Номер по Госреестру СИ: 77351-20
77351-20 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
(Waveline W800 и Waveline W900)
Назначение средства измерений:
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических параметров: расстояний между точками и радиусов дуг.
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 1
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 2
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 3
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 4
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 5
Программное обеспечение
Приборы имеют в своем составе программное обеспечение (ПО) Evovis, разработанное для конкретной измерительной задачи, осуществляющее измерительные функции, функции расчета параметров и функции индикации.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
Идентификационное наименование ПО |
Evovis |
Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже |
2.7 |
Цифровой идентификатор ПО |
- |
Программное обеспечение и его окружение являются неизменными, средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.
Уровень защиты программного обеспечения приборов «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосят на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измеренийприведены в эксплуатационном документе.
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к приборам для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900
Техническая документация фирмы-изготовителя
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 203-48-2019 «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИМС» 9 сентября 2019 г.
Основные средства поверки:
-
- меры длины концевые плоскопараллельные 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840;
-
- мера для поверки приборов для измерений контура поверхности KN100 (Рег. № 52266-12);
-
- мера наружного диаметра 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840 - сфера диаметром от 24 мм до 30 мм;
-
- пластина плоская стеклянная 4-го разряда по ГОСТ 8.661-2018;
-
- мера шероховатости 1-го разряда по ГОСТ 8.296-2015.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде оттиска клейма или на корпус прибора в виде голографической наклейки.
Изготовитель
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH, ГерманияАдрес: Alte Tuttlinger Strasse 20, 78056, Villingen-Schwenningen
Тел.: +49 (772) 06020
Факс: +49 (772) 0602123
Web-сайт: www.jenoptik.com/metrology
E-mail: metrology@jenoptik.com
Заявитель
Закрытое акционерное общество «КАМАДИ» (ЗАО «КАМАДИ»)ИНН 7811471772
Алрес: 192171, г. Санкт-Петербург, ул. Седова, д. 65 Тел./факс: +7 (812) 336-40-50
Web-сайт: www.metrologi.ru
E-mail: meritel@metrologi.ru
Испытательный центр
Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
Тел.: +7 (495) 437-55-77
Факс: +7 (495) 437-56-66
Web-сайт: www.vniims.ru
E-mail: office@vniims.ru
Действие приборов основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, твердосплавным или рубиновым наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор системы управления и оценки (в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей).
Модификация приборов нанесена на колонну (рис. 1) и обозначается следующим образом: Waveline WX00A
где X - серия прибора: 8 или 9;
00 - исполнение блока привода: 12 или 20, для 120 мм или 200 мм, соответственно;
A - исполнение прибора: R - измерение шероховатости, C - измерение контура, RC -измерение шероховатости и контура.
Модификации приборов различаются визуально, а также метрологическими и техническими характеристиками.
EWdlK | |
В ■ ■■■' ' | |
Рисунок 1 - Пример обозначения модификации
Приборы состоят из следующих элементов:
Гранитной плиты, устанавливаемой на элементах демпфирования. На гранитной плите расположена моторизованная вертикальная колонна (ZM500 или ZM800), а также может размещаться опциональный ручной или моторизованный измерительный стол для установки и позиционирования на нем исследуемых объектов. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения (XM120 или XM200), на который устанавливается датчик и щуповая консоль для проведения измерений геометрических параметров контура и шероховатости поверхности. В зависимости от поставленных задач, приборы могут поставляться вместе с опциональным инструментальным столом с активной или пассивной системой подавления вибраций, а также кабиной, защищающей рабочее пространство прибора от воздействия окружающей среды. Система управления и оценки подключается к датчику, приводам и элементам управления. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора с мышки или джойстика.
Общий вид приборов представлен на рисунках 2-3.
Приборы в зависимости от заказа оснащаются датчиками следующих модификаций: TKU400 для измерений шероховатости (рис. 4), Digiscan для измерений контура (рис. 5), Surfscan для измерений шероховатости и контура (рис. 6), Nanoscan для измерений шероховатости и контура (рис. 7).
Пломбировка приборов от несанкционированного доступа не предусмотрена.
Рисунок 2 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и место нанесения знака поверки
“ 1 ш | |||
11 | |||
1 1 |
Место нанесения знака поверки
Рисунок 3 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W900 и место нанесения знака поверки
Рисунок 4 - Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости поверхности
TKU400
Рисунок 5 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура Digiscan
Рисунок 6 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Surfscan
Рисунок 7 - Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan
Таблица 4 -
Наименование |
Обозначение |
Количество |
Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности в сборе |
Waveline W800 или Waveline W900 |
1 шт. |
Датчик для измерений контура и (или) шероховатости |
— |
по заказу |
Стандартный щуп для измерений контура1) |
— |
1 шт. |
Стандартный щуп для измерений шероховатости2) |
— |
1 шт. |
Набор для калибровки датчика контура1) |
— |
1 шт. |
Руководство по эксплуатации |
— |
1 экз. |
Методика поверки |
МП 203-48-2019 |
1 экз. |
|
Таблица 2 - Метрологические характеристики приборов Waveline W800
Наименование характеристики |
Значение | |||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan |
Nanoscan |
Измеряемые параметры |
Контур |
Шероховатость |
Контур и шероховатость |
Контур и шероховатость |
Диапазон линейных измерений по оси Z, мм |
от 0 до 601) от 0 до 902) |
е? О О О О ~t 00 -н -н |
от 0 до 81) от 0 до 162) |
от 0 до 241) от 0 до 482) |
Разрешение по оси Z, нм |
101 152) |
22) |
31) 62) |
031 0,62) |
Диапазон линейных измерений по оси X4), мм |
от 0,1 до 120 от 0,1 до 200 | |||
Разрешение по оси X, мкм |
0,1 | |||
Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6), мкм |
0,4 (на 120 мм) 0,6 (на 200 мм) | |||
Измерительное усилие, мН |
от 5 до 50 |
0,75 |
от 0,75 до 30 |
от 0,75 до 30 |
При измерении контура поверхности | ||||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) Z мкм |
±(1,2 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм |
- |
±(1,0 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм | |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) X ’ мкм |
±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм |
- |
±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм | |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм |
±3,0 |
- |
±3,0 |
±1,5 |
При измерении шероховатости поверхности3 | ||||
Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм |
- |
от 0,01 до 260 | ||
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), % |
- |
±3 | ||
Радиус закругления щупа, мкм |
- |
2 |
Наименование характеристики |
Значение | |||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan |
Nanoscan |
|
Таблица 3 - Технические характеристики приборов Waveline W800
Наименование характеристики |
Значение | |
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 Surfscan Nanoscan |
Диапазон позиционирования по оси Z, мм |
от 0 до 5004) от 0 до 8005) | |
Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с |
20 | |
Точность позиционирования по оси X, мкм |
10 | |
Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с |
20 | |
Точность позиционирования по оси Z, мкм |
50 | |
Параметры шероховатости |
- |
Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy |
Параметры электрического питания (от внешней сети):
|
от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60 | |
Потребляемая мощность, В^А, не более |
1500 |
Наименование характеристики |
Значение | ||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan Nanoscan |
Габаритные размеры, мм, не более:
|
7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707) | ||
Масса, кг, не более |
1601), 2302), 4803) | ||
Условия эксплуатации:
|
от +15 до +30 80 |
от +10 до +40 80 |
от +18 до +25 80 |
|
Таблица 4 - Метрологические характеристики приборов Waveline W900
Наименование характеристики |
Значение | |||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan |
Nanoscan |
Измеряемые параметры |
Контур |
Шероховатость |
Контур и шероховатость |
Контур и шероховатость |
Диапазон линейных измерений по оси Z, мм |
от 0 до 601) |
±4001) |
от 0 до 81) |
от 0 до 241) |
от 0 до 902) |
±8002) |
от 0 до 162) |
от 0 до 482) | |
Разрешение по оси Z, нм |
11) |
31) |
031 | |
152) |
22) |
62) |
0,62) | |
Диапазон линейных измерений по оси X4), |
от 0,1 до 120 | |||
мм |
от 0,1 до 200 | |||
Разрешение по оси X, мкм |
0,01 | |||
Предел допускаемого отклонения от 6) |
0,2 (на 120 мм) | |||
прямолинейности перемещения по оси X , |
0,4 (на 200 мм) | |||
мкм | ||||
Измерительное усилие, мН |
от 5 до 50 |
0,75 |
от 0,75 до 30 |
от 0,75 до 30 |
Наименование характеристики |
Значение | |||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan |
Nanoscan |
При измерении контура поверхности | ||||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) Z мкм |
±(0,8 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм |
- |
±(0,7 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм | |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) X ’ мкм |
±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм |
- |
±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм | |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм |
±1,5 |
- |
±1,5 |
±1,2 |
При измерении ше |
роховатости поверхности3 | |||
Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм |
- |
от 0,01 до 260 | ||
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), % |
- |
±3 | ||
Радиус закругления щупа, мкм |
- |
2 | ||
|
Таблица 5 - Технические характеристики приборов Waveline W900
Наименование характеристики |
Значение | |||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan |
Nanoscan |
Диапазон позиционирования по оси Z, мм |
от 0 до 5004) от 0 до 8005) | |||
Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с |
200 | |||
Точность позиционирования по оси X, мкм |
10 | |||
Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с |
80 | |||
Точность позиционирования по оси Z, мкм |
10 | |||
Параметры шероховатости |
- |
Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy | ||
Параметры электрического питания (от внешней сети):
|
от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60 | |||
Потребляемая мощность, В^А, не более |
1500 | |||
Габаритные размеры, мм, не более:
|
7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707) | |||
Масса, кг, не более |
160п, 2302), 4803) | |||
Условия эксплуатации:
|
от +15 до +30 80 |
от +10 до +40 80 |
от +18 до +25 80 |
от +18 до +25 80 |
Наименование характеристики |
Значение | |||
Модификация датчика |
Digiscan |
TKU400 |
Surfscan |
Nanoscan |
|