Номер по Госреестру СИ: 28665-05
28665-05 Микроскопы сканирующие зондовые
(NanoEducator)
Назначение средства измерений:
Микроскопы сканирующие зондовые NanoEducator предназначены для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред.
Микроскопы сканирующие зондовые NanoEducator применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики и технологии микро- и наноструктур, материаловедения. .
Внешний вид.
Микроскопы сканирующие зондовые
Рисунок № 1
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства - 01.04.2015
Номер записи - 113329
ID в реестре СИ - 335729
Тип производства - серийное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
ТОП-0,66, SVS 245,
Производитель
Изготовитель - ЗАО "Нанотехнология МДТ"
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Москва
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Справочник государственных первичных эталонов РФ является копией соответствующего реестра ФГИС «АРШИН» (https://fgis.gost.ru/fundmetrology/registry/12) и содержит сведения о государственных первичных эталонов РФ.
Справочник содержит более 150 записей и актуализируется не реже 1 раза в месяц.
Статистика
Кол-во поверок - 9
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 9
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 2191 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№1123 от 2016.08.19 О внесении изменений в описание типа систему автоматизированную информационно-измерительную коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) ПАО "Мосэнерго"
№3360 от 2022.12.30 О закреплении документов национальной системы стандартизации за техническим комитетом по стандартизации "Продукция нефтехимического комплекса" (ТК 160)
Наличие аналогов СИ: Микроскопы сканирующие зондовые (NanoEducator)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений ЗАО "Нанотехнология МДТ"
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
28664-05 01.03.2010 |
Микроскопы сканирующие зондовые, Ntegra ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
1 год | |
|
28664-10 07.05.2020 |
Микроскопы сканирующие зондовые, Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ МП |
1 год |
|
28665-05 01.04.2015 |
Микроскопы сканирующие зондовые, NanoEducator ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
28666-05 01.03.2010 |
Микроскопы сканирующие зондовые, Solver Pro ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
1 год | |
|
28666-10 07.05.2020 |
Микроскопы сканирующие зондовые, Solver HV, Solver HV-MFM, Solver SNOM, Smena, Solver PRO, Solver PRO-M, Solver FD, Solver P47-PRO, Solver PRO-EC, Solver MFM, Solver BIO-M, Solver OPEN ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ МП |
1 год |
|
40597-09 01.06.2014 |
Микроскопы сканирующие зондовые, SOLVER NEXT ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
41676-09 12.11.2019 |
Меры периода линейные, TDG01 ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
41677-09 12.11.2019 |
Меры периода линейно-угловые, TGG1 ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
41678-09 12.11.2019 |
Меры периода и высоты линейные, TGZ1, TGZ2, TGZ3 ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
41679-09 12.11.2019 |
Меры периода линейно-угловые, TGT1 ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
41680-09 12.11.2019 |
Меры периода и высоты линейные, TGQ1 ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
|
45580-10 |
Комплекс метрологический для измерения топологии клеточных структур и распределения показателя преломления в нанобиотехнологических процессах, Нет данных ЗАО "Нанотехнология МДТ" (РОССИЯ г.Москва) |
ОТ |
1 год |
Кто поверяет Микроскопы сканирующие зондовые (NanoEducator)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2024 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ООО "Инвестиционная Инжиниринговая Компания "УЭНКО" (RA.RU.311318) | 6 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ООО "МетроСервис" (RA.RU.311779) | 3 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Микроскопы сканирующие зондовые (NanoEducator)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Поверка
Поверка микроскопов сканирующих зондовых NanoEducator проводится в соответствии с документом «Микроскопы сканирующие зондовые NanoEducator. Методика поверки», утвержденным ФГУП «ВНИИМС» 19 мая 2010 г..
Основным средством поверки является мера периода и высоты линейная TGQ1.
Межповерочный интервал - один год.
Заключение
Тип микроскопов сканирующих зондовых NanoEducator утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведёнными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.
Микроскопы сканирующие зондовые NanoEducator
Руково^ ФГУП
Внесены в Государственный реестр средств измерений Регистрационный
Взамен №
Выпускаются по техническим условиям ТУ 4254-002-58699387-2004.
НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯМикроскопы сканирующие зондовые NanoEducator предназначены для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред.
Микроскопы сканирующие зондовые NanoEducator применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики и технологии микро- и наноструктур, материаловедения. .
Микроскопы сканирующие зондовые (СЗМ) представляют собой стационарные автоматизированные многофункциональные измерительные системы.
СЗМ обеспечивает работу как в режиме сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), так и атомно-силового микроскопа (АСМ).
Принцип действия СТМ основан на квантовом эффекте туннелирования электронов через узкий потенциальный барьер между исследуемой проводящей поверхностью образца и острием микрозонда. Детектируя туннельный ток, протекающий при постоянном электрическом смещении между микрозондом и образцом, получают информацию о топографии проводящей поверхности в атомном масштабе. АСМ реализует принцип измерений силы, действующей на острие микрозонда со стороны исследуемой поверхности, как проводящих, так и диэлектрических сред. Поддерживая с помощью обратной связи постоянной силу взаимодействия между микрозондом и поверхностью образца, регистрируют положение острия микрозонда, что позволяет получить трехмерное изображение топографии поверхности.
В состав СЗМ входит сканирующая измерительная головка, электронный блок и персональный компьютер. В качестве зонда используется вольфрамовая игла, закрепленная на пьезокерамическом датчике. С помощью устройства для травления зондов, входящего в комплект поставки, возможно самостоятельное изготовление вольфрамовых игл.
Управление процессом измерений осуществляется от контроллера и PC совместимого компьютера с помощью программного обеспечения. Управляющие сигналы от СЗМ-контроллера поступают в измерительную головку. Управление СЗМ-контроллером осуществляется с помощью компьютерного программного обеспечения посредством USB порта.
При помощи программного обеспечения осуществляется настройка прибора, оптимизация его параметров, управление режимами работы, выполнение сканирования, обработка результатов измерений и их хранение.
Конструктивно СЗМ NanoEducator выполнены в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером. По заказам приборы оснащаются широким набором дополнительных устройств и принадлежностей.
Комплект поставки включает:
|
№ |
Описание |
|
1 |
Электронный блок управления СЗМ NanoEducator |
|
2 |
Универсальная сканирующая измерительная АСМ/СТМ головка |
|
3 |
Интерфейсный кабель USB |
|
4 |
Программное обеспечение для получения и обработки изображений на IBM-совместимой рабочей станции |
|
5 |
Рабочие принадлежности для СЗМ |
|
6 |
Набор зондов |
|
7 |
Соединительные кабели для подключения измерительной головки и сканера |
|
8 |
Шнур питания |
|
9 |
Защитный колпак с цифровой видеокамерой |
|
10 |
Устройство для травления зондов |
|
Параметр |
Значение |
|
Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY не менее, мкм |
0-70 |
|
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z не менее, мкм |
0-8 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY не более, % |
±5 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров по оси Z не более, % |
±5 |
|
Нелинейность сканирования в плоскости XY не более, % |
5 |
|
Разрешение в плоскости XY не более, нм |
30 |
|
Разрешение по оси Z не более, нм |
10 |
|
Дрейф в плоскости XY не более, нм/с |
1 |
|
Дрейф по оси Z не более, нм/с |
1 |
|
Максимальное число точек сканирования по X и Y |
512x512 |
|
Размеры исследуемых образцов (диаметр х толщина) не более, мм |
12x5 |
|
Диапазон напряжение питания переменного тока, В |
100-240 |
|
Потребляемая мощность не более, Вт |
60 |
|
Габаритные размеры электронного блока не более, мм |
260x160x360 |
|
Габаритные размеры СЗМ не более, мм |
160x160x130 |
|
Масса не более, кг |
8 |
|
Условия эксплуатации:
|
20 ±5 65 ±15 760 ± 30 1 0,5 |