МИНИСТЕРСТВО ПРОМЫШЛЕННОСТИ И ТОРГОВЛИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ (Росстандарт)

28 мая 2018 г.

Москва

Об утверждении государственной поверочной схемы для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц

В соответствии с Положением об эталонах единиц величин, используемых в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений, утвержденным постановлением Правительства Российской Федерации от 23 сентября 2010 г. № 734 «Об эталонах единиц величин, используемых в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений», Временным порядком разработки (пересмотра) и утверждения государственных поверочных схем, утвержденным приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 31 августа 2017 г. № 1832, а также принимая во внимание решение научно-технической комиссии по метрологии и измерительной технике Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 14 мая 2018 г. (протокол № 49-пр) приказываю:

• 1.  Утвердить прилагаемую Государственную поверочную схему для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц (далее - ГПС).

• 2. Установить, что ГПС применяется для Государственного первичного эталона единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГТц (ГЭТ 174-2016) и вводится в действие с 1 августа 2018 г.

• 3.  Управлению технического регулирования и стандартизации (Д.А.Тощев) обеспечить отмену национального стандарта Российской Федерации ГОСТ Р 8.768-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц».

• 4.  ФГУП «ВНИИФТРИ» (С.И, Донченко) внести информацию об утверждении ГПС в Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений.

• 5.  Информационно-аналитическому управлению (Т.Я.Кожевникова) разместить информацию об утверждении ГПС на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет.

• 6. Контроль за исполнением настоящего приказа оставляю за собой.

Заместитель Руководителя

Подлинник электронного документа, подписанного ЭП, хранится в системе электронного документооборота Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии.

СВЕДЕНИЯ О СЕРТИФИКАТЕ ЭП

Сертификат: 00E1036ECDC011E780DAE0071B1B53CD41 Кому выдан: Голубев Сергей Сергеевич Действителен: с 20.11.2017 до 20.11.2018

1

УТВЕРЖДЕНА приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от «28» мая 2018 г. № 1044

ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ И МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТЕЙ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ ОТ 1 МГц ДО 18 ГГц

Настоящая государственная поверочная схема распространяется на средства измерений относительной диэлектрической проницаемости, относительной магнитной проницаемости, тангенса угла диэлектрических потерь и тангенса угла магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц и устанавливает порядок передачи единиц относительных диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь от государственного первичного эталона средствам измерений с помощью рабочих эталонов с указанием погрешностей, неопределенностей и методов передачи.

Графическая часть Государственной поверочной схемы для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц представлена в приложении А.

• 2.1. Государственный первичный эталон единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц (далее - государственный первичный эталон) предназначен для воспроизведения, хранения единиц диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц и передачи их рабочим эталонам и средствам измерений методом косвенных измерений.

• 2.2. Государственный первичный эталон состоит из семи эталонных установок, каждая из которых в свою очередь состоит из соответствующего компаратора, набора эталонных мер для воспроизведения единицы, контроля стабильности и передачи размера единиц, серийной аппаратуры генерации и измерения сигналов, а также системы сбора и обработки информации на базе персонального компьютера.

  • 2.2.1. Эталонная установка ЭУ-1 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной магнитной проницаемости в диапазоне значений от 1,5 до 100 и тангенса угла магнитных потерь в диапазоне значений от 140^-3 до 1 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 200 МГц посредством компаратора, выполненного по схеме двойного Т-образного моста.

  • 2.2.2. Эталонная установка ЭУ-2 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне значений от 1,5 до 10 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 200 МГц посредством компаратора - измерителя диэлектрической проницаемости резонансного типа.

  • 2.2.3. Эталонная установка ЭУ-3 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне значений от 1 до 10, относительной магнитной проницаемости в диапазоне значений от 1 до 10, тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от V10^-4 до Г10⁴ и тангенса угла магнитных потерь в диапазоне от V10^-4 до 1*10^-1 изотропных материалов в диапазоне частот от 600 МГц до 4 ГГц посредством компаратора на основе коаксиального резонатора переменной длины.

  • 2.2.4. Эталонная установка ЭУ-4 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 30 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от V10^-4 до 1*10^-1 изотропных материалов в диапазоне частот от 200 МГц до 2 ГГц посредством компаратора на основе тороидального резонатора с частичным заполнением измерительной ячейки, в который введен дополнительный измерительный коаксиальный конденсатор.

  • 2.2.5. Эталонная установка ЭУ-5 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 5Л0^-5 до V10^-2 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора - радиального волновода и подвижных элементов возбуждения электромагнитных колебаний.

  • 2.2.6. Эталонная установка ЭУ-6 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 5Л0^-5 до V10^-2 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора - отрезка круглого волновода и подвижных элементов возбуждения осесимметричных электромагнитных колебаний.

  • 2.2.7. Эталонная установка ЭУ-7 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 2 до 20 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 540^-5 до V10^-2 анизотропных материалов в диапазоне частот от 2 до 18 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора - отрезка круглого волновода и подвижных элементов возбуждения осесимметричных электрических и магнитных волн различного типа.

• 2.3. Государственный первичный эталон обеспечивает воспроизведение единиц относительных диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь со следующими метрологическими характеристиками.

  • 2.3.1. Относительной магнитной проницаемости изотропных материалов (установки ЭУ-1, ЭУ-3) со средним квадратическим отклонением (СКО) результатов измерений S от 2Л0^-4 до 2Л0^-3 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами неисключенной систематической погрешности (НСП) 0(P) от 640^-4 до 6Л0^-3 при доверительной вероятности 0,99.

  • 2.3.2. Тангенса угла магнитных потерь изотропных материалов (установки ЭУ-1, ЭУ-3) с СКО результатов измерений S от V10^-2 до 5Л0^-2 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами НСП 0(P) от 3Л0^-2 до 1 •IO^-1 при доверительной вероятности 0,99.

  • 2.3.3. Относительной магнитной проницаемости и тангенса угла магнитных потерь изотропных материалов в соответствии с таблицей 1.

Таблица 1 - Неопределенности воспроизведения относительной магнитной проницаемости и тангенса угла магнитных потерь изотропных материалов

• 2.3.4. Относительной диэлектрической проницаемости изотропных материалов (установки ЭУ-2 - ЭУ-6) с СКО результатов измерений S от 2Л0^-4 до 2Л0^-3 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами НСП 0(P) от 6Л0^-4 до 6Л0^-3 при доверительной вероятности 0,99.

• 2.3.5. Тангенса угла диэлектрических потерь изотропных материалов (установки ЭУ-2 - ЭУ-6) с СКО результатов измерений S от V10^-2 до 540^-2 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами НСП 0(P) от 3Л0^-2 до 1'10^-1 при доверительной вероятности 0,99.

• 2.3.6. Относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь изотропных материалов в соответствии с таблицей 2.

Таблица 2 - Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь изотропных материалов

• 2.3.7. Относительной диэлектрической проницаемости анизотропных материалов (установки ЭУ-2 - ЭУ-6) с СКО результатов измерений S от V10^-4 до V10^-3 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами НСП 0(P) от 6Л0^-4 до V10^-3 при доверительной вероятности 0,99.

• 2.3.8. Тангенса угла диэлектрических потерь анизотропных материалов (установки ЭУ-2 - ЭУ-6) с СКО результатов измерений S от V10^-2 до 4Л0^-2 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами НСП 0(P) от 3Л0^-2 до 2Л0^-1 при доверительной вероятности 0,99.

• 2.3.9. Относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь анизотропных материалов в соответствии с таблицей 3.

Таблица 3 - Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь анизотропных материалов

• 2.4.  Для обеспечения воспроизведения единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей, тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения государственного первичного эталона, утвержденные в установленном порядке.

• 2.5. СКО результатов передачи единиц от государственного первичного эталона рабочим эталонам в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц составляют:

• - S £_е , S£ _и - не более 0,001 по относительной диэлектрической проницаемости и относительной магнитной проницаемости;

• - _£   - от 0,05 до 0,1 по тангенсу угла диэлектрических и магнитных

потерь.

• 3.1. В качестве рабочих эталонов единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей используют:

  • 3.1.1. Эталоны единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц с значениями относительной диэлектрической проницаемости от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь от 5^10^-5 до V10"²; эталоны комплексной магнитной проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 4 ГГц с значениями относительной магнитной проницаемости от 1,5 до 100,0 и тангенса угла магнитных потерь от 1-10^-3 до 1.

  • 3.1.2.  Стандартные образцы утвержденного типа комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц с значениями диэлектрической проницаемости от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь от 540^-5 до V10"²; стандартные образцы утвержденного типа комплексной магнитной проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 4 ГГц с значениями относительной магнитной проницаемости от 1,5 до 100,0 и тангенса угла магнитных потерь от V10"³ до 1.

• 3.2. Доверительные границы погрешностей 5 рабочих эталонов при доверительной вероятности 0,95 составляют:

• - 5_е, _ц от 0,3 до 3 % для относительной диэлектрической и относительной магнитной проницаемостей;

• -    от 10 до 15 % для тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь.

• 3.3. Рабочие эталоны и стандартные образцы утвержденного типа комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей применяют для передачи единиц средствам измерений методом косвенных измерений.

• 4.1. В качестве средств измерений используют измерители параметров диэлектрических и магнитных материалов, измерители параметров диэлектрических и магнитных пленок, резонаторы волноводнодиэлектрические, стандартные образцы (СО).

• 4.2. Пределы допускаемой погрешности средств измерений Л составляют:

• -  для средств измерений магнитных параметров изотропных материалов, СО в диапазоне частот от 0,2 до 2,0 МГц: от 3 до 10 % для относительной магнитной проницаемости, от 10 до 40 % для тангенса угла магнитных потерь;

• - для средств измерений диэлектрических параметров изотропных материалов, СО в диапазоне частот от 1 до 200 МГц: от 3 до 5 % для относительной диэлектрической проницаемости;

• - для средств измерений бикомплексной проницаемости изотропных материалов, СО в диапазоне частот от 0,6 до 4,0 ГГц: от 3 до 10 % для относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей, от 20 до 40 % для тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь;

• - для средств измерений диэлектрических параметров изотропных материалов, СО в диапазоне частот от 0,2 до 2,0 ГГц: от 3 до 10 % для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 40 % для тангенса угла диэлектрических потерь;

• - для средств измерений диэлектрических параметров изотропных материалов, СО в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц: от 1 до 10 % для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 30 % для тангенса угла диэлектрических потерь;

• - для средств измерений диэлектрических параметров анизотропных материалов, СО в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц: от 1 до 10 % для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 40 % для тангенса угла диэлектрических потерь.

Приложение А

Государственная поверочная схема для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц

Государственный первичный эталон единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот f от 1 МГц до 18 ГГц Изотропные материалы

О