Номер по Госреестру СИ: 63408-16
63408-16 Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами
(МИМ-340)
Назначение средства измерений:
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340 (далее по тексту - микроскопы МИМ), предназначены для трехмерного анализа рельефа отражающей поверхности в микро- и нанодиапазоне, создания графических изображений и их цифрового анализа с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта.
Внешний вид.
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами
Рисунок № 1
Программное обеспечение
Для управления микроскопами МИМ предназначена рабочая станция с двумя мониторами и установленным программным обеспечением: MIMSoft-3 - для настройки и управления работой оптической системы микроскопов МИМ, MIM Visualizer - для анализа и обработки результатов исследования; MIM Stage - для управления длинноходовым предметным столом.
Программа MIM Soft-3 предназначена для управления оптической системой микроскопов МИМ. Она позволяет использовать любые аппаратные и программные настройки узлов оптической системы микроскопов МИМ для работы в различных режимах, а также получать и сохранять исследовательские данные и настройки всех узлов оптической системы микроскопов в специальном формате .tlk. Позволяет оптимизировать процедуру получения изображений исследуемого образца микроструктуры в режимах измерения микрорельефа, белого света, отражения в лазерном свете при различных поляризациях.
Программа MIM Stage предназначена для управления длинноходовым предметным столом микроскопов МИМ и позволяет получать, использовать и сохранять аппаратные и программные настройки элементов длинноходового предметного стола для работы приборов в различных режимах перемещения длинноходового предметного стола, а также обеспечивает взаимосвязь растровых и интерференционных датчиков перемещений с контроллерами управления координатными приводами длинноходового предметного стола по особому алгоритму, обеспечивающему минимальную ошибку позиционирования при подходе к точке с заданными координатами
Программа MIM Visualizer предназначена для визуализации и обработки результатов исследования материаловедческой микроструктуры на микроскопах МИМ. Программа предназначена для редактирования фазовых изображений, калибровки масштаба изображения, формирования «масштабного отрезка», измерения длин отрезков и углов, медианной фильтрации изображения; построения профиля сечения фазового изображения в произвольном направлении, восстановления скачков фазы 1/2, анализа гистограммы распределения высот и вычитания фона, пространственного Фурье-преобразования изображения и вычитания шумов, вычитания поверхностей первого и второго порядка, поворота изображения на произвольный угол; построения и отображения трехмерного вида объекта.
Таблица 1
Идентификационные данные (признаки) |
Значение | ||
Идентификационное наименование ПО |
MIM Visualizer |
MIM Soft-3 |
MIM Stage |
Номер версии (идентификационный номер )ПО |
1.0.0.1 |
1.0.0.1 |
1.0.0.1 |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
f32c1789d26e20b5e8421 45f806431de |
5e873a48492 8e754bae02d 1a573cd504 |
c9d8af31e15 720c4f9c0a5 6ab2aa9c14 |
Алгоритм хэширования |
MD5 |
MD5 |
MD5 |
Программное обеспечение размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера. Несанкционированный доступ к программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.
Защита ПО от преднамеренных и непреднамеренных воздействий соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типананосится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати и на корпус микроскопа методом наклеивания.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений
«Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами модель МИМ-340. Руководство по эксплуатации 4001.00000000 РЭ», раздел 8
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопам лазерным МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340ТУ 4431-131-07539541-2012 «Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340. Технические условия»
Поверка
Поверкаосуществляется по документу МП057.М44-15 «ГСИ. Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 15 апреля 2015 г.
Основные средства поверки:
1 Эталон - мера периода и высоты линейная TGZ2 (ГР СИ № 41678-09) с
аттестованным значением абсолютной погрешности определения высоты выступов не более ± 0,005 мкм.
2 Мера периода линейная TDG01 (ГР СИ № 41676-09), пределы абсолютной
погрешности определения высоты выступов не более ± 0,001 мкм.
Изготовитель
Акционерное общество «Производственное объединение «Уральский оптикомеханический завод» имени Э.С. Яламова» (АО «ПО «УОМЗ»)ИНН 6672315362
620100, г. Екатеринбург, ул. Восточная, 33б
Тел.: +7(343) 229-81-09; Факс: +7(343) 254-81-09
E-mail: kancelyariya@uomz.com; Web: http://www.uomz.ru
Испытательный центр
Федерального Государственного Унитарного Предприятия «Всероссийский научноисследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46
Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47
E-mail: vniiofi@vniiofi.ru
Принцип действия микроскопов лазерных МИМ с длинноходовым предметным столом, основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженных от опорного зеркала и поверхности измеряемого микрообъекта.
Основой микроскопов МИМ является микроинтерферометр, построенный по схеме Линника. Для расширения диапазона и повышения точности измерений реализован метод дискретного фазового сдвига при помощи управляемого от компьютера зеркала на пьезоэлементе (пьезозеркала), встроенного в опорное плечо микроинтерферометра. Интерференционные картины при различных положениях пьезозеркала регистрируются с помощью высокочувствительной видеокамеры и обрабатываются на ПЭВМ. В результате обработки восстанавливается оптическая разность хода, на основе которой получаются данные о высоте профиля поверхности. Микроскоп позволяет измерять параметры высоты профиля поверхности, изменяющиеся во времени - динамические параметры, с частотой до 3 Гц в диапазоне от 0,03 до 3 мкм в латеральной плоскости и от l/350 до l/4 по высоте. Результаты измерений отображаются на экране компьютера в виде топографических изображений (псевдоцветных карт), а также двумерных профилей с текстовой (цифровой) информацией о структуре и статистических параметрах рельефа измеряемого микрообъекта
Места нанесения маркировки и знака поверки
Место
пломбирования
Рисунок 1 - Общий вид микроскопов лазерных МИМ с длинноходовыми предметными столами модель МИМ-340 с обозначением мест пломбирования, нанесения маркировки и знака поверки
Таблица 3
Наименование и обозначение |
Количество, шт. |
Микроскоп лазерный МИМ с длинноходовым предметным столом |
1 |
Станция рабочая iMac с монитором Apple Thunderbolt Display |
1 |
Компакт-диск с руководством по эксплуатации 4001.00000000 РЭ |
1 |
Продолжение таблицы 3
Наименование и обозначение |
Количество, шт. |
Паспорт 4001.00000000 ПС |
1 |
Упаковка 4001.02000000- ящики для транспортировки |
Р |
Компрессор винтовой АВАС GENESIS 5,5-13/2702) |
1 |
Кабель сетевой Hyperline PWC-IEC13-SHM-3.0-BK |
1 |
Кабель USB 2.0 А/В (L=3 м) |
1 |
Рым-болт М12.019 ГОСТ 4751 |
4 |
Переходник 578342 NPQH-D-G14-Q8-P10, Festo 2) |
1 |
Ниппель переходной D c уплотнителем 534145 D-1/4I-3/4A, Festo2) |
1 |
Пневмошланг полимерный 159666 PUN-8x1,25-BL, Festo |
1 |
Кран шаровой Base VT.217.N.05, Valtec (для подключения пневмошланга к компрессору) |
1 |
Провод РПШ 4х1,5 (380) ТУ 16.К18-001 |
1 |
Призма 4001.00000101 |
1 |
Стекло предметное 4001.00000102 |
100 |
Микрообъектив MPLFLN 100х/0,9, OLYMPUS |
12) |
Микрообъектив MPLFLN 2,5х/0,08, OLYMPUS |
12) |
Микрообъектив MPLFLN 5х/0,15, OLYMPUS |
12) |
Микрообъектив MPLFLN 10х/0,3, OLYMPUS |
12) |
CD-диск с программным обеспечением |
1 |
Методика поверки |
1 |
|
Таблица 2
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
Длина волны излучения, мкм |
0,405 |
Диапазон показаний линейных размеров по вертикали, |
0,0003 - 0,2 |
мкм | |
Диапазон измерения линейных размеров по вертикали, |
0,01 - 0,1 |
мкм | |
Диапазон измерения линейных размеров в латеральной плоскости (для объектива 100х), мкм |
0,1 - 8 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения линейных размеров, нм: - по вертикали |
±10 |
- в латеральной плоскости (для объектива 100х) |
±100 |
Время измерения одного кадра, с |
0,30 ± 3,00х10-2 |
Длина хода предметного стола, мм: - по координате Х |
230±5 |
- по координате Y |
245±5 |
- по координате Z |
70±5 |
Скорость перемещения предметного стола, мм/с, не | |
менее | |
- по координатам Х и Y |
1,0 |
- по координате Z |
0,01 |
Электропитание осуществляется от сети переменного тока с напряжением, В |
220±22 |
частотой, Гц |
50±0,4 |
Потребляемая мощность, кВт, не более |
1,0 |
Г абаритные размеры, мм, не более |
1100x860x1600 |
Масса, кг, не более |
900 |
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С |
20±3 |
- относительная влажность воздуха, не более, % |
80 (при 25°С) |
- атмосферное давление, мм рт. ст. |
630 - 800 |