Наименовани е ТК (ПК)

Организация, на базе которой создается ТК (ПК), реквизиты связи

Соответствующие ТК (ПК), КК МКМВ, ИСО, МЭК, МОЗМ

Область деятельности

1

2

3

4

ТК «Зондовая и пучковая диагностика»

Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ») Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп.1

Председатель ТК -директор ОАО «НИЦПВ», профессор Тодуа П.А.

Тел.: +7 495 935 97 77 e-mail: feunnicDvfaimail.ru

Заместитель председателя ТК - заместитель генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессор Гавриленко В.П. Тел.:+7 495 935 97 77 e-mail: fgUDnicDvfoimail.ru

Ответственный секретарь ТК - научный сотрудник ОАО «НИЦПВ» Шаронов В.А.

Тел.:+7 495 935 97 77 e-mail: sharonovvafo),gmail.ru

ТКИСО 201 «Химический анализ поверхности»;

ТК ИСО 202 «Микропучковый анализ»;

ТК ИСО 24 «Характеризация частиц, включая просеивание», ПК-4 «Характеризация частиц».

Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энерго дисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков, а также методик характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а

также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.140, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100

ПК 1 «Зондовая диагностика»

Национальный исследовательский университет «Московский физико-технический институт» (МФТИ),

Адрес: 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9 тел. +7 495 408 57 00 E-mail: sam@,mail.miot.ru Председатель ПК 1 -Заместитель декана факультета физической и квантовой электроники МФТИ, к.ф.-м.н. Заблоцкий Алексей Васильевич Тел.:+7 495 408 59 66 e-mail: zalexx®,gmail.com

ТКИСО 201 «Химический анализ поверхности»

Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100

ПК 2 «Пучковая диагностика»

Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ») Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп.1

Председатель ПК 2 -Заместитель генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессор Гавриленко Валерий Петрович

Тел.:+7 495 935 97 77

ТК ИСО 202 «Микропучковый анализ»

Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энерго дисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и

e-mail: fgupnicpv(о),mail.ru

нейтральных частиц, дифракции электронных пучков.

Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100

пкз «Измерения и характеризация поверхности, материалов и частиц»

ООО «Метрологический центр РОСНАНО» (ООО «МЦ РОСНАНО») Адрес: 117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А тел. +7 495 988 53 38 E-mail: info(5)rusnano-mc.com

Председатель ПК 3 -Генеральный директор ООО «МЦ РОСНАНО», член-корреспондент РАН Иванов Виктор Владимирович тел. +7 495 988 53 38 E-mail: viktor.ivanovfojrusnano.com

ТК ИСО 24 «Характеризация частиц, включая просеивание»,

ПК-4 «Характеризация частиц»

Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений и характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100

Наименование предприятия (организации)

Адрес предприятия (организации) - члена ТК

Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума

119421, Москва, ул. Новаторов, дом 40, корп. 1 тел. +7 (495) 935-97-77, 935-97-66 факс +7(495) 935-59-11,935-96-90 E-mail: fgupnicpv7fmail.ru     nicpvTfmail.ru

РНЦ «Курчатовский институт»

123182, Москва, площадь Курчатова, дом 1 тел. +7 (499) 196-97-69

факс +7(499) 196-64-53

E-mail: kashkarov pk7frrcki.ru

Институт радиотехники и электроники РАН

125009, Москва, ул Моховая, дом 11, корп. 7 тел. +7 (495) 629-35-91

факс +7(495)629-36-78

E-mail: gulyaev7fcplire.ru

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН

119333, Москва, Ленинский пр., дом 59 тел. +7 (499) 135-41-60

факс +7(499) 135-10-11

E-mail: secr7fns.crys.ras.ru

Физико-технологический институт РАН

117218, Москва, Нахимовский пр., д. 36, к. 1 тел. +7 (499) 129-50-04

факс +7(499) 129-31-41

E-mail: orlikovsky7fftian.ru

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

194021, Санкт-Петербург, Политехническая

ул., дом 26 тел. +7 (812) 297-91-56 факс +7(812)297-10-17

E-mail: konnikov7fmail.ioffc.ru

Институт Общей физики им. А.М. Прохорова РАН

119991, Москва, ул. Вавилова, д. 38, к.. «Л2» тел. +7 (499) 135-76-28

факс +7(499)232-38-62

E-mail: viaik7fgpi.ru

Центр фотохимии РАН

119421, Москва, ул. Новаторов, дом 7-а тел. +7 (495) 936-77-53 факс +7(495)936-12-55

E-mail: alfimov7fphotonics.ru

Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН

117342, Москва, ул. Бутлерова, дом 15 тел. +7(495)333-61-02 факс +7(495)334-75-00

E-mail: nn7fckbup.dol.ru

Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН

630090, Новосибирск, проспект Академика Лаврентьева, дом 13 тел. +7 (383) 333-39-50

факс +7(383) 333-27-71

E-mail: IFP7fisp.nsc.ru

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН

142432, Московская обл., Ногинский район, Черноголовка, ИПТМ РАН тел. +7 (495) 962-80-74

факс +7(495)962-80-47

E-mail: general@ipmt-hpm.ac.ru

Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов

142190, Московская обл., Троицк, ул. Центральная, дом 7-а тел. +7 (495) 334-05-63 факс +7(495)330-99-60

E-mail: ila@ntcstm.troitsk.ru

Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности

119017, Москва, Б. Толмачевский пер., дом 5-а, «ГИРЕДМЕТ»

тел. +7(495)981-30-11

факс +7(495)951-62-25

E-mail: pyn@giredmet.ru

ЗАО «Нанотехнология МДТ»

124482, Москва, Зеленоград, к. 317а, а/я 158 тел. +7(499)735-03-05,913-57-36 факс +7(499)735-64-10,913-57-39

E-mail: secretary(ojntmdt.ru

Центральный научно-исследовательский технологический институт «Техномаш»

121108, Москва, ул. Ивана Франко, дом 4 тел. +7(499) 144-75-15

факс +7(499) 144-85-14

E-mail: cniti .technomash@mtu-net.ru

Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы

119361, Москва, ул. Озерная, дом 46 тел. +7 (495) 437-55-77 факс +7(495)437-56-66 E-mail: office@vniims.ru

В сероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений

119361, Москва, ул. Озерная, дом 46 тел. +7 (495) 437-56-33 факс +7(495)437-31-47

E-mail: vniiofi@vniiofi.ru

Национальный исследовательский технологический университет «Московский институт стали и сплавов»

119991, Москва, Ленинский пр., дом 4 тел. +7 (495) 955-00-32, 237-22-25 факс +7(495)236-21-05

E-mail: borovikova n a@mail.ru

Национальный исследовательский университет «Московский физико-технический институт»

141700, Московская обл., г. Долгопрудный,

Институтский пер., дом 9

тел. +7 (495) 408-57-00

факс +7(495)408-68-69

E-mail: sam@mail.mipt.ru baturin@mail.mipt.ru

ООО «Метрологический центр «РОСНАНО»

117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А тел. +7 (495) 988-53-38

факс +7(495)988-56-60

E-mail: info@rusnano-mc.com