№495 от 10.07.2012
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт)
# 26111
О создании технического комитета по стандартизации "Зондовая и пучковая диагностика"
11 ИЮЛЯ 2012 Г. № 495________
г. Москва
О создании технического комитета по стандартизации «Зондовая и пучковая диагностика»
В целях реализации Федерального закона от 26 июня 2008 года № 102-
ФЗ «Об обеспечении единства измерений» и Федерального закона от 27 декабря 2002 года № 184-ФЗ «О техническом регулировании», а также совершенствования организации работ по стандартизации, повышения эффективности работы технических комитетов по стандартизации на национальном уровне приказываю:
-
1. Создать технический комитет по стандартизации (ТК) «Зондовая и пучковая диагностика».
-
2. Возложить ведение секретариата ТК «Зондовая и пучковая диагностика» на Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ»).
-
3. Утвердить:
-
- председателем ТК «Зондовая и пучковая диагностика» генерального директора ОАО «НИЦПВ», профессора Павла Андреевича Тодуа;
-
- заместителем председателя ТК «Зондовая и пучковая диагностика» заместителя генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессора Валерия Петровича Гавриленко;
-
- ответственным секретарем ТК «Зондовая и пучковая диагностика» научного сотрудника ОАО «НИЦПВ» Виктора Анатольевича Шаронова;
-
- структуру ТК «Зондовая и пучковая диагностика» согласно приложению № 1;
перечень организаций — членов ТК «Зондовая и пучковая диагностика» согласно приложению № 2.
-
4. Председателю ТК «Зондовая и пучковая диагностика» П.А. Тодуа в двухмесячный срок:
-
- подготовить и представить на согласование в Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии Положение о ТК;
-
- утвердить списочный состав ТК «Зондовая и пучковая диагностика».
-
5. Поручить председателю ТК «Зондовая и пучковая диагностика» ежегодно до 1 февраля представлять в Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии отчет о деятельности ТК за прошедший год.
-
6. Управлению метрологии (В.М. Лахов) обеспечить координацию и контроль за работами по стандартизации, проводимыми ТК.
-
7. Контроль за исполнением настоящего приказа оставляю за собой.
Врио Руководителя
Е.Р. Петросян
Федерального агентства
ПРИЛОЖЕНИЕ №1
к приказу Федерльного агентства по техническому регулированию и метрологии
от« 11 » июля 2012 № 495
Структура технического комитета по стандартизации ТК «Зондовая и пучковая диагностика»
Наименовани е ТК (ПК) |
Организация, на базе которой создается ТК (ПК), реквизиты связи |
Соответствующие ТК (ПК), КК МКМВ, ИСО, МЭК, МОЗМ |
Область деятельности |
1 |
2 |
3 |
4 |
ТК «Зондовая и пучковая диагностика» |
Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ») Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп.1 Председатель ТК -директор ОАО «НИЦПВ», профессор Тодуа П.А. Тел.: +7 495 935 97 77 e-mail: feunnicDvfaimail.ru Заместитель председателя ТК - заместитель генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессор Гавриленко В.П. Тел.:+7 495 935 97 77 e-mail: fgUDnicDvfoimail.ru Ответственный секретарь ТК - научный сотрудник ОАО «НИЦПВ» Шаронов В.А. Тел.:+7 495 935 97 77 e-mail: sharonovvafo),gmail.ru |
ТКИСО 201 «Химический анализ поверхности»; ТК ИСО 202 «Микропучковый анализ»; ТК ИСО 24 «Характеризация частиц, включая просеивание», ПК-4 «Характеризация частиц». |
Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энерго дисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков, а также методик характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а |
также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.140, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 | |||
ПК 1 «Зондовая диагностика» |
Национальный исследовательский университет «Московский физико-технический институт» (МФТИ), Адрес: 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9 тел. +7 495 408 57 00 E-mail: sam@,mail.miot.ru Председатель ПК 1 -Заместитель декана факультета физической и квантовой электроники МФТИ, к.ф.-м.н. Заблоцкий Алексей Васильевич Тел.:+7 495 408 59 66 e-mail: zalexx®,gmail.com |
ТКИСО 201 «Химический анализ поверхности» |
Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
ПК 2 «Пучковая диагностика» |
Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ») Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп.1 Председатель ПК 2 -Заместитель генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессор Гавриленко Валерий Петрович Тел.:+7 495 935 97 77 |
ТК ИСО 202 «Микропучковый анализ» |
Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энерго дисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и |
e-mail: fgupnicpv(о),mail.ru |
нейтральных частиц, дифракции электронных пучков. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 | ||
пкз «Измерения и характеризация поверхности, материалов и частиц» |
ООО «Метрологический центр РОСНАНО» (ООО «МЦ РОСНАНО») Адрес: 117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А тел. +7 495 988 53 38 E-mail: info(5)rusnano-mc.com Председатель ПК 3 -Генеральный директор ООО «МЦ РОСНАНО», член-корреспондент РАН Иванов Виктор Владимирович тел. +7 495 988 53 38 E-mail: viktor.ivanovfojrusnano.com |
ТК ИСО 24 «Характеризация частиц, включая просеивание», ПК-4 «Характеризация частиц» |
Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений и характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
Начальник Управления метрологии
В.М. Лахов
ПРИЛОЖЕНИЕ №2
к приказу Федерльного агентства по техническому регулированию и метрологии
от« 11 » июля 2012 № 495
Перечень организаций - членов ТК «Зондовая и пучковая диагностика»
Наименование предприятия (организации) |
Адрес предприятия (организации) - члена ТК |
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума |
119421, Москва, ул. Новаторов, дом 40, корп. 1 тел. +7 (495) 935-97-77, 935-97-66 факс +7(495) 935-59-11,935-96-90 E-mail: fgupnicpv7fmail.ru nicpvTfmail.ru |
РНЦ «Курчатовский институт» |
123182, Москва, площадь Курчатова, дом 1 тел. +7 (499) 196-97-69 факс +7(499) 196-64-53 E-mail: kashkarov pk7frrcki.ru |
Институт радиотехники и электроники РАН |
125009, Москва, ул Моховая, дом 11, корп. 7 тел. +7 (495) 629-35-91 факс +7(495)629-36-78 E-mail: gulyaev7fcplire.ru |
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН |
119333, Москва, Ленинский пр., дом 59 тел. +7 (499) 135-41-60 факс +7(499) 135-10-11 E-mail: secr7fns.crys.ras.ru |
Физико-технологический институт РАН |
117218, Москва, Нахимовский пр., д. 36, к. 1 тел. +7 (499) 129-50-04 факс +7(499) 129-31-41 E-mail: orlikovsky7fftian.ru |
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН |
194021, Санкт-Петербург, Политехническая ул., дом 26 тел. +7 (812) 297-91-56 факс +7(812)297-10-17 E-mail: konnikov7fmail.ioffc.ru |
Институт Общей физики им. А.М. Прохорова РАН |
119991, Москва, ул. Вавилова, д. 38, к.. «Л2» тел. +7 (499) 135-76-28 факс +7(499)232-38-62 E-mail: viaik7fgpi.ru |
Центр фотохимии РАН |
119421, Москва, ул. Новаторов, дом 7-а тел. +7 (495) 936-77-53 факс +7(495)936-12-55 E-mail: alfimov7fphotonics.ru |
Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН |
117342, Москва, ул. Бутлерова, дом 15 тел. +7(495)333-61-02 факс +7(495)334-75-00 E-mail: nn7fckbup.dol.ru |
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН |
630090, Новосибирск, проспект Академика Лаврентьева, дом 13 тел. +7 (383) 333-39-50 факс +7(383) 333-27-71 E-mail: IFP7fisp.nsc.ru |
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН |
142432, Московская обл., Ногинский район, Черноголовка, ИПТМ РАН тел. +7 (495) 962-80-74 факс +7(495)962-80-47 E-mail: general@ipmt-hpm.ac.ru |
Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов |
142190, Московская обл., Троицк, ул. Центральная, дом 7-а тел. +7 (495) 334-05-63 факс +7(495)330-99-60 E-mail: ila@ntcstm.troitsk.ru |
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности |
119017, Москва, Б. Толмачевский пер., дом 5-а, «ГИРЕДМЕТ» тел. +7(495)981-30-11 факс +7(495)951-62-25 E-mail: pyn@giredmet.ru |
ЗАО «Нанотехнология МДТ» |
124482, Москва, Зеленоград, к. 317а, а/я 158 тел. +7(499)735-03-05,913-57-36 факс +7(499)735-64-10,913-57-39 E-mail: secretary(ojntmdt.ru |
Центральный научно-исследовательский технологический институт «Техномаш» |
121108, Москва, ул. Ивана Франко, дом 4 тел. +7(499) 144-75-15 факс +7(499) 144-85-14 E-mail: cniti .technomash@mtu-net.ru |
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы |
119361, Москва, ул. Озерная, дом 46 тел. +7 (495) 437-55-77 факс +7(495)437-56-66 E-mail: office@vniims.ru |
В сероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений |
119361, Москва, ул. Озерная, дом 46 тел. +7 (495) 437-56-33 факс +7(495)437-31-47 E-mail: vniiofi@vniiofi.ru |
Национальный исследовательский технологический университет «Московский институт стали и сплавов» |
119991, Москва, Ленинский пр., дом 4 тел. +7 (495) 955-00-32, 237-22-25 факс +7(495)236-21-05 E-mail: borovikova n a@mail.ru |
Национальный исследовательский университет «Московский физико-технический институт» |
141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9 тел. +7 (495) 408-57-00 факс +7(495)408-68-69 E-mail: sam@mail.mipt.ru baturin@mail.mipt.ru |
ООО «Метрологический центр «РОСНАНО» |
117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А тел. +7 (495) 988-53-38 факс +7(495)988-56-60 E-mail: info@rusnano-mc.com |
Начальник Управления метрологии
В.М. Лахов