Паспорт средства измерений Установка для анализа состава монокристаллических пленок, заводской номер НГМК.430207.002

ПАСПОРТ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

Номер в гос. реестре

67650-17

Наименование типа СИ (обозначение)

Установка для анализа состава монокристаллических пленок (Нет данных)

Назначение средства измерений

Установка для анализа состава монокристаллических пленок, заводской номер НГМК.430207.002 (далее - установка) предназначена для определения отклонения состава эпитаксиальной пленки от состава, задаваемого монокристаллической подложкой с заданным значением параметра решетки подложки.

Модификация

Установка для анализа монокристаллических пленок

Описание типа

2017-67650-17.pdf

Тип производства

Единичное

Заводской номер

НГМК.430207.002

Год производства (возраст, лет)

Год производства не указан

Производитель

ЗАО "НИИ Материаловедения"
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Москва

Все поверки данного средства измерений

Организация поверитель Модификация Условный шифр знака поверки Тип поверки Дата поверки Дейтвительна до Наименование документа, на основании которого выполнена поверка Номер свидетельства (извещения) Владелец СИ Знак поверки в паспорте Знак поверки на СИ
Организация поверитель Модификация Условный шифр знака поверки Тип поверки Дата поверки Дейтвительна до Наименование документа, на основании которого выполнена поверка Номер свидетельства (извещения) Владелец СИ Знак поверки в паспорте Знак поверки на СИ
RA.RU.311409 от 2015-11-19
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО- ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ПО ИЗУЧЕНИЮ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ И ВАКУУМА"
(АО "НИЦПВ")
ИНН: 7728309630
Прекращен
2022-12-02
Установка для анализа монокристаллических пленокВХЯПериодическая25.03.202124.03.2022МП 304-001-2017C-ВХЯ/25-03-2021/48646261АО "НИИ Материаловедения" Нет Нет
RA.RU.311409 от 2015-11-19
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО- ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ПО ИЗУЧЕНИЮ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ И ВАКУУМА"
(АО "НИЦПВ")
ИНН: 7728309630
Прекращен
2022-12-02
Установка для анализа монокристаллических пленокВХЯПериодическая25.03.202124.03.2022МП 304-001-2017C-ВХЯ/25-03-2021/49617715АО "НИИ Материаловедения" Нет Нет
RA.RU.311409 от 2015-11-19
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО- ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ПО ИЗУЧЕНИЮ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ И ВАКУУМА"
(АО "НИЦПВ")
ИНН: 7728309630
Прекращен
2022-12-02
Установка для анализа монокристаллических пленокВХЯПериодическая29.03.202228.03.2023МП 304-001-2017C-ВХЯ/29-03-2022/144252583АО "НИИ Материаловедения" Нет Нет
RA.RU.311409 от 2015-11-19
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО- ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ПО ИЗУЧЕНИЮ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ И ВАКУУМА"
(АО "НИЦПВ")
ИНН: 7728309630
Прекращен
2022-12-02
Установка для анализа монокристаллических пленокВХЯПериодическая21.06.202320.06.2024МП 304-001-2017C-ВХЯ/21-06-2023/256158069АО "НИИ Материаловедения" Нет Нет
RA.RU.311409 от 2015-11-19
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО- ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР ПО ИЗУЧЕНИЮ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ И ВАКУУМА"
(АО "НИЦПВ")
ИНН: 7728309630
Прекращен
2022-12-02
Установка для анализа монокристаллических пленокВХЯБез статуса27.03.202026.03.2021МП 304-001-2017333-2020 Нет Нет

Технические и метрологические характеристики СИ -

Установка для анализа состава монокристаллических пленок (Нет данных)

Метрологические характеристики установки представлены в таблице 2.

Таблица 2 - Метрологические характеристики установки

Диапазон измерений составов эпитаксиальных структур относительно состава (параметра кристаллической решетки) подложки, %

от -0,06

до +0,06

Диапазоны сканирования для регистрации отражённого излучения по шкале углов «2Q», градус:

от 10 до 65 от 100 до 169

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения относительной величины рассогласования параметров кристаллических решёток эпитаксиальных структур, %

±0,02

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения параметров кристаллической решетки (размеров элементарной ячейки) в диапазоне от 0,01 до 0,20 нм, нм

±0,0002

Систематическая (аппаратурная) погрешность определения параметра кристаллической решетки, нм

±0,00005

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) относительной величины рассогласования параметров кристаллической решётки, %

0,007

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения параметра кристаллической решётки эпитаксиальных пленок, нм

0,00008

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения параметров кристаллической решетки, нм

0,00005

Предельные значения среднеквадратических отклонений случайной составляющей (СКО) погрешности определения максимумов угловых позиций брэгговских отражений по шкале 2Q, градус:

в диапазоне от 10 до 65 градусов

в диапазоне от 100 до 169 градус

0,005

0,006

Основные технические характеристики установки представлены в таблице 3.

Таблица 3 - Технические характеристики установки

Дискретность угловых датчиков по J и 2J (на осях червяков), градусов

0,0005

Диапазон интенсивностей, регистрируемых детектором, имп/сек

от 1 до 500000

Экспозиция в режиме счёта импульсов, с

от 0,1 до 500

Время прогрева, мин, не более

5

Время непрерывной работы

не ограничено

Напряжение электрического питания, В Частота, Гц

от 200 до 240

(50±1)

Потребляемая мощность блока управления, Вт, не более

170

Масса блока управления, кг, не более

14

Масса сцинтилляционного детектора, кг, не более

0,7

Г абариты устройства ПДП в сборе с гониометром и трубкой на плите (Д*Ш*В), мм, не более

1110x845x813

Габариты блока управления, (ДхШ*В), мм, не более

482x263x310

Г абариты сцинтилляционного детектора, мм

195x97x45

Автоматическое перекрывание рентгеновского излучения заслонкой при открывании защитного кабинета

есть

Световая индикация наличия высокого напряжения

есть

Световая индикация открытия заслонки

есть


Заявитель


Испытательный центр


Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)
Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д.46
Тел./факс: (495)437-55-77 / 437-56-66
E-mail: office@vniims.ru, www.vniims.ru

Правообладатель


Изготовитель


Закрытое акционерное общество «НИИ Материаловедения»
(ЗАО «НИИ Материаловедения»), г. Москва
ИНН 7735001490
Адрес: 124460, г. Москва, Зеленоград, проезд 4806, дом 4, строение 2

Внешний вид средства измерений: Установка для анализа состава монокристаллических пленок, заводской номер №НГМК.430207.002
Внешний вид средства измерений: Установка для анализа состава монокристаллических пленок, заводской номер №НГМК.430207.002
Внешний вид средства измерений: Установка для анализа состава монокристаллических пленок, заводской номер №НГМК.430207.002
Внешний вид средства измерений: Установка для анализа состава монокристаллических пленок, заводской номер №НГМК.430207.002

Все средства измерений ЗАО "НИИ Материаловедения"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
66227-16

Установка для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса, МАГ 2-3-МВ
ЗАО "НИИ Материаловедения" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
МП
1 год
67650-17

Установка для анализа состава монокристаллических пленок, Нет данных
ЗАО "НИИ Материаловедения" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
МП
1 год

Статистика

Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 4
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 2
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Кто поверяет Установка для анализа состава монокристаллических пленок (Нет данных)

Наименование организации Cтатус
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)

Стоимость поверки Установка для анализа состава монокристаллических пленок (Нет данных)

Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

Какие модификации данного типа СИ еще существуют

Установка для анализа монокристаллических пленок;

Настройки внешнего вида
Цветовая схема

Ширина

Левая панель