Сведения о средстве измерений: 37836-08 Микроскоп электронный растровый

Номер по Госреестру СИ: 37836-08
37836-08 Микроскоп электронный растровый
(JSM-7401F)

Назначение средства измерений:
Микроскоп электронный растровый JSM-7401F предназначен для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур. Микроскоп применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

сертификация программного обеспечения

Общие сведения

Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 125067
ID в реестре СИ - 347467
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да

Модификации СИ

Микроскоп электронный растровый JSM-7401F,

Производитель

Изготовитель - Фирма "Jeol"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да

Исследование "Анализ рынка поверки Дальневосточного федерального округа" предоставляет исчерпывающую информацию об организациях, оказывающих услуги поверки на территории Дальнего Востока России и Восточной Сибири.

Параметры исследований:

  • фильтр по работающим в округе организациям-поверителям по данным ФСА и ФГИС АРШИН
  • объемы первичных и периодических поверок за период 2017г. по н.в.
  • фильтр по местам осуществления деятельности
  • предоставление информации в графическом и табличном видах
  • детальное рассмотрение деятельности каждой из организаций округа по годам
  • анализ в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений
  • количество поверок по типам СИ в динамике по годам
  • индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей
  • анализ цен на поверку СИ по Фед. округу

Стоимость 3 000 руб.

Статистика

Кол-во поверок - 2
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.

Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронный растровый (JSM-7401F)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Фирма "Jeol"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
18995-99

Масс-спектрометр с хроматографом "Jeol", JMS-D 300
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
1 год
37836-08

Микроскоп электронный растровый, JSM-7401F
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
39763-08

Микроскоп электронный растровый, JSM-7001F
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
39772-08

Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-2100F
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
50908-12

Микроскоп электронный растровый, JSM-6460LV
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
50909-12

Микроскоп электронно-ионный растровый, JIB-4500
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
51413-12

Микроскоп электронный просвечивающий, JEM-2100
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
1 год
61320-15
21.08.2025
Анализаторы биохимические автоматические, Bio Majesty JCA-BM6010/C
Фирма "Jeol" (ЯПОНИЯ )
ОТ
МП
1 год

Простой и наглдяный отчет, дающий представление о специализации организации-поверителя и ее измерительных возможностях. Отчет строится по данным о поверках, переданных в ФГИС АРШИН за последний год (365 дней) и состоит из таблицы с функцией поиска и сортировки по любой из колонок и круговой диаграммы, визуализирующей данные, представленные в таблице.

Таблица может вклчать до нескольких десятков тысяч строк (для больших ЦСМ).

Таблица включает данные о наименовании и типе СИ (с ссылкой на гос. реестр) по которым проводились поверки, количество выполненных поверок и наименование предприятия-изготовителя средства измерений.

В таблице по каждой из организаций за выбранный временной интервал представлена следующая информация:

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп электронный растровый (JSM-7401F)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2024 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • Микроскоп электронный растровый JSM-7401F
  • 2 0 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп электронный растровый (JSM-7401F)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа наносится на корпус микроскопа и на титульный лист руководства по эксплуатации.


    Сведения о методиках измерений


    Нормативные и технические документы

    • 1. ГОСТ 12997-84 «Изделия ГСП. Общие технические условия».

    • 2. ГОСТ Р 51350-99 «Безопасность электрических контрольно-измерительных приборов и лабораторного оборудования. Общие требования».

    • 3. Основные санитарные правила обеспечения радиационной безопасности (ОСПОРБ-99). СП 2.6.1.799-99 Минздрав России, 2000.

    • 4. Техническая документация фирмы-изготовителя «JEOL», Япония.

    Поверка

    Поверка микроскопа проводится в соответствии с ГОСТ Р 8.631-2007 «ГСИ. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки»

    При поверке применяются: мера, изготовленная по ГОСТ Р 8.628-2007 «ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления» и поверенная по ГОСТ Р 8.629-2007 «ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки».

    Межповерочный интервал — 1 год.


    Изготовитель

    - фирма «JEOL», Япония

    Микроскоп электронный растровый JSM-7401F представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему.

    Микроскоп оснащен катодом с полевой эмиссией холодного типа.

    Микроскоп состоит из электронно-оптической системы (колонны), камеры объектов с механизмом перемещения объектов и устройством шлюзования, двух детекторов вторичных и одного детектора отраженных электронов, вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока электроники.

    Вакуумная система включает в себя диффузионный и форвакуумный насосы для откачки рабочей камеры микроскопа и 3 ионных насоса для обеспечения вакуума в катодном узле и электронной колонне.

    Микроскоп обеспечивает работу, как в режимах регистрации вторичных электронов, так и в режиме регистрации отраженных электронов.

    Принцип получения изображения в микроскопе электронном растровом JSM-7401F заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных электронов, при сканировании сфокусированного электронного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.

    Создание изображения объектов в режиме «Gentle Beam» обеспечивается благодаря торможению первичного пучка полем держателя образца, в результате чего сохраняется возможность наблюдения объекта при пониженных ускоряющих напряжениях с достаточно высоким разрешением.

    При работе микроскопа обеспечиваются безопасные условия труда оператора. При максимальных значениях ускоряющего напряжения и тока зонда мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения в любой доступной точке на расстоянии 10 см от поверхности колонны и камеры объектов микроскопа не превышает 1 мкЗв/ч.


    В комплект единичного экземпляра микроскопа электронного растрового JSM-7401F, зав. № SM18100077, входят:

    • 1. Микроскоп электронный растровый JSM-7401F                                -1 шт.

    • 2. Комплект ЗИП и расходные материалы                                     -1 шт.

    • 3. Тест-объекты - образцы островковой пленки золота на углероде                 - 1шт.

    • 4. Руководство по эксплуатации                                                  - 1 шт.


    2.Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах

    при 15 кВ не более, нм

    3 .Диапазон регулировки увеличения, крат.......................................................25-5-1000000

    • - стенд с колонной, агрегатом вакуумным, ВКУ.................................990x790x1850

    • - видеоконтрольный блок............................................................1200x1000x700

    • - блок питания..............................................................................900x450x700

    10.Общая масса без ЗИП и упаковки не более, кг...................................................1200

    • II. Условия эксплуатации:

    • - диапазон температуры окружающего воздуха, °C........................................20 ± 5

    • - относительная влажность воздуха, %..........................................................................50^-80

    • - диапазон атмосферного давления, кПа........................................................84-5-107


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель