Сведения о средстве измерений: 77351-20 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности

Номер по Госреестру СИ: 77351-20
77351-20 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
(Waveline W800 и Waveline W900)

Назначение средства измерений:
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических параметров: расстояний между точками и радиусов дуг.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 1
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 2
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 3
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 3
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 4
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 4
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 5
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 5

Общие сведения

Дата публикации - 01.04.2020
Срок свидетельства - 03.02.2025
Номер записи - 176227
ID в реестре СИ - 1140989
Тип производства - серийное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 2 года
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

W900, W800,

Производитель

Изготовитель - Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH"
Страна - ГЕРМАНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Статистика

Кол-во поверок - 2
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 2
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 2019
МПИ по поверкам - 730 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№139 от 2020.02.03 Об утверждении типов средств измерений 86

Наличие аналогов СИ: Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
60718-15
01.04.2025
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности, Hommel-Etamic W10, Hommel-Etamic W20
Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
МП
2 года
73111-18
21.11.2024
Комплекты мер для поверки установок для измерений тел вращения, OPTICLINE
Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
МП
2 года
76500-19
28.10.2024
Установки для измерений параметров валов , Opticline
Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
МП
1 год
77351-20
03.02.2025
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, Waveline W800 и Waveline W900
Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
МП
2 года

Кто поверяет Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ООО "АДМ-ПРОФ"
(RA.RU.312508)
  • W900
  • W800
  • 2 0 2 0 2 0 2

    Стоимость поверки Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость
    ФБУ Тест-С.-Петербург
    Санкт-Петербург
    19470 19470

    Программное обеспечение

    Приборы имеют в своем составе программное обеспечение (ПО) Evovis, разработанное для конкретной измерительной задачи, осуществляющее измерительные функции, функции расчета параметров и функции индикации.

    Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

    Идентификационные данные (признаки)

    Значение

    Идентификационное наименование ПО

    Evovis

    Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже

    2.7

    Цифровой идентификатор ПО

    -

    Программное обеспечение и его окружение являются неизменными, средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.

    Уровень защиты программного обеспечения приборов «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносят на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    приведены в эксплуатационном документе.


    Нормативные и технические документы

    Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к приборам для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900

    Техническая документация фирмы-изготовителя

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по документу МП 203-48-2019 «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИМС» 9 сентября 2019 г.

    Основные средства поверки:

    • - меры длины концевые плоскопараллельные 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840;

    • - мера для поверки приборов для измерений контура поверхности KN100 (Рег. № 52266-12);

    • - мера наружного диаметра 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840 - сфера диаметром от 24 мм до 30 мм;

    • - пластина плоская стеклянная 4-го разряда по ГОСТ 8.661-2018;

    • - мера шероховатости 1-го разряда по ГОСТ 8.296-2015.

    Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

    Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде оттиска клейма или на корпус прибора в виде голографической наклейки.


    Изготовитель

    JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH, Германия
    Адрес: Alte Tuttlinger Strasse 20, 78056, Villingen-Schwenningen
    Тел.: +49 (772) 06020
    Факс: +49 (772) 0602123
    Web-сайт: www.jenoptik.com/metrology
    E-mail: metrology@jenoptik.com

    Заявитель

    Закрытое акционерное общество «КАМАДИ» (ЗАО «КАМАДИ»)
    ИНН 7811471772
    Алрес: 192171, г. Санкт-Петербург, ул. Седова, д. 65 Тел./факс: +7 (812) 336-40-50
    Web-сайт: www.metrologi.ru
    E-mail: meritel@metrologi.ru

    Испытательный центр

    Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)
    Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
    Тел.: +7 (495) 437-55-77
    Факс: +7 (495) 437-56-66
    Web-сайт: www.vniims.ru
    E-mail: office@vniims.ru

    Действие приборов основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, твердосплавным или рубиновым наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор системы управления и оценки (в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей).

    Модификация приборов нанесена на колонну (рис. 1) и обозначается следующим образом: Waveline WX00A

    где   X - серия прибора: 8 или 9;

    00 - исполнение блока привода: 12 или 20, для 120 мм или 200 мм, соответственно;

    A - исполнение прибора: R - измерение шероховатости, C - измерение контура, RC -измерение шероховатости и контура.

    Модификации приборов различаются визуально, а также метрологическими и техническими характеристиками.

