Номер в гос. реестре

67949-17

Наименование типа СИ (обозначение)

Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные (FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD)

Назначение средства измерений

Модификация

Описание типа

2017-67949-17.pdf

Тип производства

Заводской номер

100117568

Год производства (возраст, лет)

Год производства не указан

Производитель

Фирма "Helmut Fischer GmbH"
Страна - ГЕРМАНИЯ

Наименование характеристики

Значение

характеристики

Диапазон показаний толщины покрытия, мкм

от 0,001 до 30

Диапазон измерений толщины покрытия, мкм

от 0,001 до 22

Пределы допускаемой относительной погрешности измерения толщины покрытия в диапазоне от 0,001 до 22 мкм, %

±10

Диапазон измерений массовой доли элементов*, %

от 0,01 до 100

Пределы допускаемой относительной погрешности измерения массовой доли элементов, %

±10

* испытания проводились на стандартных образцах по массовой доле Cr, Ni, Fe

Наименование характеристики

Значение

характеристики

Анализируемые элементы

а 113     т т92

от Al до U

Количество измеряемых слоев покрытия, включая основание

24

Допускаемое отклонение показаний толщины покрытия в диапазоне от 0,001 до 30 мкм (определяется по калибровочным образцам «HELMUT FISCHER GMBH»), %

±5

Допускаемое отклонение показаний массовой доли элементов (определяется по калибровочным образцам «HELMUT FISCHER GMBH»), %

±5

Наименование характеристики

Значение характеристики

Габаритные размеры, (длинахширинахвысота) мм, не более

• - спектрометров-толщиномеров

• - внутренней камеры

660х835х720

580x560x145

Максимальная высота образца, мм

140

Масса, кг, не более

140

Максимальный вес образца, кг

5

Потребляемая мощность, кВт

0,12

Электропитание осуществляется от сети переменного тока с напряжением, В частотой, Гц

220±10

от 50 до 60

Условия эксплуатации: температура окружающей среды, °С относительная влажность воздуха, %, не более атмосферное давление, кПа

от +10 до +40

95

от 94 до 106