Номер по Госреестру СИ: 46349-10
46349-10 Микроскоп сканирующий зондовый
(MultiMode V)
Назначение средства измерений:
Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode V (далее - микроскоп), предназначен для измерения топографии поверхности.
Микроскоп применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Внешний вид.
Микроскоп сканирующий зондовый
Рисунок № 1
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 134960
ID в реестре СИ - 357360
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
MultiMode V,
Производитель
Изготовитель - Фирма "VEECO"
Страна - СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.
Отчет «Количество типов средств измерений в ФГИС АРШИН по группам СИ» предназначен для сравнительного анализа количества утвержденных типов средств измерений, приходящихся на различные группы СИ. Отчет состоит из двух графиков (одной круговой и одной столбчатой диаграммы) и двух интерактивных таблиц. Таблицы обладают функцией поиска и сортировки по любой из колонок.
Стоит отметить, что отнесение того или иного типа СИ к группе СИ осуществляется не вручную, а с использованием специального программного алгоритма по ключевым словосочетаниям. При таком подходе качество распределения СИ и покрытие реестра типов СИ АРШИНА зависит от качества, предложенных словосочетаний. По этой причине 20% типов СИ, занесённых в АРШИН автоматически распределить не удалось, что не должно существенно отразиться на процентном соотношении или пропорции между группами СИ.
На круговой диаграмме показано количественное соотношение между группами СИ по количеству утвержденных типов СИ. Ввиду того, что некоторые типы СИ могут входить в разные группы, суммарное количество типов СИ, приведенных на диаграмме будет превышать кол-во типов СИ, представленных в ФГИС АРШИН. Как и следовало ожидать, самые большие пропорции занимают однословные классические группы СИ (АИИС, преобразователи, системы, резервуары, трансформаторы … и др.)
В отличии от круговой диаграммы столбчатая демонстрирует тоже разделение типов СИ по группам СИ, но уже в динамике по годам начиная с 2016 года.
Статистика
Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 3
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 2
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№504 от 2017.03.10 О продлении срока действия свидетельств (44 позиции)
Наличие аналогов СИ: Микроскоп сканирующий зондовый (MultiMode V)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Кто поверяет Микроскоп сканирующий зондовый (MultiMode V)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2024 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ФБУ "ЦСМ Татарстан" (RA.RU.311394) | РСТ | 4 | 0 | 3 | 0 | 3 | 0 | 3 | ||
| ФБУ "ЦСМ Татарстан" (RA.RU.311394) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Стоимость поверки Микроскоп сканирующий зондовый (MultiMode V)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|---|---|
|
ФБУ ЦСМ Татарстан Республика Татарстан |
32241 | 32241 |
Заключение
Тип микроскопа сканирующего зондового MultiMode V утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и эксплуатации согласно государственной поверочной схеме.
СОГЛАСОВАНО
Приложение к свидетельству °б утверждении типа средств измерений
.И.Реут
2010 г.
тель ГЦИ СИ -
УП ВНИИР
|
Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode V |
Внесены в Государственный реестр средств измерений Регистрационный № 14(Ъ5Ч9- (0 |
Изготовлен по технической документации фирмы VEECO (США), заводской номер № 1124208.
НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯМикроскоп сканирующий зондовый MultiMode V (далее - микроскоп), предназначен для измерения топографии поверхности.
Микроскоп применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Микроскоп представляет собой автоматизированную многофункциональную измерительную систему.
Принцип действия микроскопа основан на измерении топографии поверхности методом сканирующей зондовой микроскопии.
В состав микроскопа входит микроскопа MuiltiMode V, контроллер, вспомогательные микроскопы и персональный компьютер.
Управление процессом измерений осуществляется от контроллера и персонального компьютера с помощью программного обеспечения. Управляющие сигналы от контроллера поступают в измерительную головку. Управление контроллером осуществляется с помощью компьютерного программного обеспечения. При помощи программного обеспечения осуществляется настройка прибора, оптимизация его параметров, управление режимами работы, выполнение сканирования, обработка результатов измерений и их хранение.
Конструктивно микроскоп выполнен в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером.
Условия эксплуатации микроскопа:
от плюс 10 до плюс 35; от 30 до 80;
от 84 до 106,7.
50± 1;
3000. периодический, от 1 до 1000
±0,5
200x200x350
3
-
- температура окружающей среды, °C
-
- относительная влажность при 25 °C, %
-
- атмосферное давление, кПа
Напряжение:
-
- от сети переменного тока, В
-
- частота питающей сети, Гц
-
- потребляемая мощность от источника питания, ВА, не более
Режим работы
Диапазон измерений, нм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности микроскопа, нм
Габаритные размеры микроскопа, не более, мм Масса, не более, кг