    EWdlK

    В ■ ■■■' '

    Рисунок 1 - Пример обозначения модификации

    Приборы состоят из следующих элементов:

    Гранитной плиты, устанавливаемой на элементах демпфирования. На гранитной плите расположена моторизованная вертикальная колонна (ZM500 или ZM800), а также может размещаться опциональный ручной или моторизованный измерительный стол для установки и позиционирования на нем исследуемых объектов. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения (XM120 или XM200), на который устанавливается датчик и щуповая консоль для проведения измерений геометрических параметров контура и шероховатости поверхности. В зависимости от поставленных задач, приборы могут поставляться вместе с опциональным инструментальным столом с активной или пассивной системой подавления вибраций, а также кабиной, защищающей рабочее пространство прибора от воздействия окружающей среды. Система управления и оценки подключается к датчику, приводам и элементам управления. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора с мышки или джойстика.

    Общий вид приборов представлен на рисунках 2-3.

    Приборы в зависимости от заказа оснащаются датчиками следующих модификаций: TKU400 для измерений шероховатости (рис. 4), Digiscan для измерений контура (рис. 5), Surfscan для измерений шероховатости и контура (рис. 6), Nanoscan для измерений шероховатости и контура (рис. 7).

    Пломбировка приборов от несанкционированного доступа не предусмотрена.

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 2 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и место нанесения знака поверки

    1 ш

    11

    1 1

    Место нанесения знака поверки

    Рисунок 3 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W900 и место нанесения знака поверки

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 4 - Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости поверхности

    TKU400

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 5 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура Digiscan

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 6 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Surfscan

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (Waveline W800 и Waveline W900), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 7 - Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan


    Таблица 4 -

    Наименование

    Обозначение

    Количество

    Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности в сборе

    Waveline W800 или

    Waveline W900

    1 шт.

    Датчик для измерений контура и (или) шероховатости

    по заказу

    Стандартный щуп для измерений контура1)

    1 шт.

    Стандартный щуп для измерений шероховатости2)

    1 шт.

    Набор для калибровки датчика контура1)

    1 шт.

    Руководство по эксплуатации

    1 экз.

    Методика поверки

    МП 203-48-2019

    1 экз.

    • 1) - для датчиков модификаций Digiscan, Surfscan, Nanoscan;

    • 2) - для датчиков модификаций TKU400, Surfscan, Nanoscan


    Таблица 2 - Метрологические характеристики приборов Waveline W800

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan

    Nanoscan

    Измеряемые параметры

    Контур

    Шероховатость

    Контур и шероховатость

    Контур и шероховатость

    Диапазон линейных измерений по оси Z, мм

    от 0 до 601) от 0 до 902)

    е? О О О О ~t 00 -н -н

    от 0 до 81) от 0 до 162)

    от 0 до 241) от 0 до 482)

    Разрешение по оси Z, нм

    101

    152)

    22)

    31)

    62)

    031

    0,62)

    Диапазон линейных измерений по оси X4), мм

    от 0,1 до 120

    от 0,1 до 200

    Разрешение по оси X, мкм

    0,1

    Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6), мкм

    0,4 (на 120 мм)

    0,6 (на 200 мм)

    Измерительное усилие, мН

    от 5 до 50

    0,75

    от 0,75 до 30

    от 0,75 до 30

    При измерении контура поверхности

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси

    3) 6)

    Z мкм

    ±(1,2 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм

    -

    ±(1,0 + Z/50)

    где Z - измеряемая длина, мм

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси

    3) 6)

    X ’ мкм

    ±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм

    -

    ±(1,0 + X/100)

    где X - измеряемая длина, мм

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм

    ±3,0

    -

    ±3,0

    ±1,5

    При измерении шероховатости поверхности3

    Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

    -

    от 0,01 до 260

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), %

    -

    ±3

    Радиус закругления щупа, мкм

    -

    2

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan

    Nanoscan

    • 1) - при использованнии стандартной консоли;

    • 2) - при использовании консоли двойной длины;

    • 3) - при использовании стандартного щупа;

    • 4) - в зависимости от блока привода;

    • 5) - для радиусов от 12 до 15 мм;

    • 6) - при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °C и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %

    Таблица 3 - Технические характеристики приборов Waveline W800

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400             Surfscan                Nanoscan

    Диапазон позиционирования по оси Z, мм

    от 0 до 5004) от 0 до 8005)

    Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с

    20

    Точность позиционирования по оси X, мкм

    10

    Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с

    20

    Точность позиционирования по оси Z, мкм

    50

    Параметры шероховатости

    -

    Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R,

    Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP,

    DF, DFu, DLu, Dy

    Параметры электрического питания (от внешней сети):

    • - напряжение переменного тока, В

    • - частота переменного тока, Гц

    от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60

    Потребляемая мощность, В^А, не более

    1500

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan                 Nanoscan

    Габаритные размеры, мм, не более:

    • - длина

    • - ширина

    • - высота

    7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707)

    Масса, кг, не более

    1601), 2302), 4803)

    Условия эксплуатации:

    • - диапазон рабочих температур, °С

    • - относительная влажность воздуха (без конденсата), %

    от +15 до +30

    80

    от +10 до +40

    80

    от +18 до +25

    80

    • 1) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм);

    • 2) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм);

    • 3) - прибор с опциональным измерительным столом;

    • 4) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм);

    • 5) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм);

    • 6) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм);

    • 7) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм)

    Таблица 4 - Метрологические характеристики приборов Waveline W900

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan

    Nanoscan

    Измеряемые параметры

    Контур

    Шероховатость

    Контур и шероховатость

    Контур и шероховатость

    Диапазон линейных измерений по оси Z, мм

    от 0 до 601)

    ±4001)

    от 0 до 81)

    от 0 до 241)

    от 0 до 902)

    ±8002)

    от 0 до 162)

    от 0 до 482)

    Разрешение по оси Z, нм

    11)

    31)

    031

    152)

    22)

    62)

    0,62)

    Диапазон линейных измерений по оси X4),

    от 0,1 до 120

    мм

    от 0,1 до 200

    Разрешение по оси X, мкм

    0,01

    Предел допускаемого отклонения от

    6)

    0,2 (на 120 мм)

    прямолинейности перемещения по оси X ,

    0,4 (на 200 мм)

    мкм

    Измерительное усилие, мН

    от 5 до 50

    0,75

    от 0,75 до 30

    от 0,75 до 30

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan

    Nanoscan

    При измерении контура поверхности

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси

    3) 6)

    Z мкм

    ±(0,8 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм

    -

    ±(0,7 + Z/50)

    где Z - измеряемая длина, мм

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси

    3) 6)

    X ’ мкм

    ±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм

    -

    ±(1,0 + X/100)

    где X - измеряемая длина, мм

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм

    ±1,5

    -

    ±1,5

    ±1,2

    При измерении ше

    роховатости поверхности3

    Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

    -

    от 0,01 до 260

    Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), %

    -

    ±3

    Радиус закругления щупа, мкм

    -

    2

    • 1) - при использованнии стандартной консоли;

    • 2) - при использовании консоли двойной длины;

    • 3) - при использовании стандартного щупа;

    • 4) - в зависимости от блока привода;

    • 5) - для радиусов от 12 до 15 мм;

    • 6) - при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °C и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %

    Таблица 5 - Технические характеристики приборов Waveline W900

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan

    Nanoscan

    Диапазон позиционирования по оси Z, мм

    от 0 до 5004) от 0 до 8005)

    Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с

    200

    Точность позиционирования по оси X, мкм

    10

    Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с

    80

    Точность позиционирования по оси Z, мкм

    10

    Параметры шероховатости

    -

    Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy

    Параметры электрического питания (от внешней сети):

    • - напряжение переменного тока, В

    • - частота переменного тока, Гц

    от 100 до 120 / от 220 до 240

    50/60

    Потребляемая мощность, В^А, не более

    1500

    Габаритные размеры, мм, не более:

    • - длина

    • - ширина

    • - высота

    7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707)

    Масса, кг, не более

    160п, 2302), 4803)

    Условия эксплуатации:

    • - диапазон рабочих температур, °С

    • - относительная влажность воздуха (без конденсата), %, не более

    от +15 до +30

    80

    от +10 до +40

    80

    от +18 до +25

    80

    от +18 до +25

    80

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация датчика

    Digiscan

    TKU400

    Surfscan

    Nanoscan

    • 1) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм);

    • 2) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм);

    • 3) - прибор с опциональным измерительным столом;

    • 4) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм);

    • 5) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм);

    • 6) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм);

    • 7) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм)


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель