Сведения о средстве измерений: 60143-15 Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности

Номер по Госреестру СИ: 60143-15
60143-15 Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности
(Nanoscan 755, Nanoscan 855)

Назначение средства измерений:
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855, предназначены для измерений геометрических параметров шероховатости и контура поверхности исследуемых изделий, таких как: цилиндрические поверхности, отверстия, плоские поверхности, глубокие отверстия малого диаметра, различные виды резьб, а также изделия с асферической геометрией.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности
Рисунок № 1

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства - 13.03.2020
Номер записи - 150991
ID в реестре СИ - 373391
Тип производства - серийное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 2 года
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Nanoscan 855, Nanoscan 755,

Производитель

Изготовитель - Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH"
Страна - ГЕРМАНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Город Омск был основан в 1716 году. Официально получил статус города в 1782 году. С 1934 года - административный центр Омской области. Площадь Омска составляет 566,9 кв. км. Территория города разделена на пять административных округов: Центральный, Советский, Кировский, Ленинский, Октябрьский. Протяженность города Омска вдоль реки Иртыш составляет около 40 км.

Расстояние от Омска до Москвы составляет 2 555 км. Климат Омска резко континентальный. Зима суровая, продолжительная, с устойчивым снежным покровом. Лето теплое, часто жаркое. Весна и осень характеризуются резкими колебаниями температуры. Средняя температура самого теплого месяца (июля): +18˚С. Средняя температура самого холодного месяца (январь): -19˚С.

Численность населения на 1 января 2022 года составляет 1 126 193 человека. Плотность населения составляет 1 949 человек на 1 кв. км. Омск - один из крупнейших городов Западно-Сибирского региона России. Омская область соседствует с Тюменской областью на западе и севере, с Томской и Новосибирской областями на востоке и с Республикой Казахстан на юге и юго-западе.

Отчет "Анализ рынка поверки в Омске" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Омск.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 3 000 руб.

Статистика

Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 2
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 3
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 455 дн.

Наличие аналогов СИ: Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
28150-07
01.06.2012
Установки для измерений параметров валов , Opticline Contour
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
1 год
28150-13
06.06.2018
Установки для измерений параметров валов , Opticline Contour
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
1 год
53053-13
25.03.2018
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности, Hommel-Etamic T1000
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
53214-13
12.04.2018
Приборы для измерений параметров шероховатости, волнистости и профиля поверхности, Hommel-Etamic T8000, HOMMEL-ETAMIC C8000
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
53512-13
15.05.2018
Меры для поверки установок, Opticline Contour
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
53739-13
07.05.2023
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности, Hommel-Etamic W5
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
54219-13
16.07.2018
Приборы для измерений параметров шероховатости, Hommel-Etamic W55
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
56367-14
24.12.2023
Приборы для измерений отклонений формы и расположения поверхностей, Hommel-Etamic F50, F135, F155, F435, F455, Roundscan 535, Roundscan 555 и Roundscan 590
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
2 года
60143-15
13.03.2020
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, Nanoscan 755, Nanoscan 855
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
МП
2 года

Хабаровск - город в России, административный центр Хабаровского края. Один из крупнейших политических, образовательных и культурных центров Дальнего Востока России. Крупнейший город на Дальнем Востоке с населением 617 441 человек.

Расположен в центре пересечения международных железнодорожных и воздушных транспортных путей на правом берегу Амурской протоки и реки Амур на Среднеамурской низменности, недалеко от границы с Китаем (на катере от речного вокзала до ближайшего китайского города Фуюань около 65 км).

Экономика Хабаровского края диверсифицирована, базируется на развитом и многоотраслевом промышленном производстве, транспортном обслуживании основных грузопотоков. Ведущими отраслями хозяйственного комплекса края являются промышленность (24,6% валового регионального продукта), транспорт и связь (17,3%), торговля (13,9%). В промышленном производстве доля обрабатывающих отраслей составляет более 79%. Основными отраслями промышленности региона являются металлургия, машиностроение, энергетика, нефтепереработка, добыча - угля и руд цветных металлов и производство продуктов питания.

Отчет "Анализ рынка поверки в Хабаровске" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Хабаровск.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 3 000 руб.

Кто поверяет Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ФГУП "ВНИИМС"
(01.00225-2011)
РСТ
  • Nanoscan 855
  • Nanoscan 755
  • 3 1 1 0 1 1 0
    ФГУП "ВНИИМС"
    (RA.RU.311493)
    РСТ
  • 1 0 0 0 0 0 0
    ФГБУ "ВНИИМС"
    (RA.RU.311493)
    РСТ
  • Nanoscan 755
  • 1 0 1 0 1 0 1

    Стоимость поверки Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость
    ФБУ Тест-С.-Петербург
    Санкт-Петербург
    19470 20655
    ФБУ Тест-С.-Петербург
    Санкт-Петербург
    21840 20655

    Программное обеспечение

    Приборы для измерений параметров шероховатости и контура Nanoscan 755, Nanoscan 855 оснащены программным обеспечением TURBOWAVE и EVOVIS. Вычислительные алгоритмы ПО расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах и не могут быть модифицированы, они блокируют редактирование для пользователей и не позволяет удалять, создавать новые элементы или редактировать отчеты. Идентификационные данные программного обеспечения приведены в Таблице 1.

    Таблица 1

    Наименование программного обеспечения

    Идентификацион ное наименование программного обеспечения

    Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения

    Цифровой идентификатор программного обеспечения

    Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения

    EVOVIS

    EVOVIS

    1.34

    USB-ключ HASP

    Бинарный

    TURBOWAVE

    TWW

    7.55

    USB-ключ HASP

    Бинарный

    Программное обеспечение является неизменным. Средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.

    Главной защитой ПО является USB-ключ-заглушка. HASP (программа, направленная на на борьбу с нарушением авторских прав на компьютерное пиратство) использует 128-битное шифрование по алгоритму AES (симметричный алгоритм блочного шифрования информации), что позволяет предотвратить неавторизованное использование ПО.

    Защита программного обеспечения приборов соответствует уровню «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа наносится на Руководство по эксплуатации прибора типографским методом, на панель блока прибора методом наклейки.


    Сведения о методиках измерений


    Нормативные и технические документы

    Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к приборам для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855

    ГОСТ 8.296-78 «ГСИ. Государственный специальный эталон и общесоюзная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax и Rz в диапазоне 0,025... 1600 мкм».

    ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1-10-9 .. .50 м и длин волн в диапазоне 0,2 ... 50 мкм».

    Техническая документация фирмы - изготовителя.

    Изготовитель

    Hommel-Etamic GmbH, Германия
    Address: Alte Tuttlinger StraBe 20,
    78056 VS-Schwenningen, Phone +49 7720 602-0 Fax: +49 7720 602-123
    E-mail: info.de@hommel-etamic.com

    Заявитель


    ЗАО «Мастер-ФИТ»
    192171, г. Санкт-Петербург, ул. Седова, 65А
    Тел. (812) 336-40-50, факс (812) 560-00-22
    Адрес эл. почты: meritel@metrologi.ru

    Испытательный центр


    Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)
    Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
    Телефон: (495) 437 55-77, факс: (495) 437-56-66,
    E-mail: office@vniims.ru

    Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855 (далее - приборы) состоят из следующих элементов.

    Гранитной плиты, установленной на элементах воздушного демпфирования с 3 пневмоподушками. Система воздушного демпфирования с функцией регулирования удерживает гранитную плиту на постоянном уровне, независимо от нагрузки, и в то же время, служит для подавления вибраций. Необходимое давление воздуха регулируется с помощью модуля пневмоподготовки.

    На гранитной плите расположены трехосевой измерительный столик для установки и позиционирования на нем исследуемых объектов, а также моторизованная вертикальная колонна. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения waveline 200 nanoscan, на который устанавливается щуповая консоль для проведения измерений геометрических параметров шероховатости и контура поверхности.

    Действие прибора основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности наконечником измерительного щупа и преобразования, возникающих при этом механических колебаний щупа в импульсы напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются электронным блоком.

    При проведении высокоточных измерений используются щуповые консоли стандартной длины (измерительный диапазон 24 мм/разрешение 0,6 нм) и двойной длины (измерительный диапазон 48 мм/разрешение 1,2 нм). Перемещение щуповой консоли отслеживается с помощью прецизионной оптико-механической системы, в которой оптический датчик отслеживает латеральное перемещение щуповой консоли по исследуемому образцу.

    Узел крепления щуповых консолей снабжен магнитными держателями и выполняет дополнительную функцию защиты от перегрузок. Приборы комплектуются щуповыми консолями различной геометрии для разных применений, например, для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, характеризующихся разными углами наклона, горизонтальных, выпуклых и вогнутых поверхностей, для измерений в отверстиях и т.д. Щуповая консоль оборудована RFID-чипом, что позволяет сохранять калибровочные данные щупа и избавляет от необходимости калибровки прибора при каждой смене щуповой консоли. Щуповые консоли распознаются автоматически и данные считываются с помощью программного обеспечения. Автоматически задается значение измерительного усилия в зависимости от радиуса используемого наконечника щуповой консоли. Однако при необходимости значение измерительного усилия можно настроить вручную под условия конкретного измерения.

    Блок ручного наклона привода waveline 200 nanoscan позволяет провести выравнивание плоскости сканирования (по оси Х) к поверхности образца. Угол позиционирования возможен в диапазоне ± 20° и позволяет выполнять удобное грубое выравнивание.

    Результаты измерения выводятся на монитор компьютера и могут быть использованы для дальнейших расчетов.

    Прибор для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755 также предназначен для измерения геометрических параметров асферических линз, вследствие чего комплектуется дополнительной щуповой консолью (щуповая консоль с измерительным диапазоном 48 мм и разрешением 1,2 нм) и ПО TURBOWAVE со специальной опцией, способной задавать форму геометрии контролируемой асферической линзы.

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 1 - Внешний вид прибора для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855


    Приборы для измерений параметров шероховатости и контура Nanoscan 755, Nanoscan

    855 поставляются в комплекте:

    Таблица 3

    Модель прибора

    Nanoscan

    755

    Nanoscan

    855

    Моторизованная колонна

    +

    +

    Привод waveline 200 nanoscan

    +

    +

    Опора с поворотным устройством

    +

    +

    Г ранитная плита

    +

    +

    Пульт управления wavecontrol

    +

    +

    Измерительный стол MT1 XY0

    +

    +

    Щуповые консоли:

    Щуповая консоль с диапазоном измерения 24 мм, щуп 2 мкм/60°

    -

    +

    Щуповая консоль с диапазоном измерения 48 мм и рубиновым наконечником диаметром 1 мм

    +

    -

    Щуповая консоль с диапазоном измерения 24 мм и рубиновым наконечником диаметром 1 мм

    -

    +

    Стол для оператора с тумбой для ПК

    +

    +

    ПК с ОС Windows 7

    +

    +

    Руководство по эксплуатации

    +

    +

    Методика поверки

    +

    +


    Таблица 2

    Модель

    Nanosean 755

    Nanosean 855

    Измеряемые параметры шероховатости:

    Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, Rsk, Imo, Io, Rdq, da,

    ln, La, Lq, Rz-ISO, R3z,

    Rpm, Rp3z, R3zm,

    Rp, D, Rpe, RSm, Rpm/R3z, lr, Rku, tpif,

    Rde, tpia, tpip, tpie, Rt/Ra, Rz1, Rz2, Rz3,

    Rz4, Rz5, Rmr, Rmr%, Api, Rpk

    Измеряемые параметры профиля:

    Pt, Pp, Pz, Pa, Pq, Psk, PSm, Pdq, lp, Pku, tpaf, tpaa, tpab, tpae, Pmr0, APa, APa%,

    Pmr, Pmr%, Pde

    Типы фильтров

    RC, аналоговый фильтр, цифровой Гауссов фильтр (М1), двойной Гауссов фильтр (М2), грубый Гауссов фильтр

    Отсечка шага Хе, мм

    0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8

    Соотношение Xe/Xs

    30, 100, 300

    Предел допускаемой основной относительной погрешности прибора по параметру Ra, %

    3

    Пределы допускаемой погрешности при измерении длины по

    ± (1 +0,015 •Х), где Х -измеряемая длина в

    оси X, мкм*

    мм

    Пределы допускаемой погрешности при измерении длины по

    ± 2-(0,25 +0,04-Z), где Z -измеряемая

    оси Z, мкм*

    высота в мм

    Пределы допускаемой погрешности при измерении углов....'

    ±0,5

    Программное обеспечение

    TURBOWAVE

    EVOVIS

    Щуповые консоли

    Диапазон измерений параметров шероховатости по оси Z, мм

    от 0 до 24/ от 0 до 48

    от 0 до 24

    Разрешение, нм

    0,6/1,2

    0,6

    Измерительное усилие, мН (регулируемое)

    от 1 до 50

    от 1 до 50

    Наконечник щуповой консоли

    Алмаз 5 мкм/90°,

    Алмаз 5 мкм/90°,

    2 мкм/60°, рубиновый

    2 мкм/60°,

    наконечник 0 1 мм,

    рубиновый

    твердосплавный

    наконечник 0 1 мм,

    наконечник 0 20 мкм

    твердосплавный

    наконечник 0 20

    мкм

    Горизонтальный привод (ось Х)

    Диапазон измерений, мм

    от 0 до 200

    Скорость при измерении, мм/с

    0,1-3

    Максимальная скорость позиционирования, мм/с

    9 мм/с

    Допускаемое отклонение от прямолинейности перемещения

    <0,4

    по оси Х, мкм/200 мм

    Вертикальная колонна (ось Z)

    Диапазон перемещений, мм

    от 0 до 550

    Скорость позиционирования, мм/с

    0,1-50

    Повторяемость позиционирования щупа по оси Z, мкм

    <10

    Измерительный стол:

    Диапазон перемещений, мм

    ±12,5 мм

    Диапазон вращения относительно вертикальной оси,. °

    Габариты измерительного стола, мм, не более

    ±5

    Длина

    160

    Ширина

    160

    Высота

    96

    Масса измеряемой детали, кг, не более

    30

    Электропитание:

    Напряжение

    115/230 В

    Допускаемое колебание напряжения

    -5 % - 10 %

    Частота

    50-60 Гц

    Мощность

    370/350 ВА

    Сжатый воздух: Давление, бар

    5 - 6

    Расход, л/ч

    1

    Условия эксплуатации:

    Диапазон рабочих температур, °С

    от 18 до 25

    Температурный градиент, °С/ч

    ± 1

    Относительная влажность воздуха, %

    от 40 до 85

    Размеры стола для Nanoscan, мм Длина

    1190

    Ширина

    800

    Высота

    780

    Размеры гранитной плиты, мм Длина

    850

    Ширина

    600

    Высота

    140

    * - с щуповой консолью длиной 90 мм и сферическим наконечником.


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель