№6298 от 07.11.2011
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт)
# 23801
О назначении комиссии по приемке завершенных в 2011 г. работ, выполнявшихся в рамках реализации ФЦП "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 -2011 годы"
8 ноября 2011 г.
№ 6298
г. Москва
О назначении комиссии по приемке завершенных в 2011 г. работ, выполнявшихся в рамках реализации ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы»
В связи с завершением в 2011 году работ, проводимых в рамках реализации федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы» по направлению «Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии» и финансируемых за счет бюджетных ассигнований, приказываю:
-
1. Назначить комиссию по приемке работ в следующем составе:
Петросян Е.Р.
к.ф-м.н., заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (председатель комиссии)
Лахов В.М.
к.ф.-м.н., начальник Управления метрологии (заместитель председателя комиссии)
Федорова Л.Н.
эксперт Управления метрологии (секретарь комиссии)
Демин В.А
к.ф.-м.н., заместитель начальника управления метрологии ФГУ РНЦ «Курчатовский институт» (по согласованию)
Иванов В.В.
член-корр. РАН, генеральный директор ООО «Метрологический центр «Роснано» (по согласованию)
Канищева Т.Д.
начальник Управления экономики, бюджетного планирования и госсобственности
Разикова Н.В.
начальник отдела Управления метрологии
Савченко А.Г.
к.ф.-м.н., заместитель директора Департамента приоритетных направлений науки и технологий Минобрнауки России (по согласованию)
Шуртаков К.В.
заместитель генерального директора ГУ «Государственная дирекция целевой научно-технической программы» (по согласованию)
Форш П.А.
к.ф.-м.н., заместитель руководителя агентства по нанотехнологиям и наноматериалам ФГУ РНЦ «Курчатовский институт» (по согласованию).
-
2. Комиссии провести приемку работ в соответствии с Регламентом приемки выполненных работ по государственным контрактам, заключенным в рамках федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 г.г.» Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии по прилагаемому графику.
-
3. Контроль за исполнением настоящего приказа оставляю за собой.
Руководитель
Г.И. Элькин
Федерального агентства
Приложение
к приказу Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии от« 08 » ноября 2011г. № 8298
График приемки комиссией работ, выполнявшихся в рамках реализации федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы» по государственным контрактам в 2011 году
|
№№ п\п |
№ лота |
Наименование предмета государственного контракта |
Исполнитель № контракта |
Дата работы комиссии |
Место работы комиссии |
|
1 |
1.1.1.1 |
Создание комплекса аттестованных методик и эталонных излучателей для обеспечения единства измерений фотометрических и цветовых характеристик энергосберегающей светотехники на основе светодиодов на наногетероструктурах |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 120-166 |
29 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
2 |
1.1.1.2 |
Создание набора эталонных солнечных элементов и аттестованных методик измерений для метрологического обеспечения производства солнечных батарей нового поколения на основе наноразмерных гетероструктур |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 120-168 |
29 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
3 |
1.1.1.3 |
Создание комплекса аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения оптических характеристик наноразмерных энергосберегающих покрытий на стеклах, устройств на основе тонкопленочных фильтров и многослойных наноструктур для электроники |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 120-204 |
29 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
2
|
4 |
1.1.1.5 |
Создание метрологического комплекса для аттестации существующих и вновь разрабатываемых экспресс-тестов на основе квантовых точек и иммунохроматографических тест-систем |
ФГУП «ВНИИМС» № 120-170 |
30 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
5 |
1.1.1.9 |
Создание методов и средств обеспечения единства измерений оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических световодов для перспективных высокоскоростных информационно-телекоммуникационных систем |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 120-165 |
29 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
6 |
1.1.1.12 |
Создание методов и средств обеспечения единства измерений параметров наночастиц в природных и технологических средах и разработка методик оценки соответствия параметров наночастиц антропогенного и техногенного происхождения в атмосфере и природных водах |
ФГУП «ВНИИФТРИ» № 120-169 |
30 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
7 |
1.1.1.14 |
Методы и средства метрологического обеспечения измерений параметров наноструктур и нанообъектов в просвечивающей электронной микроскопии |
ОАО «НИЦ ПВ» № 120-171 |
30 ноября 2011 |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
8 |
1.1.1.18 |
Создание комплекса рабочих средств и аттестованных методик измерений топологических и оптических характеристик наноструктурных объектов методом динамической интерферометрии и эллипсометрии |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 120-167 |
29 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
9 |
1.1.1.19 |
Создание метрологического комплекса для измерений характеристик текстуры большепольной поверхности на основе мультисенсерной зондовой микроскопии и динамической меры перемещения нанометрового диапазона |
ФГУП «ВНИИМС» № 120-179 |
30 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
3
|
10 |
1.1.5.17 |
Развитие методической и инструментальной составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации головного отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 120-145 |
29 ноября 2011 г. |
Ул. Озерная, д. 46, конференц-зал ФГУП «ВНИИОФИ» |
Начальник Управления метрологии
В.М. Лахов
27.10.2011