Сведения о средстве измерений: 45583-10 Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Номер по Госреестру СИ: 45583-10
45583-10 Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике
(Нет данных)

Назначение средства измерений:
Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных нано-структурированных сред и метаматериалов в нанофотонике (далее - комплекс) предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей, а также показателя преломления. Область применения комплекса: лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

сертификация программного обеспечения

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 134173
ID в реестре СИ - 356573
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

ТОНИК,

Производитель

Изготовитель - Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова"
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Москва
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Простой и информативный отчёт, охватывающий все организации, аккредитованные на право поверки. В качестве исходной информации используются данные ФГИС АРЩИН за период с 2010 года по настоящее время.

В отчете представлены данные по количеству поверок средств измерений, проводимых аккредитованными организациями на территории РФ.

Отчёт имеет два варианта предварительных фильтров:

  • выборка по годам или за все время формирования БД, начиная с 2010 года
  • по различным тематическим разрезам, статусам и типам организаций (подведы Росстандарта, ФГУПы Росстандарта, ФБУ Росстандарта, гос. организации, коммерческие организации)

Отчёт состоит из одной круговой диаграммы и свободной таблицы. Круговая диаграмма построена на инструменте Google Chart и показывает доли поверок самых больших организаций.

Сводная таблица имеет более 4000 строк, при этом, реальное количество аккредитованных организаций не превышает 2 тысяч. Существование дубликатов организаций вызвано разницей в написании наименований и преобразовании форм собственности организаций за все время ведения федерального фонда.

В таблице по каждой из организаций представлена следующая информация:

  • Полное наименование организации
  • Общее количество поверок начиная в 2010 года
  • Поверок за год (последние 365 дней)
  • Среднее кол-во поверок в день за последний год (в году 365 дней)
  • Среднее кол-во поверок в день за последний год (только рабочие дни при 5-ти дневке - 248 р.д.)
  • Общее количество первичных поверок
  • Общее количество периодических поверок
  • Общее количество поверок без статуса
  • Кол-во извещений о непригодности в штуках
  • Кол-во извещений о непригодности в процентах

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 1
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

Наличие аналогов СИ: Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике (Нет данных)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
45264-10

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля, Нет данных
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
1 год
45583-10

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике, Нет данных
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
1 год
48984-12

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии, Нет данных
Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова" (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
1 год

Современная Пермь - крупный промышленный центр на востоке европейской части России и третий по величине город в стране после Москвы и Санкт-Петербурга (799,68 кв. км).

Градообразующей осью Перми исторически является река Кама, приток Волги и главная река Западного Урала. Вдоль берегов Камы город протянулся на 70 км, уступая по длине только Санкт-Петербургу и Сочи.

Пермь - один из крупнейших промышленных центров страны. Ведущими отраслями экономики города являются машиностроение, нефте- и газопереработка, электроэнергетика, химия и нефтехимия, пищевая промышленность, деревообработка и полиграфия.

Пересечение трансконтинентальных автомобильных, железнодорожных и воздушных линий делает Пермь значительным транспортным узлом и логистическим центром Урала. Кама - пятая по длине река в Европе. Водный путь по Каме приведет вас в направлении пяти морей - Азовского, Черного, Каспийского, Белого и Балтийского. Автолюбители могут добраться до Перми по федеральной трассе Москва-Чита. Международный аэропорт Большое Савино осуществляет регулярные авиаперевозки по России и за рубеж, имеет пограничные и таможенные службы.

Отчет "Анализ рынка поверки в Перми" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Пермь.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 3 000 руб.

Кто поверяет Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике (Нет данных)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ООО "ЦМС ПРОГРЕСС"
(1771)
  • ТОНИК
  • 1 0 1 0 1 0 1

    Стоимость поверки Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике (Нет данных)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа наносят на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.


    Сведения о методиках измерений


    Нормативные и технические документы

    ТИПА СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ

    Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

    Внесен в Государственный реестр средств измерений

    Регистрационный номер №4SS 5)5-10

    Изготовлен по технической документации Государственного учебнонаучного учреждения «Физический факультет Московского государственного университета имени М.В.Ломоносова», г. Москва. Зав. № 001.

    НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

    Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных нано-структурированных сред и метаматериалов в нанофотонике (далее - комплекс) предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей, а также показателя преломления.

    Область применения комплекса: лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

    Комплекс состоит из двух установок: микроскопа ближнего поля сканирующего поляризационного БСОМ зав. № 0001 и микроскопа интерференционного автоматизированного МИА-1 зав. № 003.

    Работа микроскопа ближнего поля сканирующего поляризационного БСОМ основана на принципе компенсации поворота плоскости поляризации путем ручной установки поляризационной призмы в угловое положение, соответ-

    ствующее минимуму сигнала на фотоэлектронном умножителе (ФЭУ). Излучение от источника (лазер с длиной волны 532 нм) проходит фазовую пластину толщиной в половину длины волны, систему зеркал и попадает на образец, после прохождения через который собирается коллектором субволновых размеров. Коллектором служит зонд ближнепольного микроскопа апертурного типа. Локально собранное апертурным зондом электроманитное поле оптической частоты с помощью оптического световода, являющегося продолжением апертурного зонда, направляется в систему вывода излучения. Система вывода излучения на основе микрообъектива служит для формирования параллельного светового пучка. После формирования параллельного светового пучка последний проходит через поляризационную призму и попадает на ФЭУ, сигнал которого поступает в электронный контроллер комплекса поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля, где и регистрируется.

    Конструктивно БСОМ выполнен в виде стационарного прибора, состоящего из установленных на оптическом столе оптико-механической измерительной головки, лазера, ФЭУ, поляризационной оптики и оптико-механических вспомогательных узлов. Электронный контроллер располагается отдельно.

    Управление прибором осуществляется с помощью специализированного программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, связанный с электронным контроллером специальным кабелем, подключаемым к плате сопряжения.

    Принцип действия микроскопа интерференционного автоматизированного МИА-1 основан на получении интерферограмм исследуемого объекта при различных фазовых сдвигах, их расшифровки и вычислении показателя преломления.

    Для расшифровки интерферограмм в микроскопе МИА-1 использован метод дискретного фазового сдвига (метод фазовых шагов). Сдвиг вносится при помощи управляемого от компьютера пьезоэлемента связанного с зеркалом опорного канала. Интерферограммы при различных положениях зеркала с помощью ПЗС-телекамеры поступают в персональный компьютер, где производится их автоматическая обработка.

    Для управления вводом изображений, сдвигом пьезоэлемента и расшифровки интерферограмм используется специальное программное обеспечение «WinPhast». В результате работы программы производится восстановление двумерного распределения оптической разности хода. Для вычисления показателя преломления исследуемого вещества используется двухиммерсионный метод. Он основан на измерении оптической разности хода двух веществ: с известным показателем преломления и с искомым. Далее по полученным двумерным распределениям оптической разности хода определяются фазовые объемы, отношение которых дает показатель преломления.

    Программное обеспечение входящих в комплекс установок выполнено в виде отдельно запускаемых модулей и обеспечивает защиту от влияния на метрологические характеристики, а также непреднамеренных и преднамеренных изменений.


    Комплект поставки соответствует таблице 2.

    Таблица 2

    Наименование

    Кол-во, шт.

    Микроскоп ближнего поля сканирующий поляризационный БСОМ

    1

    Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1

    1

    Руководство по эксплуатации комплекса поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля БСОМ

    1

    Руководство по эксплуатации микроскопа интерференционного автоматизированного МИА-1

    1

    Методика поверки

    1


    Таблица 1

    Наименование характеристики

    Значение

    характеристики

    1

    2

    Рабочая длина волны, нм

    532

    Диапазон показаний угла вращения плоскости поляризации при длине волны 532 нм

    -90° ... + 90°

    Диапазон измерений угла вращения плоскости поляризации, приведенного к длине волны 546,1 нм

    -40° ... + 40°

    Пределы допускаемой относительной погрешности для углов вращения плоскости поляризации, приведенных к длине волны 546,1 нм ( в диапазоне - 40° ... + 40°)

    ± 15%

    Диапазон измерений показателя преломления

    1,39 ... 1,65

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения показателя преломления

    ±5 -10’5

    Напряжение питания, В При частоте, Гц

    220±22

    50

    Потребляемая мощность, Вт, не более

    • - микроскоп ближнего поля сканирующий поляризационный БСОМ

    • -  микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1

    100

    250

    Габаритные размеры, мм, не более

    • - микроскоп ближнего поля сканирующий поляризационный БСОМ

    • -  микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1

    1500 х1450 хЮ50

    340x370x380

    Масса, кг, не более

    • - микроскоп ближнего поля сканирующий поляризационный БСОМ

    • -  микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1

    250

    24

    Условия эксплуатации:

    • - температура окружающего воздуха, °C

    • - атмосферное давление, кПа

    • - относительная влажность воздуха, %

    20±5

    101±4

    65±20


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель