Номер по Госреестру СИ: 79934-20
79934-20 Установка контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоев
(КТ-1)
Назначение средства измерений:
Установка контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоев КТ-1 (далее по тексту - установка) предназначена для автоматизированного измерения толщин полупрозрачных пленок (полупроводниковые, диэлектрические, электрооптические, SOI или SOS материалы; многослойные, оптические антиотражающие покрытия; тонкие металлы; материалы планарных волноводов; стекло с покрытием; многослойные тонкопленочные структуры).
Внешний вид.
Установка контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоев
Рисунок № 1
Внешний вид.
Установка контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоев
Рисунок № 2
Программное обеспечение
Управление процессом измерения в установке осуществляется с помощью специального программного обеспечения Rudolph Technologies: Operator. Программное обеспечение служит для настройки эллипсометра, проведения измерений, анализа и обработки полученных данных.
ПО имеет пользовательский интерфейс, ввод данных производится с помощью клавиатуры и мыши на персональном компьютере.
Программное обеспечение (ПО) имеет следующие идентификационные данные: Таблица 1
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
Идентификационное наименование ПО |
Rudolph Technologies: Operator |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
не ниже 7.8431 S |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
- |
Программное обеспечение устанавливается в определенную директорию жесткого диска персонального компьютера. Несанкционированный доступ к программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя, а также наличием пароля.
Установка обновленных версий ПО допускается только представителями предприятия - изготовителя с помощью специального оборудования.
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» согласно Р 50.2.077-2014.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится типографским способом на титульный лист Руководства по эксплуатации и на корпус прибора методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные и технические документы
Нормативные документы, устанавливающие требования к установке контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоёв КТ-1Локальная поверочная схема средств измерений толщины покрытий в диапазоне значений от 1 до 1000 нм, утвержденная ФГУП «ВНИИОФИ» 08.08.2019
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП 030.М44-20 «ГСИ. Установка контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоев КТ-1. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 04 сентября 2020 г.
Основные средства поверки:
Рабочий эталон единицы длины в области измерений толщины оптических покрытий в диапазоне значений от 10 до 1000 нм (регистрационный номер в Федеральном информационном фонде 3.1.ZZA.0123.2019).
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых средств измерений с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
Изготовитель
Общество с ограниченной ответственностью «Автоматизированная система контроля и диагностирования «ИБИС» (ООО «АСКД «ИБИС»)Адрес: 141018, Россия, Московская область, г. Мытищи, ул. Летная, стр. 19, помещ. 414
ИНН 5029226507
Тел: +7 (965) 308-45-45
E-mail: ackd-ibis@yandex.ru
Испытательный центр
Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
Телефон: +7 (495) 437-56-33
Факс: +7 (495) 437-31-47
Web-сайт: www.vniiofi.ru
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Принцип действия установки основан на эллипсометрическом методе измерения тонких пленок. Установка состоит из измерительного модуля и SMIF-загрузчика для автоматического размещения измеряемых образцов пленок в измерительном модуле.
В установке реализованы методы эллипсометрического исследования тонких пленок - спектральная эллипсометрия с вращающимся компенсатором в диапазоне длин волн от 633 до 905 нм и многоракурсная поляризационная рефлектометрия в диапазоне длин волн от 190 до 905 нм.
Общий вид установки пред ставлен на рисунке 1.
Место пломбировки представлено на рисунке 2.
КТ-1зав. № 001
2
Места пломбировки
Рисунок 2 - Места пломбировки
Таблица 4
Наименование характеристики |
Обозначение |
Количество |
Установка контроля толщины диэлектрических и поликремниевых слоев КТ -1 |
зав.№ 001 |
1 шт. |
SMIF-загрузчик ARM 1150 |
- |
1 шт. |
SMIF-контейнер для пластин Asyst 9700-4950-01 |
- |
1 шт. |
Кассета для пластин FB15A100H02 |
- |
1 шт. |
Устройство открытия-закрытия SMIF-контейнеров Pod Opener |
- |
1 шт. |
Сосуд |
ГНДИ.307441.001 |
1 экз. |
Методика поверки |
МП 030.М44-20 |
1 экз. |
Руководство по эксплуатации |
000.037.МК03 РЭ |
1 экз. |
Таблица 2 - Метрологические характеристики
Наименование характеристики |
Значение |
Диапазон измерений толщины, нм |
от 10 до 1000 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений толщины, нм |
±2 |
Таблица 3 - Основные технические характеристики
Наименование характеристики |
Значение |
Диапазон показаний толщины, нм |
от 1,5 до 30000 |
Спектральный диапазон длин волн, нм |
от 190 до 905 |
Напряжение электропитания, В |
220 ± 10 |
Частота сети питания, Гц |
50 ± 1 |
Мощность, 1ТА |
4900 |
Габаритные размеры, мм, не более |
1752x1041x1803 |
Масса, кг, не более |
832 |
Условия эксплуатации:
|
от +15 до +25 80 от 84 до 106,7 |