскости внутри образца

    (т. н. оптическое секционирование образца по глубине), и затем реконструировать трехмерное изображение образца из этих серий.

    Для удобства работы в микроскопе реализована двухканальная система конфокальной оптики с двумя различными конфокальными диафрагмами. Выбор диафрагмы осуществляется автоматически в зависимости от типа объектива и режима получения изображения.

    Микроскоп включает две оптические системы:

    • - лазерную конфокальную оптическую систему, использующую лазерный диод с длиной волны 405 нм и высокочувствительный фотоумножитель,

    • - оптическую систему цветного изображения с белым светодиодом и 1.8 дюймовой 2-х мегапиксельной CCD камерой.

    Конструктивно микроскоп состоит из измерительного блока, выполненного в настольном исполнении, блока электроники и персонального компьютера с предустановленным программным обеспечением для управления работой микроскопа. Измерительный блок включает в себя столик образцов, перемещаемый автоматически по осям X, Y, и измерительную оптическую головку с набором объективов, перемещение которой по оси Z контролируется измерительной системой микроскопа.

    Пломбирование микроскопа не предусмотрено. Заводской номер № 7С51126 нанесен типографским способом на шильдик, закрепленный на задней панели измерительного блока. Нанесение знака поверки на микроскоп не предусмотрено. Общий вид микроскопа и место нанесения знака утверждения типа приведены на рисунке 1.

    Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный измерительный (LEXT OLS4100-SAF), http://oei-analitika.ru

    Место нанесения знака

    утверждения типа

    t

    t

    t Г"* t s

    Рисунок 1 - Общий вид микроскопа конфокального лазерного измерительного LEXT OLS4100-SAF

    Место установки шильдика с заводским номером приведено на рисунке 2.

    место установки шильдика с заводским номером

    Внешний вид. Микроскоп конфокальный лазерный измерительный (LEXT OLS4100-SAF), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 2 - Место установки шильдика с заводским номером


    Таблица 4 -

    Наименование

    Обозначение

    Количество

    Микроскоп конфокальный лазерный измерительный

    LEXT OLS4100-SAF

    1 шт.

    Руководство по эксплуатации

    -

    1 экз.

    Методика поверки

    -

    1 экз.


    Таблица 2 - Метрологические характеристики

    Наименование характеристики

    Значение

    Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм

    • - объектив 5*

    • - объектив 10*

    • - объектив 20*

    • - объектив 50*

    от 60 до 2400 от 30 до 1200 от 15 до 600 от 5 до 250

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, %

    ±2

    Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм

    от 0 до 500

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

    ±(0,2+L/100)

    Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

    от 0,005 до 5

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности     измерений

    шероховатости по параметру Ra, мкм (где Ra - параметр шероховатости, мкм)

    ±(0,003+0,06^Ra)

    Таблица 3 - Основные технические характеристики

    Наименование характеристики

    Значение

    Габаритные размеры основных составных частей (ширина *глубина *высота), мм, не более:

    - измерительный блок

    290*390*430

    - блок электроники

    190*480*390

    Масса, кг, не более - измерительный блок;

    31

    - блок электроники

    12

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающей среды, °С

    от +18 до +22

    -относительная влажность воздуха, %, не более

    80

    Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50 Гц, В

    от 220 до 240


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель