Номер по Госреестру СИ: 44968-10
44968-10 Мера рельефная графитовая
(S140)
Поверка
Поверка меры проводится в соответствии с документом «Мера рельефная графитовая S140. Методика поверки», утвержденным ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» <^Z» августа 2010 года.
Основным средством поверки является:
-
- мера периода линейная TDG01 (ТУ 3932-010-40349675-2009, ГР 41676-09);
-
- микроскоп сканирующий зондовый атомно-силовой NTegra (ТУ 4254-001-586993872009, ГР 28664-10).
Межповерочный интервал -1 год.
Изготовитель
Фирма «Agar Scientific Ltd», Великобритания, Unit 7, Ml 1 Business Link, Parsonage Lane, Stansted, Essex, CM24 8GF.
Мера представляет собой кристалл углерода толщиной менее 1 мкм, закрепленный на объектной сетке диаметром 3 мм для микроскопа электронного просвечивающего (ПЭМ). Аттестованным параметром меры является период кристаллической решетки. При использовании данного параметра для передачи единицы длины применяется кристалл высокой степени чистоты от примесей и иных разновидностей кристаллографических дислокаций. Кристалл закрепляется на объектной сетке таким образом, чтобы кристаллографическая ось Сб была перпендикулярна плоскости сетки.
Наименование |
Значение |
Номинальное значение периода кристаллической решетки меры, нм |
0,314 |
Предел допускаемой абсолютной погрешности периода кристаллической решетки, нм |
±0,05 |
Габаритный размер меры (диаметр х толщина), мм |
3x0.1 |
Размер рабочей области меры (диаметр), мм |
2,0 |