Номер по Госреестру СИ: 65490-16
65490-16 Комплекс измерения отражения
(КИО)
Назначение средства измерений:
Комплекс измерения отражения КИО (далее по тексту - комплекс КИО) предназначен для измерения спектральных коэффициентов диффузного отражения (далее - СКДО) черных покрытий твердых материалов в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,50 мкм при межоперационном и выходном контроле оптико-физических свойств оптических конструкционных деталей.
Внешний вид.
Комплекс измерения отражения
Рисунок № 1
Внешний вид.
Комплекс измерения отражения
Рисунок № 2
Notice: Undefined offset: 2 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 3 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 4 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 5 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 6 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 7 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 8 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 9 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/kurilka/si_type_info.php on line 258
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 250
Программное обеспечение
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 250
Программное обеспечение UV WinLab предназначено для работы в операционной системе Windows XP® и представляет собой многоцелевой программный пакет, состоящий из отдельных модулей, на основе которых возможно создание необходимых задач измерения. Программное обеспечение (далее - ПО) разделено на две части. Метрологически значимая часть ПО размещается в энергонезависимой памяти внутреннего микроконтроллера, доступ к которому исключен конструкцией комплекса. Интерфейсная часть ПО запускается на персональном компьютере и служит для отображения, обработки и сохранения результатов измерений.
Обмен данными между спектрофотометром и персональным компьютером осуществляется через интерфейс RS-232.
Идентификационные данные метрологически значимой части программного обеспечения указаны в таблице 1.
Таблица 1
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
Идентификационное наименование ПО |
UV WinLab |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
6.0 и выше |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
- |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
- |
Вход в ПО осуществляется при вводе логина и пароля.
Уровень защиты программного обеспечения комплекса от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» согласно Р 50.2.077-2014.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится типографским способом на титульный лист Руководства по эксплуатации и корпус спектрофотометра методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 308
Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные и технические документы
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 326
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 334
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 342
Нормативные документы, устанавливающие требования к комплексу измерения отражения КИО
ГОСТ 8.557-2007 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм.
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 015.М4-16 «Комплекс измерения отражения КИО. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 07 апреля 2016 г.
Основные средства поверки:
1 Набор мер СКДО из состава Государственного вторичного эталона единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,50 мкм по ГОСТ 8.557-2007.
Основные метрологические характеристики:
Суммарная стандартная неопределенность измерения СКДО при сличении с Государственным первичным эталоном ГЭТ 156-2015 при 10 независимых наблюдениях и доверительной вероятности Р = 0,95 не превышает:
- 0,010 в диапазоне длин волн от 0,25 до 0,40 мкм;
- 0,005 в диапазоне длин волн от 0,40 до 0,86 мкм;
- 0,020 в диапазоне длин волн от 0,86 до 2,50 мкм.
Диапазон измерений спектрального коэффициента диффузного отражения от 0,01 до 0,99.
2 Тонкоструктурный абсорбционный светофильтр ТАС-1 из состава Государственного первичного эталона единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм ГЭТ 156-2015 по ГОСТ 8.557-2007
Основные метрологические характеристики:
Погрешность стандартных линий поглощения:
- 0,05 нм в ультрафиолетовой и видимой областях спектра;
- 0,20 нм в инфракрасной области спектра.
Стандартные линии поглощения: 421.05; 541.57; 638.46; 881.45; 1127.80; 2016.54 нм. Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на переднюю панель корпуса спектрофотометра Lambda 1050, входящего в состав комплекса КИО (место нанесения указано на рисунке 2).
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 367
Изготовитель
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 367
АО «Научно-исследовательский институт микроприборов-К» (АО «НИИМП-К»)
ИНН 7735147066
Адрес: 124365, г. Москва, г. Зеленоград, Георгиевский проспект, дом 5
Телефон: +7 (495) 944-70-33
Факс: +7 (495) 944-70-33
E-mail: niimpk @ mail.compnet.ru
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 414
Испытательный центр
Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 358
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 468
Notice: Undefined offset: 0 in /var/www/www-root/data/www/oei-analitika.ru/lib_type_si_export.php on line 478
Принцип действия комплекса основан на сравнении потока излучения заданной длины волны, отраженного от измеряемого образца, с потоком излучения той же длины волны, отраженным от образца сравнения с известным СКДО.
Комплекс КИО включает в себя:
-
- спектрофотометр Lambda 1050 (далее - спектрофотометр), предназначенный для создания двулучевого монохроматического потока излучения, обработки и сохранения измерительной информации и выработки управляющих сигналов;
-
- приставку 150 мм интегрирующая сфера (далее - приставка), устанавливаемую в спектрофотометр вместо стандартного блока детекторов и предназначенную для сбора, регистрации, преобразования и передачи в спектрофотометр измерительной информации;
-
- калиброванный образец сравнения SRS-99-020, предназначенный для определения СКДО измеряемого образца;
-
- персональный компьютер с установленным программным обеспечением UV WinLab, предназначенный для управления комплексом;
-
- источник бесперебойного питания.
Комплекс КИО работает в режиме «двойного луча. Поток излучения от лампы делится на два равных монохроматических потока, которые попеременно направляются в интегрирующую сферу: один поток - на опорный образец, второй - сначала на образец сравнения, по отношению к которому производится измерение СКДО. Отраженные от образцов потоки после многократного отражения от стенок интегрирующей сферы собираются на детекторе, который преобразует их в пропорциональные потокам электрические сигналы 1оп и 1сравн. Сигналы усиливаются, обрабатываются, преобразуются электронными устройствами комплекса и направляются в память микропроцессора, где сохраняются в течение серии измерений. Затем на место образца сравнения устанавливают измеряемый образец и измеряют электрические сигналы 1оп и 1обр, пропорциональные потокам, попеременно отраженным от опорного образца и измеряемого образца. Сигналы усиливаются, преобразуются и направляются в микропроцессор. По отношению 1обр/1сравн измеренных сигналов и СКДО образца сравнения, заранее занесеннному в его память, микропроцессор рассчитывает СКДО измеряемого образца на заданной длине волны.
При измерении комплекс КИО сканирует диапазон длин волн от больших значений к меньшим.
Результаты измерений в виде зависимости СКДО от длины волны отображаются в режиме реального времени на мониторе компьютера и сохраняются в памяти результатов в табличной и графической формах.
Спектрофотометр содержит дейтериевую и вольфрам-галогенную лампы, двойной монохроматор с голографическими дифракционными решетками, двулучевую оптическую систему, кюветное отделение, преобразователь питания, съемный блок детекторов,
микрокомпьютерную электронику и панель соединителей для подключения внешних устройств, оснащенную интерфейсом RS 232.
Приставка состоит из интегрирующей сферы и системы оптических зеркал, которая проводит двулучевое излучение в интегрирующую сферу. Интегрирующая сфера содержит фотоумножитель расширенного диапазона PMT для диапазона длин волн от 0,25 до 0,86 мкм и детектор сульфид свинца PbS, термостабилизированный системой Пельтье, для диапазона длин волн от 0,86 до 2,50 мкм; платы электроники; плату предусилителя детектора; два входных порта; два выходных порта, снабженных держателями образцов; порт «зеркальной ловушки», снабженный заглушкой, для вывода из сферы зеркальной составляющей отраженного от образца потока излучения; три экрана для исключения попадания прямого потока излучения на детекторы; верхний загрузочный порт, снабженный заглушкой; опорный образец SRS-99-020.
Диаметр интегрирующей сферы составляет 150 мм, внутренняя часть ее покрыта материалом типа Spectralon.
Образец сравнения и опорный образец изготовлены из материала Spectralon и представляют собой цилиндры диаметром 50 мм и высотой 3 мм, закрепленные в пластиковые корпуса с защитными крышками диаметром 60 мм толщиной 18 мм.
Рисунок 1 - Общий вид комплекса
Рисунок 2 - Маркировка комплекса
Таблица 3
Наименование |
Количество, шт. |
Спектрофометр Lambda 1050 зав. № 1050L1204235 |
1 |
Приставка 150 мм Интегрирующая сфера зав. № 0419120473 |
1 |
Образец сравнения SRS-99-020 AS-01161-060 №7A39F-4863 |
1 |
Опорный образец SRS-99-020 № 7A39F-7803 |
1 |
Источник бесперебойного питания |
1 |
Лупа |
1 |
Персональный компьютер |
1 |
Компакт-диск c ПО UV WinLab |
1 |
Руководство по эксплуатации |
1 |
Методика поверки |
1 |
Таблица 2
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
Диапазон длин волн, мкм |
от 0,25 до 2,50 |
Диапазон измерений СКДО |
от 0,01 до 0,99 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении СКДО |
±0,025 |
Точность установки длины волны, мкм: - в диапазоне от 0,25 до 0,78 мкм |
±8П0-5 |
- в диапазоне от 0,78 до 2,50 мкм |
±3П0-4 |
Геометрия падения/отражения излучения |
8°/d |
Минимальные размеры измеряемого образца, мм: - диаметр |
30 |
- толщина |
1,0 |
Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, °С |
23±2 |
- относительная влажность окружающего воздуха (без конденсации), % |
50±10 |
- атмосферное давление, кПа |
от 96 до 104 |
Питание от сети переменного тока: - напряжение, В |
220 |
- частота, Гц |
50 |
Габаритные размеры, мм |
1800x750x1400 |
Масса, кг, не более |
103 |