№4173 от 01.11.2010
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт)
# 18910
О назначении комиссии по принятию завершенных работ, выполнявшихся в рамках реализации ФЦП "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы"
1 ноября 2010 г.
№ 4173_____
г. Москва
О назначении комиссии по принятию завершенных работ, выполнявшихся в рамках реализации ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы»
В связи с завершением в 2010 году работ, проводимых в рамках реализации федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы» по направлению «Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии» и финансируемых за счет бюджетных ассигнований, приказываю:
-
1. Назначить комиссию по приемке работ в следующем составе:
Крутиков В.Н.
д.т.н., заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (председатель комиссии)
Лахов В.М.
к.ф.-м.н., начальник Управления метрологии (заместитель председателя комиссии)
Федорова Л.Н.
эксперт Управления метрологии (секретарь комиссии)
Демин В.А.
к.ф.-м.н., заместитель начальника управления метрологии ФГУ РНЦ «Курчатовский институт» (по согласованию)
Канищева Т.Д.
начальник Управления экономики, бюджетного планирования и госсобственности
Кашкаров П.К.
д.ф-м.н, заместитель генерального директора ФГУ РНЦ «Курчатовский институт (по согласованию)
Кузнецов В.П.
главный метролог ФГУП «ВНИИОФИ»
Разикова Н.В.
начальник отдела Управления метрологии
Савченко А.Г.
к.ф.-м.н., заместитель директора Департамента приоритетных направлений науки и технологий Минобрнауки России (по согласованию)
Фатьянов Н.А.
заместитель начальника Управления метрологии
Форш П.А.
к.ф.-м.н., заместитель руководителя агентства по нанотехнологиям и наноматериалам ФГУ РНЦ «Курчатовский институт» (по согласованию).
-
2. Комиссии провести приемку работ в соответствии с Регламентом приемки выполненных работ по государственным контрактам, заключенным в рамках федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2010 г.г.» Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии по прилагаемому графику.
-
3. Контроль за исполнением настоящего приказа оставляю за собой.
Руководитель
Г.И. Элькин
Федерального агентства
Приложение
к приказу Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от «01 » ноября 2010 г. № 4173
График
приемки завершенных в 2010 году работ, выполнявшихся в рамках реализации федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы» по направлению «Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии»
|
№ п/п |
Шифр, наименование работы |
Исполнитель, № контракта |
Срок работы комиссии |
Место работы комиссии |
|
1 |
Шифр 2008-3-3.1-048 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерения параметров наночастиц в природных и технологических средах |
ФГУП «ВНИИФТРИ» № 154-6/337 от 24.10.2008 г. |
29 октября- 3 ноября 2010 г. |
ВНИИФТРИ |
|
2 |
Шифр 2008-3-3.1-010 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерений параметров рельефа и шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне |
ФГУП «ВНИИМС» № 154-6/298 от 11.09.2008 г. |
24-30 ноября 2010 г. |
ВНИИМС |
|
3 |
Шифр 2008-3-3.1-045 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений характеристик солнечных батарей на основе нанотехнологий |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 154-6/336 от 01.11.2008 г. |
24-30 ноября 2010 г. |
ВНИИОФИ |
|
4 |
Шифр 2008-3-3.1-011 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений параметров многослойных наноструктур для фотоприемников и оптических фильтров |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 154-6/293 от 11.09.2008 г. |
24-30 ноября 2010 г. |
ВНИИОФИ |
|
5 |
Шифр 2008-3-3,1-016 - Создание центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 154-6/294 от 11.09.2008 г. |
24-30 ноября 2010 г. |
ВНИИОФИ |
|
6 |
Шифр 2008-3-3.1-021 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерений оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике. |
ФГУП «ВНИИОФИ» № 154-6/297 от 29.09.2008 г. |
24-30 ноября 2010 г. |
ВНИИОФИ |
|
7 |
Шифр 2008-3-3.1-051 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы нанотехнологий, обеспечивающих адресную доставку лекарств. |
ФГУП ВНИИОФИ № 154-6/319 от 24.10.2008 г. |
24-30 ноября 2010 г. |
ВНИИОФИ |
|
8 |
Шифр 2008-3-3.1-009 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений геометрических параметров наноматериалов и продукции наноиндустрии. |
ОАО «НИЦПВ» № 154-6/259 от 11.09.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Госстандарт |
|
9 |
Шифр 2008-3-3.1-047 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений состава, структуры и свойств конструкционных наноматериалов. |
ФГУП "Прометей" № 154-6/341 от 24.10.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Госстандарт |
|
10 |
Шифр 2008-3-3.1-053 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений механических и трибологических свойств наноматериалов и продукции наноиндустрии. |
МИСиС № 154-6/334 от 24.10.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Госстандарт |
|
И |
Шифр 2008-3-3.1-049 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерения структурно-морфологических и динамических характеристик клеток в нанобиотехнологии. |
ЗАО "НТ-МДТ” № 154-6/331 от 24.10.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Росстандарт |
|
12 |
Шифр 2008-3-3.1-050 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локального химического состава и структурных параметров функциональных наноматериалов и изделий наноиндустрии. |
МФТИ № 154-6/340 от 24.10.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Госстандарт |
|
13 |
Шифр 2008-3-3.1-023 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений параметров углеродных наноструктурированных материалов и продукции наноиндустрии на их основе. |
ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" № 154-6/301 от 29.09.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Росстандарт |
|
14 |
Шифр 2008-3-3.1-052 - Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений характеристик теплового расширения наноматериалов и продукции наноиндустрии на их основе |
ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" № 154-6/321 от 24.10.2008 г. |
26-30 ноября 2010 г. |
Росстандарт |
Заместитель начальника Управления метрологии Н.А. Фатьянов
График приемки 2010 г.