Номер в гос. реестре

76632-19

Наименование типа СИ (обозначение)

Микроскопы конфокальные лазерные измерительные (LEXT OLS5000)

Назначение средства измерений

Модификация

Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5000-SAF

Описание типа

2019-76632-19.pdf

Тип производства

Заводской номер

8G49253

Год производства (возраст, лет)

Год производства не указан

Производитель

Фирма "OLYMPUS Corporation"
Страна - ЯПОНИЯ

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм

от 0,5 до 800,0

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

±(0,15+L/100)

СКО случайной составляющей погрешности измерений линейных размеров по оси Z, мкм, не более

- объектив 20х

0,030

- объектив 50х

0,012

- объектив 100х

0,012

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z на сшитых панорамных изображениях (для модификаций SAF и EAF), мкм (где L - измеряемая длина, мкм)

- объектив 10х

±(5,0+L/100)

- объектив 20х или выше

±(1,0+L/100)

Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм

- объектив 10х

от 30 до 1200

- объектив 20х

от 15 до 600

- объектив 50х

от 5 до 250

- объектив 100х

от 2 до 120

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, %

±1,5

СКО случайной составляющей погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY в пределах поля зрения объектива, мкм, не более - объектив 20х

0,05

- объектив 50х

0,04

- объектив 100х

0,02

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY на сшитых панорамных изображениях (для модификаций SAF и EAF), мкм (где L - измеряемая длина, мм)

- объектив 10х

±(24+L/2)

- объектив 20х

±(15+L/2)

- объектив 50х

±(9+L/2)

- объектив 100х

±(7+L/2)

Диапазон измерений шероховатости, мкм, по параметру - Ra

от 0,025 до 100

- Rz

от 0,05 до 200

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений шероховатости, мкм, по параметру

- Ra

±(0,003+0,04<Ra)

- Rz

±(0,006+0,04<Rz)

(где Ra, Rz - параметры шероховатости, мкм)

Наименование характеристики

Модификация прибора

OLS5000-

SAF

OLS5000-

SMF

OLS5000-

LAF

OLS5000-

EAF

OLS5000-

EMF

Разрешение в плоскости XY, нм, не более

1

Разрешение по оси Z, нм, не более

0,5

Диапазон перемещения столика образцов, мм

100x100

100x100

300x300

100x100

100x100

Привод столика образцов

моторизованный

ручной

моторизованный

моторизованный

ручной

Максимальная высота образцов, мм

100

40

37

210

150

Масса, кг, не более - основной блок; -блок электроники

31

32

50

43

44

12

Габаритные        размеры

(ДхШхВ), мм, не более:

• - основной блок

• - блок электроники

360х275х510

180x360x380

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

-относительная влажность воздуха, %, не более

от +18 до +22

80

Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50/60 Гц, В

от 210 до 230

Потребляемая мощность, Вт, не более

280