Warning: count(): Parameter must be an array or an object that implements Countable in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/auth-oei/function_auth.php on line 1038

Warning: count(): Parameter must be an array or an object that implements Countable in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/auth-oei/function_auth.php on line 1012
Сведения о средстве измерений: 65490-16 Комплекс измерения отражения

Номер по Госреестру СИ: 65490-16
65490-16 Комплекс измерения отражения
(КИО)

Назначение средства измерений:
Комплекс измерения отражения КИО (далее по тексту - комплекс КИО) предназначен для измерения спектральных коэффициентов диффузного отражения (далее - СКДО) черных покрытий твердых материалов в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,50 мкм при межоперационном и выходном контроле оптико-физических свойств оптических конструкционных деталей.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Комплекс измерения отражения, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Комплекс измерения отражения
Рисунок № 1
Внешний вид. Комплекс измерения отражения, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Комплекс измерения отражения
Рисунок № 2

Notice: Undefined offset: 2 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 3 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 4 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 5 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 6 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 7 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 8 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Notice: Undefined offset: 9 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 156880
ID в реестре СИ - 379280
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Нет модификации, Комплекс измерения отражения КИО, -,

Производитель

Изготовитель - АО "НИИ микроприборов-К" (НИИМП-К)
Страна - РОССИЯ
Населенный пункт - г.Москва
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.

Отчет «Количество типов средств измерений в ФГИС АРШИН по группам СИ» предназначен для сравнительного анализа количества утвержденных типов средств измерений, приходящихся на различные группы СИ. Отчет состоит из двух графиков (одной круговой и одной столбчатой диаграммы) и двух интерактивных таблиц. Таблицы обладают функцией поиска и сортировки по любой из колонок.

Стоит отметить, что отнесение того или иного типа СИ к группе СИ осуществляется не вручную, а с использованием специального программного алгоритма по ключевым словосочетаниям. При таком подходе качество распределения СИ и покрытие реестра типов СИ АРШИНА зависит от качества, предложенных словосочетаний. По этой причине 20% типов СИ, занесённых в АРШИН автоматически распределить не удалось, что не должно существенно отразиться на процентном соотношении или пропорции между группами СИ.

На круговой диаграмме показано количественное соотношение между группами СИ по количеству утвержденных типов СИ. Ввиду того, что некоторые типы СИ могут входить в разные группы, суммарное количество типов СИ, приведенных на диаграмме будет превышать кол-во типов СИ, представленных в ФГИС АРШИН. Как и следовало ожидать, самые большие пропорции занимают однословные классические группы СИ (АИИС, преобразователи, системы, резервуары, трансформаторы … и др.)

В отличии от круговой диаграммы столбчатая демонстрирует тоже разделение типов СИ по группам СИ, но уже в динамике по годам начиная с 2016 года.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 6
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 2
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 3
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№1630 от 2016.10.27 Об утверждениии типов СИ (117 позиций)

Наличие аналогов СИ: Комплекс измерения отражения (КИО)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений АО "НИИ микроприборов-К" (НИИМП-К)

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
65490-16

Комплекс измерения отражения, КИО
АО "НИИ микроприборов-К" (НИИМП-К) (РОССИЯ г.Москва)
ОТ
МП
1 год

Отчет позволяет выгрузить из ФГИС АРШИН информацию, содержащуюся в поверках по выбранным типа СИ.
Форма выбора из списка типа СИ обладает свойством мультиселекта.
Анализируемый интервал 2010г. - н.в.
Выгрузка осуществляется в текстовый файл формата csv с кодировкой win1251.

Файл может быть легко прочитан любым текстовым редакторам, например: notepad++, notepad или MS Excel. Запускаем программу Excel. Переходим во вкладку «Данные». Кликаем на кнопку на ленте «Из текста», указываем путь к файлу.

Поля:
1 - Организация-поверитель
2 - ФСА РАЛ
3 - Номер свидетельства (извещения)
4 - № типа СИ
5 - Обозначение типа СИ
6 - Наименование типа СИ
7 - Модификация
8 - МПИ
9 - Изготовитель (страна, город)
10 - Собственник
11 - Год выпуска
12 - Заводской номер
13 - Дата поверки
14 - Дейтвительна до
15 - Тип поверки

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Комплекс измерения отражения (КИО)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ФГУП "ВНИИОФИ"
(RA.RU.311485)
РСТ
  • -
  • Нет модификации
  • 4 0 2 0 4 0 2
    ФГУП "ВНИИОФИ"
    (RA.RU.311485)
    РСТ
  • Комплекс измерения отражения КИО
  • 2 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Комплекс измерения отражения (КИО)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 250

    Программное обеспечение


    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 250

    Программное обеспечение UV WinLab предназначено для работы в операционной системе Windows XP® и представляет собой многоцелевой программный пакет, состоящий из отдельных модулей, на основе которых возможно создание необходимых задач измерения. Программное обеспечение (далее - ПО) разделено на две части. Метрологически значимая часть ПО размещается в энергонезависимой памяти внутреннего микроконтроллера, доступ к которому исключен конструкцией комплекса. Интерфейсная часть ПО запускается на персональном компьютере и служит для отображения, обработки и сохранения результатов измерений.

    Обмен данными между спектрофотометром и персональным компьютером осуществляется через интерфейс RS-232.

    Идентификационные данные метрологически значимой части программного обеспечения указаны в таблице 1.

    Таблица 1

    Идентификационные данные (признаки)

    Значение

    Идентификационное наименование ПО

    UV WinLab

    Номер версии (идентификационный номер) ПО

    6.0 и выше

    Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

    -

    Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

    -

    Вход в ПО осуществляется при вводе логина и пароля.

    Уровень защиты программного обеспечения комплекса от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» согласно Р 50.2.077-2014.


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится типографским способом на титульный лист Руководства по эксплуатации и корпус спектрофотометра методом наклеивания.


    Сведения о методиках измерений


    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 308
    Сведения о методиках (методах) измерений
    приведены в эксплуатационном документе.


    Нормативные и технические документы


    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 326

    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 334

    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 342
    Нормативные документы, устанавливающие требования к комплексу измерения отражения КИО

    ГОСТ 8.557-2007 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм.

    Поверка

    Поверка

    осуществляется по документу МП 015.М4-16 «Комплекс измерения отражения КИО. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 07 апреля 2016 г.

    Основные средства поверки:

    1 Набор мер СКДО из состава Государственного вторичного эталона единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,50 мкм по ГОСТ 8.557-2007.

    Основные метрологические характеристики:

    Суммарная стандартная неопределенность измерения СКДО при сличении с Государственным первичным эталоном ГЭТ 156-2015 при 10 независимых наблюдениях и доверительной вероятности Р = 0,95 не превышает:

    - 0,010 в диапазоне длин волн от 0,25 до 0,40 мкм;

    - 0,005 в диапазоне длин волн от 0,40 до 0,86 мкм;

    - 0,020 в диапазоне длин волн от 0,86 до 2,50 мкм.

    Диапазон измерений спектрального коэффициента диффузного отражения от 0,01 до 0,99.

    2 Тонкоструктурный абсорбционный светофильтр ТАС-1 из состава Государственного первичного эталона единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм ГЭТ 156-2015 по ГОСТ 8.557-2007

    Основные метрологические характеристики:

    Погрешность стандартных линий поглощения:

    - 0,05 нм в ультрафиолетовой и видимой областях спектра;

    - 0,20 нм в инфракрасной области спектра.

    Стандартные линии поглощения: 421.05; 541.57; 638.46; 881.45; 1127.80; 2016.54 нм. Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

    Знак поверки наносится на переднюю панель корпуса спектрофотометра Lambda 1050, входящего в состав комплекса КИО (место нанесения указано на рисунке 2).



    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 367

    Изготовитель


    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 367

    АО «Научно-исследовательский институт микроприборов-К» (АО «НИИМП-К»)
    ИНН 7735147066
    Адрес: 124365, г. Москва, г. Зеленоград, Георгиевский проспект, дом 5
    Телефон: +7 (495) 944-70-33
    Факс: +7 (495) 944-70-33
    E-mail: niimpk @ mail.compnet.ru


    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 414

    Испытательный центр


    Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
    Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46
    Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
    E-mail: vniiofi@vniiofi.ru


    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 358

    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 468

    Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 478

    Принцип действия комплекса основан на сравнении потока излучения заданной длины волны, отраженного от измеряемого образца, с потоком излучения той же длины волны, отраженным от образца сравнения с известным СКДО.

    Комплекс КИО включает в себя:

    • - спектрофотометр Lambda 1050 (далее - спектрофотометр), предназначенный для создания двулучевого монохроматического потока излучения, обработки и сохранения измерительной информации и выработки управляющих сигналов;

    • - приставку 150 мм интегрирующая сфера (далее - приставка), устанавливаемую в спектрофотометр вместо стандартного блока детекторов и предназначенную для сбора, регистрации, преобразования и передачи в спектрофотометр измерительной информации;

    • - калиброванный образец сравнения SRS-99-020, предназначенный для определения СКДО измеряемого образца;

    • - персональный компьютер с установленным программным обеспечением UV WinLab, предназначенный для управления комплексом;

    • - источник бесперебойного питания.

    Комплекс КИО работает в режиме «двойного луча. Поток излучения от лампы делится на два равных монохроматических потока, которые попеременно направляются в интегрирующую сферу: один поток - на опорный образец, второй - сначала на образец сравнения, по отношению к которому производится измерение СКДО. Отраженные от образцов потоки после многократного отражения от стенок интегрирующей сферы собираются на детекторе, который преобразует их в пропорциональные потокам электрические сигналы 1оп и 1сравн. Сигналы усиливаются, обрабатываются, преобразуются электронными устройствами комплекса и направляются в память микропроцессора, где сохраняются в течение серии измерений. Затем на место образца сравнения устанавливают измеряемый образец и измеряют электрические сигналы 1оп и 1обр, пропорциональные потокам, попеременно отраженным от опорного образца и измеряемого образца. Сигналы усиливаются, преобразуются и направляются в микропроцессор. По отношению 1обр/1сравн измеренных сигналов и СКДО образца сравнения, заранее занесеннному в его память, микропроцессор рассчитывает СКДО измеряемого образца на заданной длине волны.

    При измерении комплекс КИО сканирует диапазон длин волн от больших значений к меньшим.

    Результаты измерений в виде зависимости СКДО от длины волны отображаются в режиме реального времени на мониторе компьютера и сохраняются в памяти результатов в табличной и графической формах.

    Спектрофотометр содержит дейтериевую и вольфрам-галогенную лампы, двойной монохроматор с голографическими дифракционными решетками, двулучевую оптическую систему, кюветное отделение, преобразователь питания, съемный блок детекторов,

    микрокомпьютерную электронику и панель соединителей для подключения внешних устройств, оснащенную интерфейсом RS 232.

    Приставка состоит из интегрирующей сферы и системы оптических зеркал, которая проводит двулучевое излучение в интегрирующую сферу. Интегрирующая сфера содержит фотоумножитель расширенного диапазона PMT для диапазона длин волн от 0,25 до 0,86 мкм и детектор сульфид свинца PbS, термостабилизированный системой Пельтье, для диапазона длин волн от 0,86 до 2,50 мкм; платы электроники; плату предусилителя детектора; два входных порта; два выходных порта, снабженных держателями образцов; порт «зеркальной ловушки», снабженный заглушкой, для вывода из сферы зеркальной составляющей отраженного от образца потока излучения; три экрана для исключения попадания прямого потока излучения на детекторы; верхний загрузочный порт, снабженный заглушкой; опорный образец SRS-99-020.

    Диаметр интегрирующей сферы составляет 150 мм, внутренняя часть ее покрыта материалом типа Spectralon.

    Образец сравнения и опорный образец изготовлены из материала Spectralon и представляют собой цилиндры диаметром 50 мм и высотой 3 мм, закрепленные в пластиковые корпуса с защитными крышками диаметром 60 мм толщиной 18 мм.

    Внешний вид. Комплекс измерения отражения (КИО), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 1 - Общий вид комплекса

    Внешний вид. Комплекс измерения отражения (КИО), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 2 - Маркировка комплекса


    Таблица 3

    Наименование

    Количество, шт.

    Спектрофометр Lambda 1050 зав. № 1050L1204235

    1

    Приставка 150 мм Интегрирующая сфера зав. № 0419120473

    1

    Образец сравнения SRS-99-020 AS-01161-060 №7A39F-4863

    1

    Опорный образец SRS-99-020 № 7A39F-7803

    1

    Источник бесперебойного питания

    1

    Лупа

    1

    Персональный компьютер

    1

    Компакт-диск c ПО UV WinLab

    1

    Руководство по эксплуатации

    1

    Методика поверки

    1


    приведены в таблице 2.

    Таблица 2

    Наименование характеристики

    Значение характеристики

    Диапазон длин волн, мкм

    от 0,25 до 2,50

    Диапазон измерений СКДО

    от 0,01 до 0,99

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении СКДО

    ±0,025

    Точность установки длины волны, мкм: - в диапазоне от 0,25 до 0,78 мкм

    ±8П0-5

    - в диапазоне от 0,78 до 2,50 мкм

    ±3П0-4

    Геометрия падения/отражения излучения

    8°/d

    Минимальные размеры измеряемого образца, мм:

    - диаметр

    30

    - толщина

    1,0

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающего воздуха, °С

    23±2

    - относительная влажность окружающего воздуха (без конденсации), %

    50±10

    - атмосферное давление, кПа

    от 96 до 104

    Питание от сети переменного тока: - напряжение, В

    220

    - частота, Гц

    50

    Габаритные размеры, мм

    1800x750x1400

    Масса, кг, не более

    103


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